Дефекты изображения

Сравнивая два вида дефектов, изображенных на рис. 26.1, естественно предположить, что катионы, находящиеся в междоузлиях решетки (а), из-за большой плотности окружения испытывают значительно больший эффект выталкивания , чем ионы на поверхности решетки (б). Этот эффект должен зависеть от зарядов ионов и их размеров. Если катионы и анионы близки по размерам, то эффект выталкивания из междоузлий решетки должен быть больше, чем с поверхности, т. е. [c.334]

К принципиальным недостаткам контактного метода относятся образование дефектов изображения из-за контактных нагрузок на фоторезистную пленку и несовмещаемость изображений различных слоев, также связанная с контактными деформациями искривленных поверхностей. Оптимизация условий контактного экспонирования и приводит к тому, что предельные возможности метода не реализуются на практике. Попытки снизить контактное усилие с целью устранения дефектообразований в резисте приводит к падению разрешающей способности метода и неконтролируемому уходу размеров элементов из-за образования зазоров, а также расходимости экспонирующего пучка лучей и дифракции. Расходимость (апертура) пучка лучей даже при наличии конденсорных коллимирующих систем в современных установках экспонирования составляет 3—7°, что и при небольших зазорах приводит к образованию полутени в изображении, отклонениям линейных размеров элементов и ухудшению качества края элементов. Дифракция света на краях элементов при наличии микрозазоров переменной величины по площади объекта приводит к образованию интерференционной структуры в изображении и ряду других нежелательных эффектов, например так называемому двойному краю — оконтуриванию изображения элементов вследствие осцилляции освещенности у края элементов, что связано с контрастностью и пороговыми свойствами светочувствительного материала. Могут искажаться углы элементов и даже их форма, особенно существенными эти искажения могут быть при использовании когерентного света. [c.27]

Капилляр, выходящий на поверхность объекта контроля только с одной стороны, называют поверхностной несплошностью, а соединяющий противоположные стенки объекта контроля, - сквозной. Если поверхностная и сквозная несплошности являются дефектами, то допускается применять вместо них термины поверхностный дефект и сквозной дефект . Изображение, образованное пенетрантом в месте расположения несплошности и подобное форме сечения у выхода на поверхность объекта контроля, назьшают индикаторным рисунком, или индикацией. Применительно к несплошности типа единичной трещины вместо термина индикация допускается применение [c.567]

Примени преобразование Фурье к результатам компьютерного моделирования процесса нагрева пластины из углепластика с расслоением, были рассчитаны калибровочные зависимости модуля и фазы Фурье-образов от глубины дефектов /, изображенные на рис. 5.5. Видно, что [c.142]

По сравнению с предыдущим случаем подобная комбинация обладает рядом преимуществ. Полная траектория имеет меньшую длину, поэтому расширение пучка меньше, что снижает дефекты изображения. Для заданного промежутка между цилиндрами, создающими электрическое поле, можно собрать пучок, имеющий большее угловое расхождение. Эффект частичной фокусировки в 2-направлении приводит к возрастанию чувствительности и снижению фона, обусловленного отраженными ионами. И наконец, пучок падает на фотографическую пластину более круто, поэтому поверхностный заряд на пластине оказывает на него меньшее влияние. [c.83]

Если в масс-спектрометр с двойной фокусировкой входит пучок ионов с разбросом по скоростям р и угловым расхождением а, то размеры изображения будут функцией при могут быть выражены полиномом некоторой степени от этих величин. Первый коэффициент при р равен нулю в результате соблюдения условия фокусировки первый коэффициент при а также равен нулю, поскольку осуществлена фокусировка по направлениям.. Следовательно, в полиноме остаются только члены второго и более высоких порядков. Соответствующие коэффициенты достаточно сложно зависят от геометрии прибора, и привести их в этом обзоре не представляется возможным. Лучший способ-обеспечения фокусировки для широкого пучка с большим разбросом по скоростям—создать такие условия, при которых все коэффициенты обращаются в нуль. К сожалению, в общепринятой геометрии Маттауха—Герцога это невозможно, даже для коэффициентов второго порядка. Поэтому всегда приходится идти на некоторый компромисс между дефектами изображения,, описывающимися различными членами полинома. [c.89]

В разд. 3.2.А было показано, что разрешение масс-спектро-метра с двойной фокусировкой зависит только от размеров области электрического поля [см. уравнение (29)]. Когда вместо одного цилиндрического поля используются тороидальное поле или дополнительные линзы, это простое уравнение следует модифицировать. Если система линз образует уменьшенное промежуточное изображение, разрешение можно улучшить. Соответствующие расчеты основаны на фокусировке первого порядка и позволяют определить максимальное разрешение, которого можно ожидать для данных ширины щели и геометрии прибора. Действительное разрешение оказывается меньше вследствие побочных отрицательных эффектов, описанных в разд. 3.3. Наиболее важны дефекты изображения, поскольку они ограничивают максимальную ширину пучка, который может быть пропущен через анализатор. Это справедливо даже для конструкций, в которых практически исключены аберрации второго порядка, поскольку всегда остаются аберрации более высоких порядков, В результате дефектов изображения разрешение заметно падает, если ширина пучка в анализаторе достигает определенного предела, зависящего от геометрии прибора. Когда необходимо регистрировать примесные элементы, линии которых находятся в непосредственной близости от линий основы, очень важной становится форма пика. Поэтому вместо обычного определения разрешения при высоте пика, равной 50% максимальной, стали использовать величину, рассчитанную на уровне 10% или даже 1% высоты пика. Некоторое представление об основных характеристиках различных приборов дают таблицы в разд. 3.6. [c.96]

Следует отметить, что уменьшение размеров только входной и выходной щели не позволяет бесконечно увеличивать разрешение. В этом случае максимально достижимое разрешение ограничено дефектами изображения и поэтому связано с размерами ограничивающих а- и р-щелей. Чтобы получить высокое разрешение, необходимо уменьшить размеры всех щелей, что резко уменьшает чувствительность. [c.96]

Рис. 3.13. Влияние дефектов изображения на положение пика.

В этом разделе описана основная группа приборов, которые используются в настоящее время (табл. 3.1—3.3). В основном это масс-спектрографы с двойной фокусировкой, хотя некоторые имеют очень ограниченный диапазон масс, который можно зарегистрировать на одной экспозиции. Фотографический детектор все больше и больше заменяется электрической регистрацией, которая более удобна и позволяет получать более точные количественные данные за меньший промежуток времени. Однако в результате сканирования масс-спектра теряется одно из основных преимуществ масс-спектрографа — одновременная регистрация всех элементов. Кроме того, электрическая регистрация характеризуется меньшим разрешением вследствие интегрирующего действия выходной щели и большего влияния дефектов изображения, искажающих спектральные линии. С другой стороны, электрическая регистрация меньше, чем фотографический детектор, подвержена мешающему влиянию сильного гало, возникающего вблизи интенсивных линий. [c.103]

Первоначальной целью этого раздела было продемонстрировать, насколько эффективны различные методы коррекции дефектов изображения. Однако имеющихся данных еще недостаточно для такого сравнения. Как можно было ожидать, разрешение зависит главным образом от двух величин оно пропорционально радиусу траектории частиц в электрическом поле и обратно пропорционально ширине входной щели. Только если сделать входную и выходную щели очень узкими, возникает ограничение, связанное с дефектами изображения, и дальнейшее уменьшение ширины входной щели не приводит к пропорциональному возрастанию разрешения (см. прибор 2.3). Можно считать, что это практическое ограничение действует во всех приборах высокого разрешения их разрешение лишь несколько меньше, чем величина, рассчитанная на основании теории первого порядка. В некоторых приборах щели специально расширены, особенно если они используются с искровым источником ионов. Эти масс-спектрометры имеют более низкое разрешение, но лучшую чувствительность. Чтобы определить форму спектральных линий, следует избегать чрезмерных экспозиций, так чтобы гало и фон были невелики. Типичной формой линий, характерной для большинства масс-анализаторов, обладает прибор [c.103]

Устранению дефектов изображения, зависящих от разброса ионов по скоростям р для всех масс, была посвящена работа [32]. Автор исследовал возможность одновременного исключения ар и аберраций для всех масс в масс-спектрометре с искровым источником и с двумя каскадами электрического поля (здесь а — угловая расходимость пучка). [c.15]

Но основным условием получения необходимого качества реза является сплошность двухслойной стали, т. е. отсутствие расслоения между плакирующим и основным слоем. Несоблюдение этих условий и, особенно, наличие расслоения приводят к дефектам, изображенным на фиг. 142. [c.211]

А теперь взглянем на звезды — дефекты ориентации молекул, изображенные на рис. 32 и 33. Фактически лучи этих звезд и есть оптические оси, т. е. упругие струны. Видно, что в центрах звезд пучки осей наиболее сильно сжаты (рис. 32 и 33, б) или растянуты (рис. 33, а и 33, в). Значит, в окрестностях нитей нематика возникают заметные силы растяжения или сжатия. Напомним, что в данном случае нити проходят через центры звезд перпендикулярно плоскости рисунков. Такие звезды растяжения и сжатия притягивают друг друга, потому что разреженность одной из них могла бы компенсироваться большей плотностью другой (рис. 41). Например, с помощью микроскопа видно, как пара дефектов, изображенных на рис. 32 и 33,а, стягивается в одну точку и исчезает. Это убедительно свидетельствует о существовании упругих сил ориентации в нематике. [c.57]

Препарат висячей капли. Для приготовления этого препарата используют специальные толстые предметные стекла с углублением (лункой) в центре. Небольшую каплю исследуемого материала наносят на середину покровного стекла. Края лунки предварительно смазывают вазелином. Предметное стекло накладывают на покровное так, чтобы капля находилась в центре лунки. Затем его осторожно переворачивают, и капля свисает в центре герметически закрытой полости лунки (рис. 1.5). В такой замкнутой полости капля защищена от высыхания. Недостатком препарата являются оптические дефекты изображения, связанные с толщиной предметного стекла и наличием лунки. [c.24]

Другой пример развитой компьютерной обработки данных приведен на рис. 9.15. Представлены бинарные карты дефектов, позволяющие также оценить поперечные размеры дефектов. Изображение, полученное на основе таймограммы без трехмерной нормализации, содержит артефакты, соответствующие темным (перегретым) областям (рис. 9.15, а), в то время как после фильтрации обнаруживаются даже "слабые" дефекты, отчетливо видные на двух последовательных тепловых томограммах рис. 9.15, б, в. [c.294]

Судить о типе дефекта можно по его положению, размерам, ориентации и форме. Наряду с этим весьма важно знать предысторию поковки и ее возможные типичные технологические дефекты. Изображение на экране тоже может дать сведения о-типе дефекта. Поэтому согласно австрийскому стандарту ОЫОКМ 3002 (см. главу 34) нужно указывать также и форму эхо-импульса (рис. 22.4). В качестве примера на рис. 22.5 показано различение зон с неметаллическими включениями и ликвационных трещин. [c.415]

Подобные расчеты были также проведены для корпуса реактора ВВЭР-440. По результатам расчета были оставлены без ремонта дефекты, изображенные на рис. Ю и И, обнаруженные чехословацкими дефектоскопистами на одной из АЭС России системой контроля Реактортест в 1990 г. [c.125]

Среди дефектов, изображенных на рис. 1, первые два можно назвать механическими дефектами. Такие дефекты в случае гомеополяр-Н011 решетки не изменяют ее химического состава, а в случае гетерополярной решетки могут приводить к тому или иному нарушению стехиометрического соотношения. Дефекты третьего типа могут быть названы э л е к-трическими дефектами. Ион с избыточным отрицательным зарядом означает наличие в решетке лишнего электрона. Ион с избыточным положительным зарядом свидетельствует о наличии дырки . Эти дефекты также [c.361]

Дефектометр служит для оценки глубины дефекта посредством сравнения степени почернения изображения дефекта изображения канавок и сверлений дефектометра. Найдя на рентгенограмме канавок и сверлений изображение, имеющее одинаковую плотность с изображением дефекта, подсчитывают процентное отношение глубины канавки или сверления к полной толщине листа. Если плотность изображения дефекта больше плотности изображения самой глубокой канавки или сверления, считают что глубина дефекта превышает 20%. [c.605]

Обычно нулевую точку источника напряжения не заземляют, особенно если необходимо сканировагь масс-спектр изменением отклоняющего напряжения (пропорционально ускоряющему напряжению). В этом случае удобнее заземлить внутренний цилиндр и подавать положительный потенциал на внешний цилиндр. Тогда при входе в радиальное цилиндрическое поле ионы, летящие по центральной траектории, замедляются. Вследствие этого несколько изменяются фокусировка и дисперсия по энергиям. Либл и Вахсмут (1959) показали, что фокусирующие свойства поля можно улучшить, если экранировать краевые поля с помощью двух пар широких щелей, из которых внешние заземлены, а внутренние имеют тот же потенциал, что и центральная область в промежутке между цилиндрами. Подобная конструкция уменьшает напряженность поля на его границах, а также, по-види-мому, дефекты изображения. Напряжение задается потенциометрами, включенными в цепь ускоряющего напряжения. [c.73]

Достигнутый успех способствовал созданию основанных на этом принципе масс-спектрографов с достаточными для практической работы размерами (Эвальд и др., 1959). Использовался тороидальный конденсатор и более широкий выбор радиуса кривизны траектории ионов для компенсации дефектов изображения. Прибор такого типа, сконструированный и опробованный Зауэрманом и Эвальдом (1959), оправдал теоретические предсказания. Несмотря на средние размеры прибора, было получено разрешение 25 000. Правда, юстировка масс-спектрометра была сложной, и заметно сказывалось влияние некоторых дефектов изображения, вызванных фокусировкой в z-направлении. Стигматическая фокусировка привела к повышению чувствительности по крайней мере на один порядок величины. [c.84]

Экраны не являются необходимыми для использования 5 ( /и фокусирующих свойств отклоняющих полей. Они применяются в основном для удобства, поскольку исключают измерения напряженности поля в отдельных точках и расчета траекторий ионов (Коггешал, Мускат, 1944 Коггешал, 1947). Влияние краевых полей на дефекты изображения было рассчитано Волником и Эвальдом (1965). [c.88]

Такесита (1967) показал, что возможна лучшая коррекция дефектов изображения при использовании двух электростатических полей. Если подобрать соответствующим образом параметры прибора, искривить полюсные наконечники магнита в месте входа пучка и использовать тороидальное электрическое-отклоняющее поле, кривизна пластин которого удовлетворяет определенному условию, можно существенно уменьшить члены второго порядка, особенно для одной траектории с выбранным радиусом кривизны в магнитном поле. Для траекторий с другими радиусами кривизны дефекты изображения снижаются в меньшей степени. Таким образом, дефекты изображения легче уменьшить для масс-спектрометров, чем для масс-спектрографов, что показано в работах Вахсмута и др. (1959, 1963). [c.89]

В большинстве выполненных расчетов дефектов изображения краевыми полями пренебрегали. Мацуда и Волвик (1970) показали, что это упрощение приводит к серьезным ошибкам, особенно если необходимо учитывать фокусировку в г-направлении. Однако результаты этих тщательных расчетов пока еще не использовались для улучшения характеристик масс-спект-графов. [c.89]

Д Первый прибор, в котором использовано тороидальное электрическое поле, что позволило лучше скорректировать дефекты изображения. Расчеты проведены Эвальдом и др. (1959), конструкция Зауэрмана и Эвальда (1959). Учитывая небольшие размеры прибора, достигнуто удовлетворительное разрешение при выигрыше в чувствительности примерно на порядок величины. [c.101]

Суперпропорциональное ослабление. Большие оптические плотности ослабляются непропорционально сильнее, чем средние, а малые почти не уменьшаются (рис. 28, в). В этом случае заметно уменьшается коэффициент контрастности изображений. Поэтому суперпропорциональное ослабление используется для смягчения высококонтрастных негативов, для исправления отдельных дефектов изображения. [c.87]

Вспомогательные процессы способствуют более качественному и экономичному проведению основных процессов обработки, устранению некоторых дефектов изображения или придают фотоматериалу определенные физико-механические свойства. К вспомогательным процессам относятся допроявление, остановка проявления, промежуточная промывка, дубление, стабилизация и др. [c.213]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология