Полный структурный анализ ХТС

В ЯМР-спектроскопии более, чем в других видах молекулярной спектроскопии, уделяется внимание подготовке исследуемого образца, выбору растворителей и условий работы спектрометров. ЯМР-спектрометры гораздо сложнее оптических приборов, они требуют квалифицированного обслуживания, тщательной настройки, эффективного охлаждения мощных электромагнитов, а также почти полного отсутствия электрических и магнитных помех. При неблагоприятных условиях и недостаточной опытности оператора даже на приборах с потенциально высокими возможностями получаются спектрограммы, неприемлемые для структурного анализа. На рис. 19 показаны некоторые распространенные дефекты спектрограмм ПМР, легко распознаваемые по их внешнему виду. [c.51]

В разработанных [3, б, с. И] программах полного структурного анализа при выделении комплексов используется комбинаторный алгоритм (рис. П.7), основанный [ на определении комплекса как системы связанных контуров. [c.47]

Недостаток рассмотренного алгоритма выделения контуров состоит в том, что иногда одни и те же контуры выделяются несколько раз. От этого недостатка свободна программа полного структурного анализа ХТС, в основу которой положен алгоритм, приведенный ниже. Для работы программы используют следующую исходную информацию [8] [c.50]

При полном структурном анализе определяется не только расположение частиц в решетке, но танат и распределение электронной плотности. Поэтому рентгеноструктурный [c.443]

ПОЛНЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ХТС [c.54]

Рассмотренные выше алгоритмы выделения комплексов и определение оптимально-разрывающего множества дуг объединены в единый алгоритм полного структурного анализа. [c.54]

Ниже приводятся результаты полного структурного анализа тестовых ХТС. [c.55]

Результаты полного структурного анализа — [c.55]

Полный структурный анализ монокристаллов может быть проведен с помощью автоматического рентгеновского дифрактометра для исследования монокристаллов ДАР-УМБ [5а, 7]. [c.133]

Как и инфракрасные спектры, спектры комбинационного рассеяния (КР) возникают вследствие изменения колебательного состояния молекул при поглощении световых квантов. Однако вероятности переходов между колебательными уровнями в явлениях рассеяния видимого света и поглощения инфракрасной радиации существенно различаются. В то время как интенсивности инфракрасных полос поглощения определяются значениями производной от момента электрического диполя по колебательной координате, яркость линий комбинационного рассеяния зависит от величины аналогичной производной поляризуемости. Поэтому могут оказаться различными не только контуры спектрограмм, но и наборы частот колебания, неактивные в инфракрасных спектрах, обычно дают весьма яркие линии в спектрах КР, и наоборот. Вследствие этого для полной характеристики колебаний молекул требуется совместное исследование инфракрасных спектров и спектров КР, тогда как для структурного анализа часто (исключая некоторые специаль- [c.35]

Целью полного структурного анализа вещества является получение точной во всех отношениях характеристики соединения. Обычно этого удается достигнуть-только лрн сочетании различных подходящих методов. [c.406]

Рамановская спектроскопия является важным методом структурного анализа неорганических соединений, особенно хелатов металлов и ионов в водных растворах. Это возможно за счет легкого получения колебательных полос металл-лиганд при волновых числах меньших 500 см . Рассматривая КР-спектры с соответствующими ИК-спектрами в этой области, которые трудно получить (почему ), можно провести полный структурный анализ соединений. [c.197]

Как видим, полный структурный анализ довольно сложен. Поэтому постановка такого исследования оправдана далеко не во всех случаях. [c.356]

Метод, позволяющий получить информацию о конфигурации гликозидных связей в полисахаридах при условии, что известен их моносахаридный состав и положения моносахаридных звеньев, создан на основе спектроскопии ЯМР. Гидроксигруппы углеводных остатков превращают (преимущественно) в 0-метильные или 0-триметилсилильные для исключения из спектров сигналов гидроксигрупп. Сигналы протонов при аномерных атомах углерода находятся в более низком поле, чем сигналы остальных протонов, причем химические сдвиги сигналов экваториальных протонов выше, чем для аксиальных. Полный структурный анализ полисахаридов осуществлен на основании данных спектров ЯМР И метилированных моносахаридов и спектров ЯМР Н простых полисахаридов, таких как гликогены [56]. Методы спектроскопии ЯМР С, и Р также могут быть использованы при определении места присоединения одного моносахарида к другому, причем в двух последних методах используются такие производные полисахаридов, как [ Р]-трифторацетаты. [c.226]

Отметим попутно, что рентгенограмма, полученная по методу порошка, в принципе содержит полный дифракционный спектр кристалла, поскольку в образце присутствуют зерна всех возможных ориентаций. Поэтому дебаеграмма может служить рентгеновским паспортом любого индивидуального кристаллического соединения, и метод порошка широко используется для идентификации веществ, для качественного и количественного определения фазового состава смесей и других задач рентгенофазового анализа. Однако в структурном анализе этот метод имеет очень ограниченное применение. [c.56]

В структурных исследованиях рентгенографический анализ кристаллов должен всегда рассматриваться как безусловно достоверный, но важно учесть, что при неполном определении структуры часто и здесь сохраняется известная неопределенность. По этой причине некоторые из прежних исследований следовало бы дополнить. Полный структурный анализ требует много времени поэтому общее число таких определений относительно невелико. Необходимо изучение рентгенографическим методом большего числа ключевых соединений, установление структуры которых помогает разрешить многие другие проблемы. Метод диффракции электронов, пока менее широко применяемый по сравнению с рентгеноструктурным анализом вследствие необходимости изучения соединений в газовой фазе, тем не менее оказывается в некоторых случаях особенно ценным, так как позволяет определить структуру соединений в отсутствие возможных эффектов сил,, действующих в кристаллической решетке. [c.254]

Хотя полный структурный анализ кристаллических разновидностей красного фосфора не проводился, получены и интерпретированы рентгенограммы порошка для аморфного красного фосфора. Кривая радиального распределения плотности [ИЗ] показывает два главных пика. Первый из них (при 2,29 к.) соответствует трем ближайшим соседним атомам фосфора вокруг данного атома фосфора. Второй пик (при 3,5 А) объясняется наличием следующих ближайших соседних атомов, из которых в среднем приходится [c.72]

Хотя параметры элементарной ячейки белого фосфора измерены, полный структурный анализ его до сих пор еще не осуществлен. Установлено, что пар, с которым белый фосфор находится в равновесии, состоит из молекул 4. Определение молекулярного веса с [c.145]

Нам хотелось бы указать на две особенности книги, выделяющие ее среди большинства монографий и учебных пособий по структурному анализу как в отечественной, так и в мировой литературе. В книге дано последовательное изложение основ теории структурного анализа с помощью математического аппарата фурье-преобразований, что позволяет в наиболее компактной и изящной форме охватить все направления дифракционного структурного анализа. Здесь же впервые дано изложение резонансного структурного анализа, для исследования строения твердых тел использующего эффект Мёссбауэра. В книге читатель найдет материал, относящийся к рентгено-, электроно-, нейтроно- и месс-бауэрографии. Под мессбауэрографией, в широком смысле слова, мы понимаем различные аспекты применения ядерного гамма-резонанса, как явления и метода, позволяющего в наиболее полной и комплексной форме проводить исследование строения вещества по сравнению с рентгенографией и нейтронографией, включая и магнитную нейтронографию. [c.5]

Дифракционные спектры кристаллов характеризуются дискретными максимумами (гл. I, п. 13). Теория структурного анализа показывает, что при полном разрешении дифракционных спектров фазовая проблема структурного анализа решается [5, [c.13]

Необходимой предпосылкой успешного проведения структурного анализа по молекулярной рефракции является полное использование информации, содержащейся в самой брутто-формуле. [c.198]

Структурный анализ. В химии ЯМР-спектроскопию используют в основном для установления структуры чистых соединений. Во многих подобных случаях суть вопроса сводится к установлению структурных различий. Предыстория исследуемой пробы чаще всего сужает число возможных структур до небольшого количества определенных форм, различие которых часто можно установить без полного анализа спектра. [c.261]

Теперь о примерах. В обоих случаях у нас были предварительные соображения о структуре соединений, и цель детального отнесения сигиалов в спектре состояла в проверке того, насколько спектр согласуется с этой структурой. Это, действительно, достаточно распространенный случай, потому что, даже если проводить полный структурный анализ с нуля , г.е. не располагая предварительной информацией, многие заключения о структуре фрагментов молекулы могут быть получены на основании простых спектров ЯМР (илн, конечно, с помощью других спектральных методов). Гипотезы о взаимном расположении фрагментов молекулы могут быть затем проверены с помощью более детальной интерпретации спектров. Возможности отнесения с помощью двумерных ЯМ Р-экспериментов делают стадию такой проверки значительно более строгой. [c.272]

П. В результате полного структурного анализа циклического парафина Сз4Нв8, выполненного Кеем с сотр. [38], было установлено существование исключительно плотной складчатой структуры, в которую входят всего два углеродных атома (рис. II 1.60). Хотя наличие плотных складок в циклических парафинах и не может служить основанием для того, чтобы постулировать их существование и в полиэтилене, однако оно подтверждает саму возможность резкого складывания (см. рис. III.58). [c.227]

Микроднфракция лежит в основе метода микроэлектронографии, позволяющего провести полный структурный анализ локальных участков тонких слоев. [c.230]

По этому вопросу еще нет определенных физических доказательств, и точное решение его может дать только полный структурный анализ какого-либо из указанных комплексов. Возможно, что и ассоциация трехфтористого бора в жидкой фазе также осуществляется при помощи фторных мостиков. [c.198]

Полный структурный анализ, использующий знанения интенсивностей отражений [c.58]

Конечным результатом полного рентгенографического изучения вещества является определение относительных положений всех составляющих атомов или, иначе, распределения плотности электронов с наивозможной степенью точности. Если принять, что экспериментальная методика усовершенствована до такой степени, что ошибки при измерении становятся ничтожными, то все же рентгенографические методы подобно оптическому микроскопу имеют предельную разрешающую силу. В данной главе не будут затрагиваться результаты полного структурного анализа, поскольку это составляет основную тему настоящей книги. Однако некоторые данные о структуре вещества можно получить и из неполного структурного анализа. Такое изучение иногда проводят в тех случаях, когда требуется ознакомление со структурой большого числа различных кристаллов, и полное изучение их невозможно в связи с недостатком времени, или когда необходимые данные можно получить и при неполном анализе, если детали структуры не претставляют непосредственного интереса. [c.231]

Авторы работы [119] модифицировали этот метод, с тем чтобы обеспечить возможность полного структурного анализа сложных смесей жирных кислот, основываясь на двумерном разделении их метиловых эфиров и последующей идентификации ненасыщенных кислот с помощью окислительного расщепления непосредственно на слое адсорбента. Таким способом удается определить как позиционные изомеры, так и стереоизомеры ненасыщенных жирных кислот. Предназначенные для двумерного разделения слои силикагеля, закрепленные гипсом, пропитывают, погружая их в 10 %-ный раствор додекана в гексане. После нанесения образца смеси метиловых эфиров проводят элюирование в первом направлении, используя растворитель Кауфмана и Макуса [15], т. е. смесь ацетонитрил—ацетон (1 1), на 90% насыщенную додеканом. После элюирования пластинку сушат 30 мин при комнатной температуре, 30— 40 мин при 90—95°С и выдерживают 12 ч при комнатной температуре. Ту часть пластинки, на которую после второго элюирования должны попасть метиловые эфиры ненасыщенных кислот, пропитывают, опрыскивая 20 %-ным раствором нитрата серебра (ту часть, где должны были находиться насыщенные метиловые эфиры, не обрабатывают из-за пониженной чувствительности обнаруживающего реагента на слоях, обработанных нитратом серебра). После обработки солью серебра пластинку сушат постепенно в течение часа нагревают до 100°С и выдерживают еще час при этой температуре. После элюирования во втором направлении смесью дипропиловый эфир—гексан (2 3) пластинки сушат 20 мин при 70—80°С. [c.78]

И. Рентгенография Метод рентгенографии, или точнее рентгено-структурного анализа, основан на изучении дифракционного рассеяния рентгеновских лучей отдельными атомами, входящими в структурно-упорядоченные образования (молекулу, кристалл). Рентгенография применяется для исс/гедования строения веществ в любом агрегатном состоянии, однако наиболее полную информацию получают при исследовании кристаллов. [c.60]

Предпринималась попытка определить структуру К,К -динитропипе-разина, но имевшаяся в то время вычислительная техника была недостаточно совершенна, чтобы можно было провести полный структурный анализ [137] заведомо асимметричной [162] молекулы. [c.514]

Кроме величины химического сдвига в спектроскопии ЯМР для решения структурных задач используется константа спин-спинового взаимодействия углерода с протонами. Поскольку спиновое число для и одно и то же, то для предсказания мультиплетности сигнала в спектре ЯМР применимы те же правила, что и в спектрах ПМР первого порядка. Константы спин-спи-нового взаимодействия в ходё структурного анализа обычно не определяются, поскольку съемка чаще всего проводится в условиях полного или частичного подавления спин-спинового взаимодействия с протонами. Однако эти константы могут быть получены из спектра без подаеления взаимодействия с протонами. [c.142]

Ни один из существующих методов структурного анализа не может считаться универсальным и достаточным для полного установления строения молекул. Даже при использовании наиболее эффективных методов (например, ЯМР) приходится привлекать дополнительную прямую или косвенную информацию о качественном и количественном составах вещества и некоторых деталях его структуры. Источником такой информации могут быть самые разнообразные физические и химические исследовани5Г, которые следует разумно сочетать для наиболее целесообразного и простого решения поставленной задачи. [c.214]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология