Измерение длин волн

На рис. 8-5,а схематически изображен полный спектр электромагнитных волн. Для удобства представления спектра использована не линейная, а логарифмическая шкала, в которой для измерения длин волн или волновых чисел через равные отрезки отложены последовательные степени десятков сантиметров (см) либо обратных сантиметров (см " ). В такой логарифмической шкале часть электромагнитного излучения, к которой чувствителен человеческий глаз, ограничена небольшим участком в средней части спектра. На рис. 8-5,6 дано развернутое изображение видимой части спектра. [c.335]

Почему, несмотря на то что в спектроскопии принято пользоваться в качестве единиц измерения длинами волн, для описания величин, пропорциональных энергии, предпочтительнее пользоваться волновыми числами, а не частотами [c.377]

Величина определялась измерением длины волны в пустом и заполненном исследуемой жидкостью измерительном резонаторе. Рассчитывалась с помощью соотношения [c.126]

Спектры, расположенные в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях длин волн, называются оптическими, и соответственно "методы анализа, основанные на использовании этих спектров, — оптическими. За единицу измерения длин волн спектральных линий в оптическом диапазоне принят нанометр (1 нм==10 м). [c.6]

Какими способами можно определить длину волны линии в спектре на фотопластинке Какие приборы и принадлежности для этого необходимы С какой целью проводится измерение длин волн спектральных линий [c.207]

В одном из радиоспектрометров этого класса источником СВЧ мощности является генератор на Я= 1,2-10-2 м- . Модуляция осуществляется на частотах VI ==60 Гц (звуковая) и V2 = 462,5 кГц (ВЧ). Блок-схема этого радиоспектрометра приведена на рис. 8.17. Здесь СВЧ-мощность от генератора (клистрона) через резонансную полость попадает на диодный кристаллический детектор. Система включает в себя устройства /3 и для измерения длины волны, а также для регулирования и контроля мощности, поступающей в резонатор с веществом. Сигнал, возникающий на выходе, поступает в усилитель, настроенный на частоту 462,5 кГц с щириной полосы пропускания 8 кГц, затем — на линейный детектор, усилитель первой частоты модуляции и электронные осциллографы. Первый осциллограф при этом на экране дает изображение модуля производной формы линии. Напряжение временной развертки осциллографов подается от катушек низкочастотной модуляции через фазовращатель. На второй осциллограф сигнал поступает с фазочувствительного детектора, в опорном канале которого установлен фазовращатель частоты модуляции V2, а осциллограмма изображает производную линии резонансного поглощения образца. Приборы этого типа удобны для изучения хода химических реакций. [c.212]

Важное значение в определении закономерностей расположения электронов в атоме имели периодическая система и изучение оптических (атомных) спектров. К началу XX в. накопился огромный материал по измерению длин волн спектральных линий различных элементов и систематизации их в серии. Были установлены отдельные эмпирические закономерности, из которых следовало, что спектр характеризует каждый элемент, т. е. является такой же фундаментальной характеристикой элемента, как и его порядковый номер в периодической системе. Спектроскопические исследования показали, что химические аналоги являются аналогами и в спектральном отношении. [c.51]

В практической спектрофотометрии измерения поглощения проводят в спектральной области, которую принято делить на 3 части ультрафиолетовая, видимая и инфракрасная области спектра. Единицей измерения длин волн в ультрафиолетовой части спектра в практической спектрофотометрии обычно служит нанометр (1 нм = 10 см). Ультрафиолетовая область спектра расположена в интервале длин волн 200— 400 нм, видимая область — в интервале длин волн 400—700 нм. Наконец, инфракрасная область спектра начинается примерно с 700 нм. В инфракрасной области спектра единицей измерения длин волн служит микрон (1 мк = 10- см). Очень часто инфракрасное излучение характеризуется волновым числом -V, у= 1Д (где X выражено в см), размерность V соответственно см Например, длина волны 2 лк соответствует волновому числу 5000 слг . Имеются специальные таблицы пересчета волновых чисел в длины волн. Наиболее доступная инфракрасная область расположена в интервале 0,7—20 мк, более длинноволновая область инфракрасного спектра малодоступна и практической спектрофотометрией пока не используется. [c.245]

В отдельных областях спектра используют различные единицы измерения длин волн и частоты. В области радио- и микроволн в качестве единицы измерения частот V используют преимущественно герцы, килогерцы и мегагерцы. Однако при частотах выше 10 Гц (инфракрасная область) точность измерения частот по сравнению с точностью измерения длин волн становится неудовлетворительной. Поэтому в этих областях в качестве единицы измерения длины волны часто используют сантиметр или дольные единицы от него (см. табл. 5.1). Пропорциональность между энергией и величиной, обратной длине волны [уравнение (5.1.1)], позволяет быстро оценить соответствующие энергетические соотношения, и вместо длины волны все больше используется значение ее обратной величины 1/А, = V = v/ . Величину 1/К измеряют в обратных сантиметрах ( м ) и называют волновым числом. Для пересчета волновых чисел в величины энергии используют соотношение [c.174]

При качественном анализе проводят относительное измерение длин волн. Положение искомой линии определяют чаще всего сравнением со спектром железа I15]. Отсутствие линии надежно свидетельствует об отсутствии элемента. Уверенный вывод о присутствии данного элемента (ввиду возможного наложения линий) делают при наличии по крайней мере двух линий обнаруживаемого элемента. При количественном анализе измеряемой величиной является почернение фотопластинки, описываемое уравнением (5.2.9). Необходимыми предпосылками количественного определения являются съемка всех спектров при одинаковых условиях и калибровка прибора по пробам известного состава. Особенно часто спектрографический анализ выполняют в полуколичественном варианте. При визуальном сравнении плотности почернений для стандарта и анализируемой пробы можно оценить порядок содержания определяемого элемента (например, 10 , [c.195]

Примерную ошибку, которую допускают при измерении длины волны разными методами, можно определить практически. Для этого измеряют длину волны какой-нибудь известной линии, выполняя все те операции, как и при работе с неизвестным спектром. Сравнивая полученный результат с истинным значением длины волны, находят ошибку измерения. [c.211]

После измерения длины волны устанавливают, какие элементы могли излучить свет с данной длиной волны. [c.212]

При дифференциальном методе измерения длину волны света вычисляют по формуле [c.31]

Вывести уравнение для расчета абсолютной и относительной ошибки при измерении длины волны в зависимости от ошибок измерения Дг, Да, Дй, [c.31]

Длина волны есть расстояние между двумя вершинами волны. Основными единицами измерения длин волн служат в УФ и видимой области нанометры (1 нм = 10 м = 10" см), в ИК-области — мик- [c.5]

Ранее применялись единицы измерения длин волн ангстремы (1 А = = 10 см), микроны (1 мк = 10 см) и миллимикроны (1 ммк = 10 см = = 1 нм). [c.5]

Длина волны и частота колебаний взаимно связаны между собой следующим соотношением Хч = С, где С — скорость света, равная 3 10 "(л(Для измерения длин волн применяют следующие единицы микрон (мк], I мк = 0,001 мм = Ю см миллимикрон (ммк), 1 ммк = 0,001 мк = 10 2 СМ, ангстрем (А), 1 А = = 0,1 ммк = 10" гм. [c.473]

Большинство процессов бета-распада (как е+, так и е ) сопровождается сразу наступающим вслед за ними испусканием гамма-лучей. Бета-распад может приводить к образованию ядер в каком-либо одном или в различных возбужденных состояниях с переходом в нормальное состояние путем испускания гамма-лучей. Простой пример показан на рис. 20.10. Обширная информация об энергетических уровнях ядер получена в результате измерения длин волн фотонов (гамма-лучей) и определения максимальной кинетической энергии бета-лучей (максимум соответствует нулевой энергии для нейтрино). [c.614]

Принцип действия так называемых цезиевых часов основан на точном измерении длины волны определенной спектральной линии цезия. Погрешность цезиевых часов не превышает одной части на 10><. Объясните, почему такой способ измерения времени позволяет вычислить его с точностью до восьми значащих цифр. [c.87]

Помимо спектров, в начале каждого раздела приводится таблица с указанием растворителя, в котором производились измерения, длины волны каждого максимума поглощения в спектре Аймаке и их удельных а и молярных 8 коэффициентов погашения. [c.5]

Длина волны (А,) — расстояние, проходимое электромагнитной волной за время одного полного колебания. Для измерения длины волны используют единицу системы СИ— метр (м) или подходящие для данного диапазона кратные единицы нанометр (1 нм = 1Т0 м), микрометр (1 мкм = МО м) и др. Внесистемная единица — ангстрем (1 А= МО м = 0,1 нм) в настоя- [c.331]

Определение вероятностей атомных переходов Ац или соответствующих значений сил осцилляторов /и является более сложной задачей, чем измерения длин волн и определение положения энергетических уров- [c.355]

Точность измерений длины волны нм 2 <1 <1 <1 <1 -0,3 0,3 0,3 0,3 03 [c.354]

Заштрихованная область соответствует диапазону видимых излучений примерно от 400 до 700 нм. Один нанометр (нм) равен 10- м и представляет собой удобную единицу для измерения длины волны излучения, в особенности в видимом диапазоне. [c.47]

Для измерения длины волны применяются различные единицы длины. В инфракрасной области наиболее удобной единицей является микрон (1 X 10 см). Частота моягет быть также выражена числом колебаний в секурщу илп числом длин волн на единицу длины. Это так называемое волновое число. На практике волновые числа выражаются в обратных сантиметрах (см ). Чаще всего при обсуждении колебательных спектров молекул встречается термин волновое число в см , так как этот термин применим как к инфракрасным спектрам, так я к спектрам комбинационного рассеяния. При обсуждении результатов исследований в инфракрасной области длины волн принято выражать в микронах. [c.314]

Передвижение подвижного поршня в жидкости позволяет, как и в методе полного заполнения, производить точное определение диэлектрической проницаемости путем прямых измерений длины волны в жидкости. При этом в отличие от других Методов измерший и У" жидкостей, использующих частичное ааполншие резонатора, исключается влияние мениска и испарения. [c.103]

Действительная часгь диэлектрической проницаемости определяется в данном методе измерением длины волны Ар и в пустом и заполненном исследуемой жидкостью резонаторе и рассчитывается по формуле [c.111]

Большой интерес для теории и практики получения кристаллофосфоров представляет проблема самоактивирования сульфида цинка. Вопреки общепринятому представлению, что активаторами в цинк-сульфидном фосфоре с голубы 1 свечением служат избыточные атомы цинка, появляющиеся в результате удаления некоторого количества серы при термической обработке 2п8, Л. А. Громов установил, что эту функцию выполняет окись цинка. Его опыты показали, что избыток цинка не вызывает появления характерного голубого свечения. Оно возникает лишь в таких условиях, когда образуется окись цинка. Ширине запрещенной зоны окиси цинка, равной 3,2 эВ (как и следовало ожидать, меньшей, чем ширина запрещенной зоны сульфида цинка), отвечает энергетический уровень, отсчитанный от дна зоны проводимости сульфида цинка. Данному уровню соответствует длина волны, равная 390 нм. Это на 84 нм меньше измеренной длины волны в максимуме спектра самоактивированного голубого свечения сульфида цинка. [c.125]

Экспериментальным основанием теории строения атома служат данные о спектрах химических элементов. При измерениях длин волн спектральных линий точность 0,001% в настоящее время является обычной ва многих исёЛедованиях она значительно выще. Весьма точно может быть определена также интенсивность спектральных линий. Таким образом, наши знания о строении атомов основываются на весьма надежном экспериментальном материале. С рассмотрения этих данных мы начнем изучение строения атома. [c.12]

Для измерения длин волн одновременно с изучаемым спектром регистрируется па одну и ту же фотографическую пластинку (пленку) спектр сравнения, положения линий в котором хорошо известны. Измеряя расстояние между линиями в исследуемом спектре и в спектре сравнения, можно рассчитать дисперсию, а затем и длину волны изучаемой линии в спектре определяемого элемента. Измерения проводят с помоп1ью специальных приборов, называемых ко.мпар 1торами, позволяющими определять относительные расстояния между линиями на пластинке с высокой точностью. Компаратор состоит из подвижного столика, на кото- [c.97]

Единицы измерения. Длина волны измеряется обычно в ангст )емах (A) или в микронах (мк), реже в миллимикронах (ммк). [c.23]

Методы, основанные на возбуждении глубинных электронов атомов — рентгенофлуоресцентный и рентгеноэмиссионный методы анализа. В более распространенном рентгенофлуоресцентном методе пробу подвергают действию излучения рентгеновской трубки. Атомы пробы возбуждаются внутренние электроны, находящиеся на ближайшей к ядру атома орбитали, так называемые К-электроны, выбиваются из атома. Их место занимают электроны с более отдаленных от ядра орбиталей. Переход этих электронов сопровождается возникновением вторичного рентгеновского излучения, длина волны которого связана функциональной зависимостью с атомным номером элемента. Измерение длины волны вторичного излучения дает возможность установить, какие именно элементы входят в состав пробы интенсивность же вторичного излучения зависит от количества данного элемента в пробе, т. е. ее измерение является основой количественного рентгенофлуоресцентного метода анализа. [c.32]

При двухфазном течении рассмотренные выше (стр. 344) характеристики волнового режима могут изменяться. Конобеев, Малюсов и Жаворонков [24] производили измерения длины волны, амплитуды и фазовой скорости при нисходящем и восходящем прямотоке. Измерения показали, что при толщине пленки от О до 280 мк для нисходящего прямотока 2=2,4 и а=0,46 (как и для однофазного течения). При восходящем прямотоке 2=2 и а уменьшается от 0,86 до 0,48 с увеличением скорости газа в интервале от Ю до 37 м1сек. При прямотоке с повышением скорости газа уменьшается толщина пленки з, что ведет к уменьшению длины волны X в соответствии с формулой (У-20). Измеренные значения X хорошо совпадают с вычисленными по уравнению (У-20) при допущении о прямолинейном распределении скоростей, что близко к действительности в случае достаточно больших скоростей газа (для нисходящего прямотока принято р=2/3, для восходящего прямотока р=0,7). [c.352]

В результате теоретического и экспериментального исследования влияния экстремума плотности и граничных условий на устойчивость слоя воды, обладающего органнченной протяженностью в горизонтальном направлении [35], было обнаружено, что наличие экстремума плотности стабилизирует такой слой. При этом использование граничных поверхностей с конечной теплоемкостью приводило к возникновению неустойчивости. Были изучены также различные начальные режимы неустойчивости. Устойчивость слоя исследовалась в широком диапазоне значений R, причем оказалось, что с возрастанием R возрастает и устойчивость. Кроме того, расчетные и измеренные длины волн всех наблюдаемых возмущений с резко выраженной формой хорошо согласуются между собой, [c.227]

Исторически использованию рентгеновских лучей для анализа кристаллической структуры предшествовало использование кристаллов для измерения длины волны рентгеновских лучей. До 1912 г. о длине волны рентгеновских лучей было известно только то, что она короче длины волны видимого и ультрафиолетового излучения. Для измерения длины волны рентгеновских лучей не существовало подходящего метода. Однако к тому времени было уже достаточно хорошо установлено значение числа Авогадро и, зная молярный объем Na l (27 см /моль), несложно было рассчитать расстояние между ионами в кристалле Na l — оно должно быть равно 2,8 А. В 1912 г. Макс фон Лауз предложил использовать кристалл Na l в качестве дифракционной решетки для наблюдения дифракции рентгеновских лучей. Эксперименты, основанные на его предложении привели к первому практическому использованию явления дифракции рентгеновских лучей и позволили измерить их длину волны, основываясь на данных о строении кристалла. [c.175]

Метод, измерения длин волн улучей кратко описан в гл. I и более подробно рассматривается в гл. XIII. Что касается р-лучей, которые изучались методом Дж. Дж. Томсона (стр. 193), то установлено не только различие в скорости движения электронов, полученных из различных источников, но и отношение elm. Поскольку заряд электрона е остается постоянным, то отсюда следует, что наблюдаемая или кажущаяся масса электрона т должна зависеть от скорости его движения. Действительно, опыты полностью подтвердили уравнение Лорентца [уравнение (102), гл. III]. [c.201]

Первые опыты В. Г. и В. Л. Брэггов, описанные в гл. I в связи с определением числа Авогадро, преследовали две цели, а именно при допущении правильно размещенной в пространстве решетки установить электромагнитный характер и определить длину волны рентгеновских лучей или по известному излучению определить тип решетки и расстояния между частицами, образующими данный кристалл. Надо сказать, что имеются независимые методы контроля обоих объектов измерения, так как, с одной стороны, стандартные дифракционные решетки дают непосредственное измерение длины волны, а с другой стороны, плотность простых кристаллов ограничивает узкими пределами размеры решетки. Первоначальные методы измерений претерпели в последующем многочисленные весьма существенные изменения и были в значительной мере усовершенствованы об этом частично у ке говорилось в гл. XII. [c.470]

Спектрофотометр Перкин — Эльмер 202 иУ-У18. Для анализа полученных растворов азокрасителей применяли кварцевые кюветы ЫШ с толщиной слоя 1 см. В измеренные длины волн вносили поправку по полосе поглощения 461 нм гольмиевого стекла. [c.77]