Конденсор однолинзовый

Условия для получения спектров спектрограф ИСП-28, щель прибора 0,01 мм, конденсор однолинзовый, генератор дуги переменного тока ДГ-1 (ПС-39), сила тока 10—12 а, экспозиция 40 сек. [c.337]

Диспергирующая система прибора состоит из трех стеклянных призм. Две призмы 63-градусные и одна призма с постоянным углом отклонения. При переходе от одной области спектра к другой при вращении рукоятки каждая призма вращается со своим столиком самостоятельно, так что луч, попадающий в центр кассеты, проходит все призмы под углом наименьшего отклонения и испытывает общее отклонение точно на 90 °. Вращение контролируется по шкале, которая показывает число оборотов. Соответствующие значения длин волн приводятся в аттестате прибора. В комплекте спектрографа имеется трехлинзовая ахроматическая конденсорная система и однолинзовый ахроматический конденсор. В комплекте длиннофокусных камер также есть осветительные конденсоры, рассчитанные для работы с этими камерами. [c.135]

После того как найдено правильное положение электродов, штатив отодвигают на нужное расстояние от щели и ставят первый конденсор. Тубус с конденсором перемещают с тем, чтобы получить на крышке щели спектрографа четкое изображение дуги или искры. Центр изображения должен находиться в центре крышки. В этом положении закрепляют наружную трубу и в дальнейшем внутренний тубус с конденсором перемещают только вдоль оптической оси. При работе с однолинзовой системой освещения перемещать конденсор вообще больше не нужно. [c.141]

Обычно основное требование к осветительной системе при качественном анализе — освещение щели той областью источника света, в которой отношение интенсивности линии к сплошному свету максимально. Необходимо обращать внимание на экранирование сплошного излучения, идущего от конца электродов. Наиболее часто применяют однолинзовый конденсор, который проектирует увеличенное изображение нужного участка спектра на щель или трехлинзовая система освещения. [c.220]

Расстояние между электродами поддерживают равным 1,5—2 мм на щель спектрографа следует проектировать прианодный участок разряда. Диафрагмирование однолинзового конденсора следует производить таким образом, чтобы плотность почернения фона в области 290,00 нм равнялась 0,4—0,5 ед. Продолжительность экспонирования 45—90 сек. Кроме того, фотографируют спектр железа через девятиступенчатый ослабитель с использованием трехлинзовой системы освещения. [c.147]

Двуокись циркония То же (8 а) Кварцевый спектрограф ИСП-22 с однолинзовым конденсором [c.204]

Однолинзовый конденсор. Такой конденсор состоит из простой или ахроматической линзы. Для видимой области спектра она изготовляется [c.138]

Размеры и фокус однолинзового конденсора определяются расстоянием между щелью спектрального прибора и источником света, а также выбранным коэффициентом увеличения х. Если источник находится на расстоянии Ь от щели и нужно спроектировать его на щель с увеличением в я раз, то [c.138]

Рис. 5.10. Освещение щели спектрального прибора с помощью однолинзового (а) и зеркального (б) конденсоров.

Если же мы вынуждены для фокусировки пользоваться относительно слабым источником небольших размеров, то приходится применять для заполнения коллиматора конденсорную систему. Обычно вполне удовлетворительные результаты дает однолинзовый (лучше ахроматический) конденсор, проектирующий на щель увеличенное изображение источника. [c.150]

Спектрограф кварцевый, ИСП-22 (ИСП-28) с однолинзовым конденсором. [c.462]

Первоочередной интерес представляет обычно определение вредных примесей свинца, олова, висмута, сурьмы, кадмия и фосфора. Их можно определять, начиная с содержаний Ю —10 %, Используется метод фракционной дистилляции из канала угольного электрода — анода при токе 8 а. Улучшение фракционной дистилляции достигается добавлением к окисному образцу смеси серы и углекислого натрия (1 5). В кратер анода диаметром 4 лл и глубиной 10 мм вводят 60 мг подготовленной смеси. Катод — угольный стержень. Межэлектродный промежуток 1,5—2 мм, спектральный прибор — кварцевый спектрограф средней дисперсии. Применяется однолинзовый конденсор, на щель проектируется резкое изображение источника, увеличенное в четыре раза. Рекомендуется учет фона, в связи с чем необходимо строить характеристические кривые фотопластинок. [c.154]

Спектрограф — ИСП-51 с камерой / = 270 мм, ширина щели— 0,05 мм, освещение ес при помощи однолинзового конденсора. Подставной электрод — угольный стержень, заточенный на усеченный конус с площадкой диаметром 1 мм. Аналитический промежуток I мм. Фотоматериал — пластинки или пленка Ин- [c.156]

В комплекте кварцевого спектрографа имеется однолинзовый кварцевый конденсор (Р=1Ъ мм, световой диаметр 25 мм). Как нужно установить этот конденсор и источник света, если использовать способ освещения с получением изображения на щели Как можно в этом случае применить насадоч-ную линзу из трехлинзовой системы (см. упражнение 5) для устранения виньетирования [c.129]

Если требуется определять микроколичества каких-либо элементов в пробе, то рекомендуется для освещения щели использовать однолинзовый конденсор с фокусировкой изображения источника на щель прибора. Пробу вводят в разряд в этих случаях так, чтобы обеспечить ее полное выгорание за минимальное время. Например, 1 капля раствора, высушенная на поверхности угольного электрода сгорает за 15—20 сек. Фотоматериалы выбирают с максимальной чувствительностью для анализируемой области спектра и пологой характеристической кривой. [c.134]

Если изображение дугового разряда источника расположено в центре объектива камеры, это значит, что источник находится на оптической оси прибора. Тогда можно поставить линзы на место, сфокусировав изображение источника на щель в случае однолинзового конденсора. [c.166]

Рнс. 104. Однолинзовый конденсор при нерезкой фокусировке источника I а щели спектрального аппарата Р—источник, К—конденсор, 5 — щель, Ь — коллиматорный объектив, В — экран для выделения зон источника. [c.111]

Весьма распространенной системой освещения щели является так называемый трехлинзовый конденсор (рис. 102, а). Эта система обладает двумя преимуществами перед однолинзовой во-первых, возможностью устранения света от электродов и, во-вторых, значительным ослаблением влияния бегания дуги. Недостатком этой системы является ее значительно меньшая светосила (в 4—8 раз) по сравнению с однолинзовой. [c.162]

Определение брома с примоненпем полого катода [30]. Для анализа используют разрядную трубку из молибденового стекла, имеющую два ввода из молибденовой проволоки. В пробку трубки, которая благодаря вакуумной смазке шлифа свободно вращается, впаяны шесть стерженьков из молибдена диаметром 1,2—1,5 мм, на которых укреплены полые катоды из нержавеющей стали. Молибденовые стержни контактируют с пружинящей никелевой пластинкой, укрепленной на вводе из молибденовой проволоки. Анодом служит никелевая пластинка. Изображе-нпе полого катода проектируется однолинзовым конденсором на щель спектрографа ИСП-51 с камерой Р= 210 мм. Спектр фотографируют на пластинку микро . Время экспозиции 2 мин. В полость катода вводят 0,2 мл анализируемого раствора, который выпаривают нри 90—95° С, вакуумируют трубку до 10 —10 мм рт. ст. и заполняют гелием до 15 мм рт. ст. В качестве источника тока применяют два выпрямителя типа УИП-1, соединенных последовательно. Напряженпе выпрямленного тока 1200 в, ток разряда 250 ма. Разряд в полом катоде очень стабилен, и это позволяет строить градуировочный график в координатах абсолютное почернение линии 481,671 нл — логарифм концентрации бромида в растворе. Средняя относительпая ошибка измерения 20—25% [c.148]

К онденсорные системы бывают, как правило, однолинзовые или трехлинзовые. При однолинзовом конденсоре изображение источника света проектируется на входную щель коллиматора, которая при этом освещается наиболее ярко. Недостаток способа — неравномерность освещенности щели по высоте в том случае, когда источник света имеет неравномерную яркость это препятствует установке на щели калиброванного нейтрального фильтра, обладающего различным светопропусканием вдоль щели (ступенчатый ослабитель). Поэтому более широкое распространение получила трехлинзовая конденсорная система (рис. 16.1), первая [c.139]

Наивысшая чувствительность определения гафния в цирконии при работе на спектрографе КСА-1 с однолинзовым конденсором была достигнута при следующих условиях. Пробу двуокиси циркония (20 мг), смешанную с. 10 мг графитового порошка, плотно набивают в канал графйтового электрода (диаметр 4 мм, глубина канала 5 мм, диаметр 2 мм) и сжигают в дуге постоянного тока в 10 а. Электрод с пробой служит анодом дуги верхний электрод — графятовый стержень, заточенный на конус. На щель спектрографа (ширина 0,01 мм) проектируется сильно увеличенное изображение центральной части межэлектродного промежутка, Время экспозиции 2 мин. Каждая спектрограмма на фотопластинке спектральная тип I, получается при двухкратном фотографировании на одно место пластинки спектров двух пар электродов. Аналитическая пара линий Н 2641,41 — Хт 2626,0. Градуировочный график рекомендуется строить в координатах 1 С, lg с учетом фона на спектрограммах. Вероятная ошибка единичного определения 0,003 — 0,03% Н составляет 20—30% при определении более 0,03% Н1 ошибка снижается до 10%. [c.186]

Двуокись циркония + +10% ВаСОз +5-10-2% Дуга постоянного тока (12 а) КСА-1 с однолинзовым конденсором и ИСП-51 (/—270) 1.10-8-1-10-1 А1, N1, Мо, Мд, Сг, 8п, Т1 1.10-2—1.10-1 Са 3.10-3 3-10-1 Ре, 81, К 3-10-4—3-10-2 Мп 1.10-3—3.10-2 Си, Na, РЬ 1.10-4—3-10- Ве, и Средняя квадратичная ошибка для Ре, 81, N1, Сг,Мп, 8п-10%,А1-12% Ве, М , Мо, Са, Ы, На К—15% Т1— 16% Сц и РЬ —20% [225] [c.205]

Установка осветительных линз. Если применяется однолинзовый конденсор, то расстояние от источника до щели Ь должно удовлетворять условию Ь 4i к ВДе Рк — фокусное расстояние конденсора. Устанавливают конденсор так, чтобы он давал уменьшенное изображение источника на середине щели. Если при правильной установке рельса и источника переместить конденсор так, чтобы на щель снроектировалось увеличенное изображение источника, то центр его снова должен совпадать с центром щели. Щель удобно закрывать крышкой с белой поверхностью и крестом, центр которого совпадает с центром щели. [c.147]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

В случае необходимости достижения минимальных абсолютных пределов обнаружения (см. 3.1.1) важную роль, наряду с высокой разрешающей способностью, играет светосила спектрального прибора. С этой точки зрения значительными преимуществами, по сравнению с обычными дифракционными приборами, характеризуются спектрографы со скрещенной дисперсией [788]. Например, выпускаемый отечественной промышленностью спектрограф СТЭ-1, который по практической разрешающей способности не уступает в ультрафиолетовой области спектра прибору ДФС-8 (с решеткой 600 штр1мм), характеризуется светосилой, превышающей светосилу приборов ИСП-22, ДФС-8 и ДФС-13. В связи с этим спектрограф СТЭ-1 был успешно использован для снижения абсолютных пределов обнаружения примесей в растворах [846]. Для сравнения пределов обнаружения, достигаемых на приборах ИСП-22 и СТЭ-1, проводили одновременное фотографирование спектра на двух приборах, щели которых освещали однолинзовыми конденсорами. Применяли один из вариантов высокочувстйНтельного метода анализа растворов [270]. [c.81]

Опыт анализа сплава алии коктактно-электроискровым отбором пробы свидетельствует о возможности уменьшить погрешность определений примерно вдвое [25]. По-видимому, это связано не только с увеличением наклона графиков, как это отмечается в работе [25], но и с лучшим усреднением материала пробы, так как его отбирают с большего участка. Пробу отбирают при помощи портативного приспособления в течение 1 мин 45 сек. Электродами при этом служат магниевые стержни диаметром 8 мм, заточенные на полусферу. Спектры регистри руются кварцевым прибором средней дисперсии с однолинзовым конденсором (ширина щели 0,015 мм) и генератором конденсированной искры (ИГ-2 или ИГ-3), включенным по сложной схеме (С = 0,01 мкф, L = 0,55 мгн) в течение 30 сек, без предварительного обыскривания. [c.111]

В качестве источника возбуждения служит дуга постоянного гока (6 а). Образец в количестве 20 мг помещают в кратер анода (размеры кратера диа.метр 3,5 лж, глубина 5 мм). Катод — угольный стержень, заточенный на усеченный конус. Спектрограф— кварцевый, средней дисперсии, ширина щели 0,005. мм. Освещение щели — с помощью однолинзового конденсора (проектируется центральная часть дуги), фотопластинки — типа П, Фотографирование спектров —в течение 60 сек, без предварительного обжига. [c.147]

Для возбуждения спектра выбирают дугу. Пластинки следует взять марки Изопанхром или Изоортохром , чтобы иметь возможность наблюдать все линии спектра бария. Поскольку в пробе предполагается на>тичие железа, выбирают ширину ш,ели не больше 0,01 мм, чтобы линию бериллия 2348 А можно было отличить от линии железа, расположенной рядом. Выбирают осве-ш,ение ш,ели с фокусировкой на объектив с однолинзовым конденсором, силу тока 5 А, экспозицию 40 сек, чтобы молекулярный спектр не закрыл линий бария. [c.176]

Кварцевый спектрограф ИСП-28 дуга переменного тока (220 в, 10 а) межэлект-родный промежуток 3 мм освещение щели однолинзовым конденсором с фокусировкой на объектив ширина щели 0,01 мм пластинки Изоортохром чувствительностью 65 единиц ГОСТ угольные электроды. [c.176]

Употребляют главным образом два типа осветительных систем однолинзовую и трехлинзовую (рис. 102). Осветительные системы для освещения щели называются конденсорами. Однолптовый конденсор обычно устанавливают так, чтобы расстояние от него до источника было больше его фокусного расстояния. Тогда от него на щель падает сходящийся пучок света и на щели получается увеличенное в 1,5—2,0 раза изображение источника. Это изображение слегка расфокусируют, смещая конденсор так, чтобы изображение передвинулось за щель, а на щели получился более или менее равно освещенный кружок. В каждую точку этого кружка попадает свет от всех частей источника света. Это, с одной стороны, хорошо, так как обеспечивается перемешивание свечения всего разряда и спектр не образуется преимущественно от какой-либо одной его части. С другой стороны, сохраняется указанный выше недостаток участие в образовании спектра раскаленных концов электродов. [c.161]

Ослабитель устанавливают перед щелью. На фотопластинке получается широкий спектр, разделенный на девять параллельных полос с разной плотностью почернения. Освещенность каждой полосы спектрограммы пропорциональна прозрачности ступени ослабителя, через которую получено изображение данной полосы. Необходимо строго соблюдать равномерность освещения по всей высоте щели, которую закрывает ослабитель. Это достигается таким расположением однолинзового конденсора, при котором из него выходит слабо сходящийся (почти параллельный) пучок света, для чего источник света должен быть помещен вблизи фокуса конденсора. Можно применить бесконденсорное освещение щели. При расстоянии источника 200—300 мм от щели ее можно считать рав-ноосвещенной по всей высоте. Но это потребует больших экспозиций. [c.174]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология