Спектрограф дифракционный

Более широкие возможности дает использование спектрографа с дифракционной решеткой, позволяющей увеличить дисперсию во всем интервале длин волн. Например, спектрограф ДФС-8 с плоской дифракционной решеткой предназначен для фотографирования спектра от 2000 до 10 000 А (рис. 23). Этот прибор, так же как и прибор ДФС-13, позволяет производить наиболее полное изучение состава веществ и определять примеси в них других элементов, которые на спектрографе средней дисперсии не удается обнаружить. [c.50]

Из дифракционных спектрографов наиболее широко применяют приборы с плоской решеткой и зеркальной фокусирующей оптикой. По такой схеме построены спектрографы ДФС-8 и ДФС-13. Они имеют сменные дифракционные решетки с 600 и 1200 штрих/мм и рабочую область спектра от 200 до 1000 нм. [c.69]

Анализ спектров комбинационного рассеяния проводится на спектрографе ИСП-51 или на дифракционном спектрометре ДФС-12. [c.160]

На рис. 105 показана схема спектрографа для исследования молекулярных спектров поглощения. Луч света направляется в монохроматор 2 (призма или дифракционная решетка) для разложения в спектр. Пучки монохроматического излучения соответствующей длины волны далее пропускаются параллельно [c.174]

Спектроскопия комбинационного рассеяния. Спектр КР лежит, как правило, в видимой области, поэтому для исследования применяются обычные спектрографы со стеклянной оптикой или дифракционными решетками. Источником мощного возбуждающего излучения служит ртутная лампа низкого давления, из спектра которой с помощью фильтров выбирается та или иная линия высокой [c.151]

Сера. Для определения серы используют вакуумные дифракционные спектрографы, а спектр получают в низковольтной искре в атмосфере инертных газов. Аналитические линии серы 2863,6 2855,9 5453,9 4694,1 А. Сера также может быть количественно и качественно обнаружена и в другой области по линиям 1807,31 1820,37 1826,25 А (начиная с концентрации 0,001—0,005%). [c.49]

Свет от щели спектрографа и сферического зеркала— коллиматора — направляется на диспергирующий элемент, состоящий из оптического клина — призмы с углом у вершины 18° и отражательной решетки эшелле. Спектрограф имеет сменные кварцевую призму и стеклянную, которая установлена таким образом, чтобы ее преломляющее ребро было перпендикулярно щели прибора. При таком расположении призма не участвует в разложении света в спектр. Пройдя через нее, свет попадает на дифракционную решетку, которая разлагает его в горизонтальной плоскости. Отразившись, разложенный свет снова проходит через призму, которая разделяет перекрывающиеся спектры третьего, четвертого и пятого порядков в вертикальной плоскости на три области 220,0—270,0 нм. [c.657]

Любопытную комбинацию призменной и дифракционной диспергирующих систем представляют спектрографы со скрещенной дисперсией. Благодаря тому, что эти две системы действуют во взаимно перпендикулярных направлениях, удается избавиться от переналожения спектров различных порядков, и соответственно появляется возможность использовать решетку в высоких порядках спектра, что обеспечивает большую линейнуто дисперсию. Один из лучших приборов такого типа — отечественный спектрограф СТЭ-1. [c.69]

Для получения спектров в далекой УФ-области (длины волн от 0,8-10- —3,3 10- м) применяют вакуумные спектрографы. Вакуумирование необходимо потому, что в этой области спектра поглощают молекулы многих газов и паров, входящих в состав воздуха. На рис. 7.20 дано схематическое изображение вакуумного спектрофотометра ДСФ-31 со спектральным диапазоном в далекой УФ-области 1,6—3,3-10 м и дифракционной решеткой, выступающей в качестве диспергирующей системы. Регистрация спектра в нем осуществляется фотоэлектрическим способом. Прибор рассчитан на определение в анализируемых пробах таких легких элементов, как углерод, фосфор, мышьяк, сера и др. [c.178]

Дифракцию легко наблюдать, рассматривая невооруженным глазом электрическую лампочку или любой другой источник света через узкую щель, например, от спектрографа. Уменьшая ширину щели, можно наблюдать расплывание источника (увеличение главного дифракционного максимума) и появление большого количества других дифракционных максимумов, гораздо меньшей интенсивности, чем главный. [c.19]

Нарисуйте оптическую схему дифракционного спектрографа с плоской решеткой и двумя зеркальными объективами. [c.98]

Пробу смешивают с угольным порошком в соотношении (1 1). 40 мг смеси помещают в канал угольного электрода (анода). Спектры возбуждают в дуговом разряде и фотографируют на дифракционном спектрографе с дисперсией 0,25 нм/мм [1362]. [c.149]

Дифракционные приборы имеют обычно более высокую разрешающую способность, чем призменные. Так в приборе с плоской решеткой, имеющей 600 штр/мм и ширину 100 мм, всего 60 ООО штрихов. Его разрешающая способность 60 ООО в первом порядке и 120 ООО во втором для всей рабочей области спектра 2000 —10 ООО А- Примерно такой же по своим габаритам и стоимости спектрограф с большой кварцевой призмой имеет высокую разрешающую способность — больше 80 ООО только в области 2000 А, где дисперсия кварца велика, но уже при X = 3000 А его разрешающая способность падает до 20 ООО. [c.106]

Дифракционный спектрограф ДФС-8. В настоящее время призменные кварцевые спектрографы большой дисперсии выходят из употребления и заменяются дифракционными. Одним из наиболее распространенных спектрографов стал дифракционный спектрограф типа ДФС-8 с плоской дифракционной решеткой, которая имеет 600 или 1200 штр/мм (рис. 97). Высокая разрешающая способность дифракционной решетки используется благодаря большому фокусному расстоянию камерного объектива. [c.138]

Дифракционные спектрографы с большой дисперсией очень громоздки и тяжелы. Использование более высоких порядков позволяет [c.138]

Для определения длины волны неизвестной линии (рис. 129) в спектре нормали выбирают две резкие линии так, чтобы анализируемая линия лежала между ними. Если линии выбраны достаточно близко к анализируемой, то можно с хорошей точностью считать, что на протяжении узкого участка спектра, где лежат эти три линии, дисперсия не только дифракционного, но и призменного спектрографа [c.206]

Если расстояние между линиями велико, то нужно учитывать изменение дисперсии призменного прибора и определить длину волны с помощью более сложных формул. При работе с дифракционными спектрографами формула (42) остается достаточно точной даже при значительном расстоянии между линиями. [c.207]

Две щели необходимы по следующей причине. Входная щель ограничивает угол в горизонтальной плоскости, в пределах которого распространяется свет, попадающий в монохроматор. Она выступает в роли линейного источника, подобно щели эмиссионного спектрографа. Хорошо известно, что для спектрографа, дающего стигматическое изображение, спектральные линии имеют такую же форму, как и щель. Уменьшение ширины щели приводит к уменьшению ширины спектральных линий (вплоть до дифракционного предела Рэлея). [c.26]

Метод внутрирезонаторной атомно-абсорбционной спектрометрии. Внутрирезонаторная спектрометрия — новый вариант атомно-абсорбционного анализа с использованием лазерной техники. Этот метод применен для определения натрия с непламенной атомизацией пробы [933]. Кювету помещают внутрь резонатора — лазера на красителе родамин 6Ж. Концентрация красителя соответствует максимальной генерации в области линейного поглощения натрия для резонансного дублета 589,6—588,6 нм. Для определения натрия используют дифракционный спектрограф. Изучено влияние температуры кюветы и длительности накачки на предел обнаружения. Сравнивают данные для четырех лазеров, различающихся длительностью импульсов, полушириной светового импульса лампы накачки, областью генерации и длиной кюветы. При изменении температуры кюветы от 100 до 155° С предел обнаружения натрия изменялся от 12-10 до 82-10 мм рт. ст. Если кювета находится вне лазерного резонатора, то предел обнаружения натрия возрастает в 200 раз. Внутрирезонаторная атомно-абсорбционная спектрометрия является перспективным методом снижения предела обнаружения элементов. [c.133]

Каждый спектральный прибор предназначен для регистрации спектра в определенной области длин волн. В ультрафиолетовой и видимой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные приборы. Спектрографы с кварцевой оптикой позволяют получать спектр в области 200—600 нм, в которой расположены чувствительные линии большинства из известных элементов. Спектрографы со стеклянной оптикой используют для работы в видимой области от 360 до 1000 нм. Приборы с дифракционной решеткой позволяют получать спектр в интервале длин волн от 200 до 1000 нм. Эти приборы, обладающие большой дисперсией, дают возможность разделять спектральные линии с близкими длинами волн, что особенно важно для анализа веществ, спектр которых богат линиями. [c.323]

На кварцевом спектрографе средней дисперсии можно определять до 10 % Ве, если присутствуют только небольшие количества молибдена [70, 508]. Приборы с более высокой дисперсией — дифракционные спектрографы (ДФС-3) —позволяют освободиться от [c.159]

Большой интерес представляют прямые спектральные методы анализа без химической обработки образца [92]. Прямое спектральное определение рения в молибденитах рекомендуют проводить на дифракционном спектрографе ДФС-3 с решеткой 1203 штрихов на 1 мм, позволяющим работать во втором и третьем порядках (дисперсия 0,95 и 0,53 А/мм соответственно). Эталоны готовят разбавлением тщательно проанализированного образца молибденита (с высоким содержанием рения) сульфидом молибдена. Анализируемые пробы и эталоны смешивают в соотношении 1 9с буферной смесью состава 4% РЬО, 45% ГезО,, 5% СиО, 1% КС1 и 0,05% С(13. Такой состав буферной смеси обеспечивает наибольшую величину отношения интенсивности линии рения к фону. Спектры возбуждают в дуге постоянного тока (12 а) в течение 20 сек. Калибровочный график строят в координатах [c.246]

Чувствительность повышается до 0,0003% при работе на дифракционном спектрографе ДФС-13 по линии 2675,95 А в этом случае золото можно определять в пробах, обогащенных кремнием. [c.176]

Спектрограф дифракционный типа ДФС-8-2 с решеткой 600 или 1200 штр/мм и однолинзовой системой освещения щели. Генератор дуги постоянного тока на теристорах. [c.80]

Инфракрасная спектроскопия. Сердцем ИК-спектрографа является диспергирующее устройство — система призм из плавленого кварца и различных солей или дифракционная решетка. Источником ИК-излучения (Я.> 2 мкм) служит глобар — стержень из карбида кремния, нагреваемый током до 1000— 1200°С, или штифт Нернста (смесь оксидов редкоземельных металлов), нагреваемый до 2000°С, а также ртутная лампа, в которой отсекается коротковолновое излучение. Таким образом, удается охватить и длинноволновую область, вплоть [c.150]

В приборах с плоской решеткой дисперсия остается почти постоянной во всей рабочей области спектра при использовании одного дифракционного порядка, что является большим удобством при работе. Так, в большом дифракционном спектрографе с линейной дисперсией 6 А1мм в первом порядке она изменяется всего на 0,5 к/мм при переходе от 2000 А к 10 ООО А. [c.101]

Для работы со сложными спектрами применяют автоколлимацион-ные призменные спектрографы большой дисперсии или дифракционные приборы. Призменные приборы имеют в начале рабочей области спектра линейную дисперсию до 1 к мм, которая затем быстро уменьшается с ростом длины волны. Линейная дисперсия дифракционных спектрографов во всем рабочем диапазоне 2—8 к мм в зависимости от постоянной решетки и фокусного расстояния объектива. [c.125]

Линейную дисперсию спектрографов можно изменять в широких пределах, если прибор снабжен несколькими камерами с разными фокусными расстояниями объективов. У дифракционных спектрографов изменяют линейную дисиерсию, используя спектры разных порядков, но часто решетки рассчитаны на работу в определенном порядке и переход к спектрам других порядков значительно уменьшает светосилу прибора. [c.126]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

Для определения количественного и качественного состава отложеиий волокнистого углерод1гого вещества на различных катализаторах применяли эмиссионный спектральный анализ с использованием германского спектрографа РС8-2 с плоской дифракционной решеткой (650 штрихов на 1 мм, уюл поворота решетки 6, диапазон съемки 235-410 нм). [c.32]

N1, 8Ь, РЬ, 8п и 2п. Спектр возбуждают в дуге постоянного тока силой 12 А и фотографируют на спектрографе ДФС-8 с дифракционной решеткой 600 штр/мм. Щель спектрографа освещают через кварцевую линзу Р = 75 мм, проектируя изображение электродов. Фотографируют область дугового промежутка у катода. Применяют фотопластинки ЭС-СП и панхром. Эталоны готовят введением растворов определяемых элементов в навеску спектрально-чистого угольного порошка и 5% С(10 с последуюпщм прокаливанием при 400—450° С. [c.105]

Спектральным методом анализируют руды, пыли, золу некоторых углей [70, 221, 508, 556, 585, 1241, 1334]. Анализ с химической подготовкой пробы и отделением рения дистилляцией в виде Нб207 обеспечивает получение результатов с ошибкой до 30% [508]. Прямое спектральное определение рения беэ химической подготовки проводят, как уже отмечалось выше, с использованием больших кварцевых спектрографов. В качестве эталонов применяют стандартные образцы гранитов [585], смеси, близкие по составу к анализируемым объектам [1241], внутренний стандарт [70, 221, 556]. Содержание репия (до 10" %) определяют па кварцевом спектрографе средней дисперсии. При содержании 10 % рений удобнее определять на дифракционных спектрографах ДФС-3 или ДФС-8. При использовании дифракционных решеток с дисперсией 0,5—0,6 А/см удается повысить чувствительность определения до 4-10 % [221, 556]. [c.249]

Калинин С. К., Файн Э. Е., Перевертун В. М. Применение дифракционного спектрографа ДФС-3 для анализа минерального сырья. Алма-Лта, Изд-во АН КазССР, 1960. [c.285]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология