Спектрограф кварцевые

Рекомендуемые условия анализа. Спектрограф — кварцевый, средней дисперсии, с трехлинзовой системой освещения щели. [c.325]

Обычно принята следующая методика. Спектрограф кварцевый, средней дисперсии, с трехлинзовой конденсорной системой. Ширина щели спектрографа 0,02 мм. Промежуточная диафрагма — круглая. Источник возбуждения спектра — генератор ДГ-1 или ДГ-2 в дуговом режиме, сила тока 15 а. Величина аналитического промежутка 2,5 мм., противоэлектрод — угольный или графитовый стержень диаметром 8—12 мм, заточенный на полусферу. Вес эталона или анализируемой пробы должен быть не менее 200 г. Фотографические пластинки спектрографические , тип III. Продолжительность экспонирования 60—90 сек. в зависимости от чувствительности эмульсии, без предварительного обжига. Аналитическая пара линий Р 214,91— Сг 214,04 нм. [c.146]

Другие спектрографы. Кварцевый лабораторный спектрограф ИСП-30 настольного типа применяется для качественного анализа металлов, сплавов и руд стеклянный трехпризменный спектрограф ИСП-51 используется для анализа веществ, содержащих элементы с малым числом спектральных линий. Для анализа веществ, содержащих элементы с особо сложными спектрами, используют спектрограф СТЭ-1. Для качественного и количественного анализа металлов, руд, минералов и др. применяют длинна-фокусный спектрограф ДФС-8 (три модификации) с дифракционными решетками и дифракционный спектрограф ДФС-452. [c.181]

Схема измерений ясна из рис. 1. Плазмотрон помещался непосредственно на рельсе спектрографа. Изображение струи было повернуто на 90 по отнощению к оси струи при помощи поворотной системы, описанной в [4]. Выбор среза струи для съемки производился перемещением плазмотрона по вертикали при помощи микрометрического устройства. Струя проектировалась на щель спектрографа кварцевым конденсором (фокусное расстояние 200 мм) с увеличением 2,5 — 3. Освещенность щели можно было изменять при помощи диафрагмы, установленной на конденсоре. [c.197]

Спектрограф кварцевый, средней дисперсии. [c.301]

Спектрограф кварцевый типа ИСП-30. [c.47]

Спектрограф кварцевый, средней дисперсии ИСП-22 или ИСП-28. [c.367]

Спектрограф, кварцевый, средней дисперсии ИСП-28 или ИСП-22 с трехлинзовой системой освещения и трехступенчатым ослабителем. [c.461]

Спектрограф кварцевый, ИСП-22 (ИСП-28) с однолинзовым конденсором. [c.462]

Для определения средне- и труднолетучих примесей проба испаряется полностью в электроде (аноде) дуги постоянного тока (10 а). Вначале готовят смесь из 4 весовых частей угольного порошка и 1 части окиси никеля. Далее 20 мг окиси титана тщательно перемешивают с 20 мг указанной смеси количества полученного образца достаточно для двух параллельных с.ъе.мок. Размеры кратера в аноде диаметр 2 мм, глубина 5 мм. Электрод обтачивается до диаметра 4 мм, длина обточенной части 10 ММ, общая длина анода 16 мм. Подставной электрод— угольный стержень диаметром 6 мм, заточенный на конус. Спектрограф — кварцевый, средней дисперсии, используется 154 [c.154]

Спектрограф кварцевый ИСП-30 (или ИСП-28) с трехлинзовой систем( й освещения щели и трехступенчатым ослабителем. [c.20]

Техника измерений интерференционным методом в УФ-области с применением фотографирования обеспечивает точность порядка 10" до предела прозрачности слоя жидкости. Такую же точность дает в УФ-области и метод Обреимова, но устанавливаемые в этом случае перед входной щелью спектрографа кварцевые кюветы требуют значительно большего количества образца. [c.213]

Спектрограф кварцевый средней дисперсии (ИСП-22, ИСП-28 или любой другой с такими же параметрами). Система освещения — трехлинзовая, устанавливается согласно инструкции, прилагаемой к прибору. [c.377]

Напряжение 220 в, ток дуги 5—6а, промежуток в разряднике 0,7—0,8 мм, аналитический промежуток 2 лш. Постоянный электрод — медный стержень с диаметром 7—10 лш, заточенный на усеченный конусе рабочей площадкой с диаметром 1,5лш, Спектрограф кварцевый, средней дисперсии, ширина щели спектрографа 0,015—0,02 лш. Спектры снимают с трехлинзовой конденсорной системой или без конденсора при расстоянии 180—200 мм от дуги до щели. Предварительный обжиг 30 сек. Экспозиция определяется чувствительностью фотопластинки (спектральные типа I). Используется аналитическая пара линий А1 3082,16 — Fe 3083,74 А границы определяемых содержаний алюминия 0,02—1,5%.Относительная ошибка метода 3,5—5% [212а]. [c.150]

Напряжение 220 в, I = 3—3,5а, С = 0,005—0,01 мкф, катушка индуктивности отключена. Аналитический промежуток2,5лш, постоянный электрод — пруток электролитической меди с диаметром 3—4 лш. Применяется спектрограф кварцевый, средней дисперсии, ширина щели спектрографа 0,025 лш. Предварительное обыскривание в течение 60 сек., экспозиция зависит от чувствительности пластинки (спектральные типа I). Используется аналитическая пара линий А1 3082,16 — Fe 3083,74 А. Относительная ошибка метода 3,5%. [c.150]

Источником возбуждения служит генератор ДГ-1 или ДГ-2 в дуговом режиме (ток дуги 4 а, рабочий промежуток 3 мм). Подставной электрод угольный, заточенный на усеченный конус. Спектрограф — кварцевый, средней дисперсии, с трехлинзо-В ОЙ системой освещения. Ширина щели спектрографа 0,010 мм. Промежуточная диафрагма — круглая или прямоугольная, высотой 5 мм (в зависимости от чувствительности фотопластинок типа I). Продолжительность съемки при определении циркония 60 сек, при определении остальных элементов 30 сек. Предварительный обжиг не производится. Аналитические пары линий А1 2660,39 —Ре 2635,81 Т 3072.97 — Ре 3068,18 Т1 2841,94 — Ре 2846,83 Сг 3014,92 — Ре 2996,39 2г 2837,23 — Ре 2830,96 5п 2839,99 —Ре 2840,42 Си 2824,37 — Ре 2817,50 Мп 2933,06 — [c.47]

В качестве источника возбуждения служит дуга постоянного гока (6 а). Образец в количестве 20 мг помещают в кратер анода (размеры кратера диа.метр 3,5 лж, глубина 5 мм). Катод — угольный стержень, заточенный на усеченный конус. Спектрограф— кварцевый, средней дисперсии, ширина щели 0,005. мм. Освещение щели — с помощью однолинзового конденсора (проектируется центральная часть дуги), фотопластинки — типа П, Фотографирование спектров —в течение 60 сек, без предварительного обжига. [c.147]

Спектрограф кварцевый ИСП-28 (ИСП-22) с трехлинзо-пой системой освещения щели. При определении менее 2.10 % бора в двуокиси кремния используют однолинзовое освещение. [c.94]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология