Изображение источника света на щели спектрографа

Сначала снимают спектр угольных электродов для проверки их чистоты. Электроды укрепляют в штатив так, чтобы центр межэлектродного промежутка был на оптической оси коллиматора. Для этого при помощи проекционного устройства, которым снабжен штатив ШТ-9, получают изображение электродов на вспомогательном экране. Закладывают (в темной комнате) фотографическую пластинку в кассету при этом эмульсия пластинки должна быть обращена к объективу камеры спектрографа ИСП-22 или ИСП-28. Вставляют кассету в рамку спектрографа. При помощи микровинта подбирают ширину щели, которая варьируется в пределах 0,007—0,05 мм. Для правильного освещения источником света щели спектрографа применяют трехлинзовую осветительную систему (см. рис. 90) или другие способы освещения щели. [c.241]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

В комплекте кварцевого спектрографа (фокусное расстояние объектива коллиматора 703 мм) имеется трехлинзовая система с фокусными расстояниями конденсоров (считая от источника света) 75, 150 и 275 мм. Определите I) расстояние от первых двух конденсоров и источника света до щели, 2) с каким увеличением изображение источника света проектируется на объектив коллиматора. [c.117]

Далее отодвигают штатив на свое место и проверяют положение источника света на оптической оси прибора. Для этого снимают кассету спектрографа и при широко открытой входной щели и горящем разряде между электродами убеждаются в том, что изображение источника света расположено в центре действующего отверстия спектрографа (в данном случае чуть правее центра объектива [c.55]

Объектив коллиматора должен быть равномерно заполнен светом (при фокусировке источника на щель спектрографа) или изображение источника должно находиться в центре объектива коллиматора при размытом световом пятне в плоскости щели. [c.311]

Кроме спектрального прибора и условий, описанных выше, для определения лантана в металлических образцах можно пользоваться кварцевым спектрографом средней дисперсии (ширина щели 0,01 мм, изображение источника света проектируется на щель с помощью сферической линзы, имеющей фокусное расстояние 75 мм.). Ток в генераторе ДГ-1 (ДГ-2) —6—8 а. Для анализа металлических образцов можно применять также генератор низковольтных (120 в) импульсов (С = 2000 мкф, Ь = = 60 мгн, медный подставной электрод диаметром 2—3 мм, заточенный на острие под углом 45° при вершине, съемка — 3 импульса), без предварительного обжига. [c.108]

Спектры снимали на спектрографе ИСП-28, причем изображение источника света проектировалось на щель трехлинзовой оптической системой с промежуточной диафрагмой. [c.377]

Изображение источника света на щели спектрографа [c.20]

Затем на горячие верхний и нижний электроды наносят по две капли исследуемого раствора, который, испаряясь, дает плотный и хорошо держащийся на электродах осадок. После этого производят фотографирование. Изображение источника света должно проектироваться на щель спектрографа так, чтобы фотографировался центральный участок дуги. В данном случае фоны спектров получаются незначительными, и учет фона производят общеизвестными способами. [c.70]

Получение локальных спектров. Используя соответствующий конденсор, можно получить спектры свечения отдельных небольших участков источника. Для этого нужно, чтобы конденсор позволял получать большие увеличения и был свободен от аберраций. При относительно большом кружке рассеяния свечения соседних участков источника накладываются друг на друга. Поэтому при получении локальных спектров с хорошим пространственным разрешением в качестве конденсора употребляют объективы микроскопа. Правда, их небольшой диаметр обычно не позволяет получить хорошее заполнение коллиматора, и поэтому для достижения хорошего пространственного разрешения приходится мириться с неизбежным уменьшением количества используемого света. При резком проектировании источника на щель спектрографа получается распределение свечения по сечению, которое вырезается щелью из изображения источника. В данном случае пространственное разрешение определяется разрешающей способностью конденсорной линзы. [c.137]

Оптическая схема прибора ИСП-22 представлена на рис. 24. Свет от источника света — дуги переменного тока или искры 1— линзой конденсора 2 проектируется на входную щель спектрографа 3. Перед входной щелью помещается диафрагма с фигурными вырезами (см. рис. 22), при помощи которой из изображения источника света на входной щели вырезается определенный участок светящегося облака. При помощи наклонного выреза этой диафрагмы легко фотографировать рядом со спектром излучения вещества спектр сравнения, который позволяет определить длины волн спектральных пиний изучаемого спектра. [c.43]

Две щели необходимы по следующей причине. Входная щель ограничивает угол в горизонтальной плоскости, в пределах которого распространяется свет, попадающий в монохроматор. Она выступает в роли линейного источника, подобно щели эмиссионного спектрографа. Хорошо известно, что для спектрографа, дающего стигматическое изображение, спектральные линии имеют такую же форму, как и щель. Уменьшение ширины щели приводит к уменьшению ширины спектральных линий (вплоть до дифракционного предела Рэлея). [c.26]

При вращении диска 1 периодически возникает импульс фотодатчика 10, который блокируется электронной схемой. Блокировка снимается при нажатии кнопки пуск . При этом открывается электродинамический затвор 12 и фотодатчик 13 запускает исследуемый источник света 14. Длина развертки на щели 5 спектрографа 12 мм. Кружок рассеяния в изображении точки диска на щели 5 равен 0,1 мм для области 2200—4000 А вследствие чего ширина временной щели принята равной 0,1 мм. [c.183]

Для спектральных исследований кристаллов и паров обычно используется установка, показанная на рис. 1. 1. Свет от источника с помощью собирательной кварцевой линзы фокусируется на образец, помещенный внутри криостата для низкотемпературных исследований. Четкое увеличенное изображение образца в плоскости щели спектрографа получает- [c.11]

Ширина изображения линии на спектрограмме 5 зависит от аппаратного контура спектрографа, геометрической ширины щели, собственной ширины спектральной линии в источнике света, разрешающей способности используемых фотоматериалов. Формально указанные факторы можно учесть, приписав каждому из них определенную ширину спектральной линии на спектрограмме. Согласно данным [1179], будем тогда иметь [c.72]

В комплекте кварцевого спектрографа имеется однолинзовый кварцевый конденсор (Р=1Ъ мм, световой диаметр 25 мм). Как нужно установить этот конденсор и источник света, если использовать способ освещения с получением изображения на щели Как можно в этом случае применить насадоч-ную линзу из трехлинзовой системы (см. упражнение 5) для устранения виньетирования [c.129]

Для обнаружения следов элементов также существенны интенсивность (оптическая плотность) и разрешение спектра. Снижение абсолютного предела обнаружения микроаналитического метода достигается применением светосильного спектрографа. Использование света можно улучшить правильным освещением спектрографа. Промежуточное изображение особенно важно для количественного анализа (разд. 3.7.4 в [8а]). Предел обнаружения улучшается, если источник света отобразить на щель спектрографа с помощью системы ахроматических линз, а с помощью вогнутого [c.32]

На рис. 15 представлена оптическая схема спектрографа КСА-1. Источник света 1 проектируется линзой 2 с фокусным расстоянием 75 мм на диафрагму револьверного типа, укрепленную на оправе линзы 3 с фокусным расстоянием 150 мм. Линза 3 проектирует изображение линзы 2 через поворотное зеркало на входную щель спектрографа 5. Изображение ос- [c.37]

Есть такая старая сказка, в которую верят спектроскописты, не получившие достаточно основательного физического образования, будто можно увеличить количество света, попадающего от источника света в спектральный аппарат, и тем самым также чувствительность спектрального анализа, давая изображение этого источника света на щели спектрографа. Оно так и есть только в том случае, если этот источник света столь мал или настолько удален от этой щели, что чечевица коллиматора не освещена полностью. Обратимся к рис. 12. Пусть ш обозначает отверстие спектрографа с силой света 1 10 (т. е. пусть, например, диаметр чечевицы коллиматора равен 4 см, а ее фокусное расстояние 40 см). В таком случае, если источник света имеет в длину 3 мм, то еще на расстоянии трех см источника света от щели коллиматор будет освещен полностью. На большем же расстоянии, как это видно из геометрического чертежа, только часть чечевицы будет освещена. (На самом деле, сюда прибавляется еще немного света, благодаря дифракции лучей, так как всегда приходится работать с узкими щелями). На схематическом рис. 13 тонкой линией изображают угол заполнения ш (см. рис. 12), пунктирные линии — геометрический ход лучей в случае малого источника света, а толстые линии — действительное [c.20]

Но последний случай оказывается особенно желательным в случае качественного анализа со снимками, полученными высокочастотным методом, так как он помогает быстро ориентироваться относительно связи спектральных линий с препаратом или противоположным электродом. На рис. 16 приведен снимок внутренности яблочной косточки, полученный высокочастотным методом с золотой проволокой в качестве противоположного электрода. Снимок этот получен с большим спектрографом Ц е й с с а при фокусном расстоянии от чечевицы коллиматора в 40 см, расстоянии искры от щели 5 см и без отображающей чечевицы. С первого же взгляда бросается в глаза группа спектральных линий в нижней части спектра и другая группа их в верхней части. Только самые сильные линии переходят — правда, с все убывающей интенсивностью — в другую половину спектра. Эта интенсивность, проходящая через весь спектр сверху до низу, обусловлена равномерным освещением щели разницы в интенсивности возникают из-за названного выше неясного изображения самого источника света на щели, потому что расстояние между чечевицей и источником света лишь на 12% больше, чем фокусное расстояние чечевицы. Таким образом сейчас же можно определить, какие спектральные линии исходят от золотого электрода и какие От препарата (Мд, Ре, Мп, 51, Р, В). Это может иметь и очень большое принципиальное значение. Нам придется еще и в других местах упоминать, что никогда нет гарантии в полной чистоте противоположного (второго) электрода. Так чистейший золотой электрод всегда еще содержит следы меди, серебра, а также свинца и других элементов. Уже и сама по себе слабая интенсивность основных линий второго электрода предполагает тем более слабую интенсивность спектральных линий его примесей. [c.23]

Такое безлинзовое освещение щели спектрографа имеет и другие недостатки. Например, нельзя выделить свечение разряда вместе с ним попадает свет от раскаленных концов электродов, испускающих непрерывный спектр. Удаляя источник от щели, получим ослабление освещенности изображения чтобы ее повысить, применяют освещение с помощью линз. [c.161]

Линза 2 фокусирует источник 1 на плоскость главного сечения линзы 3. Последняя фокусирует линзу 2 на плоскость щели 5, и, наконец, линза 4 фокусирует линзу 3 на главную плос.кость коллиматорного объектива 6. Таким образом, первое изображение источника получается в плоскости линзы 3, и здесь может быть при необходимости поставлена диафрагма, вырезающая ту или иную часть изображения источника. Второе изображение источника образуется в плоскости коллиматорного объектива 6. Очевидно, для того чтобы коллиматорный объектив был заполнен светом, изображение источника или выделенной его части должно быть не меньше размеров объектива. Из этого условия рассчитывается увеличение всей осветительной системы. Приближенный расчет трехлинзовой системы довольно прост, на нем мы не останавливаемся, так как к спектрографам обычно прилагаются рассчитанные и изготовленные заводом осветительные системы. [c.152]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Если по каким нибудь определенным соображениям источник света должен находиться на большом расстоянии от спектрографа или, если по какой либо особой причине желательно получить изображение источника света, т. е. необходимо стигматическое исследование его, то приходится подбирать чечевицу, оптическая сила которой вдвое больше, чем она обычно бывает у коллиматора. Если исгочник света отображается на щели спектрографа в натуральную величину, получается (пренебрегая преломлением) ход лучей, изображенный на рис.14. [c.21]

Работа проводилась на стеклянном спектрографе ИСП-51. Источником света служила дуга переменного тока, питаемая от сети напряжением 220 в. Дуга зажигалась между графитовыми электродами. Длина электродов 15 мм, диаметр б мм. Верхний электрод затачивался на усеченный конус с диаметром рабочей площадки примерно 1,5 мм. Нижний электрод имел отверстие глубиной и диаметром 2мм. Сила тока дуги 5 а. Ширина щели спектрографа 0,02 лж. Для освещения щели применялась трехлинзовая система с промежуточным изображением источника света. Высота промежуточной диафрагмы 0,8 мм. Почернение аналитических линий определяли на микрофотометре МФ-2. Эталоны и пробы снимали 3 раза на одну пластинку. Продолжительность экспозиции 80 сек. Пластинки применяли панхром нормальной чувствительности. В качестве аналити- [c.254]

Ход анализа. 50 г 2гОг уплотняют ровным слоем на дне графитового катода с полостью глубиной 10 мм, диаметром 5 мм и внешним диаметром 6,5 1Ш, следя, чтобы на поверхность пробы не попадал графит. Внутреннюю поверхность разрядной трубки и анод чистят ватными тампонами, смоченными спиртом или СС1.1. После загрузки проб в разрядную трубку откачивают атмосферу и впускают гелий до давления 12 мм рт. ст. С помощью автотрансформатора ЛАТР-1, включенного в первичную цепь выпрямителя, повышают силу тока до 80—100 ма и в течение 30 сек. производят предварительное обезгаживание катода. Затем производят экспозицию при силе тока 300 ма в течение 30 сек. на оба прибора и после этого — при 1000 ми в течение 90 сек.— на ИСП-22. Повышать силу тока следует медленно и равномерно. При резком увеличении подаваемого на трубку напряжения, когда катод еп ,е не разогрелся, возможны резкие скачки разрядного тока. Для каждой навески пробы следует использовать новый катод, так как интенсивность линий многих примесей, особенно таких, как А1, Са, Ыа и К, значительно уменьшается при повторном использовании катодов. Освещение щели спектрографа ИСП-22 производится с помощью одной конденсорной линзы. Около щели под углом 45" к ее плоскости устанавливают маленькое зеркало. Изображение половины катода в нем служит источником света для спектрографа ИСП-51, освещение щели которого производят с помощью трехлинзовой системы. Ширина щели ИСП-22—18 мк, ИСП-51—7 мк. Для регистрации коротковолновой области спектра до 2500 А на спектрографе ИСП-22 используют фотопластинки спектральные , тип III или микро области 2550—3100 А — спектральные , тип I или диапозитивные чувствительностью 0,5—0,7 ед. ГОСТ для регистрации линий VI 3184,0 А и Т1 И, 3349,0 А — спектральные , тип 1, чувствительностью 2,8 ед. ГОСТ линий Са 11 3933,7 А и А1 I 3944,0 А — диапозитивные , чувствительностью 0,25 ед. ГОСТ. Для регистрации линий К и Ь1 на спектрографе ИСП-51 используют фотопластинки инфра-720 . В прорезь кассеты в месте нахождения линии Ь1 6707,8 А устанавливают фильтр с пропусканием около 30"о. Для регистрации линий Ыа используют пластинки микро . [c.350]

Основным источником излучения молекулярных спектров являются холодные периферические зоны дуги. Между тем оптические схемы спектрографов обычно рассчитаны на регистрацию излучения сравнительно небольшого наиболее горячего участка облака дугового разряда. Поэтому при анализе по молекулярным спектрам сигнал излучения регистрируют не в оптимальных условиях. Если регистрировать излучение холодных периферических областей спектра, то можно ожидать повышения чувствительности анализа по молекулярным спектрам. На этом принципе разработан метод определения фтора в порошках по молекулярной полосе aF с кантом 529,1 нм. Использованы спектрограф ИСП-28 и генератор ДГ-2. Анализ вели по методу просьшки. В связи с тем что при обычном освещении щели вся излучаемая область дугового облака не помещается в щели, на нее проектировали уменьшенное в 2—3 раза изображение дуги. С этой целью использовали кварцевый конденсор Ф-75 с фокусным расстоянием 75 мм, который был установлен на расстоянии приблизительно 10 см от щели спектрографа и 30 см от источника света. При этом изображение дугового облака уменьшалось до 8 мм по высоте, что соответствовало высоте щели прибора. При таком способе регистрации спектра предел обнаружения фтора составил 0,001—0,002%, в то время как при обычной регистрации был 0,05—0,1% [375]. [c.262]

Осветительная система прибора, состоящая из трех конденсоров с фокусными расстояниями 76, 150 и 275 мм, обеспечивает ахроматическое освещение щели. Источник света проектируется конденсором 2 на диафрагму револьверного типа, укрепленную на оправе конденсора 3. Последний проектирует уменьщенное изображение конденсора 2 на щель спектрографа. Изображение освещенной диафрагмы конденсором 4 проектируется в плоскость объектива камеры и заполняет его. Трехлинзовую систему конденсоров можно заменить одним кварцевым конденсором с фокусным расстоянием 75 мм, который устанавливают на расстоянии 316 мм от щели источник света помещают на расстоянии [c.70]

При использовании спектрографа в качестве спектроскопа значительную помощь при визуальном изучении спектров могут оказать соответственно изготовленные спектрограммы. Например, спектрограмма чистого железа может служить превосходным аналитическим эталоном при анализе сталей. Поэтому позитивная фотография спектрограммы (отпечатанная с обработанной спектральной пластинки), т. е. копия негативного изображения спектра в чернобелом цвете, помещается в описанное выше вспомогательное устройство. Затем одну половину щели спектрографа освещают лампой накаливания через призму полного внутреннего отражения. С помощью устройства с передвигающейся пластинкой устанавливают спектрограмму по высоте в соответствии с непрерывным спектром лампы. Таким образом, без использования железной дуги сравнения можно достаточно точно воспроизвести спектр железа. Свободная часть щели освещается аналитическим источником света. Если эталонный спектр железа совместить с изучаемым спектром, то визуально будут наблюдаться только линии легирующих компонентов. Это облегчает количественную оценку спектра [1]. [c.294]

В трехлинзоьом конденсоре линза 1 дает изображение источника в плоскости линзы 2. На линзе 2 устанавливают диафрагмы разных размеров, позволяющие выделить нужные размеры источника и устранить свет электродов. Линза 2 образует изображение равномерно освещенной линзы 1 на плоскости щели. На последней получается равномерно освещенное световое пятно, не смещающееся при бегании дуги или искры. Линза 3 является антивиньетирующей, она фокусирует плоскость линзы 2, а следовательно и изображение источника, в плоскость коллиматорного объектива. Расположение линз конденсорной системы обычно приводится в описании спектрографа, в комплект которого они входят. [c.162]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология