Метод качания индицирование

В методе качания, к-рый является разновидностью метода вращения, образец пе совершает полного вращения, а качается вокруг той же оси в небольшом угловом интервале. Это облегчает индицирование пятен, т. к. позволяет как бы получать рентгенограмму вращения по частям и определять с точностью до величины интервала, качания, под каким углом поворота кристалла к первичному пучку возникли те или иные дифракционные пятна. [c.329]

Основным методом съемки при структурном исследовании хорошо ограненного кристалла является метод вращения и его разновидности. Для определения периодов идентичности и проверки вида симметрии снимается несколько рентгенограмм качания. Если размеры элементарной ячейки оказываются сравнительно небольшими (до 8 — 10 А — в случае кристаллов средней сингонии и до 5—6 А — в случае кристаллов низших сингоний), то далее —для определения пространственной группы— снимается рентгенограмма полного вращения. В противоположном случае пространственная группа определяется по серии рентгенограмм качания или по рентгенограммам, снятым одним из методов развертки слоевых линий. Последнее представляется наиболее целесообразным, так как индицирование рентгенограмм этого типа наименее трудоемко и наиболее надежно. [c.232]

В общем случае каждую слоевую линию приходится индицировать отдельно. Имея в виду в дальнейшем переход к рентгенограммам качания, рентгенгониометрическим снимкам и к дифрактометричеокому методу, попытаемся сначала сформулировать проблему индицирования в самом общем виде. [c.334]

Предполагается, что параметры решетки кристалла уже определены. Вычислив по формулам, приведенным на стр. 316—321, параметры обратной решетки, нетрудно вычертить в подходящем масштабе одну из сеток обратной решетки, перпендикулярных оси вращения кристалла. Поскольку все параллельные сетки обратной решетки геометрически одинаковы, достаточно построить только одну из них. Остается лишь найти на ней точку пересечения с осью вращения и измерить расстояния от этой точки до всех узлов сетки, т. е. все возможные значения x j . Сравнение этих значений с найденными экспериментально на рентгенограмме позволяет определить, какой узел сетки соответствует каждому из отражений, а следовательно, установить индексы отражений. (Если расстояния до двух или более у ов оказываются одинаковыми в пределах точности построения сетки, индицирование неоднозначно следует перейти к серии рентгенограмм качания или к одному из рентгенгониометрических методов.) [c.338]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология