Интенсивность фона

В окружающей среде имеется постоянное количество природной радиоактивности, называемой радиационным фоном. Таким образом, прежде чем определять радиоактивность данного источника, необходимо установить интенсивность фона. Величину его надо затем вычесть из каждого показания, снятого для радиоактивного источника. [c.318]

Полезный сигнал можно измерить обычными методами, например визуально, если он по крайней мере на 2 % интенсивнее фона. Так, окрашенное пятно на бумаге различимо на глаз только тогда, когда оно поглощает на 2 % больше света, чем сама бумага. Заметим, что глаз чувствительнее многих приборов. [c.11]

Интенсивность излучения при характеристической частоте в правильно выбранной области длин волн пропорциональна концентрации элементов с учетом поправки на фон. Фоновое излучение возникает из-за присутствия в пламени других возбужденных частиц, излучающих в области частот, выбранных для проведения анализа. Так как при этом происходит возбуждение не только свободных атомов или ионов, но и радикалов и возникновение вращательных и колебательных спектров недиссоциированных молекул, излучение фона наблюдается во всех областях частот. Поэтому нужно определять интенсивность излучения фона в условиях, в которых проводят анализ пробы, в отсутствие определяемого компонента и величину интенсивности фона вычитать при получении конечных результатов. Концентрацию определяемого компонента находят по градуировочной кривой, отображающей зависимость интенсивности, излучения от концентрации. [c.376]

Интенсивность фона может изменяться в зависимости от различных причин. С увеличением температуры интенсивность сплошного фона, как правило, быстро растет. Обычно стремятся уменьшить интенсивность сплошного фона, так как он представляет собой серьезную помеху при качественном и количественном анализе веществ, прис -т-ствующих в небольших количествах. [c.55]

Кристалл в дифрактометре устанавливается в некоторой произвольной, заранее неизвестной, ориентации. По сигналу, поступающему от управляющей вычислительной машины, кристалл и счетчик прощупывают некоторые заданные области поворотов и отыскивают несколько дифракционных лучей. По параметрам (углам % и <р) этих лучей управляющая ЭВМ рассчитывает ориентацию осей кристалла в его исходном положении, определяет и уточняет параметры решетки а, Ь, с. После этого она рассчитывает установочные углы для каждого луча pqr последовательно, переводит кристалл и счетчик в соответствующее положение и измеряет интенсивность дифракционного луча, а также интенсивность фона вблизи отражения. Все данные измерений поступают в управляющую ЭВМ и подвергаются первичной обработке (вычитание фона, учет поправки на дрейф интенсивности первичного пучка и др.). [c.63]

Чтобы найти нормирующий множитель, нужно знать интенсивность когерентного рассеяния и интенсивность фона. [c.105]

Интенсивность фона — тоже положительная величина. Тогда [c.105]

Рис. 1.25. Зависимость интегральной интенсивности фона на рентгенограммах Си, подвергнутой ИПД кручением, от числа оборотов

Фон на рентгенограмме является результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей [87]. Как известно, причинами появления фона могут быть тепловое диффузное рассеяние, отсутствие дальнего и (или) ближнего порядка в расположении атомов при аморфизации вещества и диффузное рассеяние твердым раствором. Тепловое диффузное рассеяние приводит к монотонному росту интенсивности фона с ростом угла дифракции в на рентге- [c.78]

Интенсивность фона, наблюдаемого на рентгенограммах, является не только результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей на образце, но также связана с инструментальными факторами (например, с рассеянием дифрагировавшего излучения атмосферным воздухом) [141]. Если инструментальные факторы одинаковы для исследуемых образцов, то появляется возможность сравнительного анализа роли самих образцов в формировании диффузного фона рассеяния на рентгенограммах. Интенсивность дифрагировавших рентгеновских лучей, зафиксированная на рентгенограмме, складывается из интенсивности рентгеновских пиков и интенсивности фона [130]. Для отделения интенсивности, связанной с фоном, в районе рентгеновских пиков, представленных псевдофункциями Фойгта, проводят базисные линии. Левая и правая точки каждой базисной линии соответствуют интенсивности фона слева и справа от рентгеновского пика. Для получения интегральной интенсивности фона площади под базисными линиями суммируют с площадями под линией фона вне рентгеновских пиков. [c.79]

Погрешность в вычислении интегральной интенсивности фона в основном зависит от правильности выбора базисных линий. Поскольку рентгеновские пики на рентгенограммах наноструктурной Си преимущественно описываются функцией Лоренца, т. е. имеют длинные хвосты, то оказалось очень трудно достаточно точно определить место, где кончается рентгеновский пик и начинается фон 79-82]. Для уменьшения погрешности базисные линии выбирали таким образом, чтобы их концы совпадали с концами широких интервалов углов дифракции, в которых производилась съемка рентгеновских пиков [79-82]. Как показано в работах [80, 81], ИПД Си приводит к росту интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 6 3 %. [c.79]

Следует отметить, что для получения истинной интенсивности линии, когда интенсивность фона вносит существенный вклад в суммарную интенсивность линии, необходимо измерять фон в области длины волны линии определяемого элемента или вблизи нее. Это является обычным в случае плазмы. [c.25]

Для источников, дающих сильное фоновое излучение, таких, как индуктивно-связанная плазма (ИСП), для получения чистой интенсивности линии необходимо вычитать значение интенсивности фона из общей интенсивности линии. [c.34]

В каждом фотоэлектронном спектре содержатся электронные пики на относительно интенсивном фоне. Эти сигналы принадлежат электронам, покидающим вещество без каких-либо энергетических потерь. Непрерывный фоновый сигнал создается фотоэлектронами, потерявшими часть кинетической энергии на пути из образца, и вторичными электронами (см. разд. 10.2.1). [c.317]

Как было показано, измерение оптической плотности включает измерение не только пропускания (/) в максимуме полосы поглощения, но и интенсивности фона (/о). Эту точку измерить точно бывает трудно, но обычно можно удовлетворительно провести базовую линию [51, 88, 121]. Этот метод определения /о-в лучшем случае только приближение, но он легко осуществляется, воспроизводим и широко применяется. Аналитическая полоса регистрируется полностью, и через ее края, где нет Поглощения, проводится прямая базовая линия (рис. 6.3, а). Однако по-настоящему преимущество метода проявляется в том случае, когда измеряемая полоса попадает на плечо другой полосы поглощения (рис. 6.3,6) и базовая линия проводится в виде касательной к зарегистрированной кривой, как показано на рисунке. [c.239]

И / — интенсивность фона около этих компонент на расстоянии [c.251]

Несмотря на большую дисперсию, из-за большого фона в спектре молибденита чувствительность определения рения в нем ниже, чем в пробах с небольшим содержанием молибдена. Так, при экспозиции 30 сек. интенсивность фона вблизи линии Ке 3464,726 А почти на порядок выше, чем в спектре медной руды. [c.161]

Для повышения воспроизводимости результатов каждый новый медный диск подвергают предварительному обыскриванию в течение 1 мин. При чувствительности определения брома 3 i0 % стандартное отклонение одного измерения при и = 20 составило 14%. Без концентрирования электролизом чувствительность определения составляет всего 0,03%. Градуировочные графики строят по уравнению Ig с = / (Ig [(/л+ф — /ф)//ф1), где с — концентрация элемента в растворе /д+ф — интенсивность линии 478,55 нм с фоном /ф — интенсивность фона. В качестве основного компонента в растворы вводят NaJ до концентрации J" 0,1%. Интенсивность спектральных линий брома и одновременно определяемых с ним хлора и серы снижается под влиянием соизмеримых количеств фтора. Поэтому стандартные и анализируемые растворы по содержанию примеси должны быть идентичными. [c.147]

При наличии в пробах большого количества меди и цинка на линии Ад 3280,68 А налагается интенсивный фон от близко расположенных линий Си 3274,97 и Zn 3282,33 А. В этих случаях определение серебра можно вести только по линии Ад 3382,89 А [137]. Однако и эта линия непригодна для анализа проб, обога-ш енных сурьмой, вследствие соседства линии ЗЬ 3383,15 А [1582]. Определение серебра в минералах, содержащих одновременно сурьму и медь (или цинк), например в блеклых рудах, на спектрографе средней дисперсии представляет трудную задачу. Задача упрощается при использовании дифракционного спектрографа ДФС-13. Чувствительность анализа на этом приборе составляет [c.135]

По сравнению с интенсивностью фона. [c.114]

Формулы (14.65)-(]4.68) справедливы только при отсутствии заметного фона в области линии определяемого элемента. Исключение фона при фотографической регистрации осуществляют с помощью характеристической кривой. Применение твердотельных фотоэлектронных детекторов позволяет непосредственно измерять интенсивность фона и исключать эту величину при графическом построении градуировочной прямой. [c.407]

Отношение J — величина отношения интенсивности спектральной линии к интенсивности фона на той же длине волны при распылении в плазму одноэлементного раствора с концентрацией данного элемента, указанной в следующей колонке. [c.750]

Одним из простейших соединений этого типа является дифенилсульфид. Спектр поглощения его действительно ничем не похож на спектры поглощения составляющих его хромофоров. В нем на очень интенсивном фоне более или менее четко выделяются три полосы с максимумами на длинах волн 277, 251 и 2 31 нм, самой интенсивной из которых является полоса 251 нм (табл. 8, рис. 3). Неточное совпадение положения максимумов полос 277 и 251 нм, приведенных в литературе различными исследователями, скорее всего объясняется тем, что максимумы выражены в спектре нечетко. Слабовыделяющаяся полоска в области 230 нм наблюдается в спектре поглощения/дифенилсульфида и его л-алкил-производных. [c.181]

НИЯ спектров эмиссии превосходят характеристики други < источников, применяемых в методе АЭС. С помошью ИСП-АЭС - приборов получаются более правильные результаты, так как практически отсутствует влияние матричных элементов, а интенсивность фона в 100 и более раз меньше. При этом фадуировочиые фафики линейны в диапазоне четырех порядков Пределы обнаружения большинства элементов по сравнению с другими источниками возбуждения ниже на 1-3 порядка (табл. 7.1) Следует заметить, что наиболее эффективной областью применения метода ИСП-АЭС является анализ воды (З) [c.246]

Но можно надеяться, что чувствительность аналитических определений в ближайшее время резко возрастет. На это ука зывает развитие квантовой электроники. Открывается перспектива применения квантовых усилителей, отличающихся низким уровнем шумов. Вообще, ослабление фона, и в особен ности уменьшение колебаний интенсивности фона во время из< мерений, — один из продуктивных путей увеличения чувстви тельности аналитических методов. Использование квантовых генераторов существенно расширяет возможности спектральных методов анализа. [c.11]

И. Д. Набитович, Я. И. Стецив и Я. В. Волощук предложили новый метод определения когерентной интенсивности и интенсивности фона по экспериментальной кривой рассеяния электронов. Изложим сущность этого метода. Известно, что экспериментально измеренная интенсивность рассеяния электронов включает некогерентный фон. Следовательно, [c.104]

Использоваш1е рассеянного первичного излучения основано на том, что в этом случае отношение интенсивности флуоресценции I определяемого элемента к интенсивности фона /ф зависит в осн. от С, и мало зависит от концентрации др. элементов С,. [c.241]

НИИ 150 эВ оно все еще почти в 30 раз хуже разрещения, получаемого с хорощим кварцем или к р ИСталлом фторида лития. Принципиально влияние ухудщения разрещения проявляется в понижении отношения пик/фон (Р/В) для данной энергии и, следовательно, понижении чувствительности или минимального предела обнаружения для данного элемента (см. гл. 7, обсуждение обнаружения следов элементов). Уменьщение Р/В происходит из-за того, что для получения основной части интенсивности пика Р необходимо выбирать более широкий энергетический интервал, дающий больщий счет интенсивности фона. На рис. 5.52, взятом из [112], это показано для детектора с разрещением 160 эВ, используемого для получения Р и Р/В для линий Рел-а и на чистом железе и кремнии соответст- [c.259]

Как показано на рис. 8.6, значения Ье, полученные разными авторами, зависят от атомного номера. В [214] этот эксперимент был повторен с использованием 51 (Ы)-детектора, обладающего лучшим энерпетическим разрешением и более высокой эффективностью сбора. На рис. 8.7 показан подобный спектр, полученный для медного образца с использованием 81(Ы)-де-тектора толщиной 3 -мм, и диаметром 6 мм с разрешением 165 эВ (на линии Ретсд). Максимальные значения пиков Сил и Сц/ср не показаны с целью выявления тонкой структуры фоиа. Понижение интенсивности в области низких энергий обусловлено поглощением в окне детектора. Резкий перепад в интенсивности фона при энергии около 9 кэВ о-бусловлен явлениями само-поглощения в образце из-за скачкообразного изменения коэф-. фициента массового поглощения меди при энергии, равной потенциалу возбуждения /С-серии меди. Однако значение интенсивности фона точки в месте края поглощения (8,979 кэВ) маскируется из-за расширения детектором пика Си ср. Здесь уместно указать, что при любой попытке применить методы подгонки с помощью ЭВМ для описания формы наблюдаемого [c.109]

Рис. 8.2-11. Пример аналитического сигнала (2) с малой оптической плотностью в присутствии интенсивного фона (1)ъ методе ГП-ААС. Во — истинное значе-гше фонового поглощегшя при измерегши поглощения определяемого элемента, В и В2 — фоновое поглоще-1ше, измеряемое до и после поглощегшя определяемого элемеггта соответственно.

Здесь же следует подчеркнуть, что указанный предел точности прямых спектральных измерений интенсивностей полос поглощения dr ( —6)%, соответствующий погрешности, характерной для среднего серийного спектрометра, достигается далеко не часто. Результаты специально проведенных исследований [110] показали следующее. Как правило, в неспециализированных лабораториях такие обязательные по решению Международного сойза по чистой и прикладной химии (IUPA ) при наладке спектрометра манипуляции, как проверка его градуировки по шкале частот [302], проверка линейности шкалы пропускания с помощью секторного фильтра [393], определение интенсивности фона рассеяния и т. д., не выполняются. В результате этого, как показала специальная проверка, ошибки измерений положения полос поглощения и их интенсивности, проводимых специалистами смежных профессий на серийных приборах, оказываются в пять раз выше АТ 5% и Av = 12 см ) паспортных характеристик используемых спектрометров [110]. При этом важно отметить, что такое загрубление измерений является не следствием сложности природы исследуемого объекта, а элементарной неподготовленностью оборудования к подобным измерениям. Учитывая это, надо с большой осторожностью относиться к результатам количественных измерений, выполненных в неспециализированных лабораториях. [c.181]

Джилмор [690] при определении следовых количеств мышьяка по линии Аб рекомендует использовать цинковый фильтр, ослабляющий интенсивность фона от непрерывного спектра трубки в большей мере, чем интенсивность аналитической линии Аз При использовании фильтра толщиной 28,6 мг/см [c.99]

На полученных спектрограммах фотометрируют линию Р 255,328 нм и фон непрерывного спектра вблизи линии. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется с помощью характеристических кривых, построенных по маркам почернений стзщенчатого ослабителя. Интенсивность линий находят вычитанием интенсивности фона из суммарной интенсивности (линии и фона). [c.147]

Основная ошибка качественного анализа заключается в пропуске или переоткрытии элементов. Пропуск элемента случается тогда, когда слабая аналитическая линия располагается либо на фоне интенсивной (или уширенной) линии другого элемента, либо на слишком интенсивном фоне. Переоткрьггие происходит в том случае, когда спекфальная линия приписывается не тому элементу. [c.401]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология