Дифракция рентгеновских лучей найлона

Если вторичная вытяжка происходила под большим углом по отношению к направлению, первичной ориентации, то образовывались полосы изгиба. При этом методом дифракции рентгеновских лучей под большими углами было установлено, что полимер в этих полосах, как и в случае найлона, подвергается резкой переориентации. [c.280]

ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ЛИНЕЙНЫМИ И ЦИКЛИЧЕСКИМИ ОЛИГОМЕРАМИ ПОЛИКАПРОАМИДА (НАЙЛОНА-6) [c.254]

В работе [595] методом дифракции рентгеновских лучей исследовалась структура найлона 6. В тех случаях, когда кристаллический полимер поглощает растворитель, обладающий большим сродством к полимеру, весьма вероятно, что кристаллическое состояние полимера в процессе такого набухания будет существенно меняться. Методом дифракции рентгеновских лучей был исследован целый ряд водных растворов полимеров, например желатины [596], пектата натрия [597], целлюлозы [598—600] н поливинилового спирта [601, 602]. [c.545]

Линейные и циклические олигомеры найлона-б изучали методом дифракции рентгеновских лучей полученные результаты сравнивлли со степенью полимеризации олигомеров. Были исследованы следующие [c.254]

Для определения в найлоне 6 мономера, димера и тримера использовали ИК-спектроскопию на таблетках с бромидом калия после экстракции растворителем [586]. Различные кристаллические формы в волокнах найлона 6 исследовали методом ИК-спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей [587]. Изучены спектры пленок из дейтерированного и недейтерированного найлона 6 при 1200—500 см- как в обычных условиях, так и под нагрузкой [588]. Получены поляризованные ИК-спектры в области 800—33 для найлона 6, 6,6 и 7,7 и проведено отнесение пиков, соответствующих колебаниям амидной группы и метиленовых мостиков [589]. [c.543]

В работе [604] рассматриваются также результаты измерения рассеяния концентрированными растворами этого полимера. Интересно отметить, что кривая рассеяния для 10 /о-ного раствора полимера (кривая Б на рис. 181, в) характеризуется большой шириной и имеет максимум, соответствующий 4,2 А. Такая форма свидетельствует о слабоупорядоченной гексагональной упаковке между соседними молекулярными цепями, которая может существовать даже в концентрированном растворе. Различные кристаллические формы найлона 6 были исследованы методами дифракции рентгеновских лучей и ИК-спектроскопии, причем изучалось влияние адсорбции воды и температуры [607]. Дифракционный метод позволил количественно охарактеризовать две формы найлона 6 [608] и определить размеры кристаллитов этих форм по методу Уоллнера [609]. В работе [610] изучалась кристаллическая структура пленок найлона 6, а также влияние скручивания депей на ориентацию. Структурные параметры кристаллического найлона 6 определяли методом рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. [c.547]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология