Методы освещения щели спектрального прибора

МЕТОДЫ ОСВЕЩЕНИЯ ЩЕЛИ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА [c.28]

Освещение щели спектрального прибора. Во многих случаях успех работы определяется правильным освещением щели прибора. Например, при работе методом комбинационного рассеяния плохое освещение щели не дает возможности вообще получить линии комбинационного рассеяния. [c.56]

На рис. 2.1 показана типичная блок-схема установки для спектрального анализа, состоящая из следующих основных компонентов J — источник света 2 — атомизатор 3 — спектральный прибор 4 — детектор (приемник) излучения 5 — регистрирующее устройство. (В атомно-эмиссионном методе, в котором используются высокотемпературные атомизаторы, они являются одновременно и источниками света (см. рис. 2.1,5).) В атомно-флуоресцентном методе источник света располагается, под углом 90° к оптической осн спектрального прибора (см. рис. 2.1, В). В настоящей главе описаны спектральные приборы, методы освещения щели, а также приемники излучения. [c.17]

Аналитическая пара спектральных линий. Интенсивности линий характеризуют концентрацию атомов в излучаемом объеме пробы. Однако целый ряд причин нарушает или искажает эту зависимость. С целью учета этих искажений в качестве меры для определения концентрации элемента используют отношение, либо логарифм отношения интенсивностей двух спектральных линий, которые составляют аналитическую пару, т. е. используют метод сравнения. В качестве стандарта избирают такую линию (см. с. 170), чтобы отношение интенсивностей линий аналитической пары зависело только от концентрации определяемого элемента, т. е. чтобы оно по возможности меньше зависело от условий возбуждения и регистрации спектра (от колебаний параметров режима работы источника света, от условий освещения входной щели спектрального прибора, от величины экспозиции и т. д.). [c.20]

Осветительные системы служат для правильного освещения источником света щели спектрального аппарата. Во многих случаях требуется получить равномерное распределение освещенности вдоль входной щели и вдоль спектральных линий в спектре. Такое освещение щели необходимо для методов количественного спектрального анализа, использующих ступенчатый ослабитель. В некоторых случаях для изучения распределения свечения элементов по облаку разряда используется резкое изображение источника на щели прибора. В этом случае отдельные участки облака дадут спектры, расположенные друг над другом. [c.59]

Все линзы и источник света должны быть выставлены вдоль оптической оси спектрального прибора. Один из способов нахождения правильного расположения линз заключается в том, что в фокальную плоскость спектрального прибора устанавливают источник света (в последнее время для этой цели часто используют небольшие лазеры). Пройдя через прибор в обратном направлении, луч света вы.ходит из щели. Центральная часть этого луча представляет собой продолжение оптической оси прибора. Если источник используемого света достаточно интенсивен, то выходящий нз щели луч можно наблюдать при дневном освещении по его рассеяннк) на пылинках, как правило, имеющихся в воздухе лаборатории. Если его наблюдение затруднено, то лабораторию-можно затемнить н визуперализировать луч прн помощи табачного дыма. Используя этот метод, все оптические элементы могут быть легко выставлены относительно оптической оси спектрального прибора. [c.31]

По мере уменьшения величины систематических погрешностей (что может быть связано в классических спектрометрах с увеличением размеров диспергирующих элементов или длины перемещения подвижного зеркала в фурье-спектрометрах) теоретическая модель становится все более абстрактной. Последовательный учет возможного влияния исключенных из теоретической модели неустранимых источников систематических искажений введением соответствующих аппаратных функций, а также прочих источников шумов (nanpiiMep, в фурье-спектрометрии шумов дискретизации и цифрового преобразования) позволяет перейти от теоретических характеристик к проектным , т. е. реально достижимым на современном уровне развития спектрального приборостроения. Отметим, что в последнее время исследуется возможность применения нового метода оценки качества щелевых спектральных приборов [33—35], предполагающего рассмотрение полной аппаратной функции монохроматора. Наряду с аппаратной функцией монохроматора а(ст) в обычном понимании (как отклик на монохроматическое воздействие типа 0-функции) вводится спектральная функция /((т), описывающая спектральный состав потока, проходящего через выходную щель при освещении входной щели монохроматора источником излучения со сплошным спектром. [c.131]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология