Обратное рассеяние отражение части

Для простоты предположим, что в пленке находится толька один пигмент. От поверхности пигмента часть света отразится и выйдет обратно уже в виде диффузно-отраженного (рассеянного), но пока еще не окрашенного света. Та часть света, которая преломится и войдет в частицу пигмента, дойдет до противоположной стороны частицы и здесь опять разделится. Отразившийся внутри частицы свет выйдет из пленки очень слабо окрашенным, так как часть света определенной длины волны поглощается пигментом. Так как путь, пройденный светом в частице пигмента, незначителен и так как избирательное поглощение растет с величиной пути в поглощающем теле, то свет, отраженный внутри первой частицы пигмента, выйдет из пленки слабо окрашенным. Свет, преломившийся в первой частице пигмента, пройдет дальше во внутрь пленки, пока не встретит второй частицы пигмента. В этой второй частице пигмента произойдут те же явления, что и в первой. Свет, отразившийся из второй частицы, также выйдет из пленки окрашенным, но его окраска будет интенсивнее (насыщеннее), чем окраска света, отразившегося из первой частицы, так как путь, пройденный им в поглощающей среде (пигменте), — больше. Чем глубже в пленку проникает свет, тем через большее количество частиц пигмента он проходит и тем насыщеннее становится окраска отраженного света. [c.40]

Сцинтилляторы, которые наиболее часто применяются для гамма-спектрометрии, представляют собой одиночные кристаллы йодида натрия, активированного таллием. Сцинтилляционные спектры гамма-излучения состоят из одного или более острых характерных фотоэлектрических пиков, соответствующих энергиям источника гамма-радиации. Поэтому эти спектры полезны для идентификации, а также для обнаружения гамма-излучающих примесей в препарате. Кроме характерных пиков, в спектре обычно имеются и другие пики, обусловленные вторичным воздействием радиации на сцинтиллятор и его окружение, таким, как обратное отражение, аннигиляция позитронов, суммирование совпадений и флуоресцентные рентгеновские лучи. Кроме того, в результате рассеяния гамма-фотонов в сцинтилляторе и окружающих материалах возникают щирокие полосы, известные как спектры Комптона (эффект Комптона). Калибровка прибора производится с помощью известных образцов радиоактивных изотопов, энергетические спектры которых определены. Форма спектров будет различной в зависимости от используемых приборов это определяется различной формой и размерами кристаллов, применяемыми защитными материалами, расстоянием между источником излучения и детектором, а также типами дискриминаторов, используемых в амплитудных анализаторах импульсов. При использовании спектра для установления подлинности радиоизотопов необходимо сравнивать спектр исследуемого образца со спектром известного вещества, радиоактивность которого измерена тем же прибором и при тех же условиях. [c.78]

Методы определения поглощения света, основанные на измерении различий между количеством падающего света и количеством света, прошедшего через объект, а также отраженного и рассеянного им, обсуждаются в гл. III. Если при определении спектров поглощения с помощью этих методов используются узкие спектральные полосы падающего света, то полученные результаты выражают действительное поглощение данного объекта—листа, суспензии клеток или суспензии изолированных хлоропластов. Однако объяснить эти спектры, исходя из оптических свойств отдельных пигментов, чрезвычайно трудно. Особенно трудно интерпретировать спектры поглощения листьев. Проникающий в лист свет проходит через неоднородную среду. Сначала он отражается и преломляется клеточными стенками, особенно в листьях наземных растений, у которых межклетники заполнены воздухом затем он рассеивается множеством внутриклеточных частиц разной величины, обладающих разными показателями преломления. Следовательно, пути света в листе различны и длина их неизвестна. Часть света может вообще не попасть в хлоропласты, тогда как другая часть пройдет через несколько пластид или даже несколько раз через один и тот же хлоропласт. Для суспензий одноклеФочных водорослей или хлоропластов эта неопределенность длины оптического пути меньше, но и в этих случаях она довольно значительна. Известно, что резкое изменение показателя преломления приводит к рассеянию части света. Рассеяние на поверхности клеток водорослей, являющееся результатом различия в показателях преломления их стенок и воды, можно почти полностью исключить, суспендируя клетки в концентрированном растворе белка, показатель преломления которого близок к показателю преломления клеточных стенок [10]. Рассеяние внутри клеток может быть более значительным вследствие того, что рассеивающие свет частицы в этом случае меньше, а также из-за присутствия пигментов. При наличии очень мелких частиц, диаметр которых меньше длины волны света, величина рассеяния обратно пропорциональна четвертой степени длины волны (релеевское рассеяние). Это в высшей степени избирательное рассеяние особенно сильно увеличивает среднюю длину пути коротковолнового света. Для бесцветных частиц больших размеров величина рассеяния в меньшей степени зависит от длины волны. Однако показатель преломления пигментов резко меняется в области их полое поглощения (аномальная дисперсия), вследствие чего [c.39]

Часть вторичных электронов и рассеянного электромагнитного излучения отражается в обратном направлении и увеличивает интенсивность радиации в точке Р (см. рис. 3.11) над поверхностью по отношению к интенсивности в этой же точке, но без поглотителя. Количество обратно рассеянного излучения зависит от энергии падающих фотонов, природы поглощающего материала и площади облучаемой поверхности. Наибольший вклад в отраженное излучение вносит обратное рассеяние падающих квантов, которые имеют большие пробеги. Поэтому, говоря об обратном рассеянии, подразумевают только электромагнитную составляющую, а вторичным отраженным электронным излучением пренебрегают. [c.59]

В качестве отражающих подложек используются большей частью материалы с относительно высоким атомным номером, поскольку коэффициент отражения электронов, определяемый как отношение числа обратно рассеянных электронов к числу электронов, падающих на подложку, увеличивается с ростом Z. Этот коэффициент возрастает с толщиной подложки до тех пор, пока не достигнет насыщения при толщине, равной тах- [c.76]

При рассмотрении цветных образцов в отраженном свете красный цвет тоже выделяется из спектра в результате поглощения остальной его части. При этом наблюдатель не получил бы цветового ощущения, если бы оставшийся непоглощенным монохроматический свет при рассеянии не отклонялся бы от направления падения и обратного ему направления во все стороны, в том числе и в направлении наблюдателя. Цветной предмет в этом случае содержит мелкие частицы, неразличимые простым глазом, которые отражают свет во все стороны. Частицы могут иметь показатель преломления, сильно отличающийся от показателя преломления [c.10]

Для простоты предположим, что в пленке находится только один пигмент. От поверхности пигмента часть света отражается и выходит обратно уже в виде диффузно-отраженного (рассеянного), но пока еще очень слабо окрашенного света. Та часть света, которая преломляется и входит в частицу пигмента, доходит до противоположной стороны частицы и здесь опять делится. Отразив- [c.46]

Ход световых лучей через красочную пленку (по Е. Ф. Беленькому) показан схематически на рис. 15. Из схемы видно, что падающий дневной белый свет, дойдя до поверхности пленки, разделяется на две части одна часть его отражается от пленки, другая — преломляется и входит в пленку. Эта часть света внутри пленки частично отразится от поверхности частиц пигмента и выйдет обратно наружу в виде диффузно отраженного света. Этот свет рассеянный и слабо окрашенный. Другая часть света пройдет через частицы пигмента и, претерпев избирательное поглощение и внутреннее отражение, выйдет из пленки более интенсивно окрашенной, чем свет, отраженный от поверхности частиц. Цветовая насыщенность света по мере прохождения его через частицы пигмента будет увеличиваться. Таким образом, наиболее насыщенным является свет, отразившийся от грунта, поскольку он проходит через наибольшее количество частиц пигмента. [c.63]

РИС. 13.23. Экспериментальные ограничения при наблюдении рентгеновской дифракции. А. При фиксированных геометрии опыта и длине волны излучения рассеяние будет наблюдаться только тогда, когда узлы обратной решетки окажутся на поверхности сферы отражения. Б. Даже если перебрать все возможные геометрии, можно исследовать лишь ту часть обратной решетки, которая попадает внутрь сферы радиуса 2/Х (сферы ограничения). [c.361]

Соличеств интерпретация данных о рассеянии быстрых ионов проще, чем в случае медленных ионов, и проводится с применением резерфордовского закона рассеяния, когда эффектом экранирования ядер электронами можно пренебречь Частица, отраженная от пов-сти твердого тела, обладает большей энергией, чем частица, отраженная от внутр слоев мишени Потери энерги . связаны с электронным и ядерным торможением внутри твердого тела Т к сечение рассеяния невелико, часть ионов, проникнувших в глубь мишени, двигается по прямой испытывая в осн электронное торможение После соударения с атомом, в результате к-рого направление движущегося иона меняется на угол > 90° (обратное рассеяние), он под действием электронного торможения опять по прямой направляется к пов-сти материала Т обр, фиксируя спектры энергетич потерь обратнорассеянных ионов, можно без разрушения образца получить информацию о распределении определяемого элемента по глубине Напр, используя рассеяние а-частиц с энергией 10 Дж, можно исследовать слои тотщиной в доти мкм с разрешением по глубине 20 нм без послойного травления, к-рое необходимо в случае использования медленных ионов Разрешение по глубине зависит от массы и энергии первичных ионов, массы атомов материала и энергетич разрешения регистрирующей аппаратуры По величине потерь энергии можно определять также толщину пленок иа подложках [c.258]

Спектры комбинационного рассеяния. Если на газ или жидкость падает свет, то часть его оказывается рассеянной во все стороны (релеевское рассеяние). Главная часть этого рассеянного света (интенсивность его-обратно Пропорциональна четвертой степени длины волны) имеет ту же частоту, что и падающий свет. Меньшая часть отраженного света, как это-было предположено Смекалом (Smekal, 1923) и экспериментально установлено Раманом (Raman, 1928), имеет частоту иную, чем частота падающего света, по той причине, что часть световой энергии может превращаться в колебательную энергию молекул. Последняя изменяется при этом всегда на один квант, (v — частота атомных колебаний). При этом имеет [c.344]

Почему нельзя определить кристаллинескую структуру, используя рассеяние света В принципе это дало бы огромное экспериментальное преимущество, поскольку в нашем распоряжении имеются источники когерентного света (лазеры) и, следовательно, существуют прямые способы измерения как интенсивностей, так и фаз. Рассмотрим типичный макромолекулярный кристалл, элементарной ячейкой которого является куб с ребром в 40 А. Обратной решеткой будет кубическая система точек с характерным расстоянием 1/40 А в каждом из направлений. Пусть в эксперименте по рассеянию используется свет с длиной волны 2000 А. Сфера отражения имеет радиус 1/Х = 1/2000 А . Таким образом, в нее попадает лишь один узел обратной решетки — начало координат. Никакой картины дифракции наблюдаться не будет. Если бы элементарная ячейка кристалла была достаточно большой (а обратная решетка достаточно частой), можно было бы проводить структурный анализ, но разрешение было бы низким, потому что доступная для измерений область обратной решетки ограничивается расстоянием, обратно пропорциональным длине волны. [c.428]

Поток, отраженный обратно в более плотную среду нижней стороной верхней границы (ОССО), встретит другие пигментные частицы, и та часть вторично рассеянного потока, которая возвращается к границе при углах меньше критического, частично [c.463]

В 2 было показано, что выражение для интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллом бинарного твердого раствора, состоит из двух частей. Одна из них описывает резкие максимумы, образующие правильные лауэвские отражения, другая — плавные распределения в пределах всего обратного пространства. Последнее отвечает так называемому диффузному рассеянию и обязано своим происхождением флуктуациям рассеивающей способности узлов кристаллической решетки. Если пренебречь эффектом статических искажений, то выражение (2.58) для интенсивности диффузного рассеяния можно переписать в форме [c.159]

На рисунке изображены экспериментальные индикатрисы рассеяния и диаграммы распределения яркостей, полученные при помощи описанной выше установки для взвесей одноклеточной водоросли хлореллы. Индикатриса рассеяния (см. рисунок, в) имеет ярко выраженную асимметрию она сильно вытянута в направлении падающего света. В области полос поглощения больше всего ослабляется свет, проходящий через центральную часть клетки доля лучей, испытавших одно или несколько внутренних отражений и два преломления (лучи третьего и высших порядков), очень мала, поэтому индикатриса рассеяния света отдельными клетками, освещаемыми параллельным потоком, менее вытянута, чем аналогичная индикатриса, полученная в области полос пропускания (см. рисунок, а). С увеличением кратности рассеяния вследствие углового иере-распределепия излучения доля лучей, распространяющихся в обратном направлении, возрастает и асимметрия диаграммы рассеяния уменьшается. [c.149]

Достаточно прост также и метод Шибаты, который применяется в опытах с суспензиями водорослей (фиг. 51). Рассеянный свет собирается на матовом стекле или (в случае ультрафиолетового света) на куске промасленной бумаги, зажатой между двумя кварцевыми стеклами. Стекло или бумага помещается на той стороне кюветы, которая ближе к детектору (как показано на фиг. 51, ). Независимо от того, имеются в кювете водоросли или нет, детектора достигает одна и та же часть диффузного света (а), исходящего от матового стекла. Матовое стекло не перехватывает свет, отраженный обратно по направлению к источнику, и метод, показанный на фиг. 51, В, где суспензия освещается диффузным светом, исходящим от матового стекла, является, пожалуй, предпочтительным. Ни в одном из описанных методов рассеянный свет, который проходит через [c.122]

Если образец представляет собой монокристалл, то в результате дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке на помещенной за образцом фотопленке (так, чтобы плоскость ее была перпендикулярна направлению падающего луча) появляется система пятен — точечных рефлексов, соответствующих отражениям от разных систем плоскостей (точечная рентгенограмма). При использовании монохроматического рентгеновского излучения (X = onst) для получения отражения от всех плоскостей монокристалла, образец вращают внутри полостй, образованной фотопленкой, свернутой в цилиндр. Если образец состоит из беспорядочно ориентированных кристалликов, то на плоской пленке, расположенной за образцом, получается система кольцевых рефлексов, порошковая рентгенограмма, или рентгенограмма Дебая — Шерера. При рассеянии рентгеновских лучей аморфным веществом, т. е. в отсутствие дальнего порядка, возникают широкие диффузные кольца (аморфные гало). Положение рефлексов дает возможность, используя уравнение (26), рассчитать межплоскостные расстояния для главных систем плоскостей в кристалле. Кроме того, существует специальная система приемов, позволяющая определить тип кристаллографической решетки и параметры элементарной ячейки. Однако часто рентгенограммы содержат недостаточную для этого информацию, и тогда при их расшифровке решают обратную задачу — выясняют, удовлетворяет ли дифракционная картина некоторой заданной структуре решетки. Интенсивность рефлексов различного порядка позволяет судить о расположении атомов и групп атомов в узлах кристаллографической решетки. Ширина каждого рефлекса А9 определяется степенью отклонения условий рассеяния от идеальных. Эти отклонения могут быть связаны со схемой прибора, некогерентностью излучения и т. д. Их можно учесть с помощью системы специальных попра-вок Более существенным, особенно для полимерных кристаллов, является уширение рефлекса вследствие ограниченных размеров отдельных кристаллов D и иска жений кристаллографической решетки, вносимых ра ного рода дефектами. При использовании рентгеновск лучей, для которых 0,5 — 2,5 А заметное увеличение [c.59]

Пространственное распределение отраженной и излучаемой энергии изучалось для пиролитического графита и поликристаллических графитов. Распределение отраженного в полупространстве излучения исследовалось фотоэлектрическим методом и практически было необходимо для расчета поправки на неламбертов характер рассеяния я. Эта установка состояла из поворотного устройства с отсчетом углов, осветителя с конденсором и фотоэлектрического устройства для регистрации и измерения отраженных потоков. Исследуемые материалы, как правило, имели сильно диффузный характер отражения, хотя закон Ламберта все же не выполнялся. Для крупнозернистых материалов типа графита П характерна одна особенность — они отбрасывают часть падающей световой энергии обратно но направлению луча. Напротив, поверхность пирографита значительную часть энергии отражает по направлению зеркального отражения. Для расчета поправки и было необходимо пайти относительную долю энергии, отраженную в реальную индикатриссу по отношению к индикатриссе изотропного распределения. Величина поправки я для поликристаллических материалов невелика, порядка 1,05—1,03. [c.148]

При исследовании флуоресценции или комбинационного рассеяния рассеяние в обратном направлении излучения лазера может ограничить чувствительность лазора. Это происходит по одно11 из двух причин. При недостаточно высоком спектральном разрешении какая-то часть отраженного лазерного [c.392]

Сделаем два замечания по поводу указанного критерия. Во-первых, так как он относится к положению дисперсионной поверхности в обратном пространстве, то он определяет лишь значения величин т и, следовательно, действительных частей атомных амплитуд и/о . Между тем, как будет показано далее, окончательные выражения для коэффициентов поглощения, например, (12.84), так же как и формулы для х в двухволновом случае (4.107), (4.108), содержат в скобках вычитаемое, зависящее как от /,, так и от / , что, вообще говоря, может существенно влиять на значение величин а и я. С другой стороны, в работе [31], посвященной рассеянию в прозрачном кристалле, не рассматривается случай 7 (см. стр. 332), примером которого может служить отражение 111/111/220. Этот случай анализируется в работе Хено и Эвальда [32] и кратко рассматривается ниже. Усложнение формы дисперсионной поверхности делает менее наглядным и однозначным указанный критерий Эвальда. Вместе с тем, формула (12.65) имеет общее значение. [c.340]

Диффузное освещение. Обычными условиями при повседневном использовании материалов являются диффузное (рассеянное) их освещение и наблюдение по нормали, однако в ряде приборов применяют обратные условия. Обычно освещение отклоняется на несколько градусов от иаправления по нормали, а часть стенк ". собирающей Сферы, во сприиимающей зер кально отраженный свет. [c.390]

Окраска золей. В уравнении Рэлея вскрывается зависимость между интенсивностью рассеянного света и объемом частиц, а также длиной волны падающего света. В первом случае интенсивность рассеянного света прямо пропорциональна квадрату объема частиц, а во втором — обратно пропорциональна длине волны падающего света в четвертой степени. Следовательно, если источник падающего света (например белый свет) состоит из волн различной длины, то самые короткие его волны (голубые), попадая на коллоидные частицы, будут рассеиваться сильнее остальных. Вот почему целый ряд коллоидных систем гидрозоли канифоли, серы, хлористого серебра, разбавленное водой молоко, дым и др. — в отраженном свете (т. е. при рассматривании под углом к направлению падающих лучей) будут иметь голубоватую окраску. Красноватая или красновато-желтая окраска золей в проходящем свете обусловлена тем, что содержание коротковолновой части спектра (голубой и фиолетовой), вследствие ее ббльшей рассеиваемости, является относительно меньшим по сравнению с частью спектра, характеризующейся длинными волнами (красный, желтый и др.). [c.165]

За пределами этой области отражение резко ослабевает. Действительно, знак вращательной способности холестерического жидкого кристалла изменяется на обратный с изменением длины волны, так что обобщенная кривая удельного вращения плоскости поляризации приобретает вид, показанный на рис. 36. Длина волны инверсии Яо неодинакова для различных веществ и зависит от температуры 2 . Она может находиться не только в видимой, но и в инфракрасной или ультрафиолетовой части спектра. В узкой спектральной полосе ЛЯ (для холестерилпропионата, например, ДЯ = 0,02 л) около свет, проходящий через плоскую холестерическую текстуру, сильно отражается (рассеивается), причем длина его волны зависит не только от вещества и температуры, но и от угла между лучом рассеянного и лучом падающего света. По мере увеличения этого угла длина волны рассеянного луча уменьшается. Поэтому в белом свете даже невооруженному глазу плоская холестерическая [c.50]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология