Рентгеновская камера прецессионная

Прецессионная рентгеновская камера производства Института кристаллографии показана на рис. 240. [c.377]

Описание дифракции рентгеновских лучей кристаллом в терминах обратной решетки и сферы отражений существенно облегчает индицирование рентгенограмм. Можно приписать каждому пятну на рентгенограмме, полученной, например, в камере Вайсенберга, набор индексов соответствующих этим отражениям, принимая во внимание, что рентгенограмма представляет собой искаженную картину этой решетки. Другими словами, каждому пятну на пленке может быть поставлен в соответствие набор плоскостей, от которого оно возникает. Рентгенограммы, полученные в прецессионных камерах, дают также изображение части обратной решетки, но уже не искаженное. [c.27]

Хотя юстировка кристалла может быть проведена прямо в прецессионной камере, проще определить положения осей кристалла по рентгенограммам, полученным в камере Вайсенберга, а затем перенести кристалл с гониометрической головкой в прецессионную камеру. Сам процесс установки кристалла параллельно падающему рентгеновскому пучку отличается для кристаллов разных систем. [c.106]

Получение кристаллов достаточно большого размера еще не гарантирует, что структурное исследование будет успешным. Во-первых, необходимо убедиться с помощью рентгеновской съемки, например с использованием прецессионной камеры, что кристаллы в достаточной степени совершенны и, следовательно, дифракционные данные могут быть собраны вплоть до высокого разрешения. Во-вторых, кристаллы должны быть подходящего типа, так как слишком сложная (или слишком простая) упаковка молекул в элементарной ячейке может сделать выяснение структуры невозможным. В-третьих, кристаллы должны быть устойчивы к действию рентгеновского излучения, так чтобы с одного кристалла можно было получить несколько снимков высокого разрешения. В-четвертых, методика получения кристаллов должна хорошо воспроизводиться, чтобы полное структурное исследование было обеспечено идентичными кристаллами. [c.539]

В разделе I приведены описания и те нические данные рентгеновской аппаратуры для исследования монокристаллов и поликристаллов. Все описания относятся к аппаратуре, серийно выпускаемой в нашей стране, и должны помочь исследователю в выборе аппаратуры для решения конкретных задач. В этом разделе изложены сведения о дифрактометрах, установках для съемки с фотографической регистрацией, рентгеновских камерах, трубках, кенотронах, микрофотод1етрах и большом количестве специализированных приборов. Приведены также данные о детекторах излучения, фильтрах и монохроматорах, ошибках рентгеновского эксперимента. В разделе II приведены данные, необходимые для получения и измерения рентгенограмм монокристаллов. Таблицы и графики приведены для различных вариантов съемки неподвижного кристалла по Лауэ, движущегося кристалла, съемки по Вейссенбергу и прецессионным методом Бюргера. [c.5]

Исследование и изготовление образцов 1.1. Предварительное изучение и выбор кристаллов для рентгеновского исследования, в том числе его ориентировка, предварительная информация о структуре. 1.2. Иммерсионные жидкости для измерения коэффициента преломления. 1,3. Определение плотности твердых тел. 1.4. Методы ивготовления и установки образцов, в том числе установка поликристал-пических и монокристаллических образцов, кснтейнсры, типичные загрязняюшие примеси. 1.5. Рентгеновские методы установки кристаллов, в том числе относительно оси вращения, в прецессионной камере, использование камеры вращения [c.323]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология