Излучение паразитное

Так можно рассматривать сложный -спектр, каждая часть которого ведет себя относительно поглощения подобно монохроматической у- или Х-ли-нии. В случае Р-излучения паразитное поглощение в стенках канала часто помогает обрезать низкоэнергетическую часть спектра. [c.228]

Наблюдаемая величина погашения моле, аа литр на 1 см поглощающего пути, не исправленная на паразитное излучение, которое всюду <2%. [c.532]

После этого исследователь должен проанализировать весь непрерывный спектр углерода вплоть до энергии электронов пучка для выявления других артефактов. В частности, присутствие любых характеристических пиков (рис. 5.55) указывает на паразитное излучение и на возможный его источник. [c.268]

Рассеянное или паразитное излучение. Это излучение нежелательных частот, попадающее на приемник. Наиболее общими причинами рас- [c.48]

В области поглощения линий ОН, излучение, не поглощаемое линиями ОН, является паразитным и сильно снижает точность определения концентрации ОН с помощью такого метода. [c.137]

Чтобы не растягивать слишком сильно двумерный спектр по высоте, световые отверстия растра можно выполнить в фор.ме круглых точечных отверстий (или небольших штрихов), хаотически расположенных по высоте растра к. Тогда соседние строчки растра могут быть смещены по высоте всего лишь на диаметр такого отверстия (или высоту штриха). Правда, с этим будет связано увеличение паразитного фона, пропорциональное числу наложенных соседних строчек спектра, однако -это при тепловых приемниках излучения не имеет существенного значения. [c.373]

Кюветы описанного типа лучше других пригодны для исследования рассеяния света в низкомолекулярных жидкостях вдали от критической точки, т. е. при условии, что интенсивность рассеянного света невелика. При интенсивностях рассеянного света, в 30 и более раз превосходящих интенсивность рассеяния в бензоле, крестообразные кюветы описанного выше типа и размеров дают заметный паразитный свет, что приводит к несколько завышенным значениям наблюдаемой степени деполяризации рассеянного излучения. [c.90]

Особенности температурных измерений. В полученные выше формулы (2-24) и (2-29) вошли две поправки на излучение Д>-л(0 и на нелинейность нагрева Дз которые, однако, не являются единственными. При работе с термопарами, нанример, возникают ошибки из-за наличия в них паразитных термо-э. д. с. и из-за возможных искажений термоэлектродами поля температур в зоне контакта с образцом. Если термопары монтируются внутри калориметра постоянно, то случайные по своей природе погрешности измерения становятся систематическими, причем их суммарное значение оказывается в общем случае функцией температуры и скорости нагрева Ь). Учесть такого рода погрешности термопар можно с помощью специальных приемов градуировки калориметрического устройства и выделения из условного показываемого термопарами перепада температуры " ,(т) действительного перепада [c.53]

Градуировка калориметра. Для определения поправки на излучение в зазоре А ьл(0 и для градуировки температурных датчиков проводятся градуировочные опыты. В случае работы с термопарами такая градуировка датчиков нужна для выявления эффективного паразитного сигнала Ь), искажающего значение измеряемого [c.55]

К другой группе относятся экспериментальные поправки б , т и АХ, объединяющие в себе целый ряд трудно рассчитываемых поправок на неоднородность температурных датчиков, тепловое сопротивление прилегающих к слою участков стержня и блока, на паразитные тепловые мостики в слое и сквозное излучение через исследуемое вещество. Точная аналитическая оценка такого рода факторов практически невозможна, поэтому для учета их приходится предусматривать серию градуировочных опытов. [c.85]

Для исключения паразитного излучения положение нуля определяли введением заслонки, непрозрачной в данной области, [c.218]

Л <3,3/г). При этом не обнаруживалось остаточного паразитного излучения при г > 700 см К. [c.219]

Остаточное паразитное излучение проверяли по таким достаточно широким и интенсивным полосам, как 760—790 м (четыреххлористый углерод), 1460 см (углеводороды) и другим, которые обеспечивают полное поглощение регулярного излучения. При проверке положения, нуля следует оставлять кювету перед щелью, особенно для мутных, сильно рассеивающих коротковолновое излучение образцов. [c.219]

Наряду с полезными сигналами динодная система усиливает паразитные сигналы, давая так называемый тепловой шум. Из сурьмянистого цезия вырываются тепловые электроны, т.е. электроны, кинетическая энергия которых больше работы выхода электронов из материала динодов. Кроме того, ускоренные электроны ионизируют остаточный газ в ФЭУ. Появившиеся положительные ионы, двигаясь навстречу электронному току, попадают на диноды и выбивают дополнительные электроны, которые усиливаются динодной системой. За счет этих двух процессов на выходе ФЭУ появляются паразитные импульсы. Амплитуда этих паразитных сигналов меньше амплитуды импульсов от ядерных частиц. Используя подходящий порог дискриминации, можно почти полностью отсечь паразитные импульсы шума и подать па пересчетную схему только полезные импульсы. На рис. 44 изображена запись, получающаяся на экране осциллографа. Как видно на рисунке, при установке дискриминации Ув регистрируются только импульсы от ядерных частиц. Дискриминация заметно не уменьшает фон счетчика, так как амплитуда импульсов от космического излучения часто больше величины импульсов от регистрируемого ядерного излучения. [c.56]

Выращивание монокристаллов подходящей толщины сделало возможным исследование многих простых веществ, а также ионных и интерметаллических соединений. К сожалению, методы выращивания определенных кристаллов отнюдь не являются пригодными для широкого применения. К тому же полученные спектры кристаллов часто содержат дополнительные полосы, обусловленные отражением и рассеянием излучения. При отсутствии тщательной проверки эти паразитные полосы затрудняют интерпретацию инфракрасных спектров исследуемых веществ. [c.20]

Система транспортировки лазерного пучка. Наличие поглощающего газа в пространствах между зоной перетяжки Ьр, линзой Ь и зеркалом М2, где плотность энергии недостаточна для диссоциации, приводит к паразитному поглощению излучения и к резкому падению плотности энергии в резонаторе. Поэтому необходимо создать условия, при которых облучаемый газ сосредоточен в области перетяжки и в то же время исключены его диффузионный и газодинамический потоки из области перетяжки в пространства, прилегающие к линзе и зеркалу М2, т.е. в области Ьр-Ь и Ьр-М2- [c.467]

При решении ряда задач спектроскопии (исследования люминесценции, комбинационного рассеяния и других слабых свечений) необходимо обеспечить снижение уровня паразитного излучения, попадающего на выходную щель монохроматора. Самый надежный способ борьбы с рассеянным светом — применение двойной монохроматизации. В зависимости от взаимного расположения деталей каждой половины двойного монохроматора получаются схемы либо со сложением, либо с вычитанием дисперсий. Принадлежность монохроматора к тому или иному типу можно определить, например, по правилу, изложенному в [4]. [c.106]

В мессбауэровских дифрактометрах необходимо удовлетворять жестким требованиям в отношении коллимации первичного и отраженного пучков 7-квантов, хорошей защиты детектора от паразитного излучения (внешний фон, фон от источника за счет прямого прохождения 7-лучей от источника к детектору, рассеяние на деталях установки, фон от нерезонансного рассеяния 7-кваитов источника в исследуемом образце) при соблюдении геометрии опыта. Детектор и регистрирующая аппаратура должны иметь минимальные собственные шумы. [c.233]

Некоторым недостатком камер-монохроматоров, использующих для монохроматизации отражение от кристалла кварца, является присутствие паразитного излучения с длиной волны, вдвое меньшей длины волны характеристического излучения. Это не вызывает неудобств при рутинном фазовом анализе, но может быть источником неопределенностей при поисках слабо выраженной сверхструктуры. Для устранения этой неоднозначности под руководством Ю.П.Симанова была сконструирована камера-монохроматор [6], в которой для монохроматизации использовалось отражение от плоскости (111) пластически изогнутого при высокой температуре монокристалла германия. Интенсивность линий (222) в германии практически равна нулю, т.е. излучение с А /1 в монохромати-зированном пучке отсутствует. К сожалению, пластические свойства германия очень чувствительны к степени совершенства кристалла (они резко ухудшаются при уменьшении концентрац 1И дислокаций), и камеры такого типа не нашли широкого применения. Монокристаллы кварца гораздо дешевле и доступнее. [c.21]

Возбуждение флуоресценции. В качестве источников света в методе АФС используются источники сплошного спектра (напршусер, ксеноновая лампа сверхвысокого давления), а также линейчатого — лампы с полым катодом и высокочастотные безэлектродные лампы. Соотношение между шириной линии возбуждающего излучения и шириной линии поглощения в методе АФС менее критично, чем в методе атомной абсорбции. Однако и здесь желательно, чтобы контур линии излучения был несколько уже контура линии поглощения, в противном случае часть возбуждающего излучения, оказывающаяся вне контура линии поглощения, не участвует в возбуждении флуоресценции и создает лишь паразитный сигнал неселективного рассеяния света интенсивность атомной флуоресценции тем больше, чем больше интенсивность возбуждающего излучения. Речь идет о так называемом линейном режгше флуоресценции. [c.852]

Следует сказать, что наряду с фоном космического излучения и загрязнений в ФЭУ появляютёя паразитные импульсы (фон) вследствие выбрасывания фотокатодом тепловых электронов и выбивания электронов с динодов положительными ионами. Уменьщение фона достигается с помощью дискриминатора, пропускающего сигналы только с достаточно большой амплитудой. [c.339]

Лазеры могут также использоваться для возбуждения в исследованиях комбинационного рассеяния света. Лазерная спектроскопия комбинационного рассеяния (КР) нашла ряд приложений в исследовании промежуточных продуктов фотохимических реакций. Высокая интенсивность и монохроматичность лазерного излучения обеспечивает методу КР чувствительность, которая недоступна с традиционными световыми источниками. Кроме того, появляется возможность изучения промежуточных соединений с временным разрешением. С перестраиваемыми лазерами становится возможной резонансная лазерная спектроскопия (РЛС). Когда длина волны излучения, возбуждающего комбинационное рассеяние, подходит к сильной полосе поглощения исследуемого образца, интенсивность КР увеличивается на шесть порядков по сравнению с обычным, нерезонансным возбуждением. Одним особенно важным вариантом лазерной спектроскопии КР является когерентная антистоксова спектроскопия комбинационного рассеяния (КАСКР), которая зависит от нелинейных свойств системы в присутствии интенсивного излучения и включает смешение нескольких волн. Высокая чувствительность получается вследствие того, что регистрация проводится скорее по люминесцентной, чем по абсорбционной методике. Паразитное рассеяние возбуждающего света ограничивает чувствительность традиционных исследований КР, но в экспериментах по КАСКР вблизи длины волны испускаемого излучения нет возбуждающего излучения, поэтому рассеянное возбуждающее лазерное излучение может быть отфильтровано. [c.197]

Пользователь системы спектрометра с дисперсией по энергии обычно отвечает за установку спектрометра и связанной с ним электроники в электронно-зондовом приборе. Для получения оптимального спектра пользователь должен устранять артефакты, которые появляются в результате взаимодействия спектрометра с дисперсией по энергии с окружающей его средой. Они включают в себя м1Икрофонные эффекты, наводки с земли, накопление загрязнений и попадание паразитного излучения, в том числе и электронов в детектор. Предлагаемый способ установки детектора, позволяющий избежать указанных ниже эффектов, описывается в приложении к этой главе. [c.232]

ГИИ, с другой стороны, имеется ряд осложнений, которые могут привести ничего не подозревающего 0перат0 ра к затруднениям. Артефакты появляются на каждой стадии процесса спектральных измерений. Артефакты процесса обнаружения представляют собой ущирение и искажение формы пика, пики потерь кремния, поглощение и пик внутренней флуоресценции кремния. Артефакты, возникающие пря обработке импульсов, включают в себя наложение импульсов, суммарные пики и чувствительность к ошибкам при коррекции мертвого времени. Дополнительные артефакты появляются из-за окружения системы полупроводниковый детектор — микроскоп и включают микрофонные эффекты, наводки с земли и загрязнение маслом и льдом деталей детектора. Как в кристалл-дифракционном, так и в спектрометре с дисперсией по энб ргии может регистрироваться паразитное излучение (рентгеновское и электроны) от окружающих образец предметов, но из-за большего телесного угла сбора спектрометр с дисперсией по энергии более подвержен влиянию паразитного облучения. Однако из-за большого угла сбора такой спектрометр менее чувствителен к эффектам дефокусировки спектрометра при изменении положения образца. [c.265]

Примечание. В том случае, когда в качестве источника первичного излучения в атомно-абсорбционной спектрометрии используется лампа типа дейтериевой (источник сплошного спектра), любые абсорбционные линии, попадающие в полосу пропускания монохроматора, будзт давать паразитный сигнал абсорбции в соответствии с характерным для них коэффициентом поглощения, т.е. в такой ситуации свобода от спектральньгх помех, как и в атомно-эмиссионной спектрометрии, зависит от разрешения используемого спектрометра, Аналогичная проблема, но с обратным знаком, возникает при использовании источника сплошного спектра в качестве корректора фона абсорбционные линии постороннего элемента, находящиеся в пределах полосы пропускания монохроматора, дают свой сигнал абсорбции, который далее вычитается из аналитического сигнала, что приводит к ошибкам измерений (к перекомпенсации фона). [c.900]

Исследование малоуглового рассеяния рентгеновских лучей проводилось с помощью четырехщелевой малоугловой камеры (2 щели коллиматора и 2 щели приемника излучения). Регистрация рассеянных лучей осуществлялась ионизационным счетчиком Гейгера. Наличие двух щелей у приемника излучения позволяло освободиться от большей части паразитного рассеяния. Хотя остаточная интенсивность паразитного рассеяния была весьма мала по сравнению с интенсивностью истинного рассеяния, измерения производились таким образом, чтобы можно было внести соответствующую поправку. Измерения интенсивности проводились дважды в первом положении (рассеивающем) образец помещался позади щелей коллиматора, во втором (поглощающем) — перед коллиматором. Во втором положении измерялась интенсивность остаточного [c.104]

На рис. 5.31 показана фотографическая пластинка со спектрами Рамана хорошо видны линии спектра ртути неизменной частоты, так как всегда паразитное рассеянное излучение ртути достигает спектрографа. Кроме того, можно различить серию линий Рамана с длинноволновой стороны каждой из более сильных линий ртути. Спектр четы-реххлористсго углерода показывает также антистоксовы линии в коротковолновой стороне. [c.109]

В детекторах, основанных на поглощении излучения, измеряемый сигаал представляет собой небольшое изменение на интенсивном фоне При флуоресцентном детектировании, наоборот, сигаал, хотя и слабый, измеряется на темном фоне Это позволяет применять в системе регастрации сигаала устройства с большим коэффициентом усиления, например фотоумножители Основными источниками шума во флуоресцентном детекторе являются темновой ток фотоумножителя, шум предварительного усилителя, фоновая флуоресценция растворителя и паразитное излучение, связанное с рассеянием возбуждающего излучения на измерительной кювете [c.102]

Наряду с разрешающей способностью прибора на аб солют-ную точность спектрофотометричеоких измерений влияют такие факторы, как паразитное излучение (рассея)нный сиет), отражение и поглощение излучения кюветой, в которой исследуется вещество, и ряд других, обычно менее существенных. [c.237]

Другой важной характеристикой прибора, на которую следует обращать внимание при работе в длинноволновой ИК-области, является присутствие рассеянного излучения и излучения высоких порядков эшелетта. Для оценки чистоты спектра применялся метод замещения эшелеттов [2]. В отличие от метода определения паразитной радиации с помощью веществ с сильными полосами поглощения метод замещения позволяет определить процент паразитной радиации по всей области, а не в отдельных точках. Другое его достоинство в том, что он позволяет производить количественную оценку фильтрации, чего нельзя сделать таким способом, как запись веществ с известным спектром и выявление в. спектре лишних, из второго и третьего порядка, линий. Метод заключается в следующем. Устанавливается набор фильтров, эффективность которых нужно проверить, в области спектра, где работает эшелетт с постоянной с/. Записывается спектр излучения источника в первом порядке эшелетта 1, одновременно в спектре присутствует радиация второго порядка /г. Затем этот эшелетт заменяется на другой с постоянной (112 и область сканируется снова при прежней фильтрации, при этом отношение сигнал/шум должно быть достаточным для проведения надежных количественных измерений. Для этого щель максимально раскрывают. Полученный таким образом спектр /) характеризует величину паразитной радиации, присутствующей в спектре эшелетта с постоянной й, ибо эшелетт с постоянной с /2 диспергирует ту же радиацию, что и предыдущий, за исключением первого порядка. [c.117]

Гибсон, Гроссман и Кук [65] предложили использовать для атомной абсорбции источники непрерывного спектра (лампы накаливания и т. п.). В этом случае требования к монохроматору в отношении разрешения и отсутствия паразитного излучения становятся более жесткими. Даже при высококачественном монохроматоре аналитическая кривая настолько изогнута, что измерения при больших значениях абсорбции становятся невозможными. Кроме того, яркость источников сплошного спектра ниже, чем у ламп с полым катодом. Фассел и др. [66] изучили эти источники более детально и считают их весьма полезными. [c.34]

В пламени закись азота — ацетилен иттербий заметно ионизируется, и Амос и Уиллис обнаружили, что градуировочный график слегка выгибается в сторону от 30 40 оси концентраций. Однако при высоких значениях оптической плотности график искривляется в противоположную сторону вследствие самопоглощения в лампе или присутствия паразитного излучения. Результирующая кривая является спгмоидой и приведена на рис. IV. 4. [c.84]

Искажения у пектра от моноэнергетического излучения можно наблюдать и за счет других причин. В низкоэнергетической области спектра можно наблюдать искалсения за счет ре , гистрации характеристического рентгеновского излучения от защиты. Так как это излучение возникает на основе фотоэффекта, вероятность которого возрастает с увеличением порядкового номера элемента, то это необходимо учитывать при конструировании кожуха и защитного экрана спектрометрического сцинтилляционного детектора. Если в качестве защитного материала используется свинец, то в низкоэнергетической области спектра появляется пик от характеристического излучения свинца с энергией приблизительно 0,080 Мэе. Для снижения этого вида паразитного излучения используется набор экранов. Обычно для подавления характеристического излучения свинца используются экраны из кадмия толщиной около 1 мм и меди толщиной 0,15 мм. [c.73]

Здесь первое слагаемое в числителе равно числу фотоионов целевого изотопа, второе слагаемое соответствует числу рассеянных атомов и паразитных ионов целевого изотопа, образованных электронным ударом и попавших на коллектор. Первое слагаемое в знаменателе есть полное число рассеянных атомов и ионов, образованных электронным ударом и достигших коллектора второе слагаемое соответствует числу фотоионов других изотопов (гудр.из. — вероятность фотоионизации других изотопов) третье — числу ионов целевого изотопа с учётом ионов перезарядки. Концентрация целевого изотопа, образованная собственно лазерным излучением, Сф равна [c.419]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология