Индексы дифракционные сеток

Ясно, что разность хода лучей, отраженных сетками, проходящими одна через узел О, другая через ближайший узел на оси X, будет в h раз больше, т. е. составит nh длин волн. Это и будет дифракционный индекс р. Таким образом, p — nh. Аналогично q = nk, r—nl. Если, например, индекс сеток (321), а порядок отражения 2, то индекс дифракции 642. (Дифракционные индексы пишутся без скобок.) [c.189]

Дифракционные индексы р, q, г определяют разность хода лучей (в длинах волн), рассеянных двумя соседними узлами решетки, расположенными на осях X, 7 и Z соответственно. Порядок отражения п определяет разность хода лучей, отраженных двумя соседними узловыми сетками (hkl). Между этими параметрами имеется простая связь p = nh, q = nk, r = nl (см. стр. 188). [c.261]

Построение координатной сетки. Координатную сетку строят предварительно расчетно-графическим способом для конкретных условий съемки длины волны излучения X и угла данного дифракционного кольца с индексами интерференции HKL. [c.175]

Гониометрическая головка устанавливается горизонтально на дуге приставки (на отметке 90°), а барабан, несущий головку, поворачивается так, чтобы одна из юстиро-вочных дужек головки оказалась расположенной в горизонтальной плоскости. Выбирается одно из отражений от сетки (010) и рассчитываются установочные углы дифрактометра т=2д и ф= . Желательно выбрать отражение со сравнительно небольшим значением индекса к с тем, чтобы погрешность в предшествовавшем определении параметров решетки не могла существенно сказаться на установочных углах. Столик с приставкой и счетчик устанавливаются на отражение в соответствии с рассчитанными значениями ф и т. После этого небольшими перемещениями кристалла по юстировоч-ной дужке, расположенной в горизонтальной плоскости, следует добиться максимальной интенсивности дифракционного луча. Если в углах ф и т существенных погрешностей нет, эта операция выводит серию сеток (010) в плоскость, перпендикулярную оси головки. Для контроля можно повторить операцию после поворота барабана на 180°. В качестве окончательного следует взять среднее из двух отсчетов, полученных на шкале юстнровочной дуги. [c.428]

Выберем в кристаллике какую-нибудь плоскую атомную сетку. Лучи, отраженные параллельным семейством таких сеток, заполняют поверхность конуса, осью которого служит первичный пучок. Угол полураствори такого конуса равен 20, удвоенному углу из уравнения Вульфа—> Брэгга. Метод порошка поэтому сводится к регистрации углов в, характеризующих ряд отражений, образованных различными семействами плоских сеток. Геометрия дифракционного эффекта в методе порошка не дает никаких сведений об индексах отраженных лучей. [c.93]

Аналогично сетке Грейнингера может быть построена сетка Леонгардта, пригодная для графического определения полярных координат нормалей к отражающим плоскостям ф и р из положения дифракционных максимумов с теми же индексами. [c.206]

Вид получаемой дифракционной картины зависит от ориентации кристалла относительно электронного пучка. В частном случае, когда направление пучка совпадает с направлением в кристалле с целыми индексами Миллера к, к, I (в просвечивающих электронных микроскопах предусматривается возможность ориентации образца путем вращения его по двум перпендикулярным осям на угол, как правило, порядка 30°), микродифрактограмма будет иметь вид центросимметричной сетки дифракционных пятен. В принципе, имея набор таких сечений обратной решетки кристалла, можно установить класс его дифракционной симметрии. Однако чаще исследователь имеет альтернативные модели структур изучаемого кристалла между которыми необходимо сделать выбор, т.е. подобрать модель, отвечающую экспериментальной ЭЛ ектронограмме. [c.258]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология