Конденсоры кварцевые

Оптическая с.хема прибора дана на рис. 150. Свет от источника излучения / проектируется конденсором 2 и плоским зеркалом 3 на входную щель прибора 4. Изображение входной щели сферическим зеркалом 5 фокусируется на кварцевую призму 6 с зеркальной [c.203]

Свет от источника света 1 (рис. 24) кварцевым конденсором 2 проектируется на конденсор 3 с револьверной диафрагмой. Конденсор 3 проектирует свет при помощи посеребренного снаружи зеркальца 4 на конденсор 5, помещенный на оправе входной щелн прибора 6. [c.38]

Свет от источника света / (рис. 21) проектируется конденсором 2 и плоским зеркалом 3 на входную щель прибора 4. Изображение входной щели сферическим зеркалом 5 фокусируется на кварцевую призму 6 с зеркальной гранью. Свет, разложенный в спектр, вновь проектируется сферическим зеркалом 5 на нижнюю часть щели 4, которая вырезает из спектра монохроматический участок. При вращении призмы на плоскости выходной щели изображение спектра будет [c.34]

Свет ОТ источника света I (рис. 24) кварцевым конденсором 1 [c.38]

Свет от ртутно-кварцевой лампы 1 (рис. 27) через тепловой 2 и световой 3 фильтры попадает на кювету 4 с исследуемым веществом. Излучение, рассеянное веществом, конденсируется линзой конденсора 5 на щель спектрографа 6. На оправе конденсора крепятся два раздвижных кожуха, предотвращающих попадание света из помещения в спектрограф. Ширина щели регулируется от О до 0,3 мм при помощи микрометрического винта с ценой деления 0,001 мм. Щель находится в фокальной плоскости объектива коллиматора 7. Щель рекомендуется устанавливать вращением маховичка в сторону ее увеличения. Высота щели ограничивается специальной диафрагмой с фигурными вырезами. [c.41]

Световой поток от источника света / (рис. 18) проектируется конденсором 2 и плоским зеркалом 5 а входную щель прибора 6. Изображение входной щели сферическим зеркалом 7 фокусируется на кварцевую призму 8 с зеркальной гранью. Световой поток, разложенный в спектр, отражается от зеркальной грани, вновь проходит через призму и проектируется сферическим зеркалом 7 на нижнюю часть щели 6, которая вырезает из спектра монохроматический участок. При повороте призмы на плоскости выходной щели смещается изображение спектра, а выходная щель таким образом, выделит другой участок спектра. Монохроматический световой поток. Рис. 18. Оптическая схема спектрофотомет- вышедший ИЗ щели, попада-ров СФ-4 и СФ-5 ет на кювету 4 с поглощаю- [c.38]

В комплекте кварцевого спектрографа (фокусное расстояние объектива коллиматора 703 мм) имеется трехлинзовая система с фокусными расстояниями конденсоров (считая от источника света) 75, 150 и 275 мм. Определите I) расстояние от первых двух конденсоров и источника света до щели, 2) с каким увеличением изображение источника света проектируется на объектив коллиматора. [c.117]

Свет от источника 1 падает на зеркало-конденсор 2, которое собирает и направляет пучок лучей на плоское зеркало 3, поворачивающее лучи на 90° и направляющее их через защитную кварцевую пластинку 4 на входную щель монохроматора 5. Зеркальный объектив — колли- [c.257]

Оптическая схема прибора представлена на рис. 17.7. Свет от источника / попадает на зеркальный конденсор 2, затем на плоское зеркало 3, которое отклоняет поток лучей на 90° и направляет его в щель 4 (автоколлимационного монохроматора с углом 30° при вершине), защищенную пластинкой 5. Прошедший через щель свет попадает на диспергирующую призму 7, разлагающую его в спектр диспергированный поток направляется на объектив 6, который фокусирует лучи в щель 8. Призма соединена с помощью специального механизма со шкалой длин волн. Поворачивая призму вращением соответствующей рукоятки на выходе монохроматора, получают монохроматический поток света заданной длины полны, который, после прохождения щели 8, кварцевой линзы 9, фильтра 10, поглощающего рассеянный [c.338]

Ток дуги 5а, аналитический промежуток 2 лш. Постоянный электрод— медный пруток с диаметром 7 мм, заточенный на усеченный конус с площадкой диаметром 2 мм. Спектры снимают на кварцевом спектрографе средней дисперсии с освещением щели через цилиндрический конденсор при нерезком изображении источника на щели. Ширина щели спектрографа 0,020 лш. Предварительный обжиг в течение 20—30 сек., экспозиция 30—40 сек. Применяются фотопластинки диапозитивные или спектральные типа I. Аналитическая пара линий А1 3082,16 — Fe 3055,27 А и Al 3082,16—Fe 3116,64 A. Определяемые пределы 0,015—1,5% алюминия, относительная ошибка 3,3%. [c.150]

Прибор состоит из монохроматора, кюветного отделения, двух сменных источников излучения, усилителя и стабилизатора (рис. 49). От источника 1 излучение попадает на зеркальный конденсор 2, направляющий его на плоское поворотное зеркало и дающий изображение источника излучения в плоскости входной щели 4- Через входную щель и кварцевую пластинку 5 излучение [c.360]

На рис. 107 представлена оптическая схема спектрофотометра СФ-16. Свет от лампы 1 падает на вогнутое зеркало-конденсор 2, которое собирает и направляет пучок лучей на плоское вращающееся зеркало 3. Через защитную кварцевую пластинку 4 свет проходит через входную щель монохроматора 5. Зеркальный объектив 6, в фокусе которого расположена щель, отражает параллельный пучок лучей на кварцевую диспергирующую призму 7 с отражающей задней гранью. Свет разлагается призмой в спектр и затем обратно направляется на зеркальный объектив 6. Путем поворота призмы 7 вокруг своей оси получают на выходной щели монохроматора 8 лучок лучей различной длины волны. Монохроматический пучок света проходит кварцевую линзу 9, светофильтр 10, кювету с раствором 11, линзу 12 и падает на светочувствительный слой фотоэлемента 13. Возникающий в фотоэлементе под действием световой энергии ток усиливается и регист- [c.158]

Свет от лампы, пройдя через конденсор и поляризатор, разделяется на два пучка один из них проходит через кварцевую пластинку, защитное стекло, кювету и анализатор, а другой только через защитное стекло, кювету и анализатор. Вращением анализатора устанавливают обе половины поля зрения на одинаковую освещенность (рис. 5.8, а). Если между анализатором и поляризатором ввести кювету с раствором оптически активного вещества, то равенство освещенности обеих половин поля зрения нарушается (рис. 5.8, б). Его можно восстановить, если повернуть анализатор на угол, равный углу поворота плоскости поляризации (рис. 5.8,6). [c.83]

Кварцевый спектрограф ИСП-28. Спектрограф ИСП-28 используют для получения спектров в интервале длин волн = 200— 600 нм. На нем проводят качественный и количественный анализы металлов, сплавов, руд, минералов и других материалов. На рис. 126 показана оптическая схема прибора. Свет от источника 1 (дуга или искра) через трехлинзовый конденсор 3—5, защищенный от брызг металлов кварцевой пластинкой 2, направ- [c.180]

ИСТОЧНИК света, 2—конденсор, 3—зеркало, 4—щель, 5—кварцевая пла стинка. б—объектив, 7—призма, 8—линза, Р—светофильтр, кювета, и—кварцевое стекло, 12—шторка, J3—фотоэлементы [c.62]

Для регистрации флуоресцентного излучения используется установка, которая применяется и при определении других флуоресцирующих комплексов р. 3. э. и соединений (рис. 10). Анализируемый раствор находится в кварцевой кювете, помещаемой в светонепроницаемой камере с двумя отверстиями. Через одно отверстие под углом 45° на переднюю стенку кюветы падает возбуждающее излучение ртутной лампы СВД-120 А, снабженной светофильтром УФС-1 и кварцевым конденсором. Через другое отверстие передняя стенка кюветы проектируется на входную щель спектрографа ИСП-51, снабженного фотоэлектрической приставкой ФЭП-1. При анализе производят запись полос Ей с максимумом при 612 ммк, ТЬ — 543 ммк в растворах проб и проб с добавками известных количеств определяемых элементов. Метод позволяет определять 0,1—0,2% Ей и ТЬ в смеси окислов других р. 3. э. [c.103]

ИСТОЧНИК света 2—конденсор 3—зеркало 4—входная щель 5—кварцевая пластинка б—зеркальный объектив 7—кварцевая призма —выходная щель 5 —кварцевая линза фильтр //—кювета 12—защитная пластинка /3—фотоэлемент. [c.102]

Кварцевый спектрограф средней дисперсии (ИСП-22 или ИСП-28) с трехлинзовым конденсором. [c.84]

Спектры фотографируют с экспозицией в 1,5 мин. при помощи кварцевого спектрографа средней дисперсии (ИСП-22 или ИСП-28 ) с трехлинзовым конденсором. Ширина щели 0,015 мм. Промежуточную диафрагму подбирают таким образом, чтобы почернение фона вблизи линии меди Си I 3247 A было 0,4—0,5. [c.86]

Схема установки, использовавшейся в работе [280], приведена на рис. 97. Реакция проводилась в термостатированной кювете 8 с плоскопараллельными окнами. Для освещения использовалась ртутно-кварцевая лампа ДРШ-250. Свет (К > 420 ммк) проходил через кварцевый конденсор 2, тепловой светофильтр 3 и фокусировался на диафрагму 4. Параллельный пучок создавался при помощи объектива 5, за которым располагался центральный затвор 7, служивший для прерывания света, между объективом и [c.212]

Съемка спектров производится на кварцевом спектрографе ИСП-22 фотопластинки — спектрографические типа II, чувствительность И ед. ГОСТа. Источником возбуждения спектра служит генератор дуги переменного тока ДГ-1. Условия съемки щель спектрографа — 0,015 мм, диафрагма 3-линзового конденсора— [c.8]

Световой поток от источника излучения 9 (рис. 25) кварцевым конденсором 8 проектируется на конденсор 7 с диафрагмой. Конденсор 7 проектирует световой поток при помощи зеркала 6 на конденсор 5, помещенный на оправе входной щели прибора 4. Изображение освещенной снаружи входной щели отражается плоским зеркалом 11 и проектируется сменным объективом 12 на сменную призму 13. При двойном прохождении светового потока через призму с зеркальной задней гранью излучение разлагается в спектр, который проектируется объективом 12 на фотопластинку 10. Вслед-С1вие большого расстояния хода луча близко расположенные спектральные линии на фотографической пластинке получаются раздельно. [c.50]

В комплекте кварцевого спектрографа имеется однолиизовый кварцевый конденсор (Г 75 мм, световой диаметр 25 мм). Как нужно установить этот конденсор и источник света, если использовать способ освещения с получением изображения на щели Как можно в этом случае П[)именит[1 насадочную линзу из трехлинзовой системы (см. упражнение 5) для устранения виньетирования [c.117]

Напряжение 220 в, ток дуги 5—6а, промежуток в разряднике 0,7—0,8 мм, аналитический промежуток 2 лш. Постоянный электрод — медный стержень с диаметром 7—10 лш, заточенный на усеченный конусе рабочей площадкой с диаметром 1,5лш, Спектрограф кварцевый, средней дисперсии, ширина щели спектрографа 0,015—0,02 лш. Спектры снимают с трехлинзовой конденсорной системой или без конденсора при расстоянии 180—200 мм от дуги до щели. Предварительный обжиг 30 сек. Экспозиция определяется чувствительностью фотопластинки (спектральные типа I). Используется аналитическая пара линий А1 3082,16 — Fe 3083,74 А границы определяемых содержаний алюминия 0,02—1,5%.Относительная ошибка метода 3,5—5% [212а]. [c.150]

Для выполнения флуориметрического анализа используют спектрофлуориметры, принцип работы которых заключается в следующем свет от ртутно-кварцевой лампы через первичный светофильтр и конденсор падает на кювету с раствором испытуемого вещества последнее начинает флюоресцировать. Квднты возбужденного света проходят через вторичные светофильтры и падают на фотоэлемент, соединенный с чувствительным гальванометром, отмечающим количество поступающего на фотоэлемент света. [c.46]

Порошкообразную пробу вводят в разряд в виде брикетов, содержащих смесь пробы с железным порошком в отношении 1 1. От тщательно перемешанной в агатовой ступке смеси отбирают навеску в 1 г и прессуют ее в таблетку диаметром 7 мм, высотой 4 мм в стальной прессформе при давлении 3 т1см . Для возбуждения спектров используют генератор ДГ-1 или ДГ-2 в дуговом режиме сила тока 14—15 а. Брикет помещают на металлическую подставку. Несмотря на применение разряда повышенной мощности, проба-таблетка к металлической подставке не приваривается. Величина аналитического промежутка 3,0жж, величина промежутка разрядника 0,6 жж. Подставной электрод — угольный или графитовый стержень диаметром 8—12 жж, заточенный на полусферу. Съемку производят на пластинках ((спектрографические тип III при ширине щели спектрографа 0,02 жж, в течение 15—40 сек. в зависимости от чувствительности фотопластинок. Предварительный обжиг не производится. Для того, чтобы предохранить передний конденсор от брызг расплавленного металла, целесообразно установить экран с отверстием диаметром 5—7 мм на половине расстояния от источника до линзы (так, чтобы не уменьшить сечение пучка света, ограничиваемого диафрагмой на конденсоре или использовать защитную кварцевую пластинку. [c.146]

I - насадочная колонка из кварцевого стекла, 2 - защитный слой полимера 3 - выходная щель монохроматора 4 - насадка 5 - пористый кварцевый фильтр 6 - источник света 7 - кусирующий конденсор, 8 монохроматор 9 - фотодетектор (например фотоумножитель) [c.94]

Возбуждающий свет от ртутно-кварцевой лампы (ДРШ-250, ДРШ-500 или ПРК-2) через фильтр, пропускающий УФ-излучение в области 366 и 313 нм (УФС-1, УФС-2 при определении только БП можно применять фильтры УФС-3, УФС-6, пропускающие только 366 нм), фокусируют конденсором па пробирку с раствором. Пробпрку с исследуемым раствором погружают в сосуд Дьюара с жидким азотом так, чтобы она касалась его передней стенки. Свет люминесценции фокусируют конденсором на входную щель спектрографа. Спектр фотографируют через диафрагму Гартмана ласточкин хвост , в средней части — спектр исследуемого раствора, по краям — спектр сравнения. Спектром сравнения служит дуговой спектр железа (или ртути) Обычно уже по виду сиектра можно 1гдентнфицировать содержащийся во фракции углеводород. [c.292]

Вверху слева — положение твердого непрозрачного образца Ах, А г и Ал — кварцевые конденсоры Bi, Бг, Вз и Б — алюмпнированные плоские зеркала Si и Bz — алюминированные вогнутые зеркала fi и Гг — плоские отражающие решетки Д1, Дг> Дз И Д4 регулируемые щели — детектор, фотоумножитель 1Р21 R A (выход на усилитель и самописец). [c.287]

Химико-спектральное определение примесей проводилось на кварцевом спектрографе средней дисперсии ИСП-22 с трехлинзовым конденсором с шириной щели 15 мк. Дугу постоянного тока возбуждали при помопщ ДГ-2. Оптическую плотность спектрограмм измеряли на микрофотометре МФ-2. [c.202]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология