Аксиальная текстура

Слоистость и текстура. Как установлено рентгеноструктурными исследованиями, с ростом температуры термообработки продолжает развиваться и аксиальная текстура антрацитов. Наблюдается и четкое анизотропное расположение трещин, что вызывает значительное различие (в 2-3 раза) в пределе прочности при сжатии (30-45 и 10-15 МПа) в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Макропористость представляет собой густую сетку трещин, ориентирующихся в направлении с юи-стости. [c.167]

Наиболее распространенным типом ориентации, реализующимся в кристаллических полимерах, является аксиальная текстура. В этом случае какая-либо одна из осей у всех кристаллитов (например, ось с кристаллографической решетки) направлена параллельно прямой, называемой осью текстуры, а две другие оси расположены произвольно. В большинстве ориентированных полимеров ось текстуры совпадает с осью макромолекулы, хотя на промежуточных стадиях растяжения образца это может и не происходить. При этом оси всех макромолекул в ориентированном образце параллельны друг другу, а повороты кристаллитов вокруг оси текстуры беспорядочны. [c.178]

Если К с. п. образуется из ориентир, расплава или вследствие пластич деформации изотропных кристаллич. полимеров, кристаллиты ориентируются в пространстве, образуя текстуру. У К. с. п. наиб, распространена аксиальная текстура, когда одна из трех кристаллографич. осей во всех кристаллитах имеет одно и то же направление, наз. осью текстуры (см. Ориентированное состояние полимеров). Основным надмолекулярным образоваиием ориентированных кристаллич. полимеров является фибрилла (размеры в поперечном направлении ок. 10 нм, в продольном 100 нм и более). Кристаллиты располагаются вдоль оси фибриллы и разделены аморфными прослойками. [c.535]

Проведенные исследования [98] показали, что в процессе ИПД кручением в образцах Си формируется слабая аксиальная текстура. Таким образом, результаты РСА показывают, что при ИПД кручением чистой Си происходят существенные изменения вида рентгенограмм, получившие отражение в увеличении доли лоренцевой компоненты в форме профилей рентгеновских пиков, их уширении и смещении, а также увеличении интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей. Это [c.39]

Рентгеновские исследования наноструктурного Со выявили наличие аксиальной текстуры типа [0001] в направлении, перпендикулярном плоскости образца (рис. 6.2). Наличие текстуры под- [c.223]

Одним из параметров, характеризующих структуру полимеров, является степень ориентации кристаллитов или полимерных цепей. В случае одноосной ориентации кристаллитов полимера при произвольных поворотах вокруг оси, а также в случае, когда все макромолекулы в образце при деформации располагаются параллельно друг другу, возникает аксиальная текстура рентгенограммы причем ось вращения кристаллов или направление цепей совпадают с осью текстуры. Аксиальная текстура встречается у большинства природных и синтетических волокон и у многих пленок после одноосной деформа- [c.365]

Ориентация кристаллитов в вытянутых полимерах может быть определена как распределение некоторых кристаллографических направлений по отношению к какому-либо внешнему направлению. Рентгенограммы ориентированных полимеров часто представляют собой дуги, что свидетельствует только о частичной ориентации кристаллитов в том или ином направлении. Правильное понимание типа преимущественной ориентации получают не только из рентгенограмм при перпендикулярном падении пучка рентгеновских лучей на образец, но также и из наклонных рентгенограмм в случае аксиальных текстур. Для более сложных текстур (например, плоскостной) используют и азимутальные повороты. Поэтому в последнее время приходят к выводу, что ориентированное состояние в линейных полимерах лучше всего может быть охарактеризовано при использовании метода полюсных фигур [33, гл. 4]. [c.109]

При анализе одноосно ориентированных волокон и пленок, обладающих аксиальной текстурой, очень часто не выясняют основной вид функции распределения, а ограничиваются нахождением так называемого среднего фактора ориентации /(6). Показано [76], что в этом случае (ориентация в направлении оси г) справедливо [c.119]

Рис. 13.1. Вид ППФ материала с аксиальной текстурой а — идеальная текстура б — текстура с углом рассеяния Лр

Теперь сфера распространения радиусом 1Д (метод поликристалла) пересечет узел HKL ОР не по окружности, а только в двух точках (рис. 13.3 ). Следовательно, дифрагировавшие лучи пересекут плоскую пленку 2 не по окружности, а лишь в двух точках 7, а рентгенограмма материала с аксиальной текстурой, полученная методом прямой съемки, будет иметь вид, показанный на рис. 13.4. На месте дебаевского кольца 3 остаются только дужки, длина которых тем меньше, чем меньше рассеяние текстуры. Эти дужки называют текстурными максимумами. [c.321]

Рис. 13.3. Схема образования рентгенограммы в случае идеальной аксиальной текстуры

Рис. 13 4. Вид рентгенограммы материала с аксиальной текстурой (молибденовая проволока, медное излучение)

Построение ППФ материалов с аксиальной текстурой обычно не проводят, так как это не дает никакой дополнительной информации. [c.323]

Анализ аксиальной текстуры целесообразно проводить по линиям с малыми индексами в связи с тем, что они обычно достаточно интенсивны и из-за малого числа плоскостей в совокупности hkl могут иметь лишь 2— [c.323]

Наряду с фотографическим методом широко применяют дифрактометрический способ определения углов р при анализе аксиальной текстуры (см. ниже). Это позволяет проводить анализ быстрее и точнее, особенно если в материале имеется несколько осей текстуры. [c.323]

Следует отметить, что для образования аксиальных текстур очень важна симметрия деформации. Любое отступление от аксиальной симметрии ведет к нарушению аксиальной текстуры. В частности, волочение стали [c.323]

Каковы различия в виде ПФ и рентгенограмм одного и того же материала с аксиальной текстурой, снятого в излучении трубки с медным и хромовым анодом [c.337]

Построить схему рентгенограммы молибденовой проволоки, имеющую идеальную аксиальную текстуру <110>-. Излучение СиК а. Расстояние образец — пленка 40 мм. [c.337]

Наиболее часто встречающимся типом ориентации в полИ мерах является аксиальная текстура (см. стр. 99), которая обычно образуется в том случае, если при ориентации все макромолекулы в образце располагаются параллельно друг другу. При наличии аксиальной текстуры направление цепей совпадает с осью текстуры в экваториальной плоскости все направления цепей равноценны или, иначе говоря, свойства образца изменяются одинаково во всех направлениях, проведенных в этой плоскости от оси текстуры. Аксиальная текстура встречается у большинства природных и синтетических волокон. Многие пленки после одноосной деформации также обнаруживают такую ориентацию. [c.111]

Иногда в поликристаллическом образце кристаллиты расположены не беспорядочно, а ориентированы по определенным НН правлениям В этом случае говорят, что образец обладает текстурой Для полимеров наибольший интерес представляет С1учай, когда одна и та же ось у всех кристаллитов ориентирована по определенному направлению, а повороты вокруг этой оси произвольны. Такой тип ориентации называется аксиальной текстурой Совокупность ориентаций кристаллитов в случае аксиальнои текст ры б>дет такой же, как и при вращении монокристалла вокруг оси Поэтому рентгенограмма аксиальной текстуры (рис 26) аналогична рентгенограмме вращения (см рис 23) На рентгенограмме аксиальной Структуры, так же как и на рентгенограмме вращения, рефлексы располагаются по слоевым линиям Различие между тексту рренг гепограммой и рентгенограммой вра- [c.101]

В агрегатах цепных молекул фигурируют самые разные степени упорядоченности, начиная с истинного кристалла, обладающего аксиальной текстурой, и кончая аморфным полимером, В котором цепные молекулы разупорядочены. Строгая теория [c.279]

Существующие поликристаллические материалы с аксиальной текстурой соответствуют модели идеальной ТИС лишь с той или иной степенью приближения. Четкая текстура, близкая к идеальной, обнаруживается только в образцах, исследуемых на разрыв, т.е. при напряжениях, близких к пределу прочности материала. В реальных конструкциях режимы нагружения деталей не столь экстремальны. Например, затяжка болтов производится при существенно меньших напряжениях, в идеале близких лишь к пределу текучести. Текстура, образующаяся при таких напряжениях, оказывается гораздо менее четкой и характеризуется достаточно большим углом рассеяния. Поэтому для корректного теоретического описания реальной тек-стурированной среды необходимо рассмотреть модель ТИС с текстурой, обладающей рассеянием, и проанализировать зависимость между значениями акустоупругих коэффициентов и углом рассеяния текстуры. Как показано выше, акустоупругие коэффициенты идеальной ТИС выражаются через ее упругие модули с помощью формул (2.306) - (2.308). Очевидно, чтобы получить аналогичные выражения для ТИС с рассеянием текстуры, необходимо вначале установить, как ее упругие модули соотносятся с углом рассеяния текстуры. [c.77]

При рентгеноструктурном анализе полимеров, иопользуя ориентированные образцы, получают так называемые текстуррентгенограммы. В случае одноосной ориентации кристаллического полимера, когда одна и та же ось у всех кристаллитов ориентиравана в одном направлении, а повороты вокруг нее произвольны, возникает аксиальная текстура. Рентгенограмма полимера, обладающего аксиальной текстурой, аналогична рентгенограмме вращения. Различие заключается лишь в том, что для получения текстур-рентгено-граммы нет необходимости вращать образец. Нулевую слоевую линию на текстур-рентгенограмме называют экватором, а линию, перпендикулярную к экватору и проходящую через след от первичного пучка, меридианом. Если направить первичный пучок так, чтобы он был перпендикулярен оси текстуры, то рефлексы будут раслоложеиы симметрично как относительно экватора, так и относительно меридиана. [c.40]

Помимо штриховых рентгенограмм часто наблюдают рефлексы более сложной формы их делят на тангенциальные и радиальные рефлексы (рис. П. 6). К первым относят штриховой, четырехточечный и двухточечный рефлексы у двух последних центры рефлексов смещены от меридиана, но расположены симметрично относительно него. Все тангенциальные рефлексы расположены на слоевых линиях, перпендикулярных меридиану или какому-либо радиусу, проведенному из центра рентгенограмм. Радиальные рефлексы имеют круглую форму или форму капли, вытянутой к центру рентгенограммы. Интенсивность в данном случае сосредоточена не поперек, а вдоль меридиана или другого радиуса, идущего из центра. Оказалось, что все варианты сложного распределения интенсивности могут быть рассчитаны также с использованием фибриллярной модели, но в этом случае кристаллиты имеют форму косоугольного параллелепипеда (рис. П. 9, в и г). Основным, влияющим на форму малоугловых рефлексов, является параметр Ы/1кр, где /кр — размер кристаллита вдоль оси фибриллы Ь — поперечный размер f = tgф, а ф — косой угол только в сечении, проходящем через ось фибриллы. При малом значении 6///кр<0,6 максимум интенсивности рефлекса остается на меридиане, что соответствует обычному штриху (рис. П. 10,а). При увеличении 6///кр до 1,0 максимум передвигается вдоль слоевой линии, перпендикулярной меридиану, до тех пор, пока его центр не оказывается на линии, перпендикулярной косой грани кристаллита. При этом вид малоугловой рентгенограммы зависит от характера ориентации кристаллитов в образце. В случае аксиальной текстуры образуется четырехточечная рентгенограмма (рис. 11.10, б), а при плоскостной текстуре — двухточечная (рис. П. 10, а). При дальнейшем увеличении ///кр центр рефлекса остается на месте, но происходит постепенный поворот рефлекса от слоевой линии, перпендикулярной меридиану, к радиальному направлению. В промежуточном положении, при Ь///крЖ 1,0—1,4 образуется наклонная четырехточка (рис. П.10, г). При больших значениях Ь///крЛ 1,7—2,0 возникает рефлекс радиального типа, расположенный вдоль нормали к косой грани кристаллита (рис. II. 10, ). Форма рефлекса при постоянном 6///кр зависит также от значения /. [c.99]

ТЕКСТУРА МЕТАЛЛА — преимущественная ориентация кристаллитов (кристаллических зерен) вдоль оси или плоскости симметрии поликристалла. Раз.тичают Т. м. аксиальную, при к-рой кристаллиты ориентируются относительно центра (оси) симметрии, и плоскую — с ориентацией кристаллов относительно особой плоскости и особого в ней направления. Аксиальная текстура наблюдается, нанр., в металлической проволоке после пластического деформирования (текстура деформации) или рекристаллизационного отжига (текстура рекристаллизации). Возникает она при кристаллизации металлов из жидкой или газовой фазы и при их взаимодействии с химически активными средами, напр, при коррозии металлов. Плоская текстура характерна для прокатанных металлов, нри ее описании учитывают пе только плоскость, но и направление прокатки, т. е. оперируют понятием полной Т. м., к-рую часто называют текстурой прокатки. Полная Т. м. образуется прн гомогенном распаде пересыщенных твердых растворов (см. Старение металлов), а также при мартенситных превращениях. Наличие текстуры в поликристаллических металлах с кубической решеткой приводит к анизотропии гл. обр. мех. и магн. свойств, а в металлах с гексагональной или тетрагональной ре- [c.509]

Текстура конусного волокна (спиральная) характеризуется, тем, что направления <ыс/а > образуют вокруг оси ориентировки коническую поверхность с углом полураствора ф. Если ф = 0, то получается аксиальная текстура, при ф = 90° текстуру называют кольцевой. Та- [c.319]

Рентгеноанализ аксиальных текстур [c.321]

Как было показано в гл. 9, узел HKL ОР поликристалла представляет собой сферу радиуса Х/йнкь- Однако при наличии в, материале аксиальной текстуры анизотропия в распределении ориентировок приводит к тому, что узел ОР вырождается в систему параллельных окружностей, число которых равно количеству разных по значению углов р, образуемых нормалями к семейству hkl с осью текстуры . На рис. 13.3 показана одна из таких окружностей. [c.321]

Впервые этот результат был получен Н. Е. Успенским и С. Т. Конобеевским. Таким образом, анализ аксиальной текстуры требует расчета угла д- по известным длине волны и периодам кристаллической решетки. Например, для кубических кристаллов У"Н + -i- L j [c.321]

С помощью текстурдифрактометра можно также проводить анализ аксиальной текстуры. Если образец вырезан перпендикулярно оси ориентировки, а съемку проводят при быстром (- 1 с ) вращении вокруг нормали к плоскости образца (для усреднения), то полученная кривая / (а) будет иметь максимум для значения а = р в выражении (13.1). Кроме того, та же кривая покажет и степень совершенства текстуры. Подобный метод анализа широко применяют для изучения текстуры экструдированных прутков. [c.327]

На рентгенограммах как а-, так и р-форм белков наблюдаются экваториальные рефлексы, соответствующие межпло-скостным расстояниям, равным приблизительно 4,7 и 10 А. Точное значение последней цифры зависит от средней длины боковых цепей. Оба межплоскостных расстояния перпендикулярны оси волокна. Развертывание а-формы с переходом в р-форму не изменяет положения экваториальных рефлексов. Боковое сжатие волокна, снимающее аксиальную текстуру в р-форме, показывает, что в этой форме периоды в 4,7 и 10 А перпендикулярны друг другу. Меридиональные рефлексы а-формы, отвечающие межплоскостным расстояниям 5,1 и 1,5 А, при переходе в р-фор-му заменяются рефлексами, отвечающими межплоскостным расстояниям 3,3 и 1,1 А. Период вдоль оси волокна можно вычислить по расстоянию вдоль меридиана между слоевыми линиями на рентгенограмме. Определение размеров элементарной ячейки и симметрии по рентгенограммам фибриллярных белков не всегда возможно. [c.241]

Иногда в поликристаллическом образце кристаллиты расположены не беспорядочно, а ориентированы по определенным направлениям. В этом случае говорят, что образец обладает текстурой. Для полимеров наибольший интерес предста1вляет случай, когда одна и та же ось у всех кристаллитов ориенти-рова на по определенному направлению, а повороты вокруг этой оси произвольны. Такой тип ориентации называется аксиальной текстурой. Совокупность ориентаций кристаллитов в случае аксиальной текстуры будет такой же, как и при вращении монокристалла вокруг оси. Поэтому рентгенограмма аксиальной текстуры (рис. 21) аналогична рентгенограмме вращения (см. рис. 18). На рентгенограмме аксиалыной текстуры, так же как и на рентгенограмме вращения, рефлексы располагаются по слоевым линиям. Различие между текстуррентгенограммой и рентгенограммой вращения монокристалла заключается в том, что при аксиальной текстуре все дифрагированные лучи возникают одновременно, тогда как при вращении кристалла луч возникает лишь в тот момент, когда плоскость находится в отражающем положении. [c.99]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология