Порядок отражения

Определение пространственной группы симметрии. Правила погасания. В табл. 3 были приведены правила, определяющие значения индексов 1г, k и I в символах серий узловых сеток в решетках разного типа в примитивной решетке h, k, I — целые числа, не имеющие общего множителя в непримитивных решетках соблюдаются дополнительные правила кратности. Поскольку порядок отражения п может быть любым целым числом, э дифракционные индексы р, q, г равны соответственно п/г, nk и п1, то правила, установленные для h, k, I, легко преобразуются в правила, действующие в отношении индексов р, q, г. Эти правила приведены в последнем столбце табл. 3. [c.70]

С помощью рентгеновских лучей в 1912 г. было установлено в кристаллах наличие плоских сеток, от которых лучи отражаются по закону Вульфа—Брэгга ln=2d sin Qn. В этом выражении Я — длина волны рентгеновских лучей fl — простые числа (1, 2, 3 и т. д.), показывающие порядок отражения d — межплоскостное расстояние 0л — угол отражения соответствующего порядка. [c.11]

В табл. 3 (гл. I, 11) были приведены без доказательства правила, характеризующие численные значения индексов серий угловых сеток в центрированных решетках. На этой основе (при умножении индексов сеток на порядок отражения п) были получены правила погасаний дифракционных индексов для непримитивных решеток. Теперь, используя формулу структурной амплитуды, можно вывести эти правила погасаний из законов расположения атомов в центрированных решетках, а следовательно, действуя в обратном направлении, — и правила, характеризующие индексы узловых сеток. [c.101]

Ясно, что разность хода лучей, отраженных сетками, проходящими одна через узел О, другая через ближайший узел на оси X, будет в h раз больше, т. е. составит nh длин волн. Это и будет дифракционный индекс р. Таким образом, p — nh. Аналогично q = nk, r—nl. Если, например, индекс сеток (321), а порядок отражения 2, то индекс дифракции 642. (Дифракционные индексы пишутся без скобок.) [c.189]

Как только элемент идентифицирован и установлено наличие всех возможных линий рентгеновских серий в первом порядке отражения, на что может потребоваться исследование спектров, полученных с помощью более чем одного кристалла (например, с LiF, Zn L-серия — с РЕТ), исследователь должен обнаружить все возможные пики более высокого порядка, связанные с каждым пиком первого порядка, по всему набору кристаллов. На примере стекла, содержащего тяжелые элементы, видно, что отражения более высоких порядков в L-серии РЬ наблюдаются в конце спектра, полученного с помощью LiF, а также в спектрах, полученных с помощью кристаллов РЕТ и ТАР (рис. 6.13,6 и в). Не обнаружено отражений более высоких порядков РЬ L-сер.ии в спектре, полученном с помощью кристалла стеарата свинца (рис. 6.13,г). Следует отметить, что порядок отражений может принимать значения вплоть до 7, как это показано для кремния на рис. 6.13,2. [c.295]

На системе индицирования останавливаться не будем. Скажем только, что при вращении кристалла вокруг осей а, Ь или с соответственно первый, второй или третий индексы символа на нулевой слоевой линии равны О, на первой — 1 и т. д. При индицировании обязательно будут рефлексы с символом, имеющим общий делитель, например 220. Такой символ обозначает второй порядок отражения от системы плоских сеток [c.111]

В таблице приведены удвоенное межплоскостное расстояние (в А) и интенсивность (в условных единицах) для некоторых кристаллов, применяемых в рентгеноспектральном анализе. Римские цифры означают порядок отражения, значки + , и X означают соответственно сильная , средняя и слабая . [c.168]

Л — длина волны рентгеновского излучения п — порядок,отражения (1, 2, 3,. ..) d — расстояние между плоскостями решетки 0 — угол падения или отражения. [c.443]

Здесь к, к, I — индексы плоскости, которые принято обозначать символом НЫ), а — порядок отражения. Индексы, умноженные на порядок отражения, принято обозначать теми же буквами, что и индексы плоскости, н отличать от последних употреблением символа Нк1 (без скобок ). [c.71]

В котором число т фиксирует в единицах периода идентичности положение некоторой произвольной точки Р на дуге, ЯП — порядок отражения лучей, фокусирующихся в точке В. Определим т так, чтобы ордината точки Р на изогнутом кристалле у была связана с периодом идентичности а соотношением у—та. Тогда условие (7) запишется в виде [c.23]

Нужно иметь в виду, что индексы интерференции Я, К и L не просто индексы плоскости, а произведения их на порядок отражения. Таким образом, плоскости (100) [c.181]

Нулевой порядок отражения [c.422]

Дифракционные индексы р, q, г определяют разность хода лучей (в длинах волн), рассеянных двумя соседними узлами решетки, расположенными на осях X, 7 и Z соответственно. Порядок отражения п определяет разность хода лучей, отраженных двумя соседними узловыми сетками (hkl). Между этими параметрами имеется простая связь p = nh, q = nk, r = nl (см. стр. 188). [c.261]

По найденным для каждого пика значениям 0 и известной длине волны Я применяемого рентгеновского излучения определяют величины межплбскостного расстояния <1, используя уравнение Вульфа— Брегга (величина п — порядок отражения, принимается в этом случае равной 1) или чаще соответствующие справочные таб- [c.83]

Дифракционные максимумы разных гомологов могуг иметь близкие значения в более дальней области углов скольжения. Например, второй порядок отражения парафина с номером 36 соседствует с первым порядком отражения парафина с номером 17. Это вносит свой вклад в размьпххлъ дифракционных максимумов в более дальней области углов 2-й. [c.249]

Следует упомянуть, что некоторыми исследователями (Хоземан и др.) выдвигались гипотезы о паракристаллическом строении целлюлозы в целом, но проведенные в последнее время рентгеноп)афические исследования (Иоелович) с получением на рентгенограммах целлюлозы рефлексов нескольких порядков (в законе Вульфа - Брегга порядок отражения и>1) свидетельствуют о том, что целлюлозу нельзя рассматривать как идеальный паракристалл, для которого порядок отражения должен равняться единице. [c.241]

Уравнение (2) указывает на возможность определения межплоскост-ных расстояний в кристаллах, если известны длины волн рентгеновских лучей X, порядок отражения п и углы скольжения 0. Для первого отражения d=V2sin0i. После открытия Лауэ и вывода основной формулы рентгеновского анализа Бреггами и Вульфом последовало чрезвычайно быстрое развитие структурного анализа. С помощью рентгеновских лучей В. Г. и В. Л. Бреггам удалось определить межатомные расстояния в кристаллах и взаимное расположение атомов для целого ряда веществ, т. е. определить их кристаллическую структуру. Одной из первых была определена структура меди. [c.107]

Надо сказать, что по толщине кристаллы довольно однородны, причем, как видно из последнего рисунка, наблюдаются отражения до второго порядка, хотя известны случаи, когда были обнаружены отражения до четырех порядков. По положению максимумов на кривых интенсивности дифракции (угол отражения 20) с помощью уравнения Брегга пЯ = 2/з1п0 (где п — порядок отражения, Я, — длина волны рентгеновского излучения, I — большой период) можно определить величину так называемого большого периода, которая соответствует толщине кристалла. Исходя из того, что [c.172]

Наконец, может систематически отсутствовать нечетный порядок отражений от нечетных плоскостей, например (100). Осевые пробелы, возникающие вследствие наличия винтовой оси, например 2 , показаны на рис. 15. В этом случае преобразование вокруг винтовой оси второго порядка приводит к образованию вращающейся молекулы, смещенной на половину межнлоскостного расстояния вдоль а, и проекция этой вращающейся молекулы на ось а идентична с проекциями исходных молекул. Эта идентичность сохраняется только [c.39]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология