Ослабление рентгеновских лучей в спектрографах

Известно, что глубина проникновения рентгеновских лучей в кристалл тем больше, чем менее совершенным является его строение и чем меньшую роль в рассеянии лучей играет так называемая вторичная экстинкция, которая обусловлена дополнительным ослаблением интенсивности падающей на кристалл радиации благодаря ее отражению от вышележащих строго параллельных слоев атомов идеально совершенного кристалла. В использованном спектрографе клин непосредственно соприкасается с поверхностью кристалла. Поэтому роль входной щели прибора играет расстояние от поверхности кристалла до наиболее глубоко лежащего слоя, принимающего участие в отражении рентгеновских лучей. Это делает форму и, главное, ширину рефлекса на рефлексограмме очень чувствительными к степени совершенства различных участков отражающего кристалла. Систематически измеряя эти величины по мере перемещения клина вдоль поверхности кристалла, можно построить своеобразные топографические карты, характеризующие степень совершенства отдельных его участков. Так, было, например, обнаружено значительное расширение рефлексов, возникавших при отражении рентгеновских лучей от областей кристалла, расположенных между двумя блоками и образовавшихся в результате процесса иррационального двойникования . Это хорошо согласуется с представлениями Бриллиантова и Обреимова о том, что в пространственной решетке кристалла вдоль такой промежуточной полосы имеется набор всевозможных ориентаций, промежуточных между ориентациями соседних блоков. [c.43]

В спектрографе РСК-3 повышение интенсивности спектров достигается как увеличением мощности источника рентгеновских лучей — широкофокусной трубки, так и посредством более полного использования энергии этих лучей. Однако использование широкого пучка рентгеновских лучей, отражающихся от большой поверхности изогнутого кристалла, вызывает необходимость применения пластинчатой диафрагмы, которая ограничивает угловое расхождение пучка лучей и предохраняет от засвечивания первичным пучком область фокальной окружности, на которой регистрируется спектр. Пластинчатая диафрагма установлена на площадке, поворачивающейся вместе с рентгеновской трубкой. Диафрагма рассчитана так, чтобы при одном фиксированном положении трубки на спектрограмме можно было зарегистрировать без заметного ослабления достаточно широкий волновой интервал спектра. В качестве материала для пластин диафрагмы использовалась танталовая жесть. Столик кристаллодержателя и вращающаяся площадка диафрагмы закрываются съемным защитным чехлом. Так как кристаллодержатель и пластинчатая диафрагма оказываются на пути лучей, идущих в лохкамерную трубку, то передняя колонка, несущая столик с кристаллодержателем и пластинчатую диафрагму, сделана спускающейся (см. рис. 42). [c.106]

Рассматриваемый метод определения относительной интенсивности спектральных линий основан на использовании явления поглощения. В описанном ниже виде метод был предложен впервые для решения некоторых задач оптического спектрального анализа Террейем и Барретом [68]. В рентгеновской области спектра этот метод применил И. Г. Демьяников [69]. Идея метода заключается в следующем. На пути рентгеновских лучей перед кассетой спектрографа располагают алюминиевый клинообразный поглотитель, толщина которого уменьшается вдоль спектральных линий, например, сверху вниз. При таком расположении поглотителя поглощение монохроматических лучей в алюминиевом клине будет приводить к ослаблению начальной интенсивности линии, величина которого будет тем больше, чем дальше удалена от основания рассматриваемая точка линии Известно, что коэффициент поглощения вещества зависит от длины волны рентгеновских лучей. Поэтому излучение различного состава, вообще говоря, должно поглощаться в клине по-разному. Однако для спектральных линий с близкими длинами волн, которые наиболее часто используются для [c.86]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология