Диффракционная формула

Рентгеновская спектроскопия. Угол отражения (о рентгеновского луча от плоскости решетки (от грани кристалла) связан с длиной волны X обыкновенной диффракционной формулой, вывод которой дан в 120 [c.106]

Постоянная й решетка может быть вычислена из плотности и строения кристалла, как описано в 120, или же может быть найдена с помощью диффракционной формулы по углу отражения (у луча известной длины волны Л. Величина (1 имеет, конечно, различные значения для разных кристаллов и для разных граней одного и того же кристалла. [c.107]

В соответствии с этим методы рентгеновского структурного анализа могут быть разбиты на две группы а) задается постоянный угол (р и применяется смешанное излучение с всевозможными X. Из него отражаются лишь те лучи, для которых X отвечает диффракционной формуле (метод Лауэ). Ь) Применяется монохроматическое излучение с определенной X и кристаллы ставятся под разными углами ср к нему. Отражение происходит [c.155]

Диффракционная формула (61) была впервые выведена значительно более сложным путем Лауэ (1912). Позже В. Л. Б р э г г и одн( временно Г. Д. Ву л ь ф (1913) упростили ее вывод. Рентгеновские лучи отражаются не только от первых слоев кристалла, но проникают значительно глубже. Однако это не изменяет результатов вычисления. [c.156]

Измеренные таким путем величины X были недавно применены для точного определения постоянной Авогадро с помощью формулы (62 в последнюю подставлялись постоянные решетки d, найденные из диффракционной формулы (61). [c.157]

Диффракция электронов 2. Волновые свойства частиц, лежащие в основе квантовой механики и изложенные в гл. I, служат причиной того, что ноток частиц подвергается такой же днф фракции, как и луч света, если он направлен на диффракционную решетку или на другое препятствие для его распространения. Для трехмерной диффракционной решетки и здесь сохраняет силу обычная диффракционная формула [c.169]

Как показывает диффракционная формула (19), один и тот же луч отражается при разных углах в зависимости от к. Получаются спектры первого, второго и т. д. порядков (й = 1, 2, 3...), как и в обыкновенном спектроскопе с диффракционной решеткой. [c.105]

Диффракция рентгеновских лучей. Основой всех методов изучения строения с помощью рентгеновских лучей является уже упоминавшаяся ( 55) диффракционная формула [c.192]

Е равен Так как 58. К выводу диффракционной формулы. [c.193]

Уже небольшие отклонения от условий, отвечающих диффракционной формуле, вызывают столь большое загекиение интерферирующих лучей, что на практике можно считаться лишь с темн отражениями, которые точно ей удовлетворяют. [c.156]

Применение решетки основано на том, что разные дтины волн отражаются ею на разные углы согласно диффракционной формуле (19). Для изучения тонкой структуры пользуются большими отражательными решетками с очень частыми штрихами (до 15 000 на дюйм), причем приборы достигают нескольких метров [c.102]

Диффракционная формула (35) может быть получена путем следующих простых рассуждений, причем мы для простоты ограничимся отражением от первых двух слоев кристалла. На самом деле рентгеновские лучи проникают значительно глубже, но это не изменяет вида зависимости (35). Пусть плоская волна АС (рис. 58) с длиной волны X падает под углом ср на плоскэсть кристалла КК и отражается от нее по 8В под тем же углом (так как угол падения равен углу отражения). Когда луч СТ дойдет до плоскости кристалла то луч не успеет еще дойти до плоскости КК, как это видно из чертежа. Поэтому луч СТ будет опережать луч А5, оба они будут друг с другом интерферировать, и в направлении 8В мы будем наблюдать то темноту, то свет в зависимости от разности хода. Как известно из оптики, максимум света будет тогда, когда разность хода равна целому числу волн, т. е. когда , [c.193]

А8В = А8 + 8В, то СТВ —АЗВ = СТ- г Т8 — А8 = СЕ--ТЕТ8 —А8. Но СЕ = А8 и ТЕ=ТО — ЕО==Т8 — ЕО или согласно (а) кХ = ЕО. Далее, ЕО = 80 -%т щ = 2й- 8Ш <р, что приводит к формуле (35). Таким образом в направлении 8В мы будем наблюдать максимум света, лишь если условие (35) соблюдено. При всех К или <р, не удовлетворяющих этому условию, свет ослаблен, и такое ослабление быстро растет при отдалении от условий максимума. Поэтому практически можно считаться лишь с теми отражениями, которые удовлетворяют диффракционной формуле (35). Эта формула была сначала выведена довольно сложным путем Лауе (1912). Позднее вывод сильно упростили [c.193]

При очень точных измерениях в диффракционную формулу (35) следует ввести поправку на изменение скорости луча в кристалле вследствие различия в показателях преломления обеих сред. Обычноэтой поправкой можно пренебречь [c.194]

Рупп (1929) получил диффракцию электронов от искусственных металлических решеток подобно тому, как это сделал Тибо для рентгеновских лучей ( 131). Схождение с диффракционной формулой (35) получилось до 1%. [c.204]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология