Диффузное отражение

Работа 8.1. Получение и интерпретация спектров диффузного отражения твердых оксидов [c.168]

Оптическую плотность (пропускание) измеряют относительно эталона, пропускание которого принимают за 100%, а оптическую плотность — равной нулю. Спектрофотометр СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.339]

Назначение и принцип действия. Регистрирующие двухлучевые спектрофотометры СФ-10, СФ-14, СФ-18 предназначены для измерения пропускания (оптической плотности) прозрачных и мутных сред и коэффициентов диффузного отражения твердых и порошкообразных веществ в видимой области спектра. Спектрофотометры состоят из осветителя, двойного призменного монохроматора, фотометра поляризационного типа, приемно-усилительной части и записывающего механизма. [c.214]

Внутри шара находятся два экрана, предназначенные для предотвращения попадания света от образца непосредственно на фотоэлемент при измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения — нижний экран — и пропускания—верхний экран (по методу Тейлора). Для включения экранов необходимо оттянуть рукоятку 6. [c.215]

Измерение абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения или пропускания сводится к следующему. [c.215]

Если доля диффузно отраженных молекул есть о, а зеркально отраженных молекул (1 — о), то [c.160]

Ввиду того что доля диффузно отраженных молекул близка к единице (а 1), имеем приблизительно [c.136]

Тем не менее существует ситуация (например, пропускание длинного канала с зеркальными стенками), когда приближение полностью диффузного отражения приводит к серьезным погрешностям. Таким образом, инженер или проектировщик должен уметь проводить расчеты и в том случае, когда одна или несколько поверхностей не являются полностью диффузными. [c.477]

Нормальная составляющая секундного количества движения при диффузном отражении может быть найдена с помощью следующих соображений. Так как после диффузного отражения молекулы газа утрачивают среднюю поступательную скорость газа-(С7 = 0). то секундная масса молекул, отбрасываемых единичной площадкой поверхности тела, определяется выражением (71) [c.159]

Нормальная составляющая секундного количества движения диффузно отраженных стенкой молекул (при С/ = 0) определяется из (76) [c.159]

При полностью диффузном отражении молекул от стенки (а = 1) имеем [c.162]

Отражение считается полностью диффузным, если двунаправленная отражательная способность постоянна и не зависит от всех четырех углов — от двух углов падения и двух отражения. Противоположностью полностью диффузного отражения является зеркальное отражение, [c.477]

Вначале записывают линию 100 %-го пропускания при нейтральном положении экранов относительно световых потоков при этом рукоятки 6 вдвинуты в шар. Затем вместо эталона к окну шара в рабочий поток помещают образец, измеряемый на отражение. Оттянув нижнюю рукоятку 6 до упора, экран ставят в положение, при котором прямой свет от образца не попадает на фотоэлемент. Последующая запись дает значение абсолютного коэффициента диффузного отражения образца по спектру. [c.215]

При измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения образец помещают в правое по ходу лучей входное окно шара, с помощью рукоятки 6 устанавливают верхний экран, нижний экран при этом должен занимать нейтральное положение относительно световых потоков. [c.215]

Увеличение концентрации шлама (выше 10—15 %) приводит к ухудшению глянца образцов. При этом введение шлама позволяет получить несколько большее значение глянца. Величина диффузного отражения возрастает при увеличении концентрации шлама и уменьшается при добавлении ила, что, по-видимому, связано со значительно большим содержанием соединений железа, никеля, хрома в шламе. [c.209]

При введении в глазурь покрытия шлама и ила при суммарной концентрации 30 % величина диффузного отражения и глянца наиболее оптимальна при равных их концентрациях в добавке, т. е. по 15 % ила и шлама. Таким образом, оптимальное содержание отходов при введении их в состав плиточных глазурей составляет 20-30 %. [c.209]

Изучено также влияние добавок шлама и ила на оплавление, глянец и величину диффузного отражения декоративных глазурей керамических облицовочных плиток с целью замены дефицитных пигментов, уменьшения расхода фриттованной глазури и утилизации таким способом отходов очистки сточных вод гальванических цехов. Для экспериментальных исследований выбрано глазурное покрытие на основе фритты В—2а Воронежского завода фаянсовых изделий. В качестве добавок используют шлам гальванического цеха ПО Атоммаш , содержащий, % (мае.) 64,0 Ре " 3,5 Сг 2,6 (зольность 64,5), Новочеркасского станкостроительного завода, имеющий состав, % (мае.) 31 Ре " " 13 2 (зольность 58,9). Установлено, что оптимальное содержание отходов при введении их в состав плиточной глазури составляет 20—30%. [c.213]

В-6. Соболев В. В., О диффузном отражении, и пропускании света плоским слоем мутной среды задаче о диффузном отражении И пропускании света, ДАН СССР, 69, 1949, № 3, 4. [c.390]

Пространств, распределение интенсивности диффузно отраженного света подчиняется закону Ламберта [c.538]

Окончательный результат можно получить двумя путями. В первом случае необходимо записать в качестве добавки к коэффициенту переноса излучения i — / доли а от имеющейся в луче энергии перед его взаимодействием со стенкой. Оставшуюся энергию припишем отраженному лучу. (Когда энергия отраженного луча станет ниже выбранного минимального значения, всю ее можно отнести к оставшейся энергии в луче.) В другом случас генерируется случайное число Р. Если оно меньше или равно а, вся имеющаяся энергия поглощается. Если оно больше а, вся энергия отражается. Для построения хода луча после отражения необходимо найти направление отраженного луча. При зеркальном отражении воспользуемся уравнениями (111), (112) и (113) 2.9.2. При полностью диффузном отражении генерируются два новых случайных числа угол 0 относительно нормали п равен sin 4 Рх а угол ф относительно х равен 2кР . В случае не полностью диффузного отражения углы 0 и ф определяются таким же образом, однако массовые множители для каждого луча необходимо делить на направленную отражательную способность и М1южить на двунаправленную отражательную способность для выбранного направления. Вместо этого можно воспользоваться функциями вида (8) при некотором удорожании анализа и времени программирования. [c.479]

Отмечалось (см. [2], 2.9.2), что поверхности с небольшой шероховатостью, моделируемые уравнением Бэкмана, с инженерной точки зрения можно рассматривать как зеркальные. Углы, в которые проходит рассеяние, равны Л/яа и A/(na os 0 ), в то время как доля рассеянного излучения составляет 1—екр[—[(4яОг os 0-/а)2(а/Х) ). Для поверхностей с лг . 0,5 мкм и наклоном порядка или меньще 0,1 величина а 2,5 мкм. Когда afk велико, количество диффузно отраженного излучения также велико, однако угол, в котором отражение диффузно, мал. Если а/Л мало, то угол, в котором отражение диффузно, велик, но количество дш х1зузно отраженного излучения мало. В теплообмене такие поверхности можно моделировать как зеркальные. [c.482]

Разработаны методики экспресс-определения ряда катионов редких, драгоценных и тяжелых металлов, хлора, кислорода, неорганических анионов, фенолов, аминов, гидразинов, альдегидов. Построены линейные градуировочные графики зависимости коэффициентов пропускания и диффузного отражения от концентрации микрокомпонентов с прямой пропорцианальной зависимостью или на основе функции Кубелки-Мунка-Гуревича. Погрешность определения с помощью стандартных цветовых шкал компараторов ЭКОТЕСТ 10-50% относительное стандартное отклонение для тестов ФОТОКО-ЛОРИМЕТРА-РЕФЛ ЕКТОМЕТРА 0,1-0,3. [c.106]

Пусть доля диффузно отраженных молекул составляет о, тогда энергия этпх молекул пропорциональна величине оГд, а энергия зеркально отраженных молекул пропорциональна (1 — а) Гн- Суммарная энергия отраженных поверхностью молекул пропорциональна величине [c.160]

Пользуясь этой формулой, можно по известным значениям коэффициентов а II о найти температуру диффузно отраженных молекул Гд и затем по формуле (90) — вероятную скорость молекул Стд. Полученных сведенин достаточно для определения аэродинамическпх сил, возникающих на теле нри различных условиях свободно-молекулярного обтекания. [c.160]

Мы определили выше расход газа в длинной трубе при полностью диффузном отражении молекул стенками если часть молекул о отражается диффузно, а остальные молекулы отражаются зеркально, то расход газа по трубе возрастает (скорость движения вдоль трубы зеркально отраженных молекул после ударов о стенку не изменяется). Смолуховскип ) показал, что увеличение расхода газа в этом случае происходит в отношении [c.174]

Устройство прибора СФ-26 и принцип и 1мерений. Внешний АИД прибора СФ-26 представлен на рис. 4.24. Измерение пропускания (оптической плотности) исследуемого объекта производят относительно эталона, пропускание которого принимается за 100%, а оптическая плотность — равной нулю. Прибор СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.213]

Цель работы — выявление зависимости координационного и аалентного состояния атомов ванадия (V) поверхности от адсорбции паров воды по спектрам диффузного отражения. [c.170]

Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т.к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять ИК фурье-спектрофотометры, обладающие высокими светосилой и соотношением сю-нал шум (ок. 10 ). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содер-жанще разл. наполнители-КВг, КС1, sl, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) н ячеистые (напр., электроды с раэл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами дл анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо м. б. вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения. Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых кол-в в-ва, напр, от пятен на хроматографич. пластине. Метод используют также для определения диэлектрич. св-в образцов. [c.395]

Изучение термических превраи1еиий хромсодержащих силикагелей по спектрам диффузного отражения. [c.219]

Спектры отражения изучаются, как правило, в оптической (ИК, УФ и видимой) области с помощью спектрофотометров (см. Спектрофотометрия), снабженшх спец. устройствами. При исследовании зеркального отражения применяют обычно систему зеркал, к-рая отклоняет пучок излучения, направляет его на изучаемый объект и возвращает отраженное излучение вновь в спектральный прибор. Для наблюдения спектров НПВО используют такие же приставки, но с той разницей, что в этом случае излучение направляется на призму, находящуюся в контакте с исследуемым образцом. Для изучения спектров диффузного отражения обычно используют т.наз. полую фотометрич. сферу, внутр. пов-сть к-рой Покрыта отражающим материалом, не поглощающим в исследуемой области спектра для входа и выхода излучения и размещения образца в сфере предусматриваются соответствующие окна . [c.396]

Из прокаленного шлама, ила и фритты В—2а готовили водный щликер влажностью 45—50 %, которым поливали поверхность плиток, прощедших утильный обжиг Качество поверхности глазурованного покрытия оценивали по глянцу и величине диффузного отражения, которые определяли с помощью фотоэлектрического глянцемера. [c.208]

Спектры диффузного отражения углей вблизи ИК-облас-ти новый индекс степени углефикацни и карбонизации. [c.54]

Различают спектры внеш. и внутр. отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения, когда падающий и отраженный лучи лежат в одной плоскости с нормалью к отражающей пов-сти, а угол отражения равен углу падения, и спектры диффузного отражения, когда отраженные лучи рассеиваются по разным направлениям. Характер внещ. отражения излучения определяется еротно-шеппем между длиной волны >. падающего излучения и раз- [c.394]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология