Дифракционные индексы

Определение пространственной группы симметрии. Правила погасания. В табл. 3 были приведены правила, определяющие значения индексов 1г, k и I в символах серий узловых сеток в решетках разного типа в примитивной решетке h, k, I — целые числа, не имеющие общего множителя в непримитивных решетках соблюдаются дополнительные правила кратности. Поскольку порядок отражения п может быть любым целым числом, э дифракционные индексы р, q, г равны соответственно п/г, nk и п1, то правила, установленные для h, k, I, легко преобразуются в правила, действующие в отношении индексов р, q, г. Эти правила приведены в последнем столбце табл. 3. [c.70]

Таблица 3. Индексы серий узловых сеток и дифракционные индексы в решетках разного типа

Соотношение (3) определяет связь l/d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив l/d на n/d, а индексы (hkl) на pqr, получим связь njd с параметрами решетки и дифракционными индексами. [c.59]

В литературе по рентгеноструктурному анализу дифракционные индексы принято обозначать теми же буквами h, k, I, что и индексы серий плоскостей. Поэтому в табл. 3 и далее в тексте обозначения pqr заменены на hkl [символ дифракционного луча hkl записывается без скобок в отличие от символа узловых сеток (hkl)]. [c.70]

Ясно, что разность хода лучей, отраженных сетками, проходящими одна через узел О, другая через ближайший узел на оси X, будет в h раз больше, т. е. составит nh длин волн. Это и будет дифракционный индекс р. Таким образом, p — nh. Аналогично q = nk, r—nl. Если, например, индекс сеток (321), а порядок отражения 2, то индекс дифракции 642. (Дифракционные индексы пишутся без скобок.) [c.189]

В целом трактовка Брэгга является лишь иной, более формальной интерпретацией той же дифракционной картины. Нетрудно установить и взаимосвязь между параметрами, характеризующими условия Лауэ и уравнение Брэгга. В условиях Лауэ фигурируют дифракционные индексы в уравнении Брэгга — индексы отража- [c.59]

Тип решетки Индексы серий узловых сеток (кк1) Дифракционные индексы ( правила погасаний ) [c.36]

Усовершенствование дифракционной аппаратуры обоих типов (фотографической и дифрактометрической) привело к полной или почти полной автоматизации экспериментальной части структурного исследования. При фотографической технике регистрации используются автоматические микроденситометры — приборы, в которых производится измерение степени почернения пятен лот-снятой и проявленной рентгеновской пленки с одновременным определением координат каждого пятна, а следовательно, и его дифракционных индексов. Прибор работает с управляющей вычислительной машиной, которая не только дает распоряжения о смещениях столика [c.77]

В табл. 3 (гл. I, 11) были приведены без доказательства правила, характеризующие численные значения индексов серий угловых сеток в центрированных решетках. На этой основе (при умножении индексов сеток на порядок отражения п) были получены правила погасаний дифракционных индексов для непримитивных решеток. Теперь, используя формулу структурной амплитуды, можно вывести эти правила погасаний из законов расположения атомов в центрированных решетках, а следовательно, действуя в обратном направлении, — и правила, характеризующие индексы узловых сеток. [c.101]

Если пользоваться монохроматическим пучком лучей, дифракционные условия Лауэ удовлетворяются лишь при определенных ориентациях кристалла. При съемке по методу вращения кристалл проходит через различные такие положения, последовательно возбуждая вторичные лучи с различными дифракционными индексами. После каждого оборота на 360° ситуация повторяется. Пятна рентгенограммы возникают в результате попадания в одни и те же точки пленки большого числа повторных порций дифрагированных лучей. Поскольку вращение кристалла во время съемки производится вокруг одной определенной оси, кристалл проходит не через все возможные для него дифракционные положения. Следовательно, дифракционная картина, получаемая на одной рентгенограмме вращения, в принципе не может быть полной. [c.195]

Богатство дифракционной картины само по себе только желательно чем больше данных нам даст эксперимент, тем с большей уверенностью мы сможем в конечном итоге определить структуру кристалла. Поэтому естественно стремление пользоваться возможно более короткими длинами волн. Однако а этом пути легко можно встретиться с затруднениями при чрезмерно большом числе пятен рентгенограмма останется нерасшифрованной не удастся определить дифракционные индексы каждого пятна. Спрашивается, нельзя ли видоизменить метод съемки таким образом, чтобы существенно уменьшить число пятен на пленке. Очевидно, что для этого необходимо как-то распределить отражения по нескольким рентгенограммам, снимая каждый раз часть дифракционной картины. Пачка таких рентгенограмм по полноте дифракционной картины будет вполне эквивалентна одной рентгенограмме вращения, а по возможности расшифровки окажется значительно удобнее, поскольку каждое пятно будет характеризоваться кроме двух координат на пленке еще и третьей — номером рентгенограммы, на которой оно зафиксировано. [c.203]

ИНДЕКСЫ СЕРИЙ УЗЛОВЫХ СЕТОК И ДИФРАКЦИОННЫЕ ИНДЕКСЫ В ПРИМИТИВНЫХ И НЕПРИМИТИВНЫХ РЕШЕТКАХ [c.259]

Дифракционные индексы р, q, г определяют разность хода лучей (в длинах волн), рассеянных двумя соседними узлами решетки, расположенными на осях X, 7 и Z соответственно. Порядок отражения п определяет разность хода лучей, отраженных двумя соседними узловыми сетками (hkl). Между этими параметрами имеется простая связь p = nh, q = nk, r = nl (см. стр. 188). [c.261]

ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИОННЫХ ИНДЕКСОВ ПРИ ПЕРЕХОДЕ ОТ ОДНОЙ КООРДИНАТНОЙ СИСТЕМЫ [c.264]

Преобразование индексов сеток и дифракционных индексов [c.265]

Индексы сеток преобразуются при помощи тех же коэффициентов, которыми задается переход от одной координатной системы к другой. Понятно, что по тем же правилам происходит и преобразование дифракционных индексов. [c.265]

Как индексы сеток, так и дифракционные индексы должны быть связаны аналогичными равенствами [c.267]

Далее мы будем обозначать дифракционные индексы теми же буквами й, к, I, что и индексы сеток, но без скобок. [c.268]

Тип решетки Индексы серий узловых сеток (hkl) Дифракционные индексы АА/ (.правила погасаний") [c.36]

В целом трактовка Брэгга является лишь иной, более формальной интерпретацией той же дифракционной картины. Нетрудно установить и взаимосвязь между параметрами, характеризующими условия Лауэ и уравнение Брэгга. В условиях Лауэ фигурируют дифракционные индексы pqr, в уравнении Брэгга — индексы отражающей серии сеток hkl) и порядок отражения п. Индексы к, k, I, по определению, равны числу частей, на которые разбиваются серией сеток (hkl) ребра а, b я с элементарной ячейки, а п — разность хода лучей, отраженных соседними плоскостями. Следовательно, пк, nk и п1 отвечают разностям хода лучей, рассеянных атомами, отстоящими друг от друга на один период по осям X, Y и Z соответственно. Именно этот смысл имеют целые числа р, q, г в условиях Лауэ. Таким образом, р = пк, q=nk, r = nl. [c.59]

Далее, заменив 5 — по интерференционному уравнению (18) на - -1с, где Нк1 — дифракционные индексы, апо (2) на Xfa- Уjb- ZJ , где относительные координаты /-того атома, и учитывая, что масштабный множитель перехода от прямой к обратной решетке в интерференционном уравнении равен Я, получим окончательно [c.76]

В дальнейшем дифракционные индексы в соответствии с установившейся традицией мы будем обозначать буквами кЫ, а положение атомов характеризовать относительными координатами в долях ребер ячейки [c.35]

Тип решетки Индексы серий узловых сеток (Лй/) Дифракционные индексы ЛИ/ (.тгравила погасаний ) [c.36]

Интерференционное уравнение вкладывает новое, более глубокое содержание в понятие обратной решетки. Теперь каждый узел ее однозначно связан с определенным дифракционным лучом pqr и может рассматриваться как некое условное изображение этого луча И наоборот, рентгенограмму, полученную методом вращения или одним из рентгеигониометрических методов, можно считать искаженным изображением (проекцией) определенной части обратной решетки. Способ искажения зависит от кинематической схемы каждого из рентгенгониомет-рических методов. Но коль скоро она известна, переход от рентгенограммы к обратной решетке и обратно не представляет труда. А поскольку порядок обозначения узлов в решетке известен, такой переход дает наиболее простую и удобную основу для определения дифракционных индексов (индицирования) рентгенограмм. [c.61]

Соотношение (3) определяет связь 1/ti с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив l/d на njd, а индексы hkl) на pqr, получим связь tijd с параметрами решетки и дифракционными индексами. Следовательно, по набору n/d, полученному из дебаеграммы, в принципе можно определять параметры решетки и индексы каждого отражения. Эта задача достаточно сложная, так как требуется найти шесть общих параметров и по три целочисленных коэффициента для каждого из nid. Однако в простейшем случае кубического кристалла, где [c.65]

В неприм итивной решетке дифракционные индексы не могут быть любыми числами общий множитель в индексах hkl) сохраняется и в [c.262]

Для того чтобы найти правила, которым яодчиняются дифракционные индексы pqr в решетке с непримитивной ячейкой, достаточно выбрать в той же решетке какую-либо примитивную ячейку и совершить переход к новой координатной системе. Обозначим. ребра основной (непримитивной) ячейки буквами а, Ь, с, новой — примитивной — а, Ь, с. Связь между ними нетрудно будет найти в каждом случае. Допустим, что [c.266]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология