Спектрограф дополнительное увеличение

Рис. 45. Дополнительное увеличение в спектрографе.

Кристалл удерживается на поверхности кристаллодержателя силами молекулярного сцепления и для предохранения от расклинивающего влияния влаги воздуха покрывается с краев тонким слоем лака. Ширина действующей поверхности кристалла — 40 мм (в применявшихся ранее конструкциях кристаллодержателей она, как правило, не превосходит 6—8 мм). Следует иметь в виду, что достиг нутое увеличение действующей поверхности кристалла не является предельным. Однако дальнейшее увеличение отражающей поверхности кристалла может привести к дополнительному расширению рентгеновских спектральных линий в спектрографе и потому нецелесообразно. [c.105]

Сочленять спектрограф с кинокамерой лучше всего не добавлением новых оптических деталей, а устранением излишних — киноаппаратом, сфокусированным на бесконечность, заменяется вся камерно-кассетная часть спектрографов со сменными камерами, например ИСП-51. Иногда по конструктивным соображениям это невозможно и приходится сочленять приборы с помощью дополнительных объективов. Добавочная оптика вводится и в случае необходимости согласования увеличения спектрального прибора с разрешающей способностью кинокамеры. [c.204]

Астигматизм вогнутой решетки, свойственный всем рассмотренным выше схемам со значительными углами падения и дифракции, в ряде случаев можно компенсировать дополнительным элементом, изменяющим ход лучей в сагиттальной (вертикальной) плоскости. Таким элементом может служить положительная цилиндрическая линза с горизонтальной образующей [4]. Введение линзы ограничивает рабочий диапазон спектра она обладает хроматизмом и другими аберрациями. Помещенная внутри прибора, она изменяет форму фокальной поверхности спектрографа, нарушает условия фокусировки в монохроматоре, и астигматизм устраняется ценой увеличения других искажений изображения. [c.108]

В 1946—1947 гг. к выводам о желательности повышения степени тщательности обработки поверхности шаблонов, на которых осуществляется изгиб кристаллов в кристаллодержателе, в целях увеличения светосилы рентгеновских фокусирующих спектрографов пришел также Дю-Монд. В работе, выполненной совместно с Линдом и Когеном [55], он предложил прецизионный метод обработки изогнутых цилиндрических плоскостей большого радиуса кривизны и применил его [56] для шлифовки поверхностей кристаллодержателя в фокусирующем спектрографе для коротковолновой рентгеновской области и -лучей. Для надлежащей обработки цилиндрических поверхностей металлических шаблонов кристаллодержателя ими также был предложен и осуществлен специальный станок, который благодаря использованию оригинальной кинематической схемы позволял, несмотря на свои относительно небольшие размеры, шлифовать с высокой степенью точности (—2 10 дюйма) цилиндрические поверхности большого, выбираемого по желанию экспериментатора радиуса кривизны. Поверхность отшлифованной в станке по заданному радиусу кривизны металлических шаблонов подвергалась, кроме того, дополнительной обработке. Изгиб плоско-параллельной пластинки кварца толщиной в 1 мм осуществлялся путем ее сжатия между поверхностью выпуклого шаблона и резиновой прокладки, помещенной на поверхность вогнутого шаблона. В этих условиях решающее влияние на характер и качество изгиба кристалла оказывала степень совершенства обработки выпуклой половины кристаллодержателя. В та- [c.73]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология