Рассеяние под нормальными углами

Рассмотрим элементарную площадку в бесконечной среде, в которой существует ноток нейтронов одинаковых скоростей. Полагаем, что площадка А расположена в начале системы координат, причем ось х нормальна к А. Введем полярные координаты таким образом, чтобы шпротный угол 0 измерялся от положительной оси х, а азимутальный угол -ф — от положительной оси у (рис. 5.4). Согласно определению,/ 0)йЛ есть число нейтронов, которые проходят через элементарную площадку йА в единицу времени после последнего рассеяния в полупространстве х>0. Рассмотрим элемент объема г в точке пространства г = г (г, 9, г) ) (см. рис. 5.4). В этом объеме происходит [c.120]

ДОМ Монте-Карло (рис. 3.9). Такое поведение связано с большой вероятностью для электронов в каждом отдельном соударении претерпевать рассеяние вперед по направлению движения. Так, для однократного соударения средний угол отклонения от направления движения мал и составляет по порядку величины 5°. При нормальном падении, или при угле наклона 0°, тенденция к рассеянию вперед в направлении движения заставляет электроны проникать глубже в объект (рис. 3.10). При наклоне объекта эта тенденция заставляет электроны перемещаться ближе к поверхности и размер области взаимодействия по глубине уменьшается. Отметим, что из-за более предпочтительного рассеяния в направлении движения размер в направлении, параллельном поверхности и перпендикулярном оси наклона, возрастает по сравнению с поперечными размерами при нормальном падении. Размер в направлении, параллельном оси наклона, остается таким же, как при нормальном падении. [c.41]

В последнее время был выполнен ряд исследований полимеров при помощи метода рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Угол между падающим пучком рентгеновских лучей и дифрагирующим при рассеянии обычно составляет менее 2°. Исторически этот метод возник много лет спустя после метода рассеяния рентгеновских лучей под нормальными углами Брэгга, составляющими 10—30°. Это отставание объясняется следующими двумя причинами 1) жесткими экспериментальными требованиями к методу малоуглового рентгена и 2) тем, что не всегда можно дать точную интерпретацию полученных рентгенограмм (и действительно, интерпретация результатов все еще является спорным вопросом). Однако по мере увеличения числа исследований, проводимых в этом направлении, удалось преодолеть некоторые затруднения экспериментального и теоретического характера, что в свою очередь позволило установить основные тенденции и общие закономерности рассматриваемого метода. В настоящей главе сделана попытка рассмотреть состояние дел в области эксперимента и интерпретации данных малоуглового рентгена, сложившееся к настоящему времени. Эта глава не является полным историческим обзором всех работ, проведенных в этой области не будет также сделано никаких попыток изучения теории рассеяния, поскольку для этих целей можно обратиться к имеющимся прекрасным работам [1—5]. Будут показаны широкие возможности этого метода для исследования полимеров и сделана попытка проникнуть в сущность проблем эксперимента и интерпретации результатов, которые определяют направление будущих исследований. [c.188]

В тех случаях, когда ось волокна ориентирована параллельно падающему пучку электронов, плоскость отражения располагается нормально к плоскости чертежа (рис. 153) и дифракционная картина рассеяния характеризуется наличием дебаевских колец. Если образец повернуть, плоскость отражения внутри системы колец примет наклонное положение и как следствие этого дифракционные кольца расщепятся на отдельные дуги. Направление оси симметрии вращения (оси волокна) можно определить на основании одной электронограммы, полученной для любого угла наклона образца. Пусть б — угол наклона, т. е. угол между нормалью к образцу и направлением электронного пучка, а (О — угол данного отражения к оси наклона. Угол р между нормалью к отражающей сетке плоскостей и осью волокна выразится следующим образом [21J [c.246]

Для случая плоского образца, расположенного перпендикулярно пучку, угол выхода и телесный угол сбора электронов детектора тина сцинтиллятор — фотоумножитель показаны на рис. 4.18, а. Из высокоэнергетических отраженных электронов собираются лишь те, которые двигаются прямо по направлению к торцу сцинтиллятора (т. е. вдоль линии прямой видимости ), все остальные отраженные электроны не попадают на сцинтиллятор. Влияние потенциала смещения, приложенного к цилиндру Фарадея, на отраженные электроны пренебрежимо мало независимо от того, какой он — положительный или отрицательный. На рис. 4.18,6 показано, какая часть отраженных электронов собирается детектором для различных углов выхода для косинусоидального распределения по углам отраженных электронов при нормальном падении пучка на образец. Благодаря косинусоидальному распределению лишь малая часть отраженных электронов нонадает на коллектор при малых углах выхода. Обычно для детекторов типа сцинтиллятор — фотоумножитель в РЭМ угол выхода отраженных электронов по порядку величины составляет 30°, а телесный угол сбора приблизительно равен 0,05 ср (диаметр сцинтиллятора 1 см, расстояние от него до образца 4 см). Если образец сильно наклонен, то угловое распределение отраженных электронов становится вытянутым в направлении падения. Получающийся с таким угловым распределением телесный угол сбора показан на рис. 4.18, а. Для наклонного образца детектор, расположенный под малым углом выхода в направлении прямого рассеяния, имеет более высокую эффективность сбора. Чувствительность сциитиллято- [c.125]

Несмотря на то что для молекул, подобных Н2О2, было предложено несколько различных моделей, наиболее вероятными являются неплоская модель (Сг) (двугранный угол относительно оси Xi—Х2 примерно 90°) и плоская г мс-модель (Сг -). На рис. 24 показаны формы шести нормальных колебаний, и дано отнесение полос для этих двух моделей. Отличить эти две модели по колебательным спектрам нелегко, так как единственное различие между ними имеется в колебании ve- В случае плоской модели это колебание не активно в инфракрасном спектре и деполяризовано в спектре комбинационного рассеяния, а в случае неплоской модели оно активно в инфракрасном спектре и поляризовано в спектре комбинационного рассеяния. Однако обычно считается, что неплоская модель более вероятна, чем плоская цис-модель. В табл. 27 указаны фундаментальные частоты колебаний некоторых молекул, относящихся к этой группе. [c.137]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология