Вторично-эмиссионный ионный источник

Устройство, в котором размещается анализируемый образец и система электродов для ускорения и формирования пучка вторичных ионов, мы будем называть вторично-эмиссионным ионным источником (ВЭИ-источник). Схема наиболее удачного по [c.181]

Рис. 7.4. Вторично-эмиссионный ионный источник для анализа твердых

Рис. 7.5. Вторично-эмиссионный ионный источник для исследования летучих

Заряд мишени удается существенно снизить, если бомбардировку мишени осуществлять пучком ускоренных нейтральных атомов [253]. В этом случае устраняется основной источник заряда — интенсивный поток положительных ионов. Замена ионного пучка на атомный не изменяет вторично-эмиссионных масс-спектров зарядовое состояние бомбардирующих частиц практически не влияет на процессы, определяющие вторичную ионную эмиссию. [c.179]

Эффективность ВЭИ-источников заметно ниже эффективности газовых ионных источников, применяемых при молекулярном анализе летучих веществ. Поэтому для регистрации вторично-эмиссионных масс-спектров необходимо использовать высокочувствительные системы измерения ионных токов. [c.182]

В качестве ионных пушек могут быть использованы практически любые типы ионных источников. Главное требование, которое предъявляется к ионной пушке — большая величина ионного тока, и поскольку вторично-эмиссионные масс-спектры мало зависят от энергии бомбардирующих частиц, вполне допустим разброс бомбардирующих ионов по энергиям в пределах 10— 20%. При исследовании органических соединений (если не требуется послойный анализ) оптимальными являются газовые ионные источники с ионизацией электронным ударом, которые сравнительно легко позволяют получать ионные токи до 10" А при плотности потока бомбардирующих частиц 10 А/см . В тех случаях, когда послойный анализ необходим, т. е. нужно распылять образец с достаточно высокой скоростью, следует использовать более мощные ионные источники (дуаилазматрон, источник с осциллирующим электронным пучком, источник с высокочастотным разрядом и др.). При таких измерениях плотность тока в бомбардирующем пучке должна быть не ниже 10 А/см2. [c.181]

При приготовлении мишени особое внимание нужно уделять ее чистоте. Атомная частица с энергией в несколько килоэлектронвольт при соударении с твердым телом полностью теряет свою энергию на длине пробега в несколько нанометров. На такой глубине происходит образование вторичных ионов, и присутствие на поверхности даже нескольких монослоев посторонних молекул может существенным образом исказить вторичноэмиссионный масс-спектр исследуемого вещества. Загрязнение мишени происходит и в самом масс-спектрометре, если вакуум в области ВЭИ-источника недостаточно высок. Так, при вакууме 10 —10 Па поверхность мишени очень быстро покрывается слоем адсорбированных органических молекул, которые в больших или меньших количествах присутствуют в остаточных газах. Во вторично-эмиссионном масс-спектре, полученном с такой мишени, в основном будут представлены ионы, обра- [c.182]

Поскольку основные физические свойства органических молекул и их энергетические состояния мало меняются при переходе из газообразного состояния в конденсированное, можно предположить, что процессы диссоциативной ионизации молекул ударом ускоренных атомных частиц в свободном и конденсированном состояниях одинаковы. Следовательно, масс-спектр, полученный путем ионизации паров бензола ударом ускоренных атомов Аг, — это набор осколочных ионов, которые образуются в горячем пятне в начальный момент времени. Такой масс-спектр был получен с помощью источника типа Нира, у которого вместо электронного пучка через ионизационную камеру пропускался пучок атомов Аг с энергией 2 кэВ. На рис. 7.7 приведены газовый и вторично-эмиссионный масс-спектры бензола СбНб. При сравнении этих спектров обращает на себя внимание следующий факт. Газовый масс-спектр (МСГ) преобразуется в почти точную копию вторично-эмиссионного спектра, если не- [c.187]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология