Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Поля допусков Относительные положения для

    Санитарные приборы устанавливают в соответствии с техническими условиями и монтажными положениями относительно строительных конструкций. Умывальники, мойки, раковины, писсуары ставят после монтажа трубопроводов — пере последней окраской стен, а унитазы и ванны — после устройства чистых полов. Санитарные приборы присоединяют к канализационной сети через встроенный или приставной гидравлический затвор (сифон). При установке раковин, моек и писсуаров следует применять преимущественно сифоны-ревизии, для умывальников — бутылочные сифоны, а для ванн— напольные сифоны. В жилых домах допускается установка бутылочных сифонов и у моек. Ревизии под бутылочными сифонами не устанавливают. [c.308]


    Основное отклонение — одно из двух отклонений (верхнее или нижнее), используемое для определения положения поля допуска относительно нулевой линии. В системе СЭВ таким отклонением является отклонение, ближайшее к нулевой линии. [c.438]

    Задача настройки системы СПИД - получение возможно большего числа годных деталей, обработанных до первой поднастройки системы СПИД. Для решения этой задачи необходимо, чтобы мгновенное поле рассеяния погрешности обработки партии деталей имело определенное положение относительно границ поля допуска (рис. 1.80, а). Размер, к достижению которого необходимо стремиться при настройке системы СПИД, получил название рабочего настроечного размера Ар (рис. 1.80, в). [c.127]

    Поле допуска — поле, ограниченное верхним и нижним отклонениями. Поле допуска определяется величиной допуска и его положением относительно номинального размера. При графическом изображении поле допуска заключено между двумя линиями, соответствующими верхнему и нижнему отклонениям относительно нулевой линии. [c.438]

    Дебай, пользуясь статистической теорией ориентации, впервые разработанной Ланжевеном [15] для постоянных магнитных моментов парамагнитных тел, положил начало теории поведения полярных диэлектриков в электрическом поле. Рассмотрим кратко основные положения этой теории. При этом будем иметь в виду, что при упрощенных расчетах допускаются следующие приближения поле не оказывает возмущающего действия на величину дипольного момента fio молекулы, диполи могут занимать любое положение относительно направления приложенного поля и, наконец, энергия дипольного воздействия незначительна по сравнению с энергией теплового движения (т. е. плотность газа очень мала). [c.18]

    Прежде всего надо учесть, что размеры, определяющие положение оси элемента изделия и соответствующие размеры элементов формы, обычно имеют допуск, поле которого распределено равномерно относительно номинала. Поэтому величины эле- [c.92]

    Регламентированных числовых значений допусков во всем наиболее часто применяемом в машиностроении диапазоне до 500 мм недостаточно для задания точности на чертеже. Необходимо задать положение поля допуска относительно нулевой линии. Этой задаче служит понятие основное отклонение — расстояние ближайшей границы поля допуска до нулевой линии. Все размеры в системе допусков на типовые соединения деталей изделий классифицированы на охватывающие (отверстия), т. е. размеры, увеличивающиеся при обработке или охватывающие измерительные средства при измерении, и охватываемые (валы), т. е. размеры, уменьшаемые при обработке или охватываемые измерительным средством при измерении. В системе ЕСДП СЭВ для диапазона до 500 мм установлено 27 вариантов основных отклонений (рис. 5). Основные отклонения отверстий обозначены прописными (большими) буквами латинского алфавита, валов — строчными (малыми) буквами. [c.442]


    Основу ЕСДП составляют допуски, квалитеты и основные отклонения, определяющие положение полей допусков относительно нулевой линии, показанные на рис. 4. [c.353]

    Основу ЕСДП СЭВ составляют ряды допусков, называемые квалитетами (их 19 01, 0,1, 2,. .. 17, см. табл. 1), и ряды основных отклонений, определяющих иоложение полей допусков относительно нулевой линии, показанных на рис. 2. Квалитеты от 01 до 5 в основном предназначены для калибров. Поля допусков образуются сочетанием основного отклонения (положения поля) и допуска (величины поля) и обозначаются буквой основного отклонения и числом — номером квалитета. Для обозначения валов применяют строчные латинские буквы, для отверстий — прописные. Наборы полей допусков и соответствующие им предельные отклонения установлены различными в трех диапазонах номинальных размеров от 1 до 500 мм и свыше 500 до 3150 мм — по СТ СЭВ 144—75, свыше 3150 до 10 ООО мм — по СТ СЭВ 177—75. СТ СЭВ 144—75 предусматривает поля допусков и предельные отклонения и для номинальных размеров до 1 мм. [c.281]

    Следовательно, по результатам обработки одной заготовки нельзя рационально расположить относительно поля допуска. Поэтому следует при настройке определить ожидаемое С этой целью обрабатывают группу заготовок и определяют средний размер >1гр.ср в этой группе. По величине и положению/4относительно рабочего настроечного размера можно приблизительно судить о правильности настройки. Чтобы повысить точность настройки, когда обрабатываются большие партии, обрабатывают несколько групп деталей и настройку ведут с учетом среднего размера группы в каждой партии. [c.129]

    Анализ износа опор долот в промысловых условиях и Нйследую-щая экспериментальная проверка в лаборатории показали что в современных опорах, собранных из деталей с размерами в пределах полей допусков, возможны перекосы осей шарошек относительно осей цапф в их рабочем положении, достаточные для возникновения катастрофических форм изнашивания из-за высокой неравномерности интенсивности нагрузки на рабочих поверхностях подшипников. Для опор типа АУ определены допустимые величины углов перекоса для условий вращения долота ротором и объемным двигателем, что позволило поставить и решить задачу о повышении качества опор за счет технологических мероприятий, включающих групповую селективную сборку для обеспечения углов перекоса в допустимых пределах. Для реализации этих мероприятий разработана и утверждена в ОАО Волгабурмаш соответствующая инструкция. [c.19]

    Для таких молекул, как /г-С1СН2СбН4СН2С1, где относительное расположение диполей заместителей может изменяться из-за вращения последних, были предложены специальные уравнения [42, 44]. Необходимость этого обусловлена тем, что диполный момент молекулы изменяется от О при транс-положении С— l-связей относительно друг друга до максимального значения при цис-поло-н ении. Таким образом, момент будет изменяться непрерывно в зависимости от относительного положения двух групп. Уравнения дают среднеквадратичное значение момента всех различных конфигураций, т. е. допускается свободное вращение около связи Саг—Сл1к, хотя при обычной температуре это маловероятно. Когда вращение ограничено, действительный момент обычно меньше [c.205]

    Поясним постановку первой задачи, на первый взгляд кажущуюся парадоксальной. Дело в том, что допускаемые границы изменения зазоров или натягов в подвижных либо неподвижных соединениях еще неоднозначно определяют допускаемые отклонения на сопрягаемые размеры и положение полей допусков этих размеров относительно номинального размера. Поэтому правомерно найти такие допускаемые отклонения отверстия Аор, Аор(Аор>Аор) и в,ала Aip, Авр (Авр > Авр), при которых на сборке зазоры или натяги в соединениях будут находиться в эксплуатационно требуемых пределах Amin и Ащах с достаточно высокой вероятностью, а допуски бор и бвр на сопрягаемые размеры окажутся обоснованно расширенными. Эта задача может решаться различными способами. Важно лишь, чтобы выполнялось условие  [c.174]

    Из условия собираемости достаточно принять допускаемую величину 6л равной наименьшему радиальному зазору с. Однако целесообразнее иметь некоторый запас г зазора для удобства сборки или, при Н0о1бхюиимости, для регул1иро1вания точ1ности относительного положения скрепляемых деталей. Поэтому примем для всех случаев половину поля допуска замыкающего звена [c.267]


Смотреть страницы где упоминается термин Поля допусков Относительные положения для: [c.80]    [c.79]    [c.52]   
Справочник технолога-машиностроителя Том 2 (1985) -- [ c.0 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте