Угловое распределение фотоэлектронов

Рис. 44.24. Угловое распределение фотоэлектронов для малой (сплошная линия) и большой (прерывистая линия) энергий фотонов. Значение Р около кривых соответствует энергии фотоэлектронов 114].

Угловое распределение фотоэлектронов, вырванных из атома при фотоэлектрическом рассеянии, показано на рис. 44.25. [c.961]

Угловое распределение фотоэлектронов [c.168]

Рис. 7.4. Дифференциальное угловое распределение фотоэлектронов газообразного азота [26].

Угловое распределение фотоэлектронов зависит от эиергии фотонов. При низких энергиях электроны выбиваются преимущественно под прямыми углами к направлению полета фотона. При высоких энергиях направление полета фотоэлектронов оказывается ближе к направ- ЮО лению полета фотонов. [c.32]

Перспективным направлением РФЭС стала спектроскопия с угловым разрещением, которое стало возможным благодаря опять же применению СИ. Метод основан на регистрации пространственного распределения фотоэлектронов с определенной энергией (рис. 2.27). [c.72]

Ценную информацию о строении молекул в разл. квантовых состояниях дает изучение углового распределения Э., выбиваемых из молекул при разл. физ. воздействиях, нат. при облучении квантами достаточно высокой энергии либо при столкновениях с Э. (см. Фотоэлектронная спектроскопия). Наличие у Э. спина, приводящее к существованию электронных состояний молекул разл. мультиплетности, и связанного со спином магн. момента позволяет изучать расщепление мультиплетных состояний в магн. поле (см. Электронный парамагнитный резонанс). Со спином Э. связаны и различие св-в диа- и парамагнетиков в магн. поле, ферромагнетизм, антиферромагнетизм и т. д. Св-ва мн. материалов, в частности металлов и им подобньге соед., определяются системой электронов, образующих сюего рода электронный газ (см. Металлическая связь). С коллективными состояния- [c.438]

Угловое распределение электронов, выбитых из атомов и молекул в газах под действием монохроматических излучений, вызвало в последние годы значительный интерес. В принципе характер углового распределения должен меняться в зависимости от симметрии орбиталей, из которых электроны выбиты. В литературе имеются данные как по теоретическим расчетам [17—22], так и по экспериментальным наблюдениям [23—27] пространственного распределения фотоэлектронов. Проведение экспериментального определения затруднено из-за того, что излучение, используемое для ионизации, не поляризовано это обстоятельство рассматривается, в частностй, в работе Мак-Гована и сотр. [26]. В настоящее время, однако. [c.168]

В работах [36, 37] получено выражение для угловой зависимости при любых степенях поляризации ионизирующего излучения. Из этого выражения следует, в частности, что если отбирать фотоэлектроны под углом 54°44 на каждой из трех осей — направлению ионизирующего излучения и двум перпендикулярным к нему направлениям, то относительная интенсивность линий не будет зависить ни от углового распределения, ни от степени поляризации ионизирующего излучения. [c.19]

Пеупругое рассеяние может быть изучено экспериментально, если между рассеивающим образцом и детектором поместить анализатор скоростей электронов с достаточной разрешающей способностью. Применение энергетического анализатора позволяет произвести раздельное изучение упругого и неупругого рассеяния, а также охарактеризовать интенсивность иеупруго рассеянных электронов как функцию двух переменных — энергетических потерь электронов в рассеивающем объекте п угла рассеяния (или изменения импульса налетающего электрона). Эти данные дают возможность изучить полный спектр энергетических потерь электронов прп разных углах рассеяния, связанный прежде всего с возбуждением электронных состояний молекул (а при высоком разрещении анализатора — с колебательными н даже вращательными состояниями), а также определить угловую зависимость полного неупругого рассеяния НЛП его отдельных компонентов, отвечающих определенным энергетическим переходам. Эти данные позволяют не только находить энергии отдельных электронных (пли других) состояний и дополнять данные оптической н фотоэлектронной спектроскопии, но и получать в полном объеме ту богатую экспериментальную информацию относительно электронных энергий и распределения за- [c.261]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология