Рентгеновская кристаллография и электронная микроскопия

Таким образом, вопрос о слабых связях крайне сложен и далек от своего разрешения. Результаты, полученные химическими методами, ненадежны по ряду причин, как-то низкая концентрация слабых связей, физическое состояние полимера, в котором эти связи реагируют, и т. д. В некоторых исследованиях для построения более полной картины структуры молекулы полисахарида применялись такие физические методы, как рентгеновская кристаллография, электронная микроскопия и инфракрасная спектроскопия. По-видимому, эти физические методы явятся главным средством, применение которого позволит в конце концов однозначно установить структуру полисахаридов. [c.111]

Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. [c.2]

Общая форма капсида отличается высокой степенью симметрии, обусловливая способность вирусов к кристаллизации. Это дает возможность исследовать их как методом рентгеновской кристаллографии, так и с помощью электронной микроскопии. Как только в клетке-хозяине образуются субъединицы вируса, они сразу же могут путем самосборки объединиться в полную вирусную частицу. Упрощенная схема строения вируса показана на рис. 2.16. [c.34]

Заметный прогресс в исследовании наноструктур начался с использованием сканирующих туннельных микроскопов (СТМ), сочетанием рентгеновской кристаллографии ЯМР-спектроскопии, ядерно-силовых микроскопов. Кроме того, широко используются и некоторые трад ици-онные методики, особенно электронная микроскопия. [c.4]

РЕНТГЕНОВСКАЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЯ И ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ [c.530]

Изображения, которые мы видим в микроскоп, представляют собой двумерные проекции трехмерной структуры исследуемого объекта. Используя гониометр (устройство, позволяющее наклонять объект в электронном пучке) можно рассматривать его под различными углами. Набор таких изображений содержит гораздо больше информации о структуре, чем одно из них. Наиболее информативным, однако, было бы реконструировать на их основе трехмерную структуру объекта. Для некоторых объектов это действительно возможно сделать, хотя такая работа занимает много времени. Математический аппарат, используемый в данном случае, сходен с аппаратом рентгеновской кристаллографии. Изображения исследуемого объекта, снятые под -различными углами, с помощью денситометра преобразуются в числовую форму и вводятся в память ЭВМ. Рассчитанное на ЭВМ трехмерное изображение структуры можно наглядно отобразить различными способами. Обычно его представляют в виде серии срезов, подобных тем, которые получают на микротоме для залитых в полимерный носитель гистологических образцов [3, 4]. [c.555]

В таблицу не включены также такие основные методы, как электроосаждение, кулонометрия, ионоселективные электроды, хронопотенциометрия, амперо-метрия, турбидиметрия и нефелометрия, атомно-флуоресцентная спектроскопия, микроскопия с электронным зондом, термогравиметрический анализ, дифференциальный термический анализ, термический анализ, термометрическое титрование, электронная микроскопия, рентгеновская кристаллография, поляриметрия оптическая вращательная дисперсия, рефрактометрия, магнитная восприимчивость, спектроскопия электронного спинового резонанса, спектроскопия ядерного магнитного резонанса, масс-спектрометрия (включая искровую и МС с изотопным разбавлением), органический микроанализ, тонкослойная хроматография хроматография с кольцевым термостатом, активационный анализ, анализ с помощью радиоизотопного разбавления, масс-спектрометрия с вакуум-плавлением мессбауэровская спектроскопия и фотоэлектронная спектроскопия. Описание этих методов можно легко найти в литературе [10—12], а некоторые из них Описаны ниже. В шапке табл. ХХ-2 использованы следующие заголовки [c.584]