Интенсивность аналитической линии зависимость от толщины образц

Поскольку анализируемые образцы могут быть различными (пленки, осадки после испарения, растворы, порошки, массивные твердые тела), вопрос об определении единиц измерения химического состава образца требует по крайней мере краткого обсуждения. В предельном случае, когда толщина образца близка к нулю, интенсивность аналитической линии пропорциональна числу излучающих атомов в единице объема (см. выше). Повидимому, это является аргументом в пользу единиц объема. Однако такой выбор оказывается неверным в случае анализа образцов сложного состава. В этом случае независимой переменной является суммарное число излучающих атомов на пути первичного пучка рентгеновских лучей, и это число пропорционально весовой концентрации опре(деляемого элемента. Для другой предельной области — области бесконечной толщины — будет показано, что введение весовой концентрации как меры химического состава логически обосновано. Наконец, следует еще добавить, что градуировочные кривые, представляющие собой зависимость интенсивности аналитической линии от концентрации, часто нелинейны. В таких обстоятельствах, по-видимому, желательно так выбрать единицу измерения состава, чтобы калибровочная кривая была возможно ближе к прямой линии. Во всяком случае, когда используется градуировочная кривая, основанная на стандартах, выбор единицы измерения сам по себе не особенно важен, если одни и те же единицы используются как для стандарта, так и для исследуемого образца. Далее повсюду используется в качестве единицы измерения весовая концентрация как логичная простая и в общем удобная единица. [c.176]

Широкий диапазон проникающей способности рентгеновского первичного и вторичного излучения позволяют получить излучающие слои толщиной от целых до тысячных долей миллиметра. Элементы, содержащиеся в пробе, поглощают как первичное излучение - при проникновении его в образец-излучатель, так и вторичное - при выходе его из излучателя. Взаимодействие первичного и вторичного излучения с веществом излучателя определяет зависимость интенсивности аналитических линий не только от содержания исследуемого элемента, но и от химического состава анализируемого образца. С этим связан основной недостаток метода - сильное влияние матрицы исследуемого образца на интенсивность линий вторичного рентгеновского спектра определяемых элементов. [c.38]

Способ ступенчатого ослабления спектральных линий заключается в том, что фотографирование спектров производят через ступенчатый ослабитель, размещаемый непосредственно перед входной щелью спектрографа. Ослабитель представляет собой кварцевую пластинку с десятью напыленными на ее поверхности полосками платины, отличающимися друг от друга толщиной напыленного слоя (соответственно — свето-пропусканием). Сфотографированный таким образом спектр состоит из ряда строк (ступенек) убывающей интенсивности по высоте щели. Уменьшение интенсивности линии по высоте достигает трех порядков величины. Пользуясь таким устройством, можно сфотографировать ряд образцов с известным содержанием интересующих элементов и построить зависимости числа наблюдаемых ступенек для аналитических линий от концентрации элементов в пробе с тем, чтобы далее [c.403]

В простейшем варианте способа стандарта-фона (анализ с использованием рентгеновского излучения, рассеянного образцом) аналитическим параметром служит отношение интенсивности линии определяемого элемента к интенсивности рассеянного анализируемым образцом первичного излучения [12—16]. Учет влияния химического состава образца основан на приблизительно одинаковой зависимости обеих интенсивностей от абсорбционных свойств образца. Для образца большой толщины выражение (21) (см. гл. 1) можно преобразовать к виду [c.64]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология