Фотоэлектроны

Рис. 16.17. Фотоэлектронный спектр 1.5-электронов азота, возбужденного рентгеновским излучением KaMg. Основной пик при энергии связи 410 эВ представляет собой линию возбужденную излучением Ха 2 М . Спектр демонстрирует также линии, возбужденные сателлитами рентгеновского излучения, и линии, соответствующие встряхиванию и неупругому рассеянию на молекуле N2 [27].

ИОНИЗАЦИОННЫЕ МЕТОДЫ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ, ИОННЫЙ ЦИКЛОТРОННЫЙ РЕЗОНАНС И ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ [c.313]

В катализаторе определяют содержание серебра, щелочноземельных металлов, щелочных металлов и таких вредных примесей, как тяжелые металлы, сера и галогены. Исследование физических свойств включает измерение поверхности методом БЭТ, обычно по криптону из-за малой площади поверхности. Для измерения пористости при контроле качества катализатора можно применять ртутную порометрию, несмотря на известную тенденцию серебра к амальгамированию, так как этот процесс сильно замедляется на окисленной поверхности. Состав поверхности катализаторов определяется современными методами, связанными с использованием высокого вакуума. Из них наиболее важны рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и электронная оже-спектроскопия (ЭОС). [c.240]

Если даже теорема Купманса строго и не выполняется, то все-таки полезно знать, какие пики в фотоэлектронном спектре могут быть связаны с различными молекулярными орбиталями в исходной молекуле. Например, в гл. 3 рассматривались симметрия и строение молекулярных орбиталей NHj. Было установлено, что семь атомных орбита-лей в симметрии Сз . образуют представление, которое сводится к трем неприводимым представлениям и двум неприводимым представлениям е. Восемь валентных электронов NH3 заполняют две из а - и одну из е-молекулярных орбиталей, образуя конфигурацию основного состояния [c.339]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [c.12]

Или просто фотоэффектом. (Другие названия — внешний фотоэффект, фотоэлектронная эмиссия.) Систематическое исследование фотоэффекта в 1888 г. начал русский физик Александр Григорьевич Столетов (1839—1896).— Прим, перев, [c.150]

Какое из следующих утверждений относительно фотоэлектрического эффекта неверно а) При облучении светом поверхности металла электроны не выбиваются из него до тех пор, пока частота света не превзойдет некоторого порогового значения, б) Если свет имеет частоту выше пороговой, то чем больше интенсивность света, тем больше скорость выбиваемых фотоэлектронов, в) Если свет имеет частоту выше пороговой, то чем меньше длина волны света, тем больше скорость испускаемых электронов, г) Если свет имеет частоту выше пороговой, то чем больше интенсивность света, тем больше число электронов, испускаемых в единицу времени. [c.379]

Раздел, посвященный фотоэлектронной спектроскопии, написан проф. Д. Хендриксоном из Иллинойского университета. [c.313]

Столкновение фотонов с атомами или молекулами может привести к испусканию фотоэлектронов. В течение последних двух десятилетий фотоэлектронная спектроскопия развилась в многообещающую область химии. Фотоэлектронная спектроскопия отличается от описанных ранее спектроскопических методов, в которых измеряются характеристики поглощенного, испущенного или рассеянного электромагнитного излучения. В этом методе предмет изучения — кинетическая энергия испущенных при ионизации электронов. [c.331]

Средняя глубина, с которой уходят электроны из твердого вещества, зависит от кинетической энергии фотоэлектронов. Изучение [35] металлов показало, что при кинетической энергии 1000 эВ средняя глубина может достигать 100 А, тогда как при энергии 10 эВ она должна быть 10 А. Большое значение для РФС имеет чистота поверхности образца. С помощью этого метода можно исследовать химию поверхностей, как, например, в гетерогенном катализе. [c.336]

Установка состоит из универсального монохроматора УМ-2, кюветы с исследуемым веществом К х), представляющей плоский конденсатор фотоэлектронного усилителя ФЭУ-19м, усилителя У, собранного по схеме потенциометра для одновременной регистрации светового потока и измерения времени ЭПП-09, блоков питания ВС-22, УИП-1 и выпрямителя В. [c.23]

Данные фотоэлектронной спектроскопии для газообразного азота (энергии выражены в эВ) [c.338]

Спектральный анализ прямым методом осуществляют в специальной ванночке, куда заливают пробу масла и помещают вращающийся дисковый электрод. Состав загрязнений определяют по спектру паров, образующихся при их сгорании. Чтобы повысить точность метода, анализ проводят с помощью квантометров — многоканальных фотоэлектронных приборов, регистрирующих интенсивность спектральных линий, а результаты обрабатывают с помощью электронно-вычислительной техники. [c.35]

ФОТОЭЛЕКТРОННЫЕ СПЕКТРЫ Спектры УФС [c.340]

К настоящему времени методами УФС и РФС исследовано значительное число небольших газообразных молекул. Изучены также некоторые радикалы и частицы в возбужденных состояниях. Были зарегистрированы [42] три ожидаемых состояния О ( Р, и О) [42]. Для получения возбужденных частиц О2 ( А ) использовали безэлектродный микроволновый разряд их фотоэлектронный спектр демонстрирует колебательно-структурированный пик, обусловленный образованием О2 ( П ). Сопоставление с пиком, соответствующим ионизации основного состояния О2 до того же ионного состояния, дает величину потенциала адиабатической ионизации О2 ( А,,), равную 11,09 + 0,005 эВ [43]. [c.342]

Частично из-за потребности в монохроматическом излучении возникли два раздела фотоэлектронной спектроскопии. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, сокращенно обозначаемая как РФС или ЭСХА (электронная спектроскопия для химического анализа), использующая рентгеновские лучи в качестве источника ионизирующего излучения, изучает в основном электроны оболочки (т.е. невалентные электроны). Создание этого метода приписывают Сигбану и сотр. [27]. В ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФС) используют ультрафиолетовое излучение, имеющее более низкую энергию, и, таким образом, исследуют энергии связи валентных электронов. Обязанная своим развитием главным образом Тернеру и его сотрудникам [28], УФС предназначалась не только для измерения энергий связывания валентных электронов, но и для наблюдения за возбужденными колебательными состояниями молекулярного иона, образующегося в процессе фотоионизации. [c.331]

Эффекты координации небольших молекул с переходными металлами можно исследовать методом фотоэлектронной спектроскопии. Спектры приве- [c.357]

Гранулометрический состав загрязнений в нефтяных маслах определяют главным образом седиментационным и микроскопическим методами. Применяются также автоматические методы, основанные на различных принципах оптики, фотоэлектронные, ультразвуковые и т. д. [c.29]

Отметим также следующие важные методы измерения в послесвечении, измерения в электронных и ионных пучках, фотоэлектронная спектроскопия, измерения метастабильных атомов и молекул, электрохимические методы, методы скачка температуры и (или) давления, ультразвуковые методы, ЯМР, ЭПР. [c.20]

Проведен [13] кинетический анализ этой схемы и вычислены [6, 14] наиболее вероятные значения величин л и а. Исследование катализаторов гидрогенолиза этана методом рентгеновской фотоэлектронной еиектроекоиип описано в [15]. [c.90]

Контрольные операции неизбежно удлгшяют производственный цикл, задерживают поступление сырья и полуфабрикатов па дальнейшую обработку, уменьшают скорость оборачиваемости оборотных средств, поэтому особенно важно обеспечить нх быстроту. Методы экспресс-контроля позволяют полностью автоматизировать контрольные функции, применяя средства дистанционрюго контроля, фотоэлектронную автоматику, хроматографический, спектрометрический, реитгепоскопический, колориметрический, химический, люминесцентный и другие современные методы контроля. [c.123]

Рис. 16.13. А—фотоэлектронный спектр N0, полученный при использовании линии Не при 304 А три небольших пика, помеченных буквой а, обусловлены линией Не при 320 А время регистрации 75 ч Б — фотоэлектронный спектр В -состояния N0, полученный при использовании линии Не при 304 А В-фото-электронный спектр N0, полученный при использовании линии 584 А. Разрешение ЮмэВ. Развертка пиков указана пунктирными линиями [32].

Рис. 16.7. 15-фотоэлектронный спектр атома азота в транс-[ o(NH2 H2 H2NH2)2 (N02)2] N03 [51]. [c.333]

Указанное отнесение орбиталей подтверждено исследованием фотоэлектронного спектра воды, в котором обнаружены три полосы, отвечающие отрыву электронов с трех высших орбиталей узкая, характерная для несвязывающих орбиталей, отвечает МО 1 1 [или 2рхо, см. запись (а)1 и две широкие, характерные для связывающих орбиталей, отвечающих МО Зл и 16г [или г[л и г1з2, см. запись (а)1. Энергии орбиталей соответственно равны 12,6 13,7 и 17,22 эВ. Это убедительное доказательство правильности представлений о делокализованных молекулярных орбиталях. Но можно показать, что распределение электронной плотности такое, как если бы существовали две локализованные двухцентровые связи О—Н. Для этого рас- [c.96]

Теоретическое разрешение, возможное в экспфименте УФС, где определяются энергии связывания валентных электронов, обсуждалось Тернером [31]. Напомним, что измерения проводятся в газовой фазе. Разрешение в спектре УФС ограничивается скоростью движения молекулы-мишени в сочетании со скоростью движения фотоэлектрона (фактически это явление аналогично доплеровскому уширению) величиной эВ. Если вместо камеры, заполненной газообразным веществом, использовать пучок молекул-мишеней, то можно достичь разрешения 10 эВ. В случае пучка распределение молекулярных скоростей относительно источника более однородно. Вклад в ширину спектральных линий УФС за счет времени жизни возбужденного состояния [c.334]

Как УФС, так и РФС могут быть использованы для исследования валентных электронов в молекулах, и нас как раз интересует та информация, которую можно получить об этих электронах из фотоэлектронного спектра. На рис. 16.8 в качестве гфимера изображен спектр УФС газообразного азота. В случае источника Не(1). устанавливающего предел ионизации в 21,21 эВ, можно наблюдать три колебательно-структу-рированных фотоионизационных процесса ( 15,6, 17,0 и 18,18 эВ). Их можно приписать ионизации с трех высших заполненных молекулярных орбиталей Nj(2a -, я - и За -орбиталей). Отнесение пиков основано на наблюдаемой колебательной структуре. Следует отметить, что в спектре РФС имеются те же три линии (колебательная структура не видна из-за худшего разрешения) в дополнение к пику при 37,3 эВ для ионизации с 2а -уровня и единственному пику при 409,9 эВ для 1а - и 1а -уровней [27]. [c.336]

Многие из пиков, помеченных буквами А, В, С и В, приписаны возбуждениям встряхивания [27]. Вероятно, пики встряхивания могут быть идентифицированы для многих молекулярных частиц и, возможно, окажутся полезными для идентификации электронных структур многих систем. Следует отметить, что ярко выраженные сателлиты встряхивания были обнаружены в фотоэлектронных спектрах Ы1(СО)4, Ре(СО)5, Сг(СО)б, (СО)б и (СО)5СгХ (Х = КНз, РРЬ, и т.д.) [61]. [c.354]

Установка для исследования кинетики роста и растворения кристаллов, включающая в себя ячейку-трубу, представлена на рис. 3.14. Установка состоит из термостатированной трубчатой ячейки, снабженной щлюзом для вывода частиц. По высоте ячейки через фиксированные расстояния установлены электронно-оптические преобразователи (ЭОП), представляющие собой блок из источников света и фотоприемника, снабженного щелевой диафрагмой. Фотоприемник выполнен на основе фотоэлектронного умножителя ФЭУ-74. Ячейка-труба с ЭОП представляет собой источник информации ИИ-1 в автоматизированной системе исследования кинетики роста кристаллов (рис. 3.15). Принцип действия ЭОП основан на прерывании светового потока, проходящего через щелевую диафрагму на фотоприемник, движущейся частицей. Сигнал с фотоприемника поступает на устройство первичной обработ- [c.293]

В химической промышленности все большее значение приобретает внедрение электронной автоматической апиарлтуры. Фотоэлектронные приборы являются основой телевидения, фотореле защищают работающих на прессах, вальцах, предохраняют от отравлений ядовитыми газами, нарам и и т. д. Особенностью химической иро-м ы щ л с и н о с т и я в, я с- т с я [c.66]

Прибор, выпускаемый американской фирмой Sperry Produ ts, позволяет осуществлять анализ при больших скоростях потока и высокой концентрации частиц, причем возможность повторного подсчета одних и тех же частиц исключается благодаря наличию специального электронного счетчика. Ультразвуковые приборы по точности определения размеров частиц не уступают оптическим микроскопам, а подсчет числа частиц осуществляется ими значительно точнее, так как идет не выборочно (с последующей обработкой результатов методами математической статистики), а фиксирует все частицы, находящиеся в масле при использовании же микроскопа подсчитываются лишь частицы, попавшие в определенное число полей зрения. Однако, как ультразвуковые, так и фотоэлектронные приборы для гранулометрического анализа загрязнений в нефтяных маслах еще не получили достаточно широкого распространения из-за сложной конструкции и высокой стоимости. [c.34]

В последние годы методами фотоэлектронной и рентгеноэлектронной спектроскопии удалось измерить первые ПИ не только с ВЗАО, но и с других, в том числе глубинных атомных орбиталей (орбитальные ПИ). Например, для атома углерода при одной и той же конфигурации 1з 2з 2р первые ПИ с 2р-ВЗАО и глубинной 2з-АО равны соответственно 11,26 и 20 эВ. [c.38]

Орбиталь углерода отличается по энергии от трех вырожденных р-орбиталей, поэтому четырем многоцентровым связывающим, орбиталям, несомненно, отвечают два разных уровня энергии 1 длягр1и 2 трижды вырожденный для 1 32, г з и 11)4. Существование именно двух уровней молекулярных электронов доказано экспериментально. Методом фотоэлектронной спектроскопии у СН4 установлены два первых ПИ с уровней Ь (12,51 эВ) и ах (22,39 эВ). [c.100]

Химия (1978) -- [ c.66 ]

Химическое разделение и измерение теория и практика аналитической химии (1978) -- [ c.634 ]

Общая химия (1964) -- [ c.141 ]

Рентгеноструктурный анализ Том 1 Издание 2 (1964) -- [ c.152 ]

Общая химия (1974) -- [ c.66 ]

Валентность и строение молекул (1979) -- [ c.20 ]

Химия несовершенных ионных кристаллов (1975) -- [ c.165 , c.170 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология