Прецизионное определение параметров решетки

При дифракции от поликристаллического образца дифракционные лучи образуют серии вложенных друг в друга конусов с общей вершиной в центре образца. Приведенное уравнение не учитывает эффекта преломления, но коэффициенты преломления для рентгеновских лучей близки к единице и отличаются от нее на 10 - Ю (в зависимости от среднего атомного номера материалов). Учет преломления при прецизионном определении параметров решетки будет рассмотрен в соответствующем разделе. [c.13]

ПРЕЦИЗИОННОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ РЕШЕТКИ [c.131]

Рентгенофазовый анализ все шире применяется в химических исследованиях, поэтому основное внимание в книге уделено количественному и качественному анализу неорганических вешеств, использованию метода порошка для решения некоторых задач структурного анализа (индицирование дебаеграмм), прецизионному определению параметров решетки. Рассмотрено влияние несовершенств решетки и размеров кристаллитов на дифракционную картину. [c.2]

При переходе из одной среды в другую рентгеновские лучи испытывают преломление. Однако коэффициент преломления при переходе воздух—твердое тело лишь ненамного меньше единицы, в то время как, например, для световых лучей он заметно больше единицы. Показатель преломления п= —б. Величина 6 равна, например, для серебра 10 , а для стекла примерно 10 . При очень малом угле падения рентгеновского излучения на идеально гладкую поверхность металла, стекла и т. д. наблюдается явление, аналогичное полному внутреннему отражению для светового излучения— полное внешнее отражение. Угол полного внешнего отражения а крайне незначительно отличается от 90° (для серебра, например, 90°—а=22,5 ), т. е. пучок рентгеновских лучей должен идти почти параллельно поверхности твердого тела для того, чтобы наблюдалось полное внешнее отражение. Явление полного внешнего отражения используется иногда при диафрагмировании. Поправка на преломление вводится также при прецизионном определении параметров решетки. [c.15]

Рентгеновский дифрактометр — это современный прибор, который позволяет решить большинство задач, встающих перед экспериментатором в процессе научного исследования. Хорошо отъюстированный и отлаженный дифрактометр более всего подходит для прецизионного определения параметров решетки, измерения интегральной интенсивности, полуширины и определения истинного профиля дифракционных линий. [c.29]

Ослабление интенсивности линий вследствие абсорбционного фактора пропорционально (для цилиндрического образца) радиусу образца. Однако в формулу интенсивности отражения входит облучаемый объем образца, который для сравнительно небольших радиусов (диаметр меньше ширины пучка рентгеновских лучей) и малых 1 пропорционален квадрату радиуса. Поэтому увеличение радиуса образца (для легких веществ) приводит к увеличению интенсивности линий на дебаеграммах, наиболее заметному при больших углах. Поэтому же в тех случаях, когда необходимо получить достаточно интенсивные отражения при больших углах от легких веществ (например, для прецизионного определения параметров решетки), целесообразно увеличивать толщину образца, хотя это и приводит к увеличению ширины линий на дебаеграмме. [c.127]

Устройство для прецизионного определения параметров решетки монокристаллов для рентгеновских исследований монокристаллов на ЭМВ-100 А ТУ 25-05-1521-74 РУЭМ-1 Ускоряющее напряжение при работе с устройством 25 кВ 515X260X 115 мм 15 кр [c.322]

Нами также было проведено прецизионное определение параметра решетки бинарных соединений InSb и InAs. [c.343]

Фокусирующая камера РКФ-86. Камера предназначена для прецизионных определений параметров решетки на поликристаллических образцах. Она устроена так, что щель коллиматора, образец и фотопленка расположены на одной цилиндрической поверхности, чем достигается фокусировка всех регистрируелплх линий. Щель коллиматора и исследуемый образец располагаются па противоположных концах основного диаметра, вдоль которого проходит ось первичного пучка рентгеновских лучей. Благодаря такому расноло кению линии на рентгенограмме симметричны относительно входного отверстия в пленке. Камера рассчитана на регистрацию отражений под углами от 60 до 88° и на работу со сравнительно мягким рентгеновским излучением (Си, N1, Со, Ре, Сг). [c.32]

И е в и н ь ш А. Ф., О з о л Я. К. Прецизионное определение параметров решетки асимметрическим методом. Рига. Изд-во АН ЛатвССР, 1956. [c.39]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология