Измерения при переложении контуров

Измерения при переложении контуров. Под общей интенсивностью спектральной линии мы обычно понимаем величину [c.132]

Естественно, что, чем больше интенсивность крыла, накладывающегося на слабую линию, тем меньше точность измерения этой линии. Так как уширение линий водорода в высокочастотном разряде, служащем для возбуждения спектра, в основном штарковское, то для уменьшения переложения контуров выгодно снизить давление в разрядной трубке до такой величины, когда уменьшение интенсивности свечения разряда не вызывает еще значительных затруднений анализа. Однако одновременно с уменьшением давления увеличивается разделение изотопов в капиллярах. Степень разделения определяется свойствами установки и не может быть достаточно просто рассчитана. Штарковское уширение линий также не поддается простому расчету, так как зависит от трудноизмеримых характеристик разряда. Поэтому при анализе малых [c.267]

Измерение интенсивностей компонентов спектральных линий, записанных с помощью установок такого типа, проводится обычно путем измерения высот максимумов на регистрограммах. При точных измерениях приходится также учитывать наложение сплошного спектра и рассеянного света, искажения формы контура в результате конечной скорости записи и переложения компонентов и т. п. Отдельные примеры измерений будут приведены в гл. XI. [c.98]

Для этого они экспериментально исследуют ряд поправок, которые характерны для их установки и должны быть введены в измеренное отношение. Эти поправки связаны с самопоглощением в источнике, переложением контуров линий и т. п. Не говоря уже о трудностях, связанных с точным определением таких поправок и обусловливающих основные ошибки анализа, можно быть уверенным в том, что далеко не все необходимые поправки определялись вообще. Например, не учитывалось возможное разделение изотопов лития в источнике, небольшое различие в допплеровском контуре линий Li и Li , влияние непрерывного спектра источника и т. д. В результате метод в принципе не свободен от влияния систематических ошибок, величину которых а priori трудно оценить. [c.559]

Если контур измеряемой спектральной линии очень узок (речь идет об инструментальном контуре), то вообще трудно получить наден пые результаты, так как при сужении выходной щели микрофотометра, с одной стороны, падает световой поток, достигающий фотоэлемента, с другой — уменьшается измеряемая площадка. То и другое приводит к возрастанию ошибки измерений. Поэтому для фотометрических измерений желательно, чтобы ширина щели спектрографа при съемке была по крайней мере в три раза больше нормальной. При этом можно рекомендовать выходную щель микрофотометра брать равной примерно половине ширины изображения спектральной линии. Соотношение контура спектральной линии и ширины щели микрофотометра будет тогда таким, как оно представлено на рис. 110,а. При более узких щелях спектрографа приходится соответственно сужать щель микрофотометра (рис. 110, б). В том случае, когда соотношение инструментального контура и ширины щели микрофотометра будет таким, как оно представлено на рис. 110, в, измерения будут заведомо неверными. Это обстоятельство заставляет для количественных анализов пользоваться по возможности спектральными приборами с большой линейной дисперсией, которые дают возможность расширять щель при съемке, не опасаясь переложения спектральных линий. Ширину входнойщели микрофотометра 3 [c.122]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология