Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Юстировка и фокусировка спектрографа ИСП-22 или ИСП

    ЮСТИРОВКА И ФОКУСИРОВКА СПЕКТРОГРАФА ИСП-22 ИЛИ ИСП-28 [c.83]

    Цель работы дать возможность познакомиться с принципом юстировки и провести окончательную фокусировку призменного спектрального прибора. Работа производится на спектрографе ИСП-28 (ИСП-22). Предварительно следует внимательно ознакомиться с описанием прибора. [c.83]

    Юстировка спектрального прибора делится на две части сборка и предварительная юстировка окончательная юстировка (фотографическая фокусировка). Обе части выполняются на одном из образцов спектрографа ИСП-28 (или ИСП-22). [c.83]


    Достигнутый успех способствовал созданию основанных на этом принципе масс-спектрографов с достаточными для практической работы размерами (Эвальд и др., 1959). Использовался тороидальный конденсатор и более широкий выбор радиуса кривизны траектории ионов для компенсации дефектов изображения. Прибор такого типа, сконструированный и опробованный Зауэрманом и Эвальдом (1959), оправдал теоретические предсказания. Несмотря на средние размеры прибора, было получено разрешение 25 000. Правда, юстировка масс-спектрометра была сложной, и заметно сказывалось влияние некоторых дефектов изображения, вызванных фокусировкой в z-направлении. Стигматическая фокусировка привела к повышению чувствительности по крайней мере на один порядок величины. [c.84]

    Предел регистрации следов элементов при помощи масс-спектрометра зависит от вторичных эффектов, которые будут описаны в следующем разделе. Небольшая часть ионов, соответствующих основе, распределяется по всему масс-спектру. Этот фон и ограничивает способность обнаружения следов. Фон можно снизить до величины, меньшей 1 млн" для массовых чисел, достаточно удаленных от интенсивных пиков. Для этого необходимы тщательное изготовление прибора и высокий вакуум в системе. Несмотря на эти меры, фон вблизи линий основы мо-м- ет достигать одной тысячной части их интенсивности. Наиболее-эффективный метод подавления фона — использование двух последовательно расположенных масс-спектрометров. Это было-установлено Герцогом (1959), Пиром (1963), а также Уайтом и Форманом (1967), которые достигли чувствительности анализа 1 млрд Ч Юстировка подобных тандемных приборов более трудна. Дополнительная сложность вызвана необходимостью одновременного сканирования обеих секций таким образом, чтобы они были с высокой точностью настроены на одни и те же массовые числа. Упрощенная модификация подобного прибора, имеющего одинарную фокусировку и поэтому лишь среднее разрешение, выпускается фирмой Аегоуас и обеспечивает чувствительность 10 млрд для газовых примесей на уровне следов. К сожалению, тандемные масс-анализаторы нельзя использовать в масс-спектрографах. [c.85]

    Для изучения фокусировки по скоростям можно использовать тот же способ размещения небольшого отверстия в плоскости р-щели и наблюдения за смещением пика при изменении положения этого отверстия. Для этой операции необходим пучок ионов с большим разбросом по энергиям. Чтобы его получить, можно наложить на ускоряющий потенциал переменное пилообразное напряжение. Точной юстировки также можно добиться, перемещая р-щель в радиальном направлении. Другой метод настройки масс-спектрографов рассмотрен в работе Эвелинга и Венде (1957). [c.98]



Смотреть главы в:

Спектральные приборы и техника спектроскопии -> Юстировка и фокусировка спектрографа ИСП-22 или ИСП




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Спектрограф

Спектрография



© 2025 chem21.info Реклама на сайте