Почернение фона

Часто возникают ситуации противоположного характера, когда экспозиция недостаточна для получения оптимального почернения фона на спектрограммах даже при использовании чувствительных фотоматериалов. В этих случаях необходимые почернения фона можно получить, используя некоторые специальные приемы регистрации. К их числу относится, например, предварительная засветка фотопластинки сплошным спектром постоянной интенсивности, позволяющая обнаружить слабые аналитические линии, которые в отсутствие фона на спектрограммах совсем не регистрируются. Таким образом удается существенно снизить предел обнаружения, иногда более чем на порядок величины [1166, 1334]. Так, в работе [1047] дополнительная засветка фотопластинки, повысившая почернение фона от 0,03 до 0,6 ед., привела к снижению предела обнаружения примесей в КОН от до ЫО" г для олова и от 1 10 до 6-10 г для хрома. [c.53]

Расстояние между электродами поддерживают равным 1,5—2 мм на щель спектрографа следует проектировать прианодный участок разряда. Диафрагмирование однолинзового конденсора следует производить таким образом, чтобы плотность почернения фона в области 290,00 нм равнялась 0,4—0,5 ед. Продолжительность экспонирования 45—90 сек. Кроме того, фотографируют спектр железа через девятиступенчатый ослабитель с использованием трехлинзовой системы освещения. [c.147]

Мерой интенсивности, непосредственно измеряемой при фотографической регистрации спектра, является почернение фотоэмульсии 5. Если почернения фона 5ф и линий вместе с фоном 5л+ф лежат в области прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии, то они пропорциональны логарифму интенсивности вызвавшего их излучения. Поэтому для области содержаний элемента в пробе, при которых /л /ф (точнее /л//ф>Ю), между логарифмом содержания элемента и почернением аналити- [c.9]

Часто в качестве внутреннего стандарта используют фон сплошного спектра. Но этот прием дает хорошие результаты лишь тогда, когда фон принадлежит элементу основы или его соединениям с компонентами воздуха. Измеряемый участок должен располагаться по возможности ближе к аналитической линии и быть свободным от наложений. Почернение фона должно быть в области нормальных почернений фотоэмульсии. При использовании фона в качестве внутреннего стандарта необходимо учитывать, что при достаточно широкой щели спектрографа интенсивность фона зависит, а интенсивность линии не зависит от ширины щели, поэтому необходимо строго соблюдать постоянство ширины щели спектрографа. Кроме того, желательно работать по возможности с узкой щелью. [c.152]

Когда в качестве внутреннего стандарта используют фон, выбирают такие условия съемки, при которых почернение фона вблизи аналитической линии попадает в область нормальных почернений фотоэмульсии. [c.140]

Например, значение этого общего положения для эмиссионного спектрального анализа (и других) доказано экспериментально [1] и рекомендовано для некоторых аппаратурных методов [2]. Порог относительной чувствительности эмиссионного спектрального анализа определяется только отношением почернения сигнала к колебаниям почернения фона пластинки. Поэтому, например, расширение щели, или увеличение навески, или применение более чувствительных фотопластинок и т. п. не дает эффекта, так как наряду с увеличением интенсивности сигнала увеличивается интенсивность и колебаний фона. Наоборот, некоторые методы, понижающие значение и флуктуацию фона, приводят к повышению чувствительности при той же интенсивности сигнала. [c.221]

Примечание. Буква и в третьей колонке таблицы указывает на то, что почернение аналитической линии легирующего элемента нужно измерять по отношению к почернению фона вблизи линии. Числа, указанные после мешающих линий, обозначают относительные интенсивности линии (из таблиц) К обозначает резонансные линии. [c.680]

Для аналитических задач второго типа E = кЕф) 5ф, опт = = 0,4—0,6, также несколько колеблясь для разных фотопластинок. Поскольку в этом случае максимум отношения сигнал/шум гораздо шире, чем в первом, то практически допустимы довольно значительные колебания в величине 5ф (для некоторых пластинок в пределах 0,3—0,7 —см., например, рис. 12). Учитывая, что в рассматриваемом случае экспозицию и время экспозиции можно в принципе изменять в широких пределах (так как аналитическая линия все время присутствует), здесь с успехом можно применять фотоэмульсии разной светочувствительности, но характеризующиеся наибольшей контрастностью у и наименьшей зернистостью в области оптимального почернения фона. К таким [c.51]

Спектры фотографируют с экспозицией в 1,5 мин. при помощи кварцевого спектрографа средней дисперсии (ИСП-22 или ИСП-28 ) с трехлинзовым конденсором. Ширина щели 0,015 мм. Промежуточную диафрагму подбирают таким образом, чтобы почернение фона вблизи линии меди Си I 3247 A было 0,4—0,5. [c.86]

Учет фона. Обычно линии видны на фоне сплошного спектра источника. В этом случае для измерения относительных яркостей необходимо учитывать фон. Для этого после построения кривой почернения измеряют почернение фона справа и слева от каждой из линий. Берут среднее значение и по характеристической кривой определяют яркость фона под линией в условных единицах. Затем в тех же единицах измеряют яркость фона совместно с линией. Из нее вычитают яркость фона и получают яркость линии. Так же поступают для второй липни и берут отношение полученных яркостей. [c.312]

И 5ф (на рис. 9 приведена < д5з от почернения фона 5ф [c.45]

Почернения фона остается постоянным в широких пределах Изменения фотометрируемой площади (величина назы- [c.46]

Другой распространенный способ получения достаточного почернения фона — фотографирование спектров нескольких одинаковых анализируемых проб на одно место фотопластинки. В этом случае достигается также дополнительное усреднение результатов анализа, но увеличивается расход пробы. Повысить почернение фона на спектрограмме до оптимального уровня можно с помощью более светосильных систем и способов освещения щели спектрографа (подробнее см. 3.3, гл. 13, а также [270, 144, 265]). [c.53]

Рис. 12. Зависимость от почернения фона S для не-

Оптимальное почернение фона на спектрограммах не всегда можно обеспечить выбором подходящего фотоматериала. Тогда приходится изменять экспозицию. Так, слишком большая экспозиция может быть уменьшена применением неселективного ( серого ) светофильтра — ослабителя, устанавливаемого перед щелью спектрографа, или, если это позволяет длительность экспозиций, фотографированием спектра на движущуюся фотопластинку либо дроблением экспозиции на несколько равных частей (т. е. получением нескольких спектрограмм от одной экспозиции). Использование метода дробного экспонирования дает также дополнительный выигрыш в отношении сигнал/шум за счет усреднения результатов измерений по нескольким спектрограммам [7]. [c.53]

Измерение почернений фона в месте расположения аналитической линии на спектрограммах холостых проб должно производиться с применением тех же приемов точного выведения места измерения на щель фотометра, так как результаты этих измерений используются для выявления отличия пробы с очень малым содержанием определяемого элемента от холостой пробы, для внесения в случае необходимости поправки на холостой опыт при количественных определениях, для оценки предела обнаружения (см. 1.2). [c.58]

Менее жесткие требования предъявляются к выбору мест измерений почернений на спектрограммах холостой пробы в том случае,- когда на них полностью отсутствует аналитическая или какая-либо посторонняя линия (полоса), а фон в этой области является сплошным, равномерным, гладким. Измерения почернений фона, результаты которых используются в этих случаях для нахождения [c.59]

Случай постоянства почернений фона при смене спектрального прибора. Для лучшего обнаружения слабых спектральных линий фон на спектрограммах должен находиться в сравнительно узкой области оптимальных значений почернения (в зависимости от рода аналитической задачи — в переходной области или в начале прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии см. 2.1.2). Если это требование хотя бы приблизительно выполняется при замене одного спектрального прибора другим (что обычно происходит на практике), то, вследствие слабой зависимости.а. от величина минимального обна- [c.71]

Глядя на выражение (34), можно подумать, что в рассматриваемом случае значение предела обнаружения не зависит от светосилы спектрального прибора. В действительности это не так. Прежде всего ясно, что при одинаковой разрешающей способности приборов наименьший абсолютный предел обнаружения элемента будет достигаться с помощью более светосильного спектрографа. Чем больше светосила, тем меньше экспозиция, а значит при прочих равных условиях и абсолютное количество пробы, необходимое для получения оптимального почернения фона и обнару- жения аналитической лпнии определяемого элемента на спектрограммах. [c.73]

Согласно основному условию рассматриваемого случая анализа — поддержанию постоянного почернения фона на спектрограммах, снижение предела обнаружения при переходе от спектрального прибора с меньшей разрешающей способностью к прибору с большей разрешающей способностью может быть обеспечено лишь в том случае, если светосила второго прибора будет, по крайней мере, не ниже светосилы первого прибора. Однако обычно приборы с большей дисперсией и разрешающей способностью характеризуются меньшей светосилой, и поэтому переход к таким приборам, при указанной выше полной неизменности всех остальных условий анализа, может привести не к улучшению, а даже к ухудшению как абсолютных, так и относительных пределов обнаружения элементов. (Конечно, если анализ на приборе с малой разрешающей силой и большой светосилой проводился так, что почернения фона на спектрограммах. были значительно выше оптимальных, то переход к прибору с большей разрешающей [c.73]

Случай изменения почернений фона при смене спектрографа, [c.75]

Все перечисленные приемы достижения оптимального почернения фона, за исключением увеличения навески анализируемого образца, способствуют снижению не только относительных, но и абсолютных пределов обнаружения примесей. [c.81]

Если суммарное почернение линии и фона в спектрах образцов превышает почернение фона на 0,3—0,4, переход к интенсивности и учет фона не обязательны можно строить градуировочные графики и производить определения но разности почернений = 5д+ф — [c.69]

Концентрат на угольном порошке помещают в кратер [й = 4,5 мм /г = 4 мм) графитового электрода с1 = 6 мм). Верхний электрод затачивают на коиус. Между вертикально поставленными электродами зажигают дугу, питаемую постоянным током силой 10 а. Спектр фотографируют при помощи кварцевого спектрографа ИСП-28 или ИСП-22 с трехлинзовой конденсорной системой. Ширина щели — 15 мк. Экспозиция—30 сек. Промежуточная диафрагма подбирается таким образом, чтобы почернение фона вблизи линии Р 1 2535,65 А было не более 0,4— [c.85]

Угольный концентрат, полученный в результате химического обогащения, помещают в кратер графитового электрода (анода) следующей формы диаметр электрода —6 мм, диаметр кратера-—4,5 мм, глубина кратера —4 мм. Верхний электрод затачивают на конус. Между вертикально поставленными электродами зажигается дуга, питаемая постоянным током силой 10 а. Спектр фотографируют при помощи кварцевого спектрографа ИСП-28 или ИСП-22 с трехлинзовой конденсорной системой. Ширина щели—15 мк. Экспозиция — 2 мин. Промежуточную диафрагму подбирают таким образом, чтобы почернение фона вблизи линии Б 1 2497,7 А было 0,3—0,4. На одной фотопластинке фотографируют по 2 раза спектры проб, эталонов и холостых опытов. [c.87]

Определение натрия в солях калия [356]. Метод применен для определения 10 —10% натрия в растворах КС1, ККОз, К28О4. Анализ проводят в дуге переменного тока с напряжением 180—200 В, силой тока 8—9 А, применяя активизатор Свентицкого. Спектры снимают на пластинки изоорто или изопанхром, ширина щели 0,0015— 0,01 мм, экспозиция 8—15 с. При определении 10 —10 % натрия аналитическая пара линий Ка 588,995 нм—К 580,10 нм, относительная погрешность 14%. При определении 10" —10% натрия измеряют почернение линий натрия 330,23 нм, калия 344,64 нм и почернение фона вблизи этих линий относительная погрешность 5%. [c.103]

Чувствительность спектрального анализа определяется в первом приближении отношением почернения аналитической линии к почернению фона. Буферное соединение на различных участках спектра не одинаково влияет на интенсивность фона. Это хорошо видно на примере двух линий хрома 3014,76 и 4254,33 А (рис. 48). С увеличением концентрации фтористого лития суммарное почернение ли-ни й Сг 3014,76 А и фона растет вплоть до 75%. Почернение фона возле лйнии также растет, сначала медленно, а- при содержани-и буфе- [c.99]

Использование фона сплошного спектра дает правильные результаты только тогда, когдафон принадлежит элементу основы или его соединениям с компонентами воздуха. Измеряемый участок фона должен располагаться по возможности ближе к аналитической линии и быть свободным от наложений. Почернение фона должно быть в области нормальных почернений фотоэмульсии. Различные вопросы использования и учета фона подробно рассмотрены в работах [5, 19, 24, 270, 271 и др.]. В последнее время в качестве внутреннего стандарта все чаще используют неразложенный свет. [c.110]

Микрофотометрирование. Для получения правильных результатов фотометрирования необходим ряд нредосторожностей при измерении почернений. Показания микрофотометра, вообще говоря, всегда завышаются за счет рассеянного света освещающей лампы, проходящего через измерительную щель прибора. Для уменьшения количества рассеянного света нужно, по возможности, сужать предварительную щель микрофотометра. При этом ширина ее изображения на экране должна быть больше, чем ширина измерительной щели. Последняя должна составлять не более 30—50% от ширины изображения измеряемой линии на экране. Дпя усреднения результатов щель спектрографа при фотографировании линейчатого спектра желательно расширить, наеколько это позволяют условия съемки. Рабочая ширина щели спектрографа ограничена ростом почернения фона и наложением изображений мешающих линий на измеряемую. С другой стороны, выбор чересчур узкой щели спектрографа может привести к ошибкам, обусловленным кривизной линий — прямая измерительная щель может частично выйти за пределы изображения линии. Последнее обстоятельство также заставляет ограничивать высоту измеряемого участка спектральной линии. Обычно для фотометрирования выбирают ширину изображения спектральной линии (на фотографической пластинке) около 0,05 мм, высоту изображения 1 мм. При этом площадь фотометрируемого участка эмульсии составляет около 0,05 мм и зернистость эмульсии практически не сказывается на результатах измерений. Необходимость уменьшить фотометрируемую площадку в 5—20 раз изменяет условия так, что ошибка, обусловленная зернистостью, может стать определяющей. [c.310]

Для аналитических задач первого типа ( д = onst) 5ф. от = = 0,10—0,15, несколько колеблясь для разных фотоматериалов. Ввиду кратковременности экспозиции (линия высвечивается очень быстро) для получения даже таких небольших, почернений фона часто требуется либо светосильная спектральная аппаратура, либо высокочувствительная фотоэмульсия. [c.50]

Простой способ анализа в случае с < Стынад заключается в следующем [272]. В области содержаний с<Ст1пнад фотографируют одинаковое большое число (я > 20) спектров каждой пробы и эталона. На спектрограммах независимо от того, обнаруживается ли в них аналитическая линия, измеряют почернения на месте расположения этой линии. Как обычно, измеряют почернения фона рядом с линией (см. 2.1.5) и находят интенсивность линии /д (или /л//ф. лДл.ср). в каждой спектрограмме. Полученные результаты усредняют по всем спектрограммам данной пробы (эталона). Затем строят прямолинейный градуировочный график в логарифмических координатах, пользуясь которым определяют содержания с < Стш над элемента В неизвестной пробе. Пример такого графика приведен на рис. 14. [c.56]

Почернения сплошного фона рядом с аналитической линией, необходимые для вычисления величин А5 = + ф—5ф (или /д//ф), целесообразно измерять по обе стороны от линии и не по минимуму почернения, а на строго определенном, возможно более близком расстоянии от аналитической линии. Это расстояние устанавливают для каждой спектрограммы с помощью микрометренного винта микрофотометра или каким-либо другим достаточно надежным способом. Почернения фона, измеренные по обе стороны анЕ [c.58]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Спектральный анализ концентрата примесей. Источником возбуждения спектра концентрата, полученного в результате химического обогащения, служит дуга постоянного тока (10 а, 220 в) между вертикально поставленными угольными электродами. Питание дуги осуществляется от ртутного выпрямителя зажигание производится при помощи высокочастотной искры, полученной от генератора ПС-39, ДГ-1 или ДГ-2, установленного в режиме двойного питания. Пробу помещают в кратер нижнего электрода (анода) глубиной 6 мм, диаметром 4 мм. Электроды предварительно обжигают в течение 15 сек. в дуге при силе тока 10 а. Спектры дуги фотографируют при помощи кварцевого спектрографа средней дисперсии (ИСП-28) с трехлинзовым конденсором и шириной щели 0,015 Л4Л1. Время экспозиции — 90 сек., промежуточную диафрагму подбирают таким образом, чтобы почернение фона вблизи линии Си 3247,54 А было 0,4—0,5. [c.168]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология