Кварцевый кристалл основная частота

Чувствительным элементом в методе ПКМ является тонкий кварцевый кристалл, вырезанный под определенным углом к основным кристаллографическим осям и обладающий пьезоэлектрическими свойствами [156]. Наиболее широко применяются АТ- и ВТ-срезы. При наложении внешнего электрического потенциала в данных кварцевых пластинках возникают сдвиговые колебания кристаллической решетки. Принципиальная схема пьезокварцевого резонатора приведена на рис. 6.11. В качестве электродов применяют напыленные пленки золота, серебра, алюминия, титана и других металлов. При подключении кристалла в электрический колебательный контур в кристалле возникает резонанс при условии, что электрические и механические колебания происходят с частотой, близкой к фундаментальной (базовой) частоте кристалла. Базовая частота кристалла зависит от толщины, химической структуры, формы пластины кварца, а также от его массы. В простейшем случае (вакуум) уравнение, связывающее изменение частоты колебаний кристалла А/, с изменением массы, прикрепленной к кристаллу Ат, выглядит следующим образом [157[ [c.323]

КОСТИ или специального электронного приспособления. Полученные электромагнитные колебания подаются одновременно на обкладки колеблющейся кварцевой пластинки—излучателя 2 и при помощи катушки индуктивной связи — на усилитель 5 и далее на приёмник 6. Колеблющийся кварцевый кристалл направляет в исследуемую жидкость 5 ультразвуковую волну, которая, пройдя через жидкость, пьезоэлектрическим приёмником 4 вновь превращается в электрические колебания с частотою /1. Благодаря тому, что частота основного генератора / и, следовательно, излучающей кварцевой пластинки непрерывно изменяется, а также. и тому обстоятельству, что упругие колебания требуют конечного времени для того, чтобы дойти от излучателя до пьезоэлектрического приёмника, в любой момент времени частоты, соответствующие излучающей и приёмной пластинкам, будут, очевидно, различаться. Разность частот fx—/—й после усиления регистрируется осциллографом. При заданном расстоянии между излучателем и приёмником наблюдаемая разность частот й будет обратно пропорциональна скорости распространения звука. Этим способом можно регистрировать исключительно малые изменения скорости ультразвука. [c.80]

Кварцевые и стеклянные призмы вследствие их сильного поглощения непригодны для работы в основной инфракрасной области, т. е. ниже 3,6 д.. Здесь необходимо использовать ионные кристаллы, имеющие колебания низкой частоты. Щелочные галоиды, обычно применяющиеся для инфракрасной спектрофотометрии, приведены в табл. 15. [c.211]

Кварцевый резонатор. Одним из наиболее чувствительных методов определения количества испарившегося вещества является измерение массы конденсата на поверхности кварцевого кристалла. Если тонкая пленка какого-либо вещества оседает на чувствительной поверхности кристаллического кварцевого резонатора, то сдвиг основной резонансной частоты пропорционален массе осадка [145]. Это свойство кварцевого резонатора Бахман и Шин [146] использовали для измерения коэффициента конденсации золота и серебра. Янсон и Теплицкий [67] [c.100]

Необходимость эффективного охлаждения держателя обьяс-няется тем, что кристаллы кварца очень чувствительны к изменениям температуры. При нанесении пленок источники излучают значительное количество теплоты, чго вызывает повышение температуры кварцевого элемента. Нестабильность температуры кварцевого элемента является основной причиной неконтролируемого изменения частоты. Для исключения погрешностей измерений из-за нестабильности температуры датчика держатель охлаждают. [c.59]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология