Электронный микроскоп для исследования в проходящем пучке электронов

Среди различных типов этих приборов центральное место занимает ПЭМ. В оптической системе типичного ПЭМ с высокой разрешающей способностью создается высокий вакуум (10 " Па). В конструкцию ПЭМ входят оптическая система, световой микроскоп, тубус со смотровыми окнами, пульт управления, корпус, источник питания линз, источник высокого напряжения, вакуумная система и высоковольтный кабель. В ПЭМ пучок электронов, испускаемых накаленным катодом, формируется электронной пушкой и затем дважды фокусируется конденсорами. В результате на объекте создается электронное пятно , диаметр которого можно менять в пределах от 1 до 20 мкм. После прохождения сквозь объект наблюдения часть электронов рассеивается и задерживается апертурной диафрагмой. Нерассеянные электроны проходят через отверстие диафрагмы и фокусируются объективом в предметной плоскости промежуточной линзы. Здесь образуется первое увеличенное изображение. Последующие линзы создают многократное изображение. Последняя, проекционная, линза формирует изображение на флюоресцирующем экране, который светится под воздействием электронов. При фотографировании экран убирается и электроны воздействуют на светочувствительный слой фотопластинок, расположенных под экраном. ПЭМ, как правило, используется в качестве универсального прибора многоцелевого назначения. В нем можно наблюдать поверхность объекта, осуществлять электронно-графические исследования структуры тонких пленок и др. [c.76]

Хашимото, Танака и Иода [47] в качестве объектов исследования применили тонкие нити из вольфрама, молибдена, железа и меди, накаливаемые непосредственно пропускаемым через них электрическим током. Температура нити может быть повышена до точки, находящейся вблизи температуры плавления металла, например, в случае вольфрама до 3000°. Так как проволока берется очень тонкой и общее количество выделяющегося тепла невелико, то можно достигнуть высокой температуры без повреждения окружающей аппаратуры. Применявшееся авторами устройство схематически показано на рис. 9. Образец в виде тонкой нити 7 посредством медного наконечника 2 соединен с проводом 3, подводящим ток для нагревания. Электронный пучок может проходить через отверстие 4 в центральной части держателя объекта. Объект окружен медным защитным экраном 6. Держатель объекта 5 можно перемещать извне в двух направлениях перпендикулярно траектории пучка посредством сильфона 7 и уплотнения 8. В держателе имеется канал 9 для впуска газа в камеру объекта для действия на образец. Для накаливания нити применяется иостоянный ток 0,3—1 а. При применении, например, вольфрамовой проволоки, диаметром 0,08 для ее нагревания в интервале температур от 700 до 3000° требовалось 0,6—6 вт. Перед помещением в микроскоп нить калибровали и на основании установленной зависимости температура нити — сила тока можно было определить температуру нити во время исследования в электронном микроскопе. Искажение изображения, вызванное магнитным полем нагревающего тока, было незначительным и легко устранил1ьга. [c.41]

Препарат, подлежащий исследованию под микроскопом 1 осве-чивающего типа, должен быть прозрачным для электронов. Поглощение электронов недопустимо, так как может вызвать перегрев и разрушение препарата. Электроны, проходя сквозь препарат, соударяются с атомами вещества и вследствие этого рассеиваются. Угол, на который отклоняются при этом электроны, изменяется в зависимости от плотности и толщины препарата. Тонкие участки препарата меньше рассеивают электроны, поэтому проходящий через них плотный пучок частиц вызывает интенсивное свечение этих мест объекта на экране. Наоборот, толстые и плотные участки препарата рассеивают значительную часть проходящих через них электронов на большие углы, в результате этого они отсекаются апертурной диафрагмой объективной линзы и не попадают на экран. Такие участки препарата на экране имеют серую и темную окраски. [c.132]

В проекционной же микроскопии рентгеновский пучок, расходящийся от точечного источника, проходит сквозь образец, как это видно из рис. 110, и образует геометрически увеличенное изобра-жедие, попадая на фотопленку или фотопластинку, находящуюся на определенном расстоянии от образца. Для получения дальнейшего увеличения можно воспользоваться обычными оптическими приемами. Одно из самых важных преимуществ описанной методики состоит в том, что изучаемый образец находится в воздухе, а не в вакууме, как в электронной микроскодии. Это особенно важно в тех исследованиях, которые изучают процессы жизни, когда высушивание образцов (в вакууме) может привести к нежелательным изменениям. [c.312]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология