Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод определение периода идентичности

    Основным методом съемки при структурном исследовании хорошо ограненного кристалла является метод вращения и его разновидности. Для определения периодов идентичности и проверки вида симметрии снимается несколько рентгенограмм качания. Если размеры элементарной ячейки оказываются сравнительно небольшими (до 8 — 10 А — в случае кристаллов средней сингонии и до 5—6 А — в случае кристаллов низших сингоний), то далее —для определения пространственной группы— снимается рентгенограмма полного вращения. В противоположном случае пространственная группа определяется по серии рентгенограмм качания или по рентгенограммам, снятым одним из методов развертки слоевых линий. Последнее представляется наиболее целесообразным, так как индицирование рентгенограмм этого типа наименее трудоемко и наиболее надежно. [c.232]


Рис. 11.33. Экстраполяционный метод Брэдли и Джей для определения периода идентичности Рис. 11.33. <a href="/info/117536">Экстраполяционный метод</a> Брэдли и Джей для <a href="/info/517241">определения периода</a> идентичности
    Столь тщательное рентгенографическое исследование не является, однако, исчерпывающим и связано с рядом дополнительных трудностей, помимо встречающихся нри определении структуры кристаллов мономерных веществ поэтому до настоящего времени этот метод применялся широко только для очень небольшого числа полимеров. Некоторые сведения, однако, можно получить и без такого тщательного рентгенографического исследования определение периода идентичности в направлении вытягивания и сравнение полученных величин с предполагаемой величиной периода для данной химической структуры при нормальных межатомных расстояниях и углах связи является простым и надежным методом в случае хорошо кристаллизующихся полимеров. Однако нельзя быть уверенным в точности этого метода, поскольку результаты, полученные с его помощью, зависят не только от химического строения, но и от геометрической конфигурации молекул. Не представляется возможным сделать какие-либо обобщения каждый случай нужно рассматривать как самостоятельную проблему. В дальнейшем будут приведены примеры вопросов, возникающих при этих исследованиях. В некоторых случаях для определения химического строения достаточно найти период идентичности, в других—для получения удовлетворительных данных о строении молекулы необходимо тщательное рентгенографическое исследование, включая определение размеров элементарной ячейки и расположения в ней атомов. [c.208]

    Вследствие неизбежной задержки получения результатов из-за длительного времени инкубации в традиционных тест-методах, контроль чаще всего основывается на ретроспективной проверке. Поэтому повторение теста в идентичных условиях становится невозможным. Результаты каждого теста необходимо рассматривать в контексте с результатами предьщущих и последующих исследований. Здесь важно выявить тенденции в изменении микробного загрязнения окружающей среды, которые могут заключаться в постепенном повышении или снижении общего числа микроорганизмов, или изменении качественного состава микрофлоры в течение определенного периода времени. Чтобы проследить тенденции микробной контаминации, можно использовать процедуры составления диаграмм или графиков. Интерпретация значимости отклонений в результатах тестов должна основываться на заключении квалифицированного специалиста [20]. [c.769]


    Роте 932] исследовал рентгенографическим методом высокоориентированные образцы поли-е-аминокапроновой кислоты. Он впервые показал возможность исследования волокнистых веществ не только вдоль оси волокна, но и в перпендикулярном направлении. Период идентичности в направлении, параллельном плоскости вальцевания, определен им равным 59 А, а в направлении, перпендикулярном к нему,— равным 44 А. [c.259]

    Определение типа решетки Бравэ методом качания в принципе очень несложно. Совместив с осью вращения ту или иную диагональ грани элементарной ячейки, легко определить по расстоянию между слоевыми линиями, центрирована ли рассматриваемая грань или нет если период идентичности окажется равным полной длине диагонали грани, то грань примитивна, если же он окажется в два раза меньше длины диагонали—-в центре грани имеется узел решетки. Для выявления пространственной центрировки достаточно снять рентгенограмму качания при вращении кристалла вокруг оси, параллельной телесной диагонали ячейки. [c.237]

    Геометрия дифракции 4.1. Классификация дифракционных методов. 4.2. Методы неподвижного кристалла (метод Лауэ о плоской и цилиндрической пленкой, метод расходящегося пучка). 4,3. Методы движущегося монокристалла (символы, соотношения между цилиндрическими координатами узла обратной решетки и положением соответствующего дифракционного пятна, периоды идентичности на неподвижных пленках, индицирование нулевой слоевой линии), 4,4, Метод Вейссенберга (экспериментальные детали, интерпретация рентгенограмм по Вейссенбергу). 4.5. Прецессионный метод Бюргера. 4.6. Методы для кристаллов о беспорядочной ориентировкой (индицирование рентгенограмм поликристаллов, определение неизвестных постоянных решетки). 4.7. Прецизионное определение периодов [c.322]

    Нам представляется желательным получение таким путем узких по молекулярно-массовому составу полимерных продуктов, например, для последующего приготовления из них смесей любого регулируемого состава. Технология такого процесса должна, очевидно, включать стадию выделения из смеси полимеров узкой низкомолекулярной фракции и возврат в систему в смеси с исходным мономером. На сегодняшний день реальность такого подхода очевидна уже для процессов поликонденсации, где функциональность низкомолекулярных продуктов идентична исходным. Такой подход к созданию однородных полимеров и интенсификации полимеризационного процесса потребует разработки специальных методов, позволяющих предварительно восстанавливать функциональность возвращаемых в систему макромолекул. Это замечание в определенной мере относится к цепным реакциям любого типа. Здесь степень рециркуляции должна быть увязана с периодом жизни радикалов. [c.13]

    На действующих предприятиях ситовый и фракционный составы угля могут быть определены экспериментальным путем. При проектировании нового предприятия для этих целей обычно применяют метод аналогов. Метод аналогов не позволяет получить объективную информацию, так как практически нет предприятий с идентичными горно-геологическими условиями, техникой и технологией выемки, схемами и средствами рудничного транспорта, технологическими. . комплексами поверхности. А именно эти факторы обусловливают характер распределения угля по классам крупности и фракциям плотности. Так, расхождения между выходами классов крупности, определенными в период проектирования обогатительных фабрик Комендантская и Красная Звезда и после их ввода в действие, достигают 10% абсолютных процентов. [c.3]

    Все измерительные инструменты следует периодически проверять, желательно ежедневно. В идеальном случае излучение стандартного образца должно быть идентично излучению исследуемого активного препарата. Для счетчиков, которые используются при исследовании различных изотопов, этот метод калибровки нерационален. В этом случае выбор эталонного образца может быть продиктован другими соображениями продолжительностью периода полураспада или механической устойчивостью. При серийных определениях активностей -излучателей очень удобно использовать стандартные образцы С1 (период полураспада 3-10 лет, тах = 0,7 Мэв), вплавленного в металлическую подложку и покрытого слоем золота методом напыления. Величину фона необходимо измерять по крайней мере один раз в день. Для снижения уровня фона, обусловленного космическим излучением или соседством высокоактивных образцов, большинство счетчиков и стоек для образцов окружают свинцовой оболочкой толщиной несколько сантиметров. Рабочее напряжение счетчика также необходимо проверять систематически. Для сцинтилляционных счетчиков у-лучей время от времени необходимо определять энергетическую разрешающую способность путем сопоставления с каким-либо известным фотопиком (например, от у-лучей s - с энергией 0,66 Мэв). Калибровку одного измерительного прибора в случае необходимости можно осуществить с помощью другого прибора, однако такой метод недостаточно точен. В ряде случаев полезно располагать сведениями об относительных значениях геометрических коэффициентов четности для различных положений образца в стойке. [c.384]


    П и самых благоприятных условиях (кристаллик размерами 0,2—0,3 мм, незначительное поглощение, точная юстировка, острофокусная трубка, совершенная камера) точность определения периодов по расстояниям между слоевыми линиями не превышает 0,05 А. Обычно же ошибка в определении периода по расстоянию между слоевыми линиями — порядка 1 % величины периода. На предварительной стадии исследования — для оценки числа молекул в ячейке, определения типа решетки и для последующего индицирования — этого вполне достаточно. На заключительной стадии анализа структуры — при определении координат атомов — размеры ячейки желательно знать с большей точностью (0,005—0,01 А). После индицирования рентгенограмм любого типа, которые могут потребоваться при дальнейшем исследовании, такое более точное определение легко может быть проделано (см. стр. 363, 371). Для этой цели удобен также дифрактометрический метод (см. стр. 379). Прецизионного определения периодов идентичности (точность 0,001—0,0001 А) мы касаться не будем. [c.235]

    Каковы доводы в пользу выбора для рентгеносъемки излучения того или иного анода (медь, кобальт и т. п.) в зависимости от состава фазы В случае многофазной системы При необходимости точного определения периода идентичности Что дает асимметричный метод укладки рентгенопленки Что дает применение рентгендифрактометра  [c.225]

    Кристаллические и аморфные участки чередуются вдоль фибриллы. Период идентичности (повторяемости) называют в данном случае большим периодом. Он колеблется от 8 до 25 нм, т. е. включает 15—50 глюкозных остатков. Наличие больших периодов идентичности в целлюлозных фибриллах доказано с помощью малоуглового рентгеновского метода [19], прямыми электронноскопическими наблюдениями [20], а также определением предельных значений СП при гидролизе [21]. Причиной воз-никовения больших периодов следует считать затруднения в росте [c.21]

    Наиболее широко для определения структз ры используется метод вращения кристалла. В этом методе используется монохроматическое рентгеио1вское излучение, а в качестве исследуемого образца — монокристалл. Так как монокристаллы получены отнюдь не для всех полимеров, а размеры полученных монокристаллов слишком малы, то при исследовании полимеров используются ориентироваи-ные, максимально закристаллизованные полимерные пленки или волокна. При вращении кристалла вокруг какой-либо оси рентгеновские лучи, направленные перпендикулярно к этой оси, в определенный момент времени оказываются по отношению к некоторым кристаллографическим плоскостям в положении, при котором выполняется формула Вульфа — Брэгга. В этом случае возникает дифрагированный рентгеновский луч, который приводит к появлению рефлекса (пятна) на цилиндрической фотопленке, ось которой совпадает с осью вращения кристалла. На цилиндрической фотопленке рефлексы располагаются по слоевым линиям, перпендикулярным к оси вращения. Слоевая линия, проходящая через след от первичного пучка рентгеновских лучей, называется нулевой. Расположение остальных слоевых линий ясно нз рнс. 12. Расстояние между слоевыми линиями зависит от расстояния между идентичными рассеивающими центрами, расположенными вдоль оси вращения кристалла. Период идентичности / в этом направлении определяется формулой [c.39]

    Другой способ разделения по массам был предложен Паулем и Штейн-веделем [1579]. В этом методе пучок ионов направляется вдоль оси системы электродов, выполненных в форме, изображенной на рис. 15. Поперечное сечение электродов представляет две идентичные гиперболы. Потенциал в двумерном электрическом поле образуется четырьмя подобными электродами потенциалы соседних электродов равны по величине, но противоположны по знаку и могут быть описаны формулойф= фо (л —у )12г1 , где фо — напряжение, прилагаемое к электродам, а 2го— расстояние между противоположными электродами, фо представляет собой радиочастотное напряжение в несколько мегагерц, наложенное на малое напряжение постоянного тока время пролета ионов велико по сравнению с периодом колебания поля. Ион, введенный в пространство вдоль оси электродов, в зависимости от своей массы, частоты и амплитуды напряжения на электроде может либо столкнуться с электродом, либо пройти сквозь поле. Был построен ряд приборов описанной выше конструкции [1545, 1580, 1581]. Анализ уравнений движения ионов в приборе показывает, что теоретически возможно осуществить такой выбор параметров, что ионы с определенной массой будут обладать конечной амплитудой, независимо от их направления до вхождения в поле, начальной энергии и исходного положения в плоскости л —у, в то время как ионы с соседними массами будут обладать бесконечной амплитудой. Система привлекает возможностью применения ее в качестве разделителя изотопов, но практически это трудно осуществить, так как необходим ионный пучок с резко очерченным сечением порядка 0,1 мм . Рассмотренный выше прибор был использован для получения пучков ионов магния и рубидия, причем интенсивность пучка ионов магния достигала 15 мш. При сильном ограничении размеров сечения ионного пучка для ионов рубидия с энергией 100 эв было достигнуто разрешение, равное нескольким сотням, однако ионный ток был при этом менее 10 1 а. Было достигнуто также разрешение свыше 1500 [1235]. [c.39]

    Метод Дебая — Шерера имеет наибольшее значение для изучения структуры полимерных материалов. В частности, он широко используется для исследования ориентированных поликристаллических образцов. В процессе растяжения кристаллы оказываются определенным образом ориентированными относительно оси растяжения, поэтому на рентгенограмме ориентированных образцов появляется текстура — кольца вырождаются в дуги большей или меньшей длины. Такие картины дифракции называют текстуррент-генограммами (рис. 3.3, см. вклейку). Распределение интенсивности вдоль дуги характеризует степень ориентации кристаллитов относительно оси вытяжки. Для исследования полимеров наибольшее значение имеют текстуррентгенограммы предельно ориентированных образцов, когда все кристаллы ориентированы одной и той же осью (обычно ось с кристаллографической ячейки) вдоль направления растяжения. Такая ориентация называется аксиальной текстурой. Рентгенограммы этих образцов близки к точечным. Именно по таким рентгенограммам обычно определяют тип и параметры элементарной кристаллографической ячейки и период идентичности вдоль цепи. [c.81]

    Общепринятое представление о том, что строение элементарного звена молекулы ПВХ описывается формулой —СНз—СНС1—, не объясняет многочисленных химических, физических, физико-хими-ческих и другие особенностей ПВХ. Так, по рентгенографическим данным период идентичности в молекуле ПВХ равен 5,05 А, а не 2,52 А, как это должно следовать из приведенной выше формулы. Теоретически при химической модификации ПВХ на основе строения его звена может образоваться максимум три хлорзамещенных продукта, тогда как в действительности их получают девять. При определении молекулярного веса вискозиметрическим и осмометри-ческим методами получаются большие расхождения, которые трудно объяснить исходя из строения молекулы ПВХ и т. п. [c.145]

    Из сказанного видно, что при изучении монокристалла данного вещества можно определить размеры элементарной ячейки непосредственно по трем рентгенограммам, полученным при вращении кристалла вокруг каждой из его осей. К сожалению, монокристаллы полимеров обычно недостаточно велики, чтобы использовать этот метод. Однако вытяжка (сопровождаемая, как правило, отжигом) дает обычно высокую степень ориентации цепей в образце, так что описанным способом оказывается возможным определить период идентичности вдоль цепи. Другие размеры элементарной ячейки и углы определить труднее степень трудности зависит от симметрии элементарной ячейки. В этом случае по положению экваториальных плоскостей определяют форму и размер проекций элементарной ячейки на плоскость, перпендикулярную оси волокна. Банн (см. работугл. VI) описывает относительно простой графический метод определения этой проекции. Проекцию затем уточняют так, чтобы объяснить (индицировать) пятна на верхней и нижней слоевых линиях легче всего это сделать, используя представление об обратной решетке, превосходно описанное Берналом Часто оказывается, что некоторые типы рефлексов систематически отсутствуют это позволяет сделать заключение о типе решетки и симметрии элементарной ячейки. Отсюда определяют так называемую пространственную группу полимерного кристалла. [c.167]

    Понятия чистоты и идентичности можно представить яснее, если исследовать понятие сходства. В старой литературе было сравнительно мало критериев сходства. Первыми критериями, используемыми при изучении различных видов материи, были качественные отличия, которые прежде всего бросались в глаза, а именно размер, цвет и форма. Между введением первой количественной меры (плотность) в качестве критерия чистоты и использованием химического состава в качестве меры сходства лежит период более двух тысяч лет. С развитием науки критерии сходства становились более многочисленными, а приборы для измерения свойств веществ—более совершенными. С увеличением точности измерения наши понятия о чистоте, идентичности и элементах настолько изменялись, что в настоящее время трудно утверждать, что чистый углерод можно получить из сахарозы, и поэтому следует предпочесть относительное определение чистоты. Если при хлорировании пропионовой кислоты в результате тщательной разгонки продукта выделяют фракцию, после повторной перегонки которой точка кипения, показатель преломления и плотность различных фракций не изменятся, то такой продукт можно вполне законно назвать чистым. Однако если в дополнение к вышеизложенным операциям включить разделение на оптические антиподы, то представления о чистоте и идентичности придется изменить, поскольку это чистое соединение представляет собой рацемическую смесь. Аналогичные аргументы можно выдвинуть в отношении любого органического вещества, если определяют концентрацию изотопов водорода и углерода в чистых органических соединениях. Понятие чистоты, следовательно, является относительным и полностью основывается на критериях, используемых для измерения сходства определенных фракций дан ного вещества. Эйрин [1] определяет чистое вещество как систему молекул, в которой после тщательного фракционирования не удается выделить фракции с различными свойствами. Можно показать, что чистая енольная форма ацетоуксусного эфира в кварцевом сосуде представляет собой чистое соединение, в то время как в стеклянном сосуде, где присутствуют следы щелочи, она становится смесью. Понятие чистоты включает применение специальных методов определения свойств, поэтому автор предпочитает ограничиться следующим определением Органическое вещество можно считать чистым, если оно при повторном фракционировании дает фракции такой же растворимости, с такими же температурами плавления и кипения, с одним и тем же показателем преломления и т. д. , т. е. беря наиболее обычные свойства. [c.350]

    Согласно рентгенографическим данным, полученным для ориентированных гелей ВТМ, период вдоль вирусной частицы равен всего лишь 69 А. Это подтверждает существование субъединиц, поскольку длина стержня равна 3000 А. Белковые субъединицы уложены в виде спирали, причем на каждый виток приходится 167з субъединицы, а на три витка — 49 субъединиц. Шаг спирали (расстояние между витками) равен 23 А. Плоскости оснований РНК приблизительно параллельны оси стержня. Для определения знаков рентгеновских отражений применялся метод изоморфного замещения с РЬ и Hg (см. разд. 1 гл. XV). Этот метод удалось применить к такой крупной частице лишь потому, что она состоит из расположенных регулярным образом идентичных субъединиц, одинаково модифицирующихся при введении тяжелого атома. По измеряемым амплитудам рассеяния с помощью Фурье-синтеза рассчитывают радиальное распределение электронной плотности, т. е. среднюю электронную плотность [c.359]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод определение периода идентичности: [c.314]    [c.65]    [c.82]    [c.115]    [c.399]    [c.282]    [c.144]   
Введение в физическую химию и кристаллохимию полупроводников (1968) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Период идентичности



© 2025 chem21.info Реклама на сайте