Метод поликристалла

В методе поликристалла (метод Дебая — Шеррера) используется монохроматическое излучение к и поликристаллический образец, состоящий из множества мелких кристалликов, хаотически ориентированных по отношению к первичному пучку рентгеновских лучей. Если образец состоит из сравнительно мелких кристалликов (порядка 1—5 мкм), то в участке образца, облучаемом рентгеновским пучком, всегда найдется достаточное число таких кристалликов, ориентация которых удовлетворяет условию Вульфа — Брегга (1.36в). [c.118]

Рис, VI.5. Схема рентгеносъемки по методу поликристалла. [c.118]

Метод поликристалла получил широкое распространение при решении прикладных задач рентгеновского структурного анализа, таких, как идентификация кристаллических веш,еств, фазовый анализ смесей, измерение периодов кристаллических решеток ИТ. п. Достаточно подробно эти вопросы применения метода поликристалла рассмотрены в работах [8, 9]. [c.119]

Рис, 9,5. Построение Эвальда, поясняющее геометрию дифракционной картины в методе поликристалла (порошка) [c.222]

Метод поликристалла (порошка) [c.239]

Рис. 9.23. Схемы съемки и рентгенограмм, полученных по методу поликристалла

Определение фазового состава образца является наиболее распространенной и сравнительно легко решаемой задачей рентгеноструктурного анализа. Каждая фаза имеет свою кристаллическую решетку, а значит, характеризуется и определенным набором межплоскостных расстояний. Поэтому для решения вопроса о том, какая фаза присутствует в пробе, нет необходимости в определении ее кристаллической структуры, а достаточно, рассчитав рентгенограмму или дифрактограмму, снятую по методу поликристалла (порошка), сравнить полученный ряд межплоскостных расстояний с табличными значениями. Совпадение (в пределах ошибок эксперимента) опытных и табличных значений d/n и относительной интенсивности линий позволяет однозначно идентифицировать присутствующую в образце фазу. [c.276]

Теперь сфера распространения радиусом 1Д (метод поликристалла) пересечет узел HKL ОР не по окружности, а только в двух точках (рис. 13.3 ). Следовательно, дифрагировавшие лучи пересекут плоскую пленку 2 не по окружности, а лишь в двух точках 7, а рентгенограмма материала с аксиальной текстурой, полученная методом прямой съемки, будет иметь вид, показанный на рис. 13.4. На месте дебаевского кольца 3 остаются только дужки, длина которых тем меньше, чем меньше рассеяние текстуры. Эти дужки называют текстурными максимумами. [c.321]

При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра. В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика. Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности. В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

О — угол отражения, т. е. угол между падающим лучом и отражающей атомной плоскостью п — целое число Я — длина волны рентгеновского излучения. Создано несколько методов Р. а. В одних из них (напр., в наиболее широко применяемом методе поликристаллов и порошков) используют характеристическое (монохроматическое) реитгеновское излучение, в других (нанр., в методе Лауэ) — т. п. излучение торможения (белое излучение). По методу поли- [c.313]

Рассмотрим коротко использование рентгенографических исследований при построении диаграмм фазового равновесия двухкомпонентных систем. Съемки ведут по методу поликристалла. Каждой фазе соответствует свой набор линий с определенными углами дифракции - или межнлоскостными расстояниями din (см. гл. 10). Для разных типов диаграмм состояния дифракционная картина будет различной. [c.395]