Микрофотографии электронные

Рис. 74. Микрофотографии (электронная микроскопия, метод замораживания—скалывания) микросфер, полученных в плазме.

Рис. 2-12. Микрофотография нефтяного кокса чешуйчатой структуры. Сканирующий электронный микроскоп

Рис. 76. Микрофотография (электронная микроскопия, метод замораживания-скалывания) стенки микросферы при большом увеличении.

Рис. 9.10. Электронная микрофотография центральной части трещины серебра, подобной показанной на рис. 9.9. (С разрешения Халла [ 06].)

Рис. 14.1. Микрофотография поверхности фосфатированиой мягкой стали марки 1010 (получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). Покрытие получено из кислого раствора фосфата цинка с добавкой нитрата натрия в качестве ускорителя при выдержке в течение 1 мин при 65 °С [11а]

Метод электронной микроскопии может быть использован для непосредственного наблюдения распределения пор по размерам. Этот метод является прямым и дает детальную статистику распределения пор. Однако обработка электронно-микроскопических микрофотографий представляет собой весьма трудоемкий процесс. [c.102]

Рис. 28. Электронная микрофотография реплики со скола образца катализатора КС. Увеличение 15000.

Доля незамерзающей — связанной — воды зависит от природы мембраны. Сопоставление этих данных с микрофотографиями, полученными на электронном микроскопе, показало хорошее соответствие между количеством незамерзающей (связанной) воды и плотностью полимерной фазы в мембране. Чем больше плотность полимерной фазы, тем выше степень взаимодействия между полимерными молекулами и тем ниже степень их взаимодействия с водой. В мембране № 6 вся содержащаяся в ней вода является связанной, и плотность полимерной фазы в этой мембране очень высокая. [c.67]

Эту характеристику можно оценить по электронным микрофотографиям и с помощью радиоактивных методов [ПО]. [c.108]

Рис. З-б. Электронные микрофотографии структуры антрацита

Электронная микроскопия позволяет получать информацию о распределении частиц по размерам при минимально определяемом на практике диаметре частиц до 1 нм. Метод трудоемок в части подготовки объекта для съемки и обработки его результатов. Для получения надежных данных обычно на электронной микрофотографии определяют размеры приблизительно тысячи случайно выбранных частиц. [c.376]

Благодаря современным методам анализа установлены способы построения ССЕ смолисто-асфальтеновых веществ различных нефтей [61]. Размеры ядер ССЕ, определенные рентгенографически, имеют заниженные значения по сравнению с таковыми, найденными электрономикроскопическим анализом (соответственно 5 нм [120] и 10 нм [121]), что, вероятно, связано с включением прп определении размеров по электронным микрофотографиям алифатической части молекул, в то время как рентгеновские лучи рассеиваются только упорядоченной частью или ядром ССЕ. Показано, что строение ядер ССЕ нефти и соответствующих остатков почти идентично, однако, при крекинге оно существенно меняется — уменьшается расстояние между [c.72]

Несколько дней спустя, когда я ехал в автобусе в Оксфорд, мне внезапно пришло в голову, что каждую частицу ВТМ нужно представлять себе в виде крохотного кристалла, растущего, как и все прочие кристаллы, благодаря существованию таких уютных уголков. А еще важнее было то, что проще всего эти уютные уголки возникали при спиральной укладке субъединиц. Идея была настолько простой, что не могла не оказаться верной. Каждая винтовая лестница, попадавшаяся мне на глаза в Оксфорде, укрепляла мою уверенность в том, что и другие биологические структуры должны иметь спиральную симметрию. Неделю с лишним я просидел над электронными микрофотографиями мышечных и коллагеновых волокон в поисках признаков спирального строения. Однако Фрэнсис был настроен скептически, и я знал, что, не располагая конкретными фактами, ни в чем не смогу его убедить. [c.69]

Рис. 18.14. Последовательные фотоэмиссионные электронные микрофотографии распространения химических волн, наблюдаемых в ходе реакции СО + 1/2О2 СО2 на поверхности монокристалла Р1(110)

Рис. 8.45. Электронная микрофотография сверхтонкого поперечного сечения, сделанная через область с пустотами вытянутого одиночного волокна ПА-6

Пластическое деформирование особенно проявляется в полимерных материалах. Электронные микрофотографии, представленные в гл. 8, достаточно убедительно свидетельствуют об этом факте. Поэтому необходимо исследовать, можно ли применить метод механики разрушения, разработанный для упругих материалов, для упругопластических твердых тел и как это сделать. Хорошо известно [3—7] влияние пластического деформирования на распределение напряжения при вершине трещины. Например, при квазиупругих условиях деформирования упругопластический материал начинает пластически деформироваться, как только состояние напряжения удовлетворяет критерию вынужденной эластичности или течения. Пластическое деформирование начинается в области наибольших напряжений, т. е. вблизи вершины трещины оно ограничивает составляющие напряжения пределом вынужденной эластичности Для поддержания механического равновесия должны увеличиться напряжения в более отдаленных областях (до значения предела вынужденной эластичности). Таким образом, пластическое деформирование характеризуется увеличением эффективной длины трещины [3—7]. Существуют два общих метода расчета эффективного расширения трещины при пластической деформации, которые основаны соответственно на критерии вынужденной эластичности Мизеса [6] и рассмотрении Ор в качестве дополнительного напряжения сжатия [7]. [c.339]

Явление нагружения и разрыва молекулярных нитей изучалось различными методами. В большинстве цитированных работ приведены оптические и электронные микрофотографии трещин серебра. Отдельные примеры воспроизведены на рис. 9.8—9.10. Результаты исследований формы трещин серебра методом интерференционной микроскопии обсуждаются в работах [15, 155, 177]. Приведем некоторые результаты, полученные путем измерений тепловых характеристик [31, 50, 184—186], путем анализа влияния молекулярной массы на образование трещин серебра [И, 15, 65, 79, 146, 178], методом акустической эмиссии [174, 188] и методом ЭПР [189—190]. [c.381]

Медленный рост трещины при растяжении компактных образцов, обладающих морфологической структурой второго типа, схематически проиллюстрирован на рис. 9.23, а. Здесь показан преимущественный рост трещин серебра впереди обычных трещин вдоль поверхностей раздела крупных сферолитов (рис. 9.23, б), внутри более крупных сферолитов (рис. 9.23, в) и на границах небольших сферолитов (рис. 9.23, г). Поведение обычной трещины в зоне ее быстрого роста иллюстрируется на рис. 9.24. На микрофотографии поверхности разрушения, полученной на сканирующем электронном микроскопе, выявляются отклонения пути разрушения от прямой, обусловленные неоднородностями структуры (рис. 9.24, а). Точки 1—3 соответствуют путям разрушений, показанных на рис. 9.24, а—в. Эти пути соответствуют границе сферолита 1 или рассекают соответственно сегмент 2 или ядро 3. [c.395]

Рис. 4-16. Электронная микрофотография морфологических составляющих композиций сажа — связующее (смола ФН), полученные при 300-500 С и последующем быстром спекании и графитации

На электронной микрофотографии (рис. 6-50) видны отличающиеся по толщине складки частичек (темные полосы на изображении). Они, по-видимому, соответствуют расщепленным слоям чешуек. [c.375]

Рис, 75. Микрофотография (электронная микроскопия, метод замораживания—скалывания) фосфолипидных пузырьков (Харгривс и Димер, 1978). [c.104]

Рис. 30. Электронные микрофотографии нерастворимых частиц, об разующихся в топливах (смолы, отложения и осадки, ЮОООХ) [6, 35]

Благодаря современным методам анализа установлены способы построения структурной единицы смолисто-асфальтеновых веществ различных нефтей [И, 119]. Согласно данным рентгеноструктурного анализа надмолекулярная структура асфальтенов состоит из 5—6 слоев полйядерных двухмерных пластин общей толщиной 1,6—2,0 нм. Размеры надмолекулярных структур, определенные рентгенографически, имеют заниженные значения по сравнению с таковыми, найденными электрономикроскопически, что, вероятно, связано с включением при определении размеров по электронным микрофотографиям алифатической части молекул, в то время как рентгеновские лучи рассеиваются только упорядоченной частью или ядром молекулы. [c.30]

Так, при разности потенциалов 50 кВ (что обычно применяется) длина волны электронов соответствует 0,54-10 нм. Теоретически оптимальное разрешение электронного микроскопа равно примерно 0,5—1,0 нм. В практической электронной микроскопии достигают разрешения порядка 5,0—10,0 нм, которое рассматривают как удовлетворительное среднее значение. Обычно увеличенпе приборов составляет от 5000 до 50 000 диаметров образца, а последующее оптическое фотоувеличение равно от 5 до 10. Человеческий глаз в среднем может легко различить длину 0,2—0,5 мм, и поэтому детали с размерами порядка 5,0 нм легко рассмотреть на хорошей электронной микрофотографии, для которой окончательное увеличение составляет примерно 200 000. [c.250]

Цель работы получение электронных микрофотографий частиц дисиерсных систем и определение по ним размеров и гранулометрического состава. [c.123]

Рис. 4-8. Электронная микрофотография сажи П805Э после термообработки при 3000 С. X 536000 [4-5]

Пластичные смазки — мазеобразные продукты, не обладающие текучестью при обычных температурах, цредставляющие собой особый класс смазочных материалов, приготовляемых путем введения в смазочные масла специальных, главным образом твердых мелкодисперсных загустителей, ограничивающих текучесть масел. Смазки — это коллоидные системы, имеющие пространственную структуру, образованную частицами загустителя. Жидкая фаза удерживается в полутвердом состоянии благодаря силам притяжения твердых частиц, а также механически включается внутрь кристаллов загустителя. Электронной микрофотографией, а также рентгеноструктурным анализом установлено, что большинство смазок имеет волокнистую структуру. Некоторые вещества (вода и др.), называемые стабилизаторами, повышают прочность коллоидной структуры. [c.374]

Еще при проведении первых исследований полимеров было известно, что как естественные, так и искусственные полимеры кристаллизуются [14а]. Рентгеновский анализ позволил раскрыть решеточную структуру и определить размеры единичной ячейки кристаллов полимера. До 1957 г. полагали, что кристаллиты — мицеллярного типа. Предполагалось, что типичная мицелла представляет собой пучок из нескольких сотен различных молекул, которые, покидая мицеллу и проходя аморфные области, хаотично соединяют мицеллы друг с другом. В 1957 г. Фишер [15], Келлер [16] и Тплл [17] независимо друг от друга открыли и предположили, что полимеры состоят из монокристаллических ламелл со сложенными цепями На рис. 2.2 показана электронная микрофотография пачки монокристаллов ПЭ [18], выращенной из разбавленного раствора, а на рис. 2.3 — укладка цепных молекул в подобных ламеллярных кристаллах. Здесь цепи ПЭ сложены (с поворотом цепи после каждой складки) в плоскости (ПО) ортором-бического кристалла ПЭ. Размеры единичной ячейки определены в работе [19] а = 0,74 нм, 6 = 0,493 нм, с = 0,353 нм (направление оси цепи). [c.28]

Различные виды надмолекулярной организации зависят от строения молекул, их состава, условий полимеризации, переработки, внешних условий обработки, т. е. почти от всех параметров, учитываемых при изготовлении полимеров. Размеры и формы некоторых видов надмолекулярной организации, образующихся на начальной стадии полимеризации гомополимера, показаны на примере волокнистых и глобулярных структур Уристера [21] для полиолефииов. Эти структуры получены в процессе полимеризации из газовой и жидкой фаз при низкой и высокой эффективности титановых, ванадиевых, хромовых и алюминиевых катализаторов. На рис. 2.6—2.8 воспроизводятся электронные микрофотографии образующихся таким образом полимерных структур [21]. При низкой эффективности катализатора в полипропилене формируются глобулы диаметром 0,5 мкм (рис. 2.6), а при высокой — волокна длиной в несколько микрометров (рис. 2.7). Диаметр волокна согласуется с размером боковой стороны основного каталитического кристалла и изменяется в пределах 0,37—2 мкм при изменении ширины кристалла Т1С1з в пределах 5—50 нм. Образцы полиэтилена, изготовленные с помощью катализатора ИСЦ— [c.31]

Третий вариант объяснения данных, полученных при ступенчатых деформационных испытаниях, предложили Крист и Петерлин [9]. Они предположили для любого из упомянутых выше экспериментов существование неравномерного распределения деформаций вследствие различия длин нескольких тысяч одновременно напряженных волокон. Эффект неравных длин волокон, несомненно, расширяет имеющиеся распределения относительных длин цепей. Но преждевременные разрушения отдельных волокон и образование поверхностей их разрушения нельзя объяснить числом образовавшихся свободных радикалов. Чтобы в дальнейшем выяснить этот вопрос, Хассель и Деври исследовали свободные радикалы, образованные при деформировании ленты материала найлон-66 с высокоориентированными волокнами [10]. Они получили аналогичные гистограммы, которые оказались даже более широкими по сравнению с пучками волокна найлона-66. На микрофотографии поверхности разрушения ленточного материала, полученной с помощью сканирующего электронного микроскопа, показано, что в ленте, как и в нити, дефекты образуются по всему объему напряженного образца (рис. 7.8 и 7.9). Полученная поверхность разрушения проходит вдоль направления наименьшего сопротивления через ранее образовавшиеся дефектные зоны. Лишь при приближении к значению разрушающей деформации становится заметным различие между деформированием одиночного волокна и пучка волокон. Статистическое объяснение данного факта приведено в гл. 3. [c.196]

На рис. 9.19—9.21 воспроизводятся электронные микрофотографии реплик поверхностей разрушения ПА-6, полученного кристаллизацией под давлением [202]. На микрофотографиях видны стопы ламелл толщиной до 700 нм. На основании обширных исследований методами инфракрасной спектроскопии, широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей и методами электронной микроскопии авторы данной работы пришли к выводу, что ламеллы состоят из вытянутых цепей. Согласно их предположению (рис. 9.22), трещина преимущественно может распространяться либо вдоль плоскостей (010) (в которых располагаются концы цепей, а также примеси, отторгнутые фронтом роста), либо вдоль плоскостей (002) —в слоях водородных связей ламелл. В обоих процессах не происходит разрыва связей основной цепи или водородных связей. [c.393]

Рис. 9.19. Электронная микрофотография реплики поверхности разрушения ПА-6 после кристаллизации при температуре 295 С в течение 48 ч под давлением 650 МПа. Стрелка показывает направление роста сферолита [202]. (С разрешения IP Business Press Ltd. . )

Прямым доказательством существования таких связей является наличие на электронных микрофотографиях ПЭВП четко выраженных фибрилл, соединяющих соседние скопления ламелей (рис. 3.8). Выпрямленная длина цепи использованной фракции ПЭВП — около 7,5 мкм наблюдающаяся на электронной фотографии длина фибрилл составляет 1 —1,5 мкм. [c.53]

Рис. 2-3. Электроннал микрофотография ламелярной структуры нефтяного кокса. Сканирующий электронный микроскоп.

Рис. 4-5. Электронная микрофотография сажи П805Э, окисленной на воздухе. X 40000 [3-15]

Рис. 4-10. Электронная микрофотография графитированных сажевых агрегатов в композиции сажа П805Э—высокотемпературный каменноугольный пек. Реплика со скола

Рис. 6-27. Электронная микрофотография графитированного кокса. Сканирующий электронный микроскоп. хбООО [6-103].

Образцы с первой микроструктурой имели наиболее высокую степень графитации и легко разделялись по радиально расположенным слоям. Три других образца имели близкие параметры кристаллитов. Электрохимические свойства образцов, исследованные методом циклической вольтаметрии, показали существенные отличия в поведении первого образца от трех других. Заряд (внедрение) и разряд (выделение) лития проводились при плотности тока 30 мкА/мг. Граничные напряжения соответствовали 0,02 В при заряде и 3,5 В при разряде. Первый образец показал вблизи 0,8 В большое плато потенциала при заряде, но разрядная емкость была близка к нулю. Количество электричества при заряде соответствовало Ь1Сз, которое неизвестно для систем Ы—С. Больше чем расчетные для Ь1Сб емкости при заряде указывают на протекание в электроде побочных реакций, по-видимому, связанных с разрушением слоев, внедрением сольватированных ионов лития и разложением электролита. Электронные микрофотографии волокна до и после разряда показывают, что при заряде происходит расслоение первого образца. Микроструктура второго волокна сохранялась после десяти циклов с коэффициентом использования после десятого цикла 100%. Имеющиеся изгибы слоев, по-видимому, повышают механическую прочность волокна и препятствуют его разрушению при внедрении Ь . Электрическая емкость и коэффициент использования (около 90%) для образцов 3 и 4 несколько ниже, чем для образца 2 при сохранении их структуры после первых циклов заряда и разряда. [c.344]

Электронно-микроскопические исследования показали [8-34], что при нагревании СУ до 3000 С в основном наблюдаются образования, имеющие морфологию сажи (рис. 8-14). СУ сохраняет в основном морфологические признаки исходных полимеров [8-37, 39]. На электронной микрофотографии рис. 8-14 можно видеть набор претерпевших изменения глобул, которые близки по структуре к неграфитирующимся частичкам сажи. Исходя из этого модель основного каркаса неграфитирующегося углерода может быть изображена в виде взаимно переплетающихся углеродных лент, которые состоят из многократно изогнутых пачек гексагональных слоев (рис. 8-15). Гексагональные слои в пачках располагаются неупорядоченно (турбостратно). Средняя толщина пачек соответствует значению а расстояния до изгибов лент. В местах пересечения, по-видимому, уже на стадии отверждения ленты сшиваются. При дальнейшем термолизе, на основании изучения электронных микрофотографий можно считать, что надмолекулярная структура претерпевает изменения, но сохраняет свою морфологию. Данное обстоятельство препятствует переходу основного вещества СУ в трехмерноупорядоченное состояние. Различная упаковка глобул у СУ, полученного при 900 С, показана на рис. 8-16. [c.494]

Рис. 9-12. Электронная микрофотография излома КМУП вдоль оси волокна [9-28]

Рис. 18.15. Фотаэмиссионные электронные микрофотографии химических волн различной формы, наблюдаемых в ходе реакции N0 + Н2 -5 N2 + Н2О в разных зонах поверхности моно-крисгадпа ЯН(110) [540—600 К,

Справочник химика 21

Химия и химическая технология