Влияние аберраций оптической системы

Влияние аберраций оптической системы. Предыдущие выводы относились к спектральным приборам, оптические системы которых дают идеальное дифракционное изображение. Но у значительной [c.18]

Оценка разрешающей способности. Методы измерения разрешающей способности решеток сводятся к определению разности длин волн двух близко расположенных спектральных линий приблизительно равной интенсивности, находящихся на преде.те разрешения. Чаще всего разрешающую способность оценивают по наблюдениям сверхтонкой структуры спектральных линий кадмия и ртути, некоторых групп линий спектра железа или полос поглощения паров иода, а также по расщеплению спектральных линий в магнитном поле. Однако выбор линий, пригодных для этих целей, очень ограничен, а процедура измерения при высоких разрешениях достаточно сложна. На точность измерений этими методами влияют не только ошибки решетки, но и аберрации оптической системы спектрографа, а также естественная ширина контура линии. Кроме того, с ростом фокусного расстояния спектрографа возрастает влияние колебаний воздуха и отдельных элементов системы, что создает дополните.льные трудности при наблюдениях и снижает их точность. При наиболее благоприятных условиях измерений относительная ошибка определения разрешающей способности составляет 5—10%, что в некоторых случаях недостаточно для характеристики решетки по этому параметру. Поэтому непосредственные наблюдения спектральных лгг-ний дополняются исследованиями формы фронта дифрагированной волны теневым и интерференционным методами, которые взаимно дополняют друг друга. [c.54]

Как было указано выше, теоретическая разрешающая способность прибора с р-кратной дисперсией при отсутствии виньетирования в р раз больше, чем при одном прохождении света через оптическую систему. Такое разрешение на практике может быть реализовано лишь тогда, когда аберрации оптической системы не оказывают влияния на распределение энергии в дифракционном изображении щели, т. е. когда аберрационное уширение изображения Ьа, вычисляемое на основании законов геометрической оптики, не превышает нормальной ширины щели Ь . Величина 6о = остается одной и той же независимо от числа прохождений, если при этом не меняется ширина а диспергируемых пучков. Но аберрации во всех схемах многократной дисперсии приблизительно в р раз больше, чем при одном прохождении. Поэтому, чтобы при р прохождениях обеспечить разрешение, близкое к теоретическому пределу, аберрационное уширение Ьа при одном прохождении не должно превышать Ь /р, т. е. [c.182]

Для обеспечения большей точности не рекомендуется пользоваться крайними делениями шкалы во избежание влияния полевых аберраций оптической системы. [c.105]

При наличии меридионального увеличения Г призма и решетка оказывают влияние на величину суммарных аберраций оптической системы спектрографа. С одной стороны, составляющие аберраций коллиматорного объектива в меридиональной плоскости, перенесенные в пространство изображений объектива камеры, увеличиваются в Г раз с другой стороны, в связи с изменением ширины пучков лучей после дисперсии аберрации камерного объектива также зависят от Г. [c.71]

При рассмотрении оптических систем спектральных приборов с призмами и плоскими дифракционными решетками мы всегда предполагали, что и призмы и решетки устанавливаются в строго параллельных пучках лучей и потому не вносят никаких аберраций в изображение щели. Влияние призм и решеток на структуру световых пучков сводилось, таким образом, лишь к изменению увеличения оптической системы в меридиональной плоскости, т. е. в главном сечении призмы или решетки, и к искривлению монохроматических изобрал(ений прямой входной щели. Но на практике всегда имеют место некоторые отклонения от параллельности лучей, падающих на диспергирующий элемент, и при высоких требованиях к разрешающей способности спектрального прибора для оценки получаемого качества изображения следует принимать во внимание аберрации не только объективов, но и диспергирующего элемента. [c.248]

Аберрационный расчет оптических систем ИК-анализаторов проводят, как уже указывалось, при повышенных требованиях к их точности. С достаточной для практики точностью величины аберраций можно определить по формулам (3.14) — (3.19). Влияние аберраций на точность измерения можно оценить, воспользовавшись графоаналитическим способом оценки распределения энергии в аберрационном кружке оптической системы [28]. Для расчете аберраций все шире используют автоматические методы [4, 27]. [c.98]

Хроматические аберрации возникают в линзовых системах, в которых рассеяние светового потока происходит из-за различия в коэффициентах преломления материала линзы для разных длин волн. В ИК-анализаторах в оптическую систему фотоприемника поступает уже фильтрованное излучение, имеющее узкий спектральный диапазон, определяемый полушириной пропускания интерференционного фильтра. Полуширина пропускания интерференционного фильтра для ближней ИК-области не превышает обычно 0,05 мкм, поэтому влиянием хроматических аберраций (как продольной, так и поперечной) можно пренебречь. [c.92]

При больших углах поля зрения оптической системы начинают сказываться влияние комы и астигматизма линз. Для уменьшения аберраций применяют комбинированные зеркальнолинзовые системы, в которых один из элементов системы (обычно линза) служит для уменьшения аберраций, создаваемых основной линзой или зеркалом. [c.174]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология