Наложение спектров разных порядков

Рис. 2-13. Наложение спектров разных порядков при разлонсении света в решетке на пропускание.

Вогнутая решетка позволяет за одну экспозицию сфотографировать широкую область спектра, но наложение спектров разных порядков, как и у плоской решетки, ограничивает одновременно регистрируемый интервал длин волн. [c.220]

Применение дифракционной решетки дает возможность использовать наложение спектров разных порядков для измерения длин волн. Этот прием особенно удобно применять в вакуумной ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, где получение спектра сравнения часто связано со значительными трудностями. [c.284]

Спектрографы с вогнутыми решетками чаще всего строят по схемам с фокусировкой на круге Роуланда фотослой совмещают с поверхностью кругового цилиндра радиуса г/2. Вогнутая решетка позволяет за одну экспозицию сфотографировать широкую область спектра, но наложение спектров разных порядков, как и у плоской решетки, ограничивает одновременно регистрируемый интервал длин волн. [c.102]

При работе с дифракционными спектрографами необходимо иметь в виду наложение спектров разных порядков при постоянных значениях углов аир условие (2.3) выполняется для ряда длин волн, удовлетворяющих усло- [c.36]

На рис. 131 приведены оптическая схема и общий вид прибора ДФС-4. Свет, пройдя входную шель (/), направляется зеркальным объективом (2) входного коллиматора на плоскую дифракционную решетку (< ), образующую спектр, который фокусируется зеркальным объективом (4) выходного коллиматора в плоскости выходной щели (5). Для компенсации аберрации служит афокальная линза (8). С по мошью линзы (9) и цилиндрической ли 1зы ( /0 световой пучок проектируется на катод фотоумножителя ( //) (прибор работает как спектрометр). Чтобы исключить наложение спектров разных порядков, пре- [c.286]

Наложение спектров разных порядков. Из выражения (34) видно, что различные длины волн будут давать максимумы под одними и теми же углами, если выполняется условие [c.59]

В соответствии с приведенным уравнением угол отклонения а пропорционален длине волны, поэтому наиболее сильно отклоняются лучи красного света. Таким образом, последовательность линий в спектре, даваемом дифракционной решеткой, противоположна последовательности линий в спектре призмы. Кроме того, одной и той же разности длин волн всегда соответствует одинаковое расстояние между соответствующими линиями в спектре. В отличие от спектра призмы спектр, даваемый дифракционной решеткой, вследствие взаимного наложения спектров разных порядков [т-Х = 2т %12)... не является однозначным. Однако, подбирая подходящий профиль штрихов дифракционной решетки ступенчатый профиль), удается выделить из спектра основную часть излучения желаемого порядка. Правда, это всегда можно осуществить только для определенной области спектра. Решетка такого типа с определенным углом отклонения была предложена Эшелеттом. [c.191]

Разделение порядков спектра. Дисперсия и разрешающая сила дифракционных решеток возрастают прямо пропорционально порядку спектра. Однако широкому использованию решеток для работы в высоких порядках до недавнего времени препятствовали два обстоятельства наложение спектров разных порядков и усиление интенсивности духов Рлуланда в высоких порядках спектра. Последнее препятствие в настоящее время устранено усовершенствованием технологии изготовления дифракционных решеток. [c.93]

Неравномерности нанесения эмульсии также могут ограничивать различие в длинах волн для сравниваемых линий. Но если можно сравнивать весьма далекие длины волн, а они на фотопластинке получились рядом (при наложении спектров разных порядков в дифракционных приборах сравнивают лннин почти кратных длин волн), неоднородность слоя эмульсии уже не играет роли. [c.172]

Эффекты наложения спектров разных порядков были исследованы Оетеном и сотр. (1952). Эти авторы рассмотрели идеальный эшелетт (7 штр/мм, угол блеска 2Г), который при использовании в качестве источника абсолютно черного тела с температурой 1300 К концентрировал излучение 100 см в первый порядок. Поскольку дисперсия непосредственно зависит от порядка спектра, спектральный интервал, пропускаемый выходной щелью, будет пропорционален 1/п. Таким образом, интенсивность излучения, попадающего на детектор в заданном порядке, будет пропорциональна отношению интенсивности излучения источника на заданной частоте к порядку спектра. Авторы выбрали интенсивность линии первого порядка за единицу и затем рассчитали относительные интенсивности для различных порядков. Полученные результаты приведены в табл. 2.1. Как видно, отношение полезного излучения к паразитному имеет порядок 5-10 . Чтобы снизить паразитное излучение до величины менее 1 %, фильтрующий фактор должен иметь величину 10 . [c.36]

Счетно-регистрирующие устройства (СРУ) предназначены для регистрации рентгеновского излучения и конструктивно выполняются, как правило, в виде отдельных приборов. В СРУ происходит отбор поступающих с детектора импульсов, их регистрация и представление в форме, удобной для наблюдения, расчетов или ввода в управляющие или вычислительные устройства, в которых вычисляются концентрации элементов согласно формулам, связывающим интенсивность их флуоресценции с содержанием. В основном измерительная функция СРУ осуществляется в такой последовательности. После усиления в предусилителе детектора импульсы поступают на линейный широкополосный усилитель. Затем дифференциальным дискриминатором осуществляется амплитудный анализ импульсов. Использование дифференциальных амплитудных дискриминаторов как в кристалл-дифракционном, так и в бескристальном анализе в значительной степени повышает разрешающую способность обоих методов, позволяет резко снизить фон от наложения спектров разных порядков отражения [см. уравнение (I)], от рассеяния рентгеновского излучения на деталях прибора, от космического и прочих фоновых излучений, обеспечивает надежность результатов анализа. Дифференциальный амплитудный дискриминатор представляет собой электронную схему из двух интегральных дискриминаторов, один из которых определяет [c.57]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология