Электронная дифракция артефакты

Если для анализа молекулярной структуры предполагается использовать дифракционные картины, то излучение, претерпевающее дифракцию, должно иметь длину волны более короткую, чем расстояние между атомами в молекуле. Длина волны рентгеновских лучей около 0,1 нм (что соответствует диаметру атома водорода), и поэтому данный тип излучения идеально подходит для анализа расположения индивидуальных атомов в молекулах. Такую задачу нельзя решить даже на самых современных электронных микроскопах. Существенным преимуществом рентгеновских лучей является высокая (выше, чем у электронов) проникающая способность. Это делает пригодными для анализа более толстые образцы. И наконец, поскольку в данном случае использование вакуума не предусмотрено, можно изучать толстые водосодержащие образцы. Вследствие этого исключаются артефакты, возникающие в процессе приготовления образца. [c.192]

Как более неблагоприятный вариант мы расцениваем ситуации, когда при заведомо различных типах ориентационного надмолекулярного порядка получаются одни и те же значения F. Поскольку наблюдать отдельные цепи в электронный микроскоп, даже при гарантии отсутствия артефактов, невозможно, и сканирование посредством локальной электронной дифракции тоже не решает проблему, можно было бы уповать на рассеяние нейтронов. Но тут снова возникают неприятности усреднение ведется по всем меченым макромолекулам, опять-таки безотносителько к тому, находятся они в кристаллических или аморфных областях образца, а поэтому получающийся из этих измерений среднеквадратичный радиус инерции не дает нужной информации. [c.367]

Данные о размерё упорядоченных структур в аморфных полимерах получены специальными электронно-микроскопическими методами, а также по малоугловым рентгенограммам и данным малоугловой дифракции электронов. В настоящее время накапливается все больше данных о зернистой структуре аморфных полимеров, в которой зерна упорядоченной структуры распределены в менее упорядоченной матрице. Зернистое (мелкоглобулярное) строение эластомеров было отмечено Шуном еще в 1956 г. по электронно-микроскопическим данным и развито в ряде других его работ [61]. Однако общее недоверчивое отношение к электронно-микроскопическим исследованиям структуры эластомеров привело к тому, что они не принимались всерьез, а зернистость пленок рассматривалась как артефакт. Зернистое строение аморфных полимеров было надежно доказано при исследовании жесткоцепных полиэтилентерефталата и поликарбоната. [c.40]

Анатомия мембраны. Относительно размеров и общей молекулярной структуры клеточных мембран существует весьма широко распространенное представление, которое, однако, не всеми поддерживается. Толщина растительных мембран находится в пределах от 75 до 100 А. Расположение молекул липидов и белков в мембранах пока еще неизвестно. Выяснение природы светлых и плотных линий, видимых на электронных микрофотографиях, а также решение вопроса о существовании в природе универсальной элементарной мембраны зависят от увеличения разрешающей способности электронного микроскопа. Сомнения, связанные с возможностью артефактов, могут быть рассеяны только при проведепии независимых наблюдений с использованием нескольких различных методов фиксации. Чрезвычайно плодотворным было бы применение для изучения анатомии мембран некоторых новых подходов, например метода дифракции рентгеновских лучей. [c.54]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология