Монохроматор призма

Основные компоненты типичного ИК-спектрометра таковы источник излучения, кюветы для образцов, монохроматор (призма, дифракционная [c.514]

В каждом приборе, используемом для анализа спекТра, имеется источник излучения, монохроматор (призма или решетка для разложения спектра) и необходимое регистрирующее устройство. В эмиссионной спектроскопии само исследуемое вещество служит источником излучения. В случае спектров поглощения применяется источник излучения с непрерывным спектром. Исследуемое вещество находится между источником излучения и монохроматором или между монохроматором и приемником. [c.419]

Интерферометр Фабри—Перо R расположен за выходной щелью дифракционного монохроматора и работает в параллельных лучах для получения максимальной светосилы. Монохроматор с копией плоской дифракционной решетки G, имеющей 1200 шт/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. После монохроматора призма Р делит световой поток на два канала рабочий I и канал сравнения II. Каналы разнесены по высоте так, что свет в один канал проходит через верхнюю, а в другой — через нижнюю части щели. [c.182]

В отличие от фотоколориметрии в данном случае используются приборы с монохроматорами (призмами или решетками), позволяющими получать монохроматическое излучение в области от 200 до 800 нм. Измерение интенсивности поглощения монохроматического излучения повышает чувствительность метода и делает его более избирательным. [c.88]

АБСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, изучает спектры поглощения электромагн. излучения атомами и молекулами в-ва в разл. агрегатных состояниях. Интенсивность светового потока при его прохождении через исследуемую среду уменьшается вследствие превращения энергии излучения в разл. формы внутр. энергии в-ва и (илн) в энергию вторичного излучения. Поглощат. способность в-ва зависит гл. обр. от электронного строения атомов и молекул, а также от длины волны и поляризации падающего света, толщины слоя, концентрации в-ва, т-ры, наличия электрич. и магн. полей. Для измерения поглощат. способности используют спектрофотометры-оптич. приборы, состоящие из источника света, камеры для образцов, монохроматора (призма или дифракционная решетка) н детектора. Сигнал от детектора регистрируется в виде непрерывной кривой (спектра поглощения) или в виде таблиц, если спектрофотометр имеет встроенную ЭВМ. [c.14]

Оптические Ж. а. Действие их основано на взаимосвязи параметров (интенсивность, диапазон длин волн) электромагн. излучения с составом исследуемой жидкости. При прохождении излучения через жидкость его интенсивность ослабляется из-за поглощения (абсорбции), отражения и рассеяния. В дисперсионных Ж. а. используют излучение одной длины волны, полученное с помощью монохроматоров (призмы, дифракц. решетки) в недисперсионных приборах используют излучение, спектр к-рого состоит из набора длин волн. Различают Ж. а., работающие в след, областях спектра электромагн. излучения УФ (X < 0,5 мкм), видимой (X = 0,4-0,72 мкм), ближней и средней ИК (X = 0,72-20 мкм), длинноволновой (X > 20 мкм). [c.150]

Лля регистрации спектров используют спектрофотометры разл. типов. Обычно в этих приборах излучение от источника проходит через кювету с в-вом и разлагается в монохроматоре (призма, дифракц. решетка) по длинам волн или частота.м. Для возбуждения спектров излучения и рассеяния широко применяют лазеры. Спец. техника (многоходовые кюветы, фурье-спектрометры и др.) позволяет регистрировать следовые кол-ва в-ва в диапазоне т-р от 4 до 1000 К, исследовать короткоживущие объекты (в течение 10" с) и кинетику хим. р-ций. М. о. с. лежит в основе мол. спектрального анализа, позволяет изучать строение в-в в разл. агрегатных состояниях, а также пов-сти твердых тел. [c.114]

В спектрофотометрах источниками излучения служат лампа накаливания, водородная или дейтериевая лампа и др., монохроматором — призма или дифракц. решетка, что позволяет выделять достаточно узкие участки (1—20 нм) во всем интервале ИК, видимого и УФ спектра. В фотоэлектроколориметрах источники излучения — лампа накаливания или ртутная лампа с помощью стеклянных или интерференционных светофильтров выделяют участки спектра относительно большой ширины (10—100 нм) в небольшом интервале длин волн (от ближнего УФ до ближнего ИК). [c.631]

Дифракционные решетки были впервые применены для получения инфракрасных спектров еще в 1910 г., однако вплоть до настоящего времени в большинстве спектрометров в качестве диспергирующей системы использовались призмы. Таким образом, доступный спектральный интервал естественно ограничивался оптическими свойствами материала призм. Поскольку в большинстве приборов применяется оптика из хлористого натрия или бромистого калия с пределами пропускания 650 и 400 см соответственно, область частот ниже 400 см получила название дальней , или длинноволновой , инфракрасной области. С применением в монохроматорах призм из бромистого или иодистого цезия высокочастотная граница дальней инфракрасной области отодвинулась до 200 см Ч Ее низкочастотным пределом считают обычно 10 см далее располагается спектральный интервал, который исследуется с помощью микроюлно-вых методов. [c.8]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология