Шлифованные и изогнутые кристаллы

В спектрографе РСД-2 могут быть использованы кристаллодержатели двух конструкций. Основой кристаллодержателя первой конструкции (рис. 37) с изогнутым кристаллом постоянного радиуса кривизны служит стеклянный сегмент, вогнутая цилиндрическая поверхность которого обработана с оптической степенью точности. Радиус цилиндрической поверхности кристаллодержателя — 500 мм. Ориентированная кварцевая пластинка, использованная в спектрографе в качестве анализатора лучей, в согласии с требованиями метода Иогансона, предварительно шлифовалась с обеих сторон по радиусу 1000 мм. [c.94]

Желтый активный минерал представлен в виде сплошной массы настолько мелких кристаллов, что отдельные неделимые из них едва различимы при самом большом увеличении тем не менее некоторый их изоморфизм по отношению к кальциту можно легко заметить. Скопление этого минерала напоминает собой причудливо изогнутые волокна, следующие как бы поверхностям срастания кристаллов кальцита. При значительном увеличении видно, как тонкие пластинки желтого минерала налегают друг на друга, образуя тонкие нити, как бы следующие тем путям, по которым двигались потоки раствора. Некоторый участок шлифа заполнен кальцитом, окрашенным каким-то налетом в ярко-красный цвет. В некоторых местах виден глинистый материал. Резких разъединений зерен кальцита не заметно ни в местах соприкосновения его с желтым минералом, ни в местах, где присутствуют включения других минералов. [c.24]

В приборах со сфокусированным пучком злектронов сигнал рентгеновского излучения довольно слабый, и можно полагать, что он исходит из точечного источника. Поэтому рентгеновские спектрометры с полной фокусировкой, работающие с изогнутым кристаллом, более широко используются по сравнению с спектрометрами, имеющими плоский кристалл. Спектрометры последнего типа обычно используются в рентгеновском эмиссионном анализе при возбуждении с помощью рентгеновской трубки. В спектрометре с полной фокусировкой типа Иоганссона, схема которого приведена на рис. 5.3, точечный источник рентгеновского излучения, образец, кристалл-анализатор и детектор перемещаются по одному и тому же кругу радиуса R, называемому кругом фокусировки. Более того, кристалл изгибается так, чтобы кристаллические плоскости имели радиус кривизны 2R, а сама поверхность кристалла шлифуется до кривизны радиуса R. При такой геометрии все рентгеновские лучи, выходящие из точечного источника, будут падать на поверхность кристалла под одним и тем же углом 0 и фокусироваться в одной и той же точке на детектО ре. Этим обеспечивается максимальная эффективность сбора рентгеновского излучения в спектрометре без потери высокого разрешения по длинам волн. Очевидно, что в случае плоского кристалла угол падения рентгеновских лучей будет изменяться по длине кристалла, что. приводит к уширению и возможному наложению пико1В, вследствие чего уменьшаются максимальная интенсивность пика и отношение сигнал/фон. Хотя применение щелей Соллера дает возможность получить более параллельный пучок лучей, падающих на кристалл, однако и в этом случае не удается избежать потери интенсивности сигнала. [c.193]

Возможность выполнения обоих указанных выше условий для изогнутого кристалла впервые была указана Дю ]Мондом и Киркпатриком [125] и практически осуществлена Иоганссоном [128]. Эта возможность основана на том, что кристалл представляет собой трехмерную решетку с очень малым шагом. Поэтому можно сначала изогнуть кристалл так, чтобы его отражающие плоскости получили кривизну радиуса Н, а затем шлифовать его до тех пор, пока его внутренняя поверхность не будет иметь кри- [c.136]

В 1946—1947 гг. к выводам о желательности повышения степени тщательности обработки поверхности шаблонов, на которых осуществляется изгиб кристаллов в кристаллодержателе, в целях увеличения светосилы рентгеновских фокусирующих спектрографов пришел также Дю-Монд. В работе, выполненной совместно с Линдом и Когеном [55], он предложил прецизионный метод обработки изогнутых цилиндрических плоскостей большого радиуса кривизны и применил его [56] для шлифовки поверхностей кристаллодержателя в фокусирующем спектрографе для коротковолновой рентгеновской области и -лучей. Для надлежащей обработки цилиндрических поверхностей металлических шаблонов кристаллодержателя ими также был предложен и осуществлен специальный станок, который благодаря использованию оригинальной кинематической схемы позволял, несмотря на свои относительно небольшие размеры, шлифовать с высокой степенью точности (—2 10 дюйма) цилиндрические поверхности большого, выбираемого по желанию экспериментатора радиуса кривизны. Поверхность отшлифованной в станке по заданному радиусу кривизны металлических шаблонов подвергалась, кроме того, дополнительной обработке. Изгиб плоско-параллельной пластинки кварца толщиной в 1 мм осуществлялся путем ее сжатия между поверхностью выпуклого шаблона и резиновой прокладки, помещенной на поверхность вогнутого шаблона. В этих условиях решающее влияние на характер и качество изгиба кристалла оказывала степень совершенства обработки выпуклой половины кристаллодержателя. В та- [c.73]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология