Спектральные линии некоторых элементов

Фотометрия пламени — вид эмиссионного спектрального анализа, в котором источниками возбул<дения спектров являются пламена различных видов ацетилен — воздух, ацетилен — кислород, пропан — воздух, пропан — кислород, водород — воздух и др. Вследствие невысокой температуры в пламенах излучают легко и среднеионизующиеся элементы щелочные и щелочноземельные металлы, галлий, индий, магний, марганец, кобальт, медь, серебро и ряд других, причем их число растет с увеличением температуры пламени. В наиболее холодных пламенах, таких как, например, пропан — воздух, светильный газ — воздух излучают только атомы щелочных и щелочноземельных металлов. Вследствие невысокой температуры спектры, излучае-МЕле пламенами, состоят из небольшого числа спектральных линий, главным образом резонансных, что позволяет выделять характеристическое излучение элементов при помощи светофильтров и использовать простые и имеющие невысокую стоимость спектральные приборы — пламенные фотометры. Кроме атомных спектральных линий в спектрах пламен присутствуют полосы ряда в основном двухатомных молекул и радикалов С2, СиС1, СаОН и др. Некоторые из них используют в аналитических целях. Так, в случае элементов, образующих термически устойчивые оксиды, которые практически не диссоциируют в пламенах с образованием свободных атомов, молекулярные спектры являются единственным источником аналитического сигнала. Практически не атомизируются в низкотемпературных пламенах оксиды скандия, титана, лантана и других элементов, ирлеющих относительно невысокие потенциалы ионизации. Наиболее часто фотометрию пламени применяют для определения щелочных и щелочноземельных металлов. [c.35]

Таблица 6.2. Характерные спектральные линии некоторых элементов для качественного анализа растворов на стилометре

Спектр атомного поглощения элемента проще эмиссионного, так как состоит только из спектральных линий резонансной серии. В то же время среди линий резонансной серии имеются такие, которые в спектре эмиссии отсутствуют вследствие высоких потенциалов их возбуждения. Последние спектральные линии некоторых элементов (Со, Сг) смещены в спектре абсорбции в более коротковолновую область по сравнению с наиболее яркой эмиссионной спектральной линией. [c.49]

Спектральные линии некоторых элементов [c.75]

При уменьшении давления газовой атмосферы, окружающей источник излучения, снижается концентрация паров в разряде между электродами и благодаря этому ослабевает спектр электродов (за исключением линий с высокой энергией возбуждения). Свечение разряда имеет место даже при давлении ниже 100 мм рт. ст. (разд. 2.10 в [1а]). При пониженном давлении интенсивность фона значительно уменьшается, и поэтому относительные интенсивности спектральных линий некоторых элементов предпочтительнее, нежели при атмосферном давлении. Так, например, нижний предел обнаружения бора в сплавах на основе железа снижается до 0,0005%, а церия — до 0,01%, если в качестве противоэлектрода используют электроды из алюминия и графита и возбуждают спектры в дуге переменного тока при 19 А и давлении 300 и 200 мм рт. ст. соответственно [1]. [c.102]

Исследования влияния внешнего магнитного поля на увеличение интенсивности спектральных линий некоторых элементов рассматривались во многих работах, обзор которых приведен в [169]. Показано, что наложение на плазму спектрального источника внешнего магнитного поля изменяет ее геометрию, вызывает вращение облака разряда, замедляет перенос частиц от анода к катоду и т. д., что приводит к изменению интенсивности спектральных линий элементов [284—286]. Применение неоднородного магнитного поля, создаваемого соленоидами, позволило увеличить чувствительность определения следов ряда элементов в угольном порошке и в оксиде циркония в 2—3 раза за счет увеличения жизни частиц в облаке разряда [286]. Показано, что в присутствии магнитного поля, полученного в аналогичных условиях, наблюдается увеличение интенсивности линий при испарении сухих остатков разбавленных растворов с торца угольного электрода в 2—3,5 раза [287]. [c.92]

Выражение (232) показывает, что интенсивность спектральной линии в плазме разряда однозначно связана с температурой разряда. Поэтому температура плазмы разряда может быть определена, если измерена интенсивность излучения в абсолютных единицах. Остальные постоянные, а также вероятности переходов известны. (В настоящее время вероятности измерены или вычислены для многих линий некоторых элементов периодической системы.) [c.230]

Источник излучения, например электрическая дуга, образует непрерывный спектр, который регистрируется на фотопластинке в виде сплошной черной полосы 1 (рис. 26). Атомные спектры излучения элементов состоят из отдельных полос или линий 2. В табл. 19 приведены наиболее характерные спектральные линии некоторых элементов. Эти линии используют обычно при визуальном спектральном анализе. [c.228]

Спектр железа имеет большое число линий ( 4700 в видимой и УФ-об-ластях), более или менее равномерно распределенных по всему регистрируемому фотографическим способом диапазону длин волн. Спектр железа хорошо изучен. Длины волн его линий определены с необходимой точностью. Поэтому при решении задач качественного анализа спектр железа играет роль опорного для отождествления спектральных линий других элементов. Для быстрой ориентировки в спектре железа необходимо знать и по.мнить положение и вид характерных групп линий в разных областях спектра. Характеристики некоторых из них даны в табл. 3.3. [c.106]

Ниже указаны длины волн (в нм) некоторых спектральных линий атомов элементов главных подгрупп I и II групп [c.30]

Помимо поглощения и разложения в разрядной трубке компонентов газовой смеси имеется еще одно затруднение, заключающееся в том, что интенсивность спектральных линий одного элемента находится в некоторой зависимости от количества других элементов. [c.286]

Метод относительных интенсивностей линий. Как уже говорилось выше, для определения температуры плазменной струи методом абсолютных интенсивностей спектральных линий необходимо знать абсолютные значения вероятностей переходов [см. формулу (10)], которые известны для чрезвычайно ограниченного числа линий некоторых элементов. Если в спектре исследуемой плазмы наблюдаются линии какого-либо элемента, для которых известны, по крайней мере, относительные вероятности переходов, то в (10) множитель [c.205]

Изменяя состав атмосферы дугового газа, можно изменять в требуемом направлении условия возбуждения аналитических спектральных линий определяемых элементов. При этом, однако, в некоторых случаях количественные изменения интенсивности линий могут быть несколько иными, чем это следует из выражений (52) и (53). Предполагаемая причина состоит в том, что в атмосфере инертных газов большую роль в возбуждении спектральных линий элементов-примесей играют неупругие столкновения частиц этих элементов с атомами инертного газа, в отличие от электронного механизма возбуждения, господствующего в воздушной среде [994]. (О практическом применении контролируемых атмосфер с целью снижения пределов обнаружения элементов см. [c.96]

В ряде работ [170, 1218, 1388] применено распыление раствора ультразвуком, создающим очень однородный и мелкодисперсный аэрозоль. Преимущество этого способа распыления состоит также в том, что можно регулировать поступление пробы в источник независимо от скорости потока газа, несущего аэрозоль. Эти достоинства ультразвукового -распыления способствуют увеличению концентрации частиц и интенсивности спектральных линий определяемых элементов в источнике света. По некоторым оценкам 1170], переход от пневматического способа распыления раствора к удь- [c.164]

Присутствие посторонних веществ в анализируемых растворах оказывает влияние на результаты анализа вследствие наложения спектральных линий (полос) элементов, изменения режима работы распылителя, а также изменения процессов, происходящих в пламени. Для выяснения механизма влияния посторонних веществ используют целый ряд методов некоторые из них перечислены в табл. 37. [c.222]

В некоторых приборах возбужденное излучение разлагается монохроматором, в других — имеется набор светофильтров, каждый из которых выделяет излучение, характерное для того или другого элемента. Интенсивность выделенного излучения измеряется фотоэлектрическим элементом. Некоторые приборы дают возможность проводить определение с внутренним эталоном. Для этого в анализируемую пробу вводят определенное и постоянное количество подходящего для сравнения элемента, служащего эта лоном (например, лития), и сравнивают интенсивность спектральной линии определяемого элемента с интенсивностью линии этого эталона. Таким способом сводятся к минимуму ошибки, происходящие от источника возбуждения. [c.587]

Никель с сотр. исследовали влияние однородного и неоднородного магнитных полей и показали возможность усиления интенсивности линий некоторых элементов в 2—20 раз при анализе реакторного графита в присутствии неоднородного магнитного поля [288, 289]. Этими авторами была показана зависимость увеличения интенсивности спектральных линий от тока дуги, напряженности магнитного поля, от формы электродов, от потенциала ионизации и атомной массы элемента. [c.92]

Спектральный анализ относится к числу наиболее щироко применяемых физических методов качественного и количественного Таблица 26. Длины волн наиболее ярких линий некоторых элементов [c.391]

В этом выражении частота дается в единицах волновых чисел (т. е. в числах волн на сантиметр), — постоянная, известная под названием постоянной Ридберга. Ее значение на основании самых последних измерений спектра водорода составляет 109 678 см . Ридберг показал, что спектральные линии некоторых других элементов также дают серии, частоты которых могут быть довольно точно выражены формулами типа [c.207]

Количественный анализ по нашему методу сводится к сравнению интенсивностей двух спектральных линий, спектральной линии анализируемого элемента и спектральной линии основного вещества или спектральной линии яекоторого вспомогательного элемента, добавленного в известной дозе к веществу, подлежащему анализу. Для этого мы ввели таблицы гомологичных пар линий (см. часть I, гл V, а также часть II, гл IV). Когда дело сводится к одному лишь констатированию равенства или, если оказывается достаточным указание больше или меньше, чем,.. , т. е. приходится расценивать лишь промежуточные концентрации, то для суждения бывает совершенно достаточно одной лупы. Для интерполяции, основанной на фото-метрировании, имеется два метода. Заранее однако следует отметить, что большей точности. чем =t5 до 10% здесь удается достичь довольно редко. Эти два метода сводятся или к фотометрической разработке снимка или к получению снимка с одновременный применением некоторого фотометрического вспомогательного средства. [c.62]

АБСОЛЮТНЫЕ ЗНАЧЕНИЯ СИЛ ОСЦИЛЛЯТОРОВ ДЛЯ НЕКОТОРЫХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ИЗБРАННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ [c.788]

Для количественного определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий редкоземельных элементов, которое является важнейшим этапом анализа, в принципе может быть использовано большинство методов, описанных в главе IV. Однако некоторые специфические особенности распределения редкоземельных элементов в породах и минералах, представляющих собой один из наиболее трудных объектов анализа, ограничивают выбор методов, пригодных для решения этой задачи. [c.176]

Из сказанного ясно, что структура спектральных линий многих элементов, состоящих из нескольких изотопов, дол жна иметь сложный характер, так как помимо изотопической структуры, возникающей в результате различного изотопического смещения данной линии для каждого изотопа, линии некоторых из этих изотопов дают еще сверхтонкую структуру в виде дополнительного расщепления на ряд компонент. Иначе говоря, спектральные линии таких элементов состоят из не-расщепленных и расщепленных компонент отдельных изотопов. [c.118]

Спектральные чувствительные линии некоторых элементов 473 [c.473]

В настоящей работе было проведено исследование влияния водорода на интенсивность спектральных линий ряда элементов при анализе порошковых проб и растворов при различных способах введения их в разряд сделана попытка связать влияние водорода с некоторыми свойствами самих определяемых элементов (с потенциалами ионизации и атомными весами). [c.17]

На схеме 9 приведень интенсивные спектральные линии некоторых элементов в видимой области спектра (полу 1аемые при возбуждении спектра в дуге или в пламени). Более интенсивные линии даны более жирными линиями. [c.75]

Для повышения чувствительности определения элементов в некоторых случаях используют метод прикатодного слоя. В угольной дуге постоянного тока при определенных условиях у катода образуется слой плазмы 1—2 мм, в котором спектральные линии некоторых элементов в 10—50 раз интенсивнее, чем в межэлект-родном пространстве. [c.51]

Сравнение интенсивностей спектральных линий некоторых элементов, возбуждаемых в дуговом плазматроне, с интенсивностью тех же линий при использовании сухих остатков растворов на торце электрода показывает, что наблюдается практически такая же картина, как при использовании дуги или искры в атмосфере аргона. Наибольщее увеличение интенсивности линий отмечается для титана и ванадия, потенциал возбуждения которых 11,1 и 11,2 эВ, несколько меньшее для марганца (12,2 эВ) и хрома (12,5 эВ) и еще меньше для обальта (14,7 эВ) и никеля (14,8 эВ). Из приведенных экспериментальных данных следует, что в дуговом плазматроне при использовании аргона в качестве плазмообразующего газа наибольшее увеличение интенсивности отмечается для тех линий, потенциал возбуждения которых близок к метастабильным уровням аргона. [c.91]

Возможность протекания химических реакций в плазме отмечена в работах [13, 101, 118]. Райхбаум и Костюкова [101] расчетным способом показали, что при температуре плазмы 3000—5000° С некоторые металлы образуют устойчивые двухатомные молекулы. Это приводит к уменьшению концентрации свободных атомов и ослаблению интенсивности спектральных линий. Для элементов, образующих прочные соединения с кислородом, таких, как Zr, Ве, Nb, Мо, Та, одним из путей повышения чувствительности определения является введение в пробу кремния, имеющего сродство к кислороду больше, чем эти металлы, Примером уменьшения отрицательного влияния химических реакций в плазме может служить определение Li в форме ЦР в присутствии СаО (рис. 80). В присутствии Са концентрация свободных атомов Li в плазме возрастает за счет связывания Р-иона в устойчивое соединение СаР. Одновременно возрастает интенсивность молекулярной полосы СаР. Химические реакции в плазме электрической дуги и их роль при проведении спектральных определений изучены пока недостаточно. Можно отметить, что многообразие факторов, влияющих на процесс испарения веществ, позволяет управлять этим процессом в нужном для практических целей направлении. Метод фракционной дистилляции элементов часто используется для решения ряда аналитических задач (например, при определении микропримесей). [c.127]

И возбужденных в определенном источнике света. Весь спектральный диапазон прибора разбивают на ряд участков, каждый из которых в увеличенном виде изображают на отдельном планшете. На рис. 131 показан один из планшетов атласа для исследования дуговых спектров, полученных со спектрографом ИСП-28 (кварцевая оптика). В нижней части планшета представлен спектр чистого железа и изображена шкала длин волн, которой снабжен спектрограф. Ее фотографируют рядом со спектром железа. Длину волны любой его линии можно грубо определить по этой шкале. Вертикальные прямые показывают положение наиболее интенсивных спектральных линий других элементов относительно линий спектра железа. Около символа элемента сверху справа указаны интенсивности линий в условных единицах, которые обычно оценивают по десятибалльной шкале. Снизу под символом элемента приведены длины волн. В некоторых атласах приведен только спектр железа и с большой точностью выписаны длины волн его линий. К атласам первого типа большей частью прила1 ают таблицы спектральных линий и таблицы возможных наложений линий различных элементов. Спектр железа служит своеобразной шкалой длин волн, так как у него много линий во всей области спектра, которой пользуются при спектральном анализе, а кроме того, длины волн спектра железа известны с большой точностью. [c.221]

Последние линии в спектре атомов и ионов. Наиболее полные списки лииий всех элементов содержат в настоящее время до 400 000 линий в области спектра от 2000 до 10 ООО А. В общеупотребительных таблицах приводится от 50 000 до 100 000 линий. Спектры некоторых элементов обладают весьма большим числом линий-—до нескольких тысяч таковы, например, спектры железа, молибдена, вольфрама, ванадия, титана, кобальта, марганца, церия, циркония, тория, ураиа, редкоземельных элементов и др. Многие спектральные линии различных элементов располагаются так близко друг к другу, что практически различить их нельзя, особенно с приборами средней дисперсии, например с кварцевым спектрографом ИСП-22 или ИСП-28. В этом случае всегда приходится иметь дело с наложением линий разных элементов, мешающим правильному отождествлению линии, т. е. точному определению элемента, которому принадлежит данная линия. С таким явлением часто встречаются при анализе многих сложных руд с большим содержанием железа и при анализе сложных легированных сталей и жаропрочных сплавов. Естественно, при использовании приборов с большой дисперсией эффект наложения уменьшается. [c.28]

Указания на возможность применения спектрального анализа для количественных определений химических элементов с использованием отмеченной выше закономерности были известны в литературе уже давно. Так, Гартлей (Hartley, 1884) еще в конце прошлого столетия, при исследовании поведения линий некоторых элементов, пользуясь конденсированной искрой, установил, что для каждого элемента с возрастанием концентрации увеличивается число его спектральных линий. В дальнейшем это положение им было подтверждено количественно. Для ряда элементов он приготовил серии стандартов, включающих разные содержания элементов, и выявил прямую зависимость появления линий от изменения содержания элементов. [c.109]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология