Уголь окончательный анализ

Целью настоящей работы было построение диаграммы состояния циркониевого угла системы цирконий — ниобий — железо до 15 вес.% N5 + 4-Ре. Основным методом исследования являлся микроструктурный анализ сплавов, закаленных от различных температур в интервале 1100— 600° С, в сочетании с методами твердости и микротвердости. Данные по строению ограничивающих циркониевый угол двойных систем цирконий— ниобий и цирконий — железо были заимствованы из работ [1, 2] соответственно. Составы изучавшихся сплавов располагались на трех лучевых разрезах, исходящих из циркониевого угла при отношении содержания ниобия к содержанию железа (в вес.%) 3 1,1 1 и 1 3. Исходными материалами для приготовления сплавов служили йодидный цирконий (99,6%), металлокерамический ниобий (99,3%) и восстановленное железо в виде порошка. Слитки сплавов весом 30 г готовили в дуговой печи с вольфрамовым электродом на медном водоохлаждаемом поддоне в атмосфере аргона. Для достижения однородности сплавы переплавляли пять раз с обязательным переворачиванием после каждой переплавки. Отжиг сплавов производили до 1000° в электрических шахтных печах, выше 1000° в силитовом муфеле. Для защиты от окисления сплавы запаивали в эвакуированные кварцевые ампулы, причем для температур выше 1000° —в двойные, ниже 1000° —в одинарные. Закалку сплавов производили путем быстрого раздавливания ампул в ледяной воде. Шлифы для микроструктурных исследований изготовляли путем шлифования сплавов на наборе шлифовальных бумаг с окончательной доводкой на сукне, политом водной суспензией окиси хрома. Травление шлифов осуществляли смесью азотной и плавиковой кислот. Твердость сплавов измерялась на приборе ТП при нагрузке 10 кГ. Микротвердость отдельных фазовых составляющих сплавов измеряли на приборе ПМТ-3 с нагрузкой 100 Г. [c.117]

Окончательный результат можно получить двумя путями. В первом случае необходимо записать в качестве добавки к коэффициенту переноса излучения i — / доли а от имеющейся в луче энергии перед его взаимодействием со стенкой. Оставшуюся энергию припишем отраженному лучу. (Когда энергия отраженного луча станет ниже выбранного минимального значения, всю ее можно отнести к оставшейся энергии в луче.) В другом случас генерируется случайное число Р. Если оно меньше или равно а, вся имеющаяся энергия поглощается. Если оно больше а, вся энергия отражается. Для построения хода луча после отражения необходимо найти направление отраженного луча. При зеркальном отражении воспользуемся уравнениями (111), (112) и (113) 2.9.2. При полностью диффузном отражении генерируются два новых случайных числа угол 0 относительно нормали п равен sin 4 Рх а угол ф относительно х равен 2кР . В случае не полностью диффузного отражения углы 0 и ф определяются таким же образом, однако массовые множители для каждого луча необходимо делить на направленную отражательную способность и М1южить на двунаправленную отражательную способность для выбранного направления. Вместо этого можно воспользоваться функциями вида (8) при некотором удорожании анализа и времени программирования. [c.479]

Тень формируется в результате отложения под определенным углом электроноплотного материала на образце во время пребывания в вакуумном испарителе. Те области, которые расположены под углом к направлению напыления металла, остаются не покрытыми им и, будучи менее электроноплотными, пропускают электроны. В результате электроны как бы очерчивают эти области, которые на обработанном негативе видны в виде черных теней. Поскольку выглядит это, как позитивное изображение, обычно (хотя и не всегда) негативы обращают контактным способом и для воспроизведения позитивного изображения окончательные фотографические отпечатки получают с обращенных негативов. (Техника оттенения хорошо описана в гл. 5 [И] и в гл. 4 и 5 т. 2 многотомника [7].) Прямое отгенение испаряющимися металлами применяется по отношению к целым клеткам или их компонентам, бактериофагам или различным суспензиям этот метод используется также для анализа реплик, приготовленных из интактных препаратов или при замораживании—скалывании и замораживании—травлении (см. ниже). Помимо очерчивания поверхностных неровностей и периодически повторяющихся структур, техника оттенения может применяться для измерения высоты образца по вертикали посредством нахождения длины тени и геометрических расчетов, опирающихся на известный угол оттенения. Измерению [c.117]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология