Моменты спектральных линий

Второй момент спектральной линии рассматривается [c.256]

Детальное исследование микроструктуры полимерных цепей с помощью аппаратуры высокого разрешения. Метод ЯМР позволяет определить порядок присоединения мономерных единиц в цепи, характер и степень стереорегулярности полимера. Для изучения упаковки макромолекул сравнивают теоретические и экспериментальные значения второго момента спектральной линии. По соотношению узкой и широкой компонент линии поглощения можно определить динамическую степень кристалличности полимеров. Величина второго момента в ориентированных полимерах дает возможность судить об ориентации молекулярных цепей. Особо следует отметить, что ЯМР позволяет определить положение водородных атомов [5]. [c.264]

Для изучения различных видов молекулярной подвижности в полимерах используют температурную зависимость второго момента спектральной линии АНг [20]. Если полимер, охлажденный до очень низкой температуры, постепенно нагревать, то величина второго момента уменьшается по мере размораживания каждого вида молекулярного движения. Естественно, что наиболее заметное снижение наблюдается при размораживании сегментального движения, т.е. при переходе полимера из стеклообразного в высокоэластическое состояние. Определение температурной области, в которой происходит значительное уменьшение величины АНг , является одним из способов идентификации области стеклования и относится в большей степени к аморфным полимерам. [c.269]

В знаменателе выражения (6.4) стоит интеграл, введенный ДЛЯ нормировки. Таким образом, второй момент спектральной линии ЯМР можно рассматривать как особым способом определенную и усредненную ширину линии. Второй момент АЯ выражается в единицах напряженности магнитного поля и вычисляется из экспериментальных кривых. Так как экспериментально определяется обычно первая производная от резонансной линии ф(Я), то величина ДЯг может быть представлена в виде [c.209]

Полученные выше выражения для вычисления площадей и моментов спектральных линий легко запрограммировать для машинных вычислений. Корректирующие члены В, В и В2 рассчитываются заранее. Такие машинные расчеты описаны в [15—18]. В [19] предложена номограмма для двойного интегрирования сигнала ЭПР. [c.434]

И. Происхождение моментов спектральных линий [c.469]

В случае монокристалла различные моменты спектральной линии зависят от направляющих косинусов магнитного поля Н [c.469]

Моменты спектральных линий [c.26]

Для порошков второй момент спектральной линии теперь определяется выражением [c.148]

Анализ формы линии методом моментов. Основные формулы теории моментов спектральных линий приведены в 2.1. Здесь рассмотрена их связь со свойствами синглетной линии. [c.186]

Как видно из таблицы и рисунка, увеличение резонансного поля приводит к возрастанию вторых моментов спектральных линий. [c.146]

Второй момент спектральной линии ЛНг рассматривается как особым способом определенная и усредненная ширина линии он выражается в единицах напряженности магнитного поля и вычисляется из экспериментальных кривых. Можно теоретически рассчитать значение ЛЯ/ в зависимости от величины и ориентации межъядерных векторов относительно приложенного внешнего поля. Если задать модель структуры вещества и рассчитать по ней ЛИ2 , то сравнение его с экспериментальными значениями позволяс г сделать вывод о том, насколько достоверно модель описывает реальную структуру [9]. [c.256]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология