Линза промежуточная

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Электронный микроскоп состоит из электронной пушки — источника быстрых электронов и системы электромагнитных линз, обеспечивающих две или три степени увеличения (объектив, промежуточная линза и проектор). Источник электронов, представляющий собой вольфрамовую нить, дает пучок электронов, фокусирующийся магнитной линзой-конденсором в практически параллельный пучок, который падает на объект. Схематически путь электронного луча в электронном микроскопе показан на рис. 91. [c.155]

Образец, который исследуется на просвет, помещается вблизи входа в канал наконечника объективной линзы. Увеличенное изображение и сформированное объективом, называется первым промежуточным изображением. Оно служит объектом для промежуточной линзы, которая формирует второе промежуточное изобра- [c.155]

Высокотемпературные микроскопы позволяют проводить исследования в проходящем и отраженном свете при температурах от 30 до 3000°С. Нагревательная часть микроскопа состоит из печей-камер с нихромовой (до 1000°С) и платинородиевой (до 1600°С) нагревательными спиралями, более высокие температуры достигаются в вакуумных печах с графитовыми, вольфрамовыми и молибденовыми нагревателями. В микроскопах используются длиннофокусные объективы или осуществляется специальная тепловая защита (промежуточная линза) короткофокусных объективов. Исследования можно проводить в любой газовой атмосфере. [c.128]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через щель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на промежуточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Размеры элементов структуры по микрофотографиям определяются с учетом фотоувеличения и увеличения микроскопа, при котором производилась съемка. Увеличение микроскопа Уэ создается увеличениями объективной, промежуточной и проекционной линз и определяется формулой [c.116]

Рнс. 2.10, трехлинзовый конденсор 2, з — линзы (конденсоры) осветительной системы О4 — объектив коллиматора 5 — щель О — диаметр диафрагмы в плоскости промежуточного изображения [c.31]

В штативах типа ШТ-9 и ШТ-10 установка электродов на оптической оси осуществляется с помощью лампочки и линзы, которые освещают электроды. Их проектируется конденсором щели или промежуточный [c.128]

В приборе применена растровая система освещения щели, которая значительно уменьшает влияние смещения светового облака дуги или искры в процессе горения на воспроизводимость измерений. Она состоит из растров, линз с наклеенными на них тридцатью маленькими линзочками. Каждая линзочка первого растра дает промежуточное изображение источника света на соответствующие линзочки второго растра, а линза-насадка точно проецирует всю систему промежуточных изображений на щель спектрального прибора и дифракционную решетку. [c.692]

Просвечивающий электронный микроскоп 1 — электронная пушка 2 — конденсор 3 — первая диафрагма 4 —образец 5 —объектив 5 —вторая диафрагма / — промежуточная линза 8 — проецирующие линзы 9 — оконечная диафрагма /О — получаемое изображение. [c.224]

Если на пути преломленных лучей установить перемещающуюся зрительную трубу таким образом, чтобы в каждом из возможных ее положений оптическая ось (линия, соединяющая центры всех линз трубы, вдоль которой луч проходит, нигде не меняя своего направления) ее совпадала с направлением одного из преломленных лучей, то очевидно, что в положении / (рис. 47) все поле зрения в трубе окажется полностью освещенным, а в положении III — полностью затемненным. В промежуточном положении II, когда с оптической осью совпадет луч ОВ, являющийся границей света и темноты, одна половина поля зрения в трубе будет затемнена, а другая освещена. В этом случае угол между перпендикуляром к поверхности раздела сред и оптической осью трубы и есть, очевидно, искомый угол [3, который легко измерить по положению трубы относительно специальной шкалы. [c.110]

Современные электронные микроскопы снабжаются бронированными вводами высокого напряжения. Это позволяет устранить вредное влияние внешних помех на работу прибора и значительно увеличить безопасность при его эксплуатации. Отпала необходимость в снабжении электронных микроскопов защитными ваннами или колпаками. Важной тенденцией в электронной микроскопии является стремление к увеличению числа линз в микроскопе. В микроскопах 1-го класса появились двойные конденсорные линзы, состоящие из короткофокусной и длиннофокусной линз, что дает возможность уменьшить зону облучения объекта до нескольких микрон и тем самым снизить температуру объекта с нескольких сотен до нескольких десятков градусов. Другую дополнительную линзу, получившую название промежуточной, помещают между объективом и проекционной линзой. Введение этой линзы позволяет, во-первых, [c.9]

Поэтому, как правило, избирают второй путь, связанный с использованием промежуточной линзы (рис. 3) [c.21]

Небольшое первичное дифракционное изображение объекта, получающееся в задней фокальной плоскости объектива, увеличивается при помощи слабой промежуточной линзы, которая при переходе к режиму работы на микродифракцию фокусируется на фокальную плоскость объектива. Увеличенное промежуточной линзой ди( ракционное изображение служит объектом для второй проекционной линзы, которая на конечном экране или фотопластинке дает увеличенную дифракционную картину объекта. Для выбора желаемого микроучастка объекта в плоскости изображения объектива служит специальная селекторная подвижная диафрагма с отверстием диаметром в несколько десятков микрон, что с учетом увеличения объективной линзы дает возможность получать дифракционную картину участков [c.21]

Некогерентное освещение можно получить, если изобразить источник света с помощью конденсорной линзы большого диаметра резко на входную щель прибора. Тогда щель можно представить самосветящейся и колебания от каждой "точки щели будут происходить с произвольной фазой. Другие способы освещения щели, применяемые спектроскопистами, будут занимать промежуточные положения. Д. С. Рождественским введен особый параметр — 158 [c.158]

Градуировку ослабителя в ультрафиолетовой области следует выполнить используя источник линейчатого спектра (железную или медную дугу) и диафрагму промежуточного изображения, которая имеется на средней линзе трехлинзовой осветительной системы. [c.217]

Просвечивающий микроскоп имеет неподвижный электронный зонд. Изображение формируется при взаимодействии первичного и дифрагированного пучков в плоскости изображения. Электронно-оптическая система микроскопа состоит из электронной пушки и конденсора, формирующих зонд, а также объективной, промежуточной и проекционной линз. Аппаратурное оформление ПЭМ достаточно полно отражено в литературе (см., например, [3, 8, 9]). Объект располагается в фокальной плоскости объектива, его действительное промежуточное изображение создается короткофокусным объективом и переносится на экран проекционными линзами. Рассеянные электроны удаляются апертурной диафрагмой, расположенной вблизи заднего фокуса объектива, с помощью которой создается контрастное изображение. [c.226]

Устройство для дифракции электронов обычно предусмотрено в просвечивающем электронном микроскопе. Если уменьшить фокус промежуточной линзы так, чтобы задняя фокальная плоскость объектива была сфокусирована на экран, на нем появится дифракционная картина просвечиваемой области пленки. Если в фокусе первого промежуточного изображения с помощью селекторной диафрагмы диаметром выделить участок просвечиваемого объекта, равный В( 1М (М — увеличение), остальные электроны, прошедшие через объект, не попадут на конечный экран. Диаметр выбранного для дифракции участка обычно составляет 1 мкм. [c.230]

Метакри. ювая кислота и ее с,ложные эфиры являются перспективны.ми мономерами д.ля получения разнообразных полимерных материалов. В частности, диме-такрилат этиленгликоля (ДМЭГ) применяется в зубопротезной практике [1],. в производстве клеев и герметиков [2. 3], для изготовления оптических линз, промежуточных слоев безосколочного стекла [3]. В носледпес время разработан способ по- [c.41]

Проекционный блок. Проекционный блок IV (см. рис. 151,6) состоит из промежуточной и проекционной линз. Промежуточную линзу используют для перехода от наблюдения микроскопической картины к наблюдению дифракционной картины и для увеличения изображения объекта. Полюсн1)1Й наконечник проекционной линзы можно убирать. [c.271]

Для используемого в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) ускоряющего напряжения 200 кВ последняя формула дает длину волны 0,0025 нм, для широко применяемого в микроскопах высокого разрешения ускоряющего напряжения 400 кВ — 0,0016 нм, а для минимального ускоряющего напряжения, используемого в ряде моделей современных растровых электронных микроскопов (0,1 кВ), — 0,123 нм. Как видно, даже для низкоэнергетических электронов длина волны допускает получение атомного разрешения. Однако разрешающая способность электронных микроскопов определяется другими факторами (сферической аберрацией, связанной с разным положением фокальной плоскости для центра и краев линзы, и хроматической аберрацией, определяемой небольшими колебаниями ускоряющего напряжения) и достигает значений порядка 0,1 нм в высоковольтных микроскопах высокого разрешения. Строение просвечивающего электронного микроскопа функционально сходно с оптическим микроскопом, работающим в проходящем свете (рис. 7,1 а) осветительная система, состоящая из электронной пушки и конденсора, определяющего форму падающего на образец пучка исследуемый образец объективная линза, формирующая изображение система из промежуточных и проекционной линз, обеспечивающих требуемое увеличение и проецирующих изображение на флуоресцентный экран для наблюдения или на фотопленку (или матрицу цифровой фотокамеры) для регистрации. Кроме перечисленных элементов современный электронный микроскоп содержит магнитные системы отклонения пучка и изменения его формы. Изменение формы пучка до достижения им круговой симметрии в сечении необходимо для получения неискаженного изображения. Соответствующие устройства называют стигматорами, их устанавливают в просвечивающих электронных микроскопах как после конденсора (перед попаданием пучка на образец), так и после объективной линзы. Промежуточные линзы кроме дополнительного увеличения применяют также для перевода микроскопа в [c.245]

Как видно из рис. VI. 16 и в, оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа в основных чертах напоминает оптическую схему обычного светового микроскоца (рис. VI. 1а) с тем отличием, что в электронном микроскопе источник света заменен источником электронов, а стеклянные линзы — электромагнитными или электростатическими. Электронные лучи создаются и формируются специальной электронно-оптической системой, которая называется электронной пушкой. Нагретая до высокой температуры вольфрамовая пить 1 (рис. VI.16 и й) эмитирует электроны, которые, попадая в ускоряющее поле электронной пушки, образуют пучок. В центре анода имеется небольшое отверстие, через которое пролетают электроны, используемые в дальнейшем для образования изображения. Далее электронный пучок попадает в конденсорную линзу 2, которая фокусирует его на исследуемый объект 3. Пройдя через объект, электронные лучи попадают в поле объективной линзы 4, которая создает промежуточное изображение 5, а затем в проекционную линзу 6, направляющую электронные лучи на флюоресцирующий экран и образующую конечное изображение 7. Флюоресцирующий экран покрыт веществом, способным светиться под действием ударов электронов (сульфид цинка, сульфид кадмия). Благодаря этому электронное изображение превращается в световое и становится видимым. Электронное изображение может быть зафиксировано на фотопластинке. [c.170]

I — электронная иушка 2 — конденсорная линза 3 — изучаемый предмет 4 — объективная линза 5 — промежуточное изображение 6 — проекционная линза 7 — окончательное изображение 3 — источник света [c.128]

А — нефелометрическая приставка Б — фотометрическая головка I — лампа 2 — пластинка, разделяющая световой поток 3 — цилиндрическая линза, сужающая световой поток при измерениях малых объемов 4 — конденсор 5 — кювета 6 — камера с дистиллированной водой 7 —объектив и 9 — линзы нефелометрической приставки 5 — светоловушка 10 — 6а-рабаны левой и правой диафрагм II — объективы фотометрической головки 12, 13 — призмы /4 —окуляр, /5 —красный светофильтр для исследования флуоресцирующих образцов /5 — рассеиватели /7 — промежуточная трубка с насадкой /в — светофильтры [c.53]

Л—нефелометрическая приставка, —фотометрическая головка, /—лампа на 8 в, 2—пластинка, разделяющая световой поток, 3—цилиндрическая линза, сужающая световой поток при исследовании малых объемов, 4—конденсор, 5—кювета, 5—камера с дистиллированной водой, 7—объектив нефелометрической приставки, 8—линзы приставки, Р—рассеиватели, /О—объективы фотометрической головки, //—призмы, /2—призма, сводящая световые пучки к одной оси, 13—светофильтры, 14— окуляр, /5—красный светофильтр (вводится в ход лучей при исследовании флюоресцирующих образцов), /5—светоловушка, /7,/7 —барабан правой и левой диафрагмы, 18—промежуточная трубка с насадкой [c.91]

II — диафрагма 12 — рукоятка диафрагмы 13 — промежуточная линза 14 — движок с диафрагмами 15 — рукоятка движка с диафрагмами IS — промежуточная оптика, дающая промежуточное изображение диафрагмы 17 — первое плоское отклоняющее зеркало 18 — движок с поляризатором 19 — ручка для движка с поляризатором 20 — камера нижней призмы 21 — нижняя разделяющая луч призма 22а, 226 — плоские компенсаторы (тонкая регулировка контрастности) 23а, 236 — маховички с накаткой для компенсаторов 22а и 226 24 — подвижная заслонка для отсечки контрольного луча 25а, 256 — передние линзы конденсора 26 — кливовый компенсатор Aparo 27а — две плоско-параллельные компенсирующие пластины 276— система из трех клиньев 28 — валик микрометра с верньерами 29 — предметный столик 30а — компенсирующие плоские пластины для компенсатора 306 306 — вращающийся дисковый компенсатор, 31 — вращающийся столик 32 — круг с делениями на 360 33а — предметное стекло с исследуемым образцом 336 —контрольное предметное стекло S4 — камера верхней призмы 35 — держатель спаренных объективов 36а — измеряющий объектив 366 — контрольный объектив 37 — ручка для держателя 35 38а, 386 — два плоско-параллельных компенсатора для вращения интерференционных полос 39 — маховички для компенсаторов ЗВа и 386 40а, 406 — два плоско-параллельных компенсатора, регулирующие ширину полос 41а, 416 — регуляторы для компенсаторов 40а и 406 42 — верхняя разделяющая луч призма 43 — вращающийся анализатор, установленный на движке 44 — ручка для анализатора 43 45 — ручка для движка, [c.107]

Советские электронные микроскопы УЭМБ-100 и ЭМ-5, выпускаемые в промышленном масштабе, снабжены бронированными вводами, промежуточными линзами, стигматорами, а УЭМБ-100 имеет также двойной конденсор. [c.10]

На одну фотопластинку фотографируют одновременно спектры эталонов II образцов (по три параллельных). Фотографирование спектров производят на спектрографе ИСП-22 или ИСП-28 при ширине щели 10 мк. Ш,ель освещается центральной частью светящегося облака дуги с помощью трехлинзового конденсора. Раскаленные концы электродов диафрагмируются диафрагмой на промежуточной линзе ( 3,2 или 0,8 — см. нпже). Фотопластинки проявляют в метолгпдрохиноновом проявителе Д-19 в течение 5 мин. при 20° С, фиксируют в кислом дубящем фиксаже. [c.68]

Смотреть страницы где упоминается термин Линза промежуточная: [c.41] [c.184] [c.156] [c.49] [c.394] [c.116] [c.151] [c.184] [c.282] [c.101] [c.136] [c.101] [c.136] [c.11] [c.21] [c.229] [c.294] [c.667] [c.774] [c.653] [c.474] [c.69]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология