Универсальные микроскопы

Некоторые универсальные микроскопы предназначены преимущественно для исследования в проходящем свете. [c.112]

В универсальном микроскопе МИМ-9 имеется встроенное фазовоконтрастное устройство. [c.123]

Обеспечение текущего контроля концентрации и размера частиц загрязнений является необходимы.м элементом технологии очистки СОЖ- Традиционные лабораторно-аналитические методы, основанные на проведении длительного и трудоемкого гранулометрического анализа на универсальных микроскопах, седиментометрах и фотоэлектроколориметрах (ФЭК-56, ФЭКН-57, ФЭК-60), непригодны для цеховых условий. Поэтому наиболее ценными являются методы экспрессного и автоматизированного контроля, которые можно разделить иа прямые и косвенные. [c.158]

В центре предметного стола имеется отверстие под специальную прилагаемую к столу оправку с двойным перекрестием. Использование такой оправки позволяет быстро совмещать ось вращения стола с центром штриховой сетки универсального микроскопа. Центр круглого отверстия предметного стола совпадает с осью вращения стола с точностью до 0,005 мм. Совмещение центра штриховой сетки главного микроскопа с осью вращения стола может быть осуществлено с точностью до 0,02 мм. [c.256]

В ФРГ выпущен прибор типа УММ, предназначенный, как и другие универсальные микроскопы, для различных измерений длин в прямоугольных и полярных координатах и для угловых измерений. [c.268]

Р и с. 3. Оптическая схема универсального микроскопа перевернутого типа. [c.249]

Микроскоп МБИ-6 (рис. 4)—универсальный микроскоп, позволяющий изучать объекты современными методами исследо- [c.10]

Оптиметры, миниметры и измерительные машины с ценой деления О,OUI мм, универсальные микроскопы [c.118]

Синусные линейки применяются главным образом для проверки угольников и для измерения и проверки конусов. Кроме описанных инструментов и приборов, для измерения углов и угловых шаблонов применяются также инструментальные и универсальные микроскопы. [c.170]

Лейтц-ортолюкс (ФРГ)— универсальный микроскоп для исследования в проходящем и (или) отраженном свете. В проходящем свете определения ведут в светлом и темном поле, при фазовом и интерференционном контрасте, при флуоресценции осуществляют микрофотографирование. В отраженном свете с помощью иллюминатора изучают поверхности непрозрачных объектов. Имеется опакиллюмннатор для просмотра ровных и полированных аншлифов (металла, руд, керамики и др.). [c.112]

Лейтц-ортоплан — универсальный микроскоп с большим полем зрения, отличается от Лейтц-ортолюкса возможностью дополнительного определения в проходящем свете микроскопной фотометрии, электронного анализа изображения и телевизионной микроскопии. [c.112]

Глубина износа определялась прямым замером яа универсальном микроскопе при помощи специальпого приспособления, позволяющего с большой точностью зафиксировать первоначальное положение образца. [c.274]

Недавно Риглер и др. [26], пропуская импульс неодимэвого лазера с модулированной добротностью через гибкий световод, расположенный на краю ячейки, получили скачок температуры 0,07° С в круглой ячейке диаметром 2 мм и высотой 1,5 мм. При этом в ячейку попадало только 10 - 20% энергии лазерного излучения. Здесь пучок многократно отражался от круглых полированных стенок из нержавеющей стали. Контроль изменений равновесного сигнала осуществляли с помощью обычного универсального микроскопа фирмы "Цейс", установленного перпендикулярно падающему лазерному пучку од источника мощностью 100 Вт, и интерференционного фильтра фирмы "Шотт энд Джен". Для калибровки использовали раствор NH4 l/NHз (pH 7,8), содержащий феноловый красный в качестве индикатора. [c.391]

Советский электронный микроскоп УЭМБ-100 относится к приборам первого класса и на Международной выставке в Брюсселе в 1958 г. был удостоен первой премии. Как правило, чем выше класс прибора, тем более сложен он по конструкции. Для приборов 1-го и 2-го классов характерно сочетание высокого разрешения с универсальностью. Микроскопы 3-го класса сравнительно просты по конструкции и менее универсальны. [c.9]

Известны различные моделл электронных микроскопов. В нашей стране наиболее широко применяются приборы отечественного производства УЭЖ-ЮО, УЭМВ-ЮО, ЭМ-7, а из. приборов зарубежных стран используются настольный. чикроскоп В5-242 (Чехословакия), электростатический микроскоп ELMI-2 (ГДР) и универсальный микроскоп JEM-56 (Япония). [c.107]

Исследуемый образец помещался в установку на подложку из поликристаллической окиси алюминия. После достижения максимальной разряженности (Ю —10 мм рт. ст.), включался нагреватель и температура поднималась до величины, позволяющей проводить вакуумную очистку жидкой капли от окислов и легколетучих металлических примесей. При максимальной температуре образец выдерживался, как правило, в течение 2—3 часов, после чего проводились измерения а при охлаждении и нагревании. Образец фотографировался фотокамерой ФК 18X24 с объективом И-37. Коэффициент увеличения в экспериментах составлял величину 4,5378. Для получения плоскопараллельного пучка света использовались конденсор, смотровые окна были изготовлены из оптического кварца, осветитель представлял собою фотовспышку ФИЛ-11. Обмер снимка капли проводился на универсальном микроскопе УИМ-21 методом, предложенным в работах [27, 29] с использованием таблиц Башфорта и Адамса. Если исходить из суммарной ошибки измерения плотности и поверхностного натяжения, получаемой только из измерений снимка капли, то она не превышает 0,4% по и 0,6% по а. Однако из-за неучтенных погрешностей (нечеткость при обмере и др.) общая ошибка увеличивается до 1,5% при определении й и 2,5% —для сг. Косвенно этот вывод подтверждается сравнением данных по (1, определенных методом большой капли и, например, пикнометрически или методом проникающего излучения [5, 12, 13]. [c.35]

Контроль углов и конусов. Углы и конусы измеряются с помощью угловых мер, шаблонов, угольников, конусных калибров, шариков, синусных и тангенсных линеек, универсальных микроскопов (координатным методом), оптических делительных головок, угломеров с нониусом и др. [c.602]

Методы измерений. На практике измерения производятся абсолютным и относительным методом. При абсолютном методе измерений производится отсчет всей измеряемой величины (штангенинст-рументы, микрометры, универсальный микроскоп). Например, при измерении микрометром детали с размером 12,67 мм мы полностью читаем этот размер на шкале микрометра. [c.118]

С целью определения количественной оценки степени локального поражения металла в зоне сварки проведены профилографические исследования макрошлифов сварных соединений. Глубину и ширину поражений измеряли на универсальном микроскопе марки УИМ-21 с точностью до [c.60]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология