Рефлексы определение ширины

Увеличение угловой ширины дифракционных рефлексов по сравнению с угловой шириной первичного пучка рентгеновских лучей или электронов лежит в основе определения размеров и дефектов решетки кристаллитов. Уширение может быть обусловлено как конечностью размеров упорядоченных областей, ответственных за появление дифракционной картины (так называемые области когерентного рассеяния), так и искажениями (по сравнению с идеальным) периодов решетки кристаллических областей. Упорядоченные области полимерных веществ вряд ли можно рассматривать как кристаллические области малых размеров в чистом виде. Полимерные молекулы, скорее всего, образуют не идеальные кристаллиты небольших размеров, а дефектные кристаллы. В последних, к тому же, имеются переходные зоны с меньшей степенью упорядоченности при переходе к аморфным областям. [c.114]

Вопрос об изменении формы кристаллитов при вытяжке связан с проблемой измерения поперечных размеров микрофибрилл D. Эти размеры обычно рассчитывают по ширине распределения интенсивности малоугловых рефлексов штриховой формы вдоль слоевых линий. Метод обсчета малоугловых рентгенограмм с целью определения D развит только для рентгенограмм, имеющих рефлексы штриховой формы с максимумом на меридиане. Если рефлексы в рентгенограмме имеют другой вид, с их помощью можно оценить лишь форму кристаллитов [ИЗ], Однако иногда с ростом D обнаруживают не переход штриховых рефлексов в четырехточечные, а только расширение их в азимутальном направлении [53, 107, 120—122], что часто интерпретируют как уменьшение D. [c.221]

Определение размыв кристаллитов и степени упорядоченности полимеров. Радиальная ширина кристаллич. рефлексов в направлении радиуса от центра рентгенограммы зависит, в основном, от размеров кристаллитов и нарушений трехмерного порядка внутри них. Ширина рефлексов увеличивается при уменьшении размеров кристаллитов и увеличении нарушений по- [c.169]

При определении размеров кристаллитов полиэтилена и других полимеров путем измерения ширины рефлексов было установлено, что размеры кристаллитов имеют порядок нескольких сот ангстрем, т. е. длина кристаллита значительно меньше длины цепи полимера. [c.118]

Метод Ламбо. Для определенной угловой дезориентации в монокристаллах применяется сходящийся пучок монохроматических рентгеновских лучей от изогнутого кварцевого монохроматора [49]. Исследуемый образец помещается в фокусе этого пучка. В результате на образце получается только узкая полоса шириной — 50 мк. Рефлексы регистрируются пленкой, расположенной на сравнительно большом расстоянии от кристалла (порядка м). Горизонтальная ширина интерференционного пятна определяется угловой дезориентацией в изучаемом объеме образца. Присутствие в образце совершенных субзерен проявляется в виде серии тонких вертикальных линий внутри интерференционного пятна. Расстояние 312 [c.312]

Тот же вывод можно сделать и при анализе внутреннего строения больших периодов — размеры кристаллитов и степень ориентации, определенная по азимутальной ширине кристаллических рефлексов, не зависят от исходных размеров кристаллитов. Эти данные были получены для полиэтилена высокого давления и капрона. Температура ориентационной вытяжки оказывает определяюш,ее влияние на параметры полученной ориентированной надмолекулярной структуры. Изменением температуры растяжения можно получить большие периоды, которые по размерам больше или меньше, чем в исходном полимере. Ввиду такой независимости больших периодов в работе делается вывод о том, что при ориентации может происходить разрушение исходной надмолекулярной структуры и образование новой, характерной для ориентированного состояния. [c.181]

Это предположение было проверено с помощью метода дифракции рентгеновских лучей под малыми углами [529, 532, 539]. Для определения поперечного размера фибрилл Оф использовалась дискретная малоугловая дифракция — рефлекс, возникающий в меридиональной области за счет чередования кристаллических и аморфных участков вдоль оси фибриллы (подобие одномерной дифракционной решетки) (см. схему на рис. 159). Оценка ширины фибриллы ведется по слоевой ширине рефлекса на полувысоте (А Уг). Согласно теории [512], ширина [c.302]

Длину кристаллитов характеризовали по величине предельной СП остатков волокна после гидролиза. Эта величина, хотя и является относительной вследствие проходящей при гидролизе рекристаллизации [103], однако сравнительно хорошо коррелирует с длиной больших периодов, определяемых рентгенографически при малых углах рассеяния и электронно-микроскопических наблюдений. Показатель кристалличности определен по Ант-Вуоре-ну [104] как отношение ширины пика рефлекса на фотометрической кривой к его высоте. Этот показатель, хотя и не позволяет количественно определить содержание кристаллической и аморфной фракций, тем не менее, по мнению ряда исследователей [105], [c.211]

Как правило, упорядоченная структура вещества не имеет бесконечной протяженности монокристаллы встречаются реже по-ликристалличесних структур. В связи с этим размер кристалла считается важным структурным параметром. Кроме того, кристаллическое состояние не является идеальным, так как обычно в веществе имеются дефекты решетки, влияющие на его свойства. Дефекты решетки могут возникать из-за колебаний частиц в ней под действием тепловой энергии. Эти дефекты, называемые дефектами первого рода [14], не нарушают дальний координационный порядок решетки, в то время как дефекты второго рода нарушают его в значительной степени. Хоземан и Багчи [15] показали, что для описания этих дефектов полезно применять представление о па-ракристаллических искажениях. Согласно этому понятию, можно определить размер Ь кристалла, тип и степень деформации решетки в данном направлении путем анализа интегральной ширины бР-рефлексов, отнесенных к определенному направлепию, как функции порядка рефлекса к. Дефекты первого рода не приводят к зависимости ширины рефленса от порядка Н, тогда как в присутствии дефектов второго рода ширина увеличивается с возрастанием Л. В соответствии с представлением о паракристаллических искажениях интегральную ширину рефлекса можно выразить через размер Ь кристалла и относительную флуктуацию среднего размера решетки I по уравнению [c.21]

Описанная выше структура рентгеновского рефлекса наиболее просто может быть понята лишь как следствие появления в изогнутом кристалле отдельных дезориентированных один относительно другого блоков, разделенных участками, в которых не находится достаточного числа плоскостей, способных отражать рентгеновские лучи в определенном направлении. Если бы изгиб кристалла происходил упруго и блокообразование при этом отсутствовало, вне фокуса спектрографа наблюдалось бы только расширение полосы отражения, а ширина полосы плавно изменялась [c.54]

Привычным является положение о том, что от применения рентгеновских методов поступает исключительно чисто структурная, гео метрическая информация. Однако давно уже известно, что рентгеновская дифракция может давать не только структурную, но и динамическую информацию, т. е. определять характеристики колебаний атомов, входящих в состав кристаллических областей. Это делается на основе измерения интенсивности ристалличес-ких рефлексов при контроле сохранения угловой ширины рефлекса [1]. Если измерять интенсивность рефлекса при различных температурах, то появляется возможность определения фактора Дебая —Валлера, из которого рассчитывается среднеквадратичное смещение атомов, в направлении, перпендикулярном данной отражающей плоскости. Так, для полимера определяют амплитуды колебаний скелетных атомов вдоль оси макромолекулы и в [c.101]

Возникновение кольцевых сферолитов обычно объясняется кооперативным закручиванием фибрилл в про-цесе их роста [31, 32]. В ряде случаев период закручивания может быть определен микроскопически. Анализ рассеяния позволяет помимо этой величины оценить (по ширине рефлексов и их интенсивности) степень коопера-тивности подобного вращения фибрилл. [c.35]

Морфслогические особенности полиолефинов. Незадолго до возникновения представлений о полимерах как о длинноцепных молекулах рентгеновскими исследова-ниями з . 232 было устзновлено, что некоторые синтетические и природные полимеры имеют строение, характерное для кристаллических систем. Однако брегговские рефлексы были значительно шире и диффузнее, чем рефлексы совершенных кристаллов неполимерных низкомолекулярных веществ. Подобный характер рассеяния соответствует наличию в системе либо небольших образований (имеющих ближний порядок), совокупность которых образует кристаллит, либо дефектов внутри решетки. Первоначально эффект был приписан малым размерам кристаллитов их величина, определенная по ширине рефлексов, равна 200 А. Так как длины полимерных молекул значительно превосходят 200 А, а в расплаве молекулы беспорядочно свернуты и перепутаны, кристаллизацию стали трактовать как процесс идеального распрямления соседних сегментов различных мо- [c.63]

Пример такого определения представлен на рис. 11 для Р1-Р(1/А120з катализатора. На более сложном уровне анализ полного профиля линии позволяет определить распределение частиц по размерам и напряженность кристаллической решетки. При анализе дифракционных пиков следует учитывать, что ширина рефлексов определяется не только свойствами кристаллита (размер и наличие дефектов), но и инструментальными факторами. [c.26]

Проблема правильного определения размеров неоднородностей, несомненно, представляет большой интерес, однако в настоящее время невозможно получить однозначных данных такого рода. Как было указано ранее, для любых количественных измерений распределения интенсивности диффузного рассеяния необходима точная модель, описывающая форму рассеивающих частиц, а также необходимо вводить предположение об отсутствии интерференции и т. д. При определении размеров микропустот большую помощь может оказать параметр, позволяющий проводить сравнение различных систем, так, при изучении некоторых волокон был применен метод последовательных касательных. В этом методе, предложенном Еллинеком, Соломоном и Фанкухеном [34], к кривой проводят ряд последовательных касательных и для каждой касательной определяют угловой коэффициент и отрезки, отсекаемые касательной на осях координат, что затем дает возможность рассчитать размеры частиц и относительное количество частиц различной величины. Учитывая, что при таком методе расчета принято большое число предположений, по этим данным можно оценить соотношение полуосей эллипсоидальных микропустот. В качестве примера на рис. 132 и 133 приведены соответствующие графики для только что сформованных аморфных волокон полиэтилентерефталата. Данные такого рода показывают, что длина микропустот (оцененная на основании меридиональных рефлексов) больше, чем их ширина (оцененная из экваториальных рефлексов). Отсюда видно, что такие количественные данные по своей природе идентичны качественным данным, полученным при описании ромбовидной формы картины диффузного рассеяния. [c.216]

Для целлюлозы общая картина аналогична каучуку. Вслед за многочисленными рентгенографическими исследованиями кристалличности, проведенными в 1954 г. (см. [22г]), последовало несколько исследований в более поздние годы. Можно отметить исследования Обер-лина и Меринга [72], которые сравнили рассчитанную на основании структурной модели Мейера и Мища функцию распределения с функцией, определенной по рентгенограмме, и пришли к первому непосредственному определению некристаллической части нативной целлюлозы. В согласии с известными данными Германса и Вейдингера они нашли, что ее величина 33%- Одновременно оказалось, что большая часть кристаллов состоит из приблизительно четырех молекулярных слоев (16 А) и от шести до восьми молекулярных слоев, если рассматривать их в направлении (002). По данным авторов это не согласуется с результатами измерений Хенгстенберга и Марка [61] ширины линий и с данными Хоземана [73]. Однако их результаты находятся в полном соответствии с результатами Фурье-анализа, проведенного для рефлексов (002) по методу Вильсона и Стокса. [c.412]

В слабо растянутом полиэтилене высокого давления величина кристаллитов в направлении, перпендикулярном панравлению цепей, определенная по шириие линий рефлекса (110), составляет 140 А, а нри растяжении иа 100 и 500% она уменьшается соответственно до 100 А и 60 А [33]. Аналогичными измерениями Смит [62] получил для линейного и разветвленного полиэтилена в иепапряжеином состоянии значения 390 А и 190 А. В этих измерениях изменение ширины линий рассматривалось исключительно как результат увеличения размеров кристаллитов и не учитывалось возможное наложение расширения линий, вследствие деформации решетки. Разделение обоих влияний возможно лишь тогда, когда имеется целый ряд интерференций по возможности более высоких порядков с различными углами преломления, что, одпако, встречается сравнительно редко. [c.414]

Рентгенографический метод определения степени ориента ции основывается на оценке ширины экваториальных рефлек сов о (101), з (101) и 4 (0(32). Для полностью неориенти рованного волокна эти рефлексы имеют вид колец (рис. 2.19) Предельно ориентированное волокно дает точечные рефлек сы. На рентгенограммах волокон с промежуточной ориенга цией они вытянуты в виде дуг, ширина которых характери зует степень ориентации. Угол разориентации оценивается [31, с. 244] по ширине дуги экваториального рефлекса Аа (002), соответствующей половине максимальной интенсивности рассеяния. Затем строится кривая зависимости интенсивности от азимутального угла рассеяния Р (рис. 2.20). За точку отсчета (нулевой угол) в данном случае берут экватор, где у рефлекса А наблюдается максимальная интенсивность. При перемешивании по дуге рефлекса вверх [c.106]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология